一種渦流邊緣檢測探頭的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種渦流邊緣檢測探頭，包括探頭外殼和限位塊，以及設(shè)置在探頭外殼中的磁芯和檢測線圈，檢測線圈繞在磁芯上，檢測線圈的引出線伸出到探頭外殼的外面；探頭外殼具有檢測平面，檢測線圈的中心軸線與檢測平面相垂直；邊緣限位塊設(shè)置在檢測平面上并處于檢測線圈的外側(cè)，邊緣限位塊靠近檢測線圈的一側(cè)具有限位平面，限位平面與檢測平面相垂直，檢測線圈到限位平面之間的距離為0.5～1.5mm。由于在檢測平面上設(shè)置限位塊，檢測線圈的中心軸線保持與板狀金屬工件的上表面垂直，并且由于檢測范圍限制在0.5～1.5mm之間，檢測線圈一直處于板狀金屬工件的邊緣之內(nèi)，因此該渦流邊緣檢測探頭能夠準(zhǔn)確檢測板狀金屬工件邊緣的缺陷。
【專利說明】一種渦流邊緣檢測探頭
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種渦流邊緣檢測探頭。
【背景技術(shù)】
[0002]渦流檢測技術(shù)是一種應(yīng)用較廣泛的無損檢測技術(shù)，是五大無損檢測手段之一。渦流檢測就是運用電磁感應(yīng)原理，如圖1所示，在探頭的線圈01加載一個交變信號，當(dāng)探頭接近金屬工件02表面時，線圈01產(chǎn)生的交變磁場03在金屬工件02表面產(chǎn)生感應(yīng)電流，我們稱為渦流04。渦流04的大小、相位及流動形式受到金屬工件02表面導(dǎo)電性能的影響。同時渦流04也會產(chǎn)生一個反向的磁場05，這個方向的磁場05反過來又會使探頭的線圈01的阻抗發(fā)生變化。因此當(dāng)金屬工件02表面或近表面出現(xiàn)缺陷或金屬材料發(fā)生變化時，將影響到渦流04的強度和分布，渦流04的變化又引起了探頭的線圈01電壓和阻抗的變化。根據(jù)這一變化，就可以間接地知道金屬工件02內(nèi)缺陷的存在及金屬材料的性能是否有變化。
[0003]上述渦流檢測簡單方便，也較準(zhǔn)確，但是還存在一個問題，就是“邊緣效應(yīng)”，每個探頭都有一個檢測范圍，當(dāng)檢測探頭移動到板狀金屬工件的邊緣時，產(chǎn)生的渦流就會發(fā)生畸變，探頭檢測范圍內(nèi)的板狀金屬工件表面導(dǎo)電性能發(fā)生變化，即使板狀金屬工件邊緣無缺陷也會產(chǎn)生信號，無法辨別邊緣處的缺陷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種渦流邊緣檢測探頭，這種渦流邊緣檢測探頭能夠準(zhǔn)確檢測板狀金屬工件邊緣的缺陷。采用的技術(shù)方案如下:
[0005]一種渦流邊緣檢測探頭，包括探頭外殼，以及設(shè)置在探頭外殼中的磁芯和檢測線圈，檢測線圈繞在磁芯上，檢測線圈的引出線伸出到探頭外殼的外面，其特征是:還包括邊緣限位塊；所述探頭外殼具有一檢測平面，所述檢測線圈的中心軸線與檢測平面相垂直；邊緣限位塊設(shè)置在檢測平面上并處于檢測線圈的外側(cè)，邊緣限位塊靠近檢測線圈的一側(cè)具有一限位平面，限位平面與檢測平面相垂直，檢測線圈到限位平面之間的距離為0.5?1.5mm。
[0006]上述外側(cè)是指遠離檢測平面中心點的一側(cè)，內(nèi)側(cè)則是指靠近檢測平面中心點的一側(cè)。
[0007]由于在檢測平面上設(shè)置限位塊，限位平面與檢測平面相垂直而構(gòu)成板狀金屬工件邊緣的卡口，在檢測時，卡口卡在板狀金屬工件的邊緣，檢測平面貼在板狀金屬工件的上表面，限位平面貼在板狀金屬工件的側(cè)壁，當(dāng)沿板狀金屬工件的邊緣移動檢測探頭時，檢測線圈的中心軸線保持與板狀金屬工件的上表面垂直，確保產(chǎn)生的渦流呈規(guī)則形狀，并且由于檢測范圍限制在0.5?1.5mm之間，使得在檢測過程中，檢測線圈一直處于板狀金屬工件的邊緣之內(nèi)，從而避免檢測線圈越過板狀金屬工件的邊緣而導(dǎo)致錯誤判斷缺陷，因此，這種渦流邊緣檢測探頭能夠準(zhǔn)確檢測板狀金屬工件邊緣的缺陷。
[0008]作為本實用新型的優(yōu)選方案，所述檢測線圈到限位平面之間的距離為1mm。經(jīng)多次試驗，將檢測線圈到限位平面之間的距離設(shè)置為1_，更能夠確保板狀金屬工件邊緣缺陷檢測的準(zhǔn)確性。
[0009]作為本實用新型進一步的優(yōu)選方案，還包括手柄和接線頭，手柄的一端與所述探頭外殼設(shè)有邊緣限位塊的一側(cè)連接，接線頭設(shè)置在手柄的另一端，所述檢測線圈的引出線穿過手柄并與接線頭連接。通過設(shè)置手柄，操作人員手持手柄進行檢測，操作更加方便，減輕檢測工作的勞動強度；而通過在手柄端部設(shè)置接線頭，方便與檢測儀器連接，接線頭與檢測儀器之間的連接線總是處于板狀金屬工件的邊緣之外，避免連接線垂落到板狀金屬工件表面而影響檢測結(jié)果。
[0010]作為本實用新型更進一步的優(yōu)選方案，所述探頭外殼、邊緣限位塊和手柄一體成型。探頭外殼、邊緣限位塊和手柄一體成型，結(jié)構(gòu)上更加簡潔，制造更加容易，減少了制造成本。
[0011]本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有如下優(yōu)點:
[0012]由于在檢測平面上設(shè)置限位塊，當(dāng)沿板狀金屬工件的邊緣移動檢測探頭時，檢測線圈的中心軸線保持與板狀金屬工件的上表面垂直，并且由于檢測范圍限制在0.5?
