光學(xué)試驗平臺的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種光學(xué)試驗平臺，它包括試驗平臺支架，試驗平臺支架內(nèi)部安裝有擺動調(diào)整機構(gòu)，旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)安裝在擺動調(diào)整機構(gòu)上部；擺動調(diào)整機構(gòu)包括擺動工作臺，擺動工作臺的兩側(cè)分別固連有渦輪軸和后軸，后軸連接第一滾動軸承，且后軸通過后軸底座、第一滾動軸承與試驗平臺支架左側(cè)壁連接，后軸底座外側(cè)通過軸承端蓋密封保護；渦輪軸通過渦輪軸座與試驗平臺支架右側(cè)壁連接，渦輪軸連接第二、第三兩個滾動軸承，且渦輪軸通過渦輪軸座、兩個滾動軸承與試驗平臺支架右側(cè)壁連接，渦輪軸座外側(cè)通過另一軸承端蓋密封保護；渦輪軸伸出試驗平臺支架的一端通過鍵與渦輪連接，渦輪與渦桿連接，渦桿由兩渦桿軸承底座固定在試驗平臺支架上。
【專利說明】光學(xué)試驗平臺
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種裝載測試組件的試驗平臺，特別是關(guān)于一種利用移動載體裝載對立體場景進行探測用光學(xué)測試產(chǎn)品的光學(xué)試驗平臺。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，可見光和紅外線光學(xué)產(chǎn)品在進行實驗時往往需要不同位置姿態(tài)進行光學(xué)產(chǎn)品進行圖像采集和位置姿態(tài)數(shù)據(jù)采集對產(chǎn)品的光學(xué)測試及其整體性能進行分析。由于進行試驗時需要對裝載的實驗平臺進行不同角度調(diào)整、更換不同測試產(chǎn)品，因此更換一次測試產(chǎn)品或調(diào)整一次角度時，都需要移動載體返回進行更換調(diào)整，然后再重新進行測試，這樣重復(fù)工作量大而且非常繁瑣。尤其是對于裝載光學(xué)產(chǎn)品的飛行載體，空中-地面往復(fù)一次所需費用較為昂貴。
[0003]而目前還沒有能夠?qū)崿F(xiàn)同時進行可見光和紅外線兩種光學(xué)產(chǎn)品不同位置姿態(tài)測試實驗平臺，幫助了解與評價光學(xué)產(chǎn)品的可靠性與穩(wěn)定性等特性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對上述問題，本實用新型的目的是提供一種光學(xué)試驗平臺，可以進行可見光和紅外線光學(xué)測試產(chǎn)品測試，能夠?qū)崿F(xiàn)進行光學(xué)測試產(chǎn)品不同位置姿態(tài)的測試，進而有效分析光學(xué)產(chǎn)品的可靠性與穩(wěn)定性等特性。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采取以下技術(shù)方案:一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于:它包括一試驗平臺支架、一擺動調(diào)整機構(gòu)和一旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)；在所述試驗平臺支架內(nèi)部安裝有所述擺動調(diào)整機構(gòu)，所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)安裝在所述擺動調(diào)整機構(gòu)上部，且所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)與所述擺動調(diào)整機構(gòu)之間為活動連接；位于所述試驗平臺支架的左側(cè)壁、右側(cè)壁上分別固定連接有兩連接架；每個所述連接架下方均設(shè)置有一位置調(diào)節(jié)塊，通過所述連接架將所述試驗平臺支架與測試載體固定；所述擺動調(diào)整機構(gòu)包括一擺動工作臺、一渦輪軸、一后軸、三滾動軸承、一后軸底座、兩軸承端蓋、一潤輪軸座、一鍵、一潤輪、一圓螺母、一渦桿、兩渦桿軸承底座和一擺動搖柄；在所述擺動工作臺的兩側(cè)分別連接有所述渦輪軸和后軸，所述后軸連接第一所述滾動軸承，且所述后軸通過所述后軸底座與所述試驗平臺支架左側(cè)壁連接，第一所述滾動軸承設(shè)置在所述后軸底座上，所述后軸底座外側(cè)通過一所述軸承端蓋密封保護；所述渦輪軸通過所述渦輪軸座與所述試驗平臺支架右側(cè)壁連接，所述渦輪軸連接第二、第三兩個所述滾動軸承，且所述渦輪軸通過所述渦輪軸座與所述試驗平臺支架右側(cè)壁連接，第二、第三兩個所述滾動軸承設(shè)置在所述渦輪軸座上，所述渦輪軸座外側(cè)通過另一所述軸承端蓋密封保護；所述渦輪軸伸出所述試驗平臺支架的一端通過所述鍵與所述渦輪連接，所述渦輪通過所述渦輪軸的軸肩和固定在所述渦輪上的圓螺母實現(xiàn)軸向定位；所述渦輪與所述渦桿連接，所述渦桿由兩所述渦桿軸承底座固定在所述試驗平臺支架上。
