平面度檢測裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種平面度檢測儀。平面度檢測儀包括放置檢測工件的檢測平臺(tái)、前后移動(dòng)裝置、左右移動(dòng)裝置、處理器、激光發(fā)射器以及顯示器，前后移動(dòng)裝置滑動(dòng)固定在所述檢測平臺(tái)上，處理器和顯示器均固定在檢測平臺(tái)上，激光發(fā)射器固定在左右移動(dòng)裝置上，左右移動(dòng)裝置固定在前后移動(dòng)裝置上，前后移動(dòng)裝置、左右移動(dòng)裝置、激光發(fā)射器和顯示器均與處理器相連，激光發(fā)射器發(fā)射激光信號(hào)以及接收反射回來的激光信號(hào)。本實(shí)用新型平面度檢測儀具有測試速度快、精度高的優(yōu)點(diǎn)。
【專利說明】平面度檢測裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及一種檢測裝置，特別是涉及一種平面度檢測裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 檢測平面度一般用三維坐標(biāo)測試儀或者人工測量，三維坐標(biāo)測試儀價(jià)格昂貴、測 試速度慢，且對(duì)于單個(gè)檢測平面度的工件實(shí)用性不高；人工測量精度不高，誤差大。 實(shí)用新型內(nèi)容
[0003] 本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種測試速度快且精度高的平面度檢測裝 置。
[0004] 為解決上述問題，本實(shí)用新型提供一種平面度檢測裝置，所述平面度檢測裝置包 括放置檢測工件的檢測平臺(tái)、前后移動(dòng)裝置、左右移動(dòng)裝置、處理器、激光發(fā)射器以及顯示 器，所述前后移動(dòng)裝置滑動(dòng)固定在所述檢測平臺(tái)上，所述處理器和顯示器均固定在所述檢 測平臺(tái)上，所述激光發(fā)射器固定在所述左右移動(dòng)裝置上，所述左右移動(dòng)裝置固定在所述前 后移動(dòng)裝置上，所述前后移動(dòng)裝置、左右移動(dòng)裝置、激光發(fā)射器以及顯示器均與所述處理器 相連，所述激光發(fā)射器發(fā)射激光信號(hào)以及接收反射回來的激光信號(hào)。
[0005] 進(jìn)一步的，所述平面度檢測裝置采用以點(diǎn)取面，利用激光發(fā)射器發(fā)射信號(hào)到接收 到反饋信號(hào)的時(shí)間和激光的速度算出激光發(fā)射器與所述檢測工件的距離。
[0006] 進(jìn)一步的，所述檢測平臺(tái)上設(shè)置有與前后移動(dòng)裝置配合的滑軌，所述滑軌與所述 左右移動(dòng)裝置連接。
[0007] 進(jìn)一步的，所述平面度檢測裝置還包括散熱器，所述散熱器安裝在處理器的一側(cè)。
[0008] 進(jìn)一步的，所述前后、左右移動(dòng)裝置均由高速電機(jī)驅(qū)動(dòng)。
[0009] 上述平面度檢測裝置采用激光檢測，誤差小、精度高，采用高速電機(jī)，能快速將工 件的平面度檢測完成。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010] 圖1是本實(shí)用新型平面度檢測裝置的較佳實(shí)施方式的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0011] 下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
[0012] 如圖1所示，本實(shí)用新型平面度檢測裝置的較佳實(shí)施方式包括用于放置檢測工件 的檢測平臺(tái)1、前后移動(dòng)裝置2、左右移動(dòng)裝置3、處理器4、激光發(fā)射器5、顯示器6和散熱器 7。
[0013] 所述前后移動(dòng)裝置2可滑動(dòng)地固定在所述檢測平臺(tái)1上，所述處理器4、顯示器6 均固定在所述檢測平臺(tái)1上，所述激光發(fā)射器5固定在所述左右移動(dòng)裝置3上，所述左右 移動(dòng)裝置3固定在所述前后移動(dòng)裝置2上。所述散熱器7安裝在處理器4的一側(cè)。所述前 后移動(dòng)裝置2、左右移動(dòng)裝置3、激光發(fā)射器5以及顯示器6均與所述處理器4相連。所述 激光發(fā)射器5發(fā)射激光信號(hào)以及接收反射回來的激光信號(hào)，所述處理器4根據(jù)激光發(fā)射器 發(fā)射激光信號(hào)以及接收反射回來的激光信號(hào)之間的時(shí)間差及激光的傳輸速度計(jì)算得到檢 測工件上該點(diǎn)與激光發(fā)射器5之間的距離，所述處理器4還根據(jù)計(jì)算得到的檢測工件上每 一點(diǎn)與激光發(fā)射器之間的距離判斷檢測工件的表面是否平整。