1.5_之間，使得在檢測過程中，檢測線圈一直處于板狀金屬工件的邊緣之內(nèi)，從而避免檢測線圈越過板狀金屬工件的邊緣而導(dǎo)致錯誤判斷缺陷，因此，這種渦流邊緣檢測探頭能夠準(zhǔn)確檢測板狀金屬工件邊緣的缺陷。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1是渦流檢測的原理圖；
[0014]圖2是本實用新型優(yōu)選實施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖和本實用新型的優(yōu)選實施方式做進一步的說明。
[0016]如圖2所示，這種渦流邊緣檢測探頭，包括探頭外殼1、邊緣限位塊2、手柄3、接線頭4、磁芯5和檢測線圈6，磁芯5和檢測線圈6設(shè)置在探頭外殼I中，檢測線圈6繞在磁芯5上，探頭外殼I具有一檢測平面7，檢測線圈6的中心軸線8與檢測平面7相垂直，邊緣限位塊2設(shè)置在檢測平面7上并處于檢測線圈6的外側(cè)，手柄3的一端與探頭外殼I設(shè)有邊緣限位塊2的一側(cè)連接，探頭外殼1、邊緣限位塊2、手柄3 —體成型，接線頭4設(shè)置在手柄3的另一端，檢測線圈6的引出線9穿過手柄3并與接線頭4連接，邊緣限位塊2靠近檢測線圈6的一側(cè)具有一限位平面10，限位平面10與檢測平面7相垂直，檢測線圈6到限位平面10之間的距離為Imm (0.5?1.5mm都可以)。
[0017]本渦流邊緣檢測探頭的檢測原理參見【背景技術(shù)】及圖1，由于在檢測平面7上設(shè)置限位塊2，限位平面10與檢測平面7相垂直而構(gòu)成板狀金屬工件11邊緣的卡口，在檢測時，卡口卡在板狀金屬工件11的邊緣，檢測平面7貼在板狀金屬工件11的上表面，限位平面10貼在板狀金屬工件11的側(cè)壁，當(dāng)沿板狀金屬工件11的邊緣移動檢測探頭時，檢測線圈6的中心軸線8保持與板狀金屬工件11的上表面垂直，確保產(chǎn)生的渦流呈規(guī)則形狀，并且由于檢測范圍限制在1mm，使得在檢測過程中，檢測線圈6 —直處于板狀金屬工件11的邊緣之內(nèi)，從而避免檢測線圈6越過板狀金屬工件11的邊緣而導(dǎo)致錯誤判斷缺陷，因此，這種渦流邊緣檢測探頭能夠準(zhǔn)確檢測板狀金屬工件11邊緣的缺陷。
[0018]此外，需要說明的是，本說明書中所描述的具體實施例，其各部分名稱等可以不同，凡依本實用新型專利構(gòu)思所述的構(gòu)造、特征及原理所做的等效或簡單變化，均包括于本實用新型專利的保護范圍內(nèi)。本實用新型所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，只要不偏離本實用新型的結(jié)構(gòu)或者超越本權(quán)利要求書所定義的范圍，均應(yīng)屬于本實用新型的保護范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種渦流邊緣檢測探頭，包括探頭外殼，以及設(shè)置在探頭外殼中的磁芯和檢測線圈，檢測線圈繞在磁芯上，檢測線圈的引出線伸出到探頭外殼的外面，其特征是:還包括邊緣限位塊；所述探頭外殼具有一檢測平面，所述檢測線圈的中心軸線與檢測平面相垂直；邊緣限位塊設(shè)置在檢測平面上并處于檢測線圈的外側(cè)，邊緣限位塊靠近檢測線圈的一側(cè)具有一限位平面，限位平面與檢測平面相垂直，檢測線圈到限位平面之間的距離為0.5?1.5mm。
2.如權(quán)利要求1所述的渦流邊緣檢測探頭，其特征是:所述檢測線圈到限位平面之間的距離為1mm。
3.如權(quán)利要求1或2所述的渦流邊緣檢測探頭，其特征是:還包括手柄和接線頭，手柄的一端與所述探頭外殼設(shè)有邊緣限位塊的一側(cè)連接，接線頭設(shè)置在手柄的另一端，所述檢測線圈的引出線穿過手柄并與接線頭連接。
4.如權(quán)利要求3所述的渦流邊緣檢測探頭，其特征是:所述探頭外殼、邊緣限位塊和手柄一體成型。
【文檔編號】G01N27/90GK203595685SQ201320745167
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2013年11月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月25日
【發(fā)明者】孫偉成, 章適鴻, 方俊釵, 張純青, 陳偉 申請人:廣東汕頭超聲電子股份有限公司