[0006]所述擺動調(diào)整機構(gòu)還包括一由渦桿鎖緊底座、渦桿鎖緊內(nèi)板和渦桿鎖緊外板構(gòu)成的鎖緊機構(gòu)，所述渦桿鎖緊底座固定在所述試驗平臺支架上，所述渦桿鎖緊內(nèi)板一端連接所述渦桿鎖緊底座一端，與所述渦桿內(nèi)側(cè)壓緊；所述渦桿鎖緊外板一端也連接所述渦桿鎖緊底座一端，與所述渦桿外側(cè)壓緊，所述渦桿鎖緊內(nèi)板另一端與所述渦桿鎖緊外板另一端通過螺栓連接在一起。
[0007]所述渦桿上安裝有擺動搖柄。
[0008]所述擺動工作臺采用圓筒形結(jié)構(gòu)，由鋼制材料制成，并在所述擺動工作臺的側(cè)壁上間隔開設(shè)有通孔。
[0009]所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)包括一圓形結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)工作臺、兩壓板和三個以上的光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)；所述旋轉(zhuǎn)工作臺設(shè)置在所述擺動工作臺頂部，所述旋轉(zhuǎn)工作臺兩側(cè)分別通過一所述壓板將其壓緊在所述擺動工作臺上，且各所述壓板分別通過螺栓連接在所述擺動工作臺上；位于所述旋轉(zhuǎn)工作臺頂部間隔開設(shè)有若干個貫通的安裝孔；各所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)上均設(shè)置有與其一體成型的兩個突出并呈對稱設(shè)置的螺栓孔，位于各所述螺栓孔處還分別安裝有一把手；每個所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)分別通過各所述安裝孔安裝在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上，并通過兩個所述螺栓孔用螺栓將所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)固定在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上。
[0010]所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)還包括長軸、校正板支撐中心臺、非均勻校正板、校正帽、彈簧、平墊圈和銷；所述長軸通過所述校正板支撐中心臺穿設(shè)在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上，所述校正板支撐中心臺固定在所述旋轉(zhuǎn)工作臺的中心位置處；位于所述長軸的底部固定焊接有所述非均勻校正板，位于所述長軸的頂部依次套設(shè)有所述校正帽、彈簧和平墊圈，所述校正帽位于所述校正板支撐中心臺上部，且位于所述平墊圈上方在所述長軸上還穿設(shè)有所述銷；所述彈簧一端頂設(shè)在所述校正帽上，所述彈簧另一端頂設(shè)在所述平墊圈上。
[0011]所述校正板支撐中心臺外緣處設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)，且所述校正帽周向上還間隔設(shè)置有三個導(dǎo)向桿，通過所述三個導(dǎo)向桿將所述校正帽與所述校正板支撐中心臺花鍵結(jié)構(gòu)的花鍵槽進行定位連接。
[0012]所述校正帽與所述長軸之間滑動連接，所述長軸的頂部沿軸向開設(shè)有一導(dǎo)向槽，所述校正帽內(nèi)緣處也設(shè)置有一與所述長軸上導(dǎo)向槽匹配設(shè)置的凹槽，并在該凹槽上設(shè)置有一滑動鍵，所述滑動鍵通過所述長軸上的導(dǎo)向槽在所述長軸上滑動；在所述校正帽外緣處還設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)。
[0013]所述非均勻校正板采用扇葉狀平板結(jié)構(gòu)。
[0014]本實用新型由于采取以上技術(shù)方案，其具有以下優(yōu)點:1、本實用新型由于采用在吊艙支架上設(shè)置有擺動調(diào)整機構(gòu)和旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)，旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)設(shè)置在擺動調(diào)整機構(gòu)上，通過旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)可以實現(xiàn)光學(xué)測試產(chǎn)品的周向角度調(diào)整，通過擺動調(diào)整機構(gòu)可以實現(xiàn)光學(xué)測試產(chǎn)品的水平方向擺動角度調(diào)整，進而實現(xiàn)對光學(xué)測試產(chǎn)品的空間姿態(tài)進行調(diào)整，實現(xiàn)了對光學(xué)測試產(chǎn)品可靠性及穩(wěn)定性等性能進行測試分析。2、本實用新型由于采用將吊艙支架安裝在載體上，在載體運行過程中就能實現(xiàn)對光學(xué)測試產(chǎn)品進行不同工作波段、不同位置姿態(tài)進行光學(xué)產(chǎn)品進行圖像采集和位置姿態(tài)數(shù)據(jù)采集、對產(chǎn)品的光學(xué)測試及其整體性能進行分析，這樣避免了現(xiàn)有技術(shù)中對光學(xué)測試產(chǎn)品在對不同工作波段、不同位置姿態(tài)進行測試時，需要一個角度或一個位置姿態(tài)就要進行空中-地面往返一次設(shè)定，大大節(jié)省了成本，并能夠有效保證了測試的可靠性。3、本實用新型由于采用在旋轉(zhuǎn)工作臺上設(shè)置有非均勻校正板，可以實現(xiàn)對紅外線光學(xué)測試產(chǎn)品的非均勻校正。在對可見光光學(xué)測試產(chǎn)品進行測試時，不需使用非均勻校正板即可完成對可見光光學(xué)測試產(chǎn)品的測試。4、本實用新型采用擺動調(diào)整機構(gòu)實現(xiàn)光學(xué)測試產(chǎn)品的擺動角度調(diào)節(jié)，擺動調(diào)整機構(gòu)通過渦輪、渦輪軸、渦輪和擺動搖柄實現(xiàn)擺動工作臺的擺動，其結(jié)構(gòu)簡單，操作簡便。5、本實用新型能夠很好兼容光學(xué)測試產(chǎn)品工作波段(可見光、紅外)，能夠?qū)崿F(xiàn)光學(xué)測試產(chǎn)品中紅外熱像系統(tǒng)完成非均勻校正。本實用新型可以廣泛在光學(xué)產(chǎn)品性能測試中應(yīng)用。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1是本實用新型的整體結(jié)構(gòu)主視圖；
[0016]圖2是圖1的整體結(jié)構(gòu)側(cè)視圖；
[0017]圖3是本實用新型的整體結(jié)構(gòu)俯視圖。
【具體實施方式】
[0018]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進行詳細的描述。
[0019]如圖1?圖3所示，本實用新型提供一種光學(xué)試驗平臺，其包括一試驗平臺支架10、一擺動調(diào)整機構(gòu)20和一旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)40。在試驗平臺支架10內(nèi)部安裝有擺動調(diào)整機構(gòu)，旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)40安裝在擺動調(diào)整機構(gòu)20上部，且旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)40與擺動調(diào)整機構(gòu)之間為活動連接。
[0020]如圖1、圖3所示，在試驗平臺支架10的左側(cè)壁、右側(cè)壁上分別固定連接有兩連接架11，每個連接架11下方均設(shè)置有一位置調(diào)節(jié)塊12，通過更換不同高度的位置調(diào)節(jié)塊12可以實現(xiàn)本實用新型的光學(xué)試驗平臺的高度調(diào)節(jié)。試驗平臺支架10通過連接架11與測試載體(例如飛行器、汽車等)進行固定，以實現(xiàn)將本實用新型的光學(xué)試驗平臺安裝到測試載體上，并能通過位置調(diào)節(jié)塊12調(diào)整試驗平臺支架10與測試載體之間的空間位置，進行空間調(diào)整時，操作人員確定試驗平臺支架10與測試載體基礎(chǔ)面的距離后，選擇相應(yīng)的位置調(diào)節(jié)塊12后，將試驗平臺支架10與測試載體固定。其中，本申請中出現(xiàn)的上、下、左、右只代表相對位置，并不代表絕對位置。
[0021]如圖1、圖2所示，擺動調(diào)整機構(gòu)20包括一擺動工作臺21、一渦輪軸22、一后軸23、三滾動軸承24、一后軸底座25、兩軸承端蓋26、一渦輪軸座27、一鍵28、一渦輪29、一圓螺母30、一渦桿31、兩渦桿軸承底座32和一擺動搖柄33。擺動工作臺21采用圓筒形結(jié)構(gòu)，由鋼制材料制成，并在擺動工作臺21的側(cè)壁上間隔開設(shè)有通孔34，以減輕擺動工作臺21的整體重量。在擺動工作臺21的兩側(cè)分別通過螺紋固定連接有渦輪軸22和后軸23，后軸23連接第一滾動軸承24，且后軸23通過后軸底座25與試驗平臺支架10左側(cè)壁連接，第一滾動軸承24設(shè)置在后軸底座25上，后軸底座64外側(cè)通過一軸承端蓋26密封保護。渦輪軸22通過渦輪軸座27與試驗平臺支架10右側(cè)壁連接，渦輪軸22連接第二、第三兩個滾動軸承24，且渦輪軸22通過渦輪軸座27與試驗平臺支架10右側(cè)壁連接，第二、第三兩個滾動軸承24設(shè)置在渦輪軸座27上，渦輪軸座27外側(cè)通過另一軸承端蓋26密封保護。渦輪軸22伸出試驗平臺支架10的一端通過鍵28與渦輪29連接，渦輪29通過渦輪軸22的軸肩和固定在渦輪29上的圓螺母30實現(xiàn)軸向定位。渦輪29與渦桿31連接，渦桿31由兩渦桿軸承底座32固定在試驗平臺支架10上。為了方便操作，在渦桿31上安裝有擺動搖柄33，擺動搖柄33帶動渦桿31轉(zhuǎn)動,進而由渦桿31帶動渦輪29轉(zhuǎn)動,經(jīng)渦輪軸22和后軸23帶動擺動工作臺21轉(zhuǎn)動，實現(xiàn)擺動調(diào)整機構(gòu)的擺動角度調(diào)整。擺動角度調(diào)整后，擺動搖柄33可以裝拆掉。
[0022]上述實施例中，如圖2所示，擺動調(diào)整機構(gòu)20還包括一由渦桿鎖緊底座35、渦桿鎖緊內(nèi)板36和渦桿鎖緊外板37構(gòu)成的鎖緊機構(gòu)，通過鎖緊機構(gòu)可以實現(xiàn)擺動調(diào)整機構(gòu)的定位鎖緊功能。渦桿鎖緊底座35固定在試驗平臺支架10上，渦桿鎖緊內(nèi)板36 —端連接渦桿鎖緊底座35 —端，與渦桿31內(nèi)側(cè)(即靠近試驗平臺支架10的一側(cè))壓緊；渦桿鎖緊外板37 一端也連接渦桿鎖緊底座35 —端，與渦桿31外側(cè)壓緊，渦桿鎖緊內(nèi)板36與渦桿鎖緊外板37將渦桿31緊固后，渦桿鎖緊內(nèi)板36另一端與渦桿鎖緊外板37另一端通過螺栓連接在一起。使用時，將渦桿鎖緊外板37與渦桿鎖緊內(nèi)板36之間松動即可。渦輪29和渦桿31為正變位齒輪，具有其自鎖功能，擺動角度調(diào)整過程中有利于操作者連續(xù)進行旋轉(zhuǎn)操作。
[0023]如圖1、圖3所示，旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)40包括一圓形結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)工作臺41、兩壓板42和三個以上的光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)43。旋轉(zhuǎn)工作臺41設(shè)置在擺動工作臺21頂部，旋轉(zhuǎn)工作臺41兩側(cè)分別通過一壓板42將其壓緊在擺動工作臺21上，且各壓板42分別通過螺栓連接在擺動工作臺21上。位于旋轉(zhuǎn)工作臺41頂部間隔開設(shè)有若干個貫通的安裝孔，該安裝孔的數(shù)量及大小與光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)43的數(shù)量及大小呈匹配設(shè)置。各光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)43上均設(shè)置有與其一體成型的兩個突出并呈對稱設(shè)置的螺栓孔44，位于各螺栓孔44處還分別安裝有一把手45，測試過程中可根據(jù)需要將把手45進行拆卸；每個光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)43分別通過各安裝孔安裝在旋轉(zhuǎn)工作臺41上，并通過兩個螺栓孔44用螺栓將光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)43固定在旋轉(zhuǎn)工作臺41上。在使用時，上述結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)40適用于可見光光學(xué)測試產(chǎn)品，當(dāng)本實用新型的光學(xué)試驗平臺安裝在載體上，在測試過程中，需要對旋轉(zhuǎn)工作臺41上的可見光光學(xué)測試產(chǎn)品進行旋轉(zhuǎn)時，通過螺栓松動壓板42，再通過各光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)43上的把手45將旋轉(zhuǎn)工作臺41在擺動工作臺21上進行轉(zhuǎn)動，以便測試不同角度不同姿態(tài)的可見光光學(xué)測試產(chǎn)品性能。
[0024]上述實施例中，如圖1所示，旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)40還包括長軸46、校正板支撐中心臺47、非均勻校正板48、校正帽49、彈簧50、平墊圈51和銷52。長軸46通過校正板支撐中心臺47穿設(shè)在旋轉(zhuǎn)工作臺41上，校正板支撐中心臺47固定在旋轉(zhuǎn)工作臺41的中心位置處。位于長軸46的底部固定焊接有非均勻校正板48，通過非均勻校正板48對測試光學(xué)產(chǎn)品進行標定；位于長軸46的頂部依次套設(shè)有校正帽49、彈簧50和平墊圈51，校正帽49位于校正板支撐中心臺47上部，且位于平墊圈51上方在長軸46上還穿設(shè)有銷52，以實現(xiàn)定位連接。彈簧50 —端頂設(shè)在校正帽49上，彈簧50另一端頂設(shè)在平墊圈51上，彈簧50提供預(yù)緊力以保證校正帽49沿軸線方向固定，通過校正帽49能夠?qū)崿F(xiàn)長軸46安裝特定角度旋轉(zhuǎn)與固定。本實施例中的旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)40適用于紅外線光學(xué)測試產(chǎn)品，使用時，在進行紅外線光學(xué)測試產(chǎn)品紅外圖像測試非均勻校正時，通過提起校正帽49，將非均勻校正板48旋轉(zhuǎn)固定角度后，能夠完全擋住紅外線光學(xué)測試產(chǎn)品圖像鏡頭視域，進而對每個紅外線光學(xué)測試產(chǎn)品進行一一校正。校正后，非均勻校正板48旋轉(zhuǎn)離開紅外線光學(xué)測試產(chǎn)品視域后，即可進行光學(xué)產(chǎn)品測試。
[0025]上述各實施例中，校正板支撐中心臺47外緣處設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)，且校正帽49周向上還間隔設(shè)置有三個導(dǎo)向桿，通過三個導(dǎo)向桿將校正帽49與校正板支撐中心臺47花鍵結(jié)構(gòu)的花鍵槽實現(xiàn)定位連接。即正常狀態(tài)下，三個導(dǎo)向桿置于校正板支撐中心臺47的花鍵槽處，校正時，校正帽49沿長軸46提起，三個導(dǎo)向桿脫離校正板支撐中心臺47的花鍵槽處，此時校正帽49帶動長軸46和非均勻校正板48 —同旋轉(zhuǎn)，旋轉(zhuǎn)至要求位置時，放下校正帽49，此時校正帽49上的導(dǎo)向桿插入校正板支撐中心臺47的花鍵槽處，即完成旋轉(zhuǎn)。
[0026]上述各實施例中，校正帽49與長軸46之間為滑動連接，在長軸46的頂部沿軸向開設(shè)有一導(dǎo)向槽，在校正帽49內(nèi)緣處也設(shè)置有一與長軸46上導(dǎo)向槽匹配設(shè)置的凹槽,并在該凹槽上設(shè)置有一滑動鍵，該滑動鍵通過長軸46上的導(dǎo)向槽在長軸46上滑動，從而實現(xiàn)校正帽49通過導(dǎo)向槽帶動長軸46及非均勻校正板48旋轉(zhuǎn)