[0014] 具體而言，所述處理器4和散熱器7固定在所述檢測平臺(tái)1的下方，所述檢測平臺(tái) 1上設(shè)置有與前后移動(dòng)裝置2配合的滑軌，且所述滑軌還與所述左右移動(dòng)裝置3連接。所述 前后移動(dòng)裝置2可滑動(dòng)地固定在所述檢測平臺(tái)1的上表面，所述左右移動(dòng)裝置3固定在所 述前后移動(dòng)裝置2的上表面，如此使得當(dāng)前后移動(dòng)裝置2前后移動(dòng)時(shí)即可帶動(dòng)左右移動(dòng)裝 置3前后移動(dòng)。又因左右移動(dòng)裝置3固定在前后移動(dòng)裝置2上且所述激光發(fā)射器5固定在 左右移動(dòng)裝置3上，如此將使得所述激光發(fā)射器5能前后、左右移動(dòng)。所述前后移動(dòng)裝置2、 左右移動(dòng)裝置3均由高速電機(jī)驅(qū)動(dòng)，能夠快速的將檢測工件檢測完成。所述散熱器7對(duì)處 理器4進(jìn)行散熱，使處理器4處于低溫狀態(tài)運(yùn)行，有效的延長處理器4的實(shí)用壽命。所述激 光發(fā)射器5所述接受到的信號(hào)，傳輸給處理器4,處理器4經(jīng)過處理之后，傳送給顯示器6， 顯示器6將其檢測結(jié)果顯示出來。
[0015] 所述平面度檢測裝置采用以點(diǎn)取面，利用激光發(fā)射器5發(fā)射信號(hào)到接收到反饋 信號(hào)的時(shí)間和激光的傳輸速度，通過處理器4計(jì)算出激光發(fā)射器5與所述檢測工件之間的 距離。根據(jù)工件上的每個(gè)檢測點(diǎn)到激光發(fā)射器5之間的垂直距離，來判斷工件的平整度。若 檢測工件上的每個(gè)檢測點(diǎn)到激光發(fā)射器5之間的垂直距離相等，則所述檢測工件的表面平 整；若檢測工件上的每一檢測點(diǎn)到激光發(fā)射器5之間的垂直距離不等，但是檢測工件上的 檢測點(diǎn)到激光發(fā)射器5之間的垂直距離的最大值與最小值之間的差值在誤差的允許范圍 內(nèi)，則仍然可視為檢測工件表面平整；若檢測工件上的每一檢測點(diǎn)到激光發(fā)射器5的垂直 距離不等，且檢測工件上的檢測點(diǎn)到激光發(fā)射器5的垂直距離的最大值與最小值之間的差 值不在誤差的允許范圍內(nèi)，則視為檢測工件表面不平整。
[0016] 以上僅為本實(shí)用新型的實(shí)施方式，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本 實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)，直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均 同理在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種平面度檢測裝置，其特征在于：所述平面度檢測裝置包括放置檢測工件的檢測 平臺(tái)、前后移動(dòng)裝置、左右移動(dòng)裝置、處理器、激光發(fā)射器以及顯示器，所述前后移動(dòng)裝置滑 動(dòng)固定在所述檢測平臺(tái)上，所述處理器和顯示器均固定在所述檢測平臺(tái)上，所述激光發(fā)射 器固定在所述左右移動(dòng)裝置上，所述左右移動(dòng)裝置固定在所述前后移動(dòng)裝置上，所述前后 移動(dòng)裝置、左右移動(dòng)裝置、激光發(fā)射器以及顯示器均與所述處理器相連，所述激光發(fā)射器發(fā) 射激光信號(hào)以及接收反射回來的激光信號(hào)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度檢測裝置，其特征在于：所述檢測平臺(tái)上設(shè)置有與前 后移動(dòng)裝置配合的滑軌，所述滑軌與所述左右移動(dòng)裝置連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度檢測裝置，其特征在于：所述平面度檢測裝置還包括 散熱器，所述散熱器安裝在處理器的一側(cè)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面度檢測裝置，其特征在于：所述前后、左右移動(dòng)裝置均由 高速電機(jī)驅(qū)動(dòng)。
【文檔編號(hào)】G01B11/30GK203908517SQ201320530362
【公開日】2014年10月29日 申請(qǐng)日期:2013年8月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月28日
【發(fā)明者】曹建軍, 李佳洪, 牟軍龍, 彭澤偉, 劉冢宏 申請(qǐng)人:曹建軍, 李佳洪, 牟軍龍, 彭澤偉, 劉冢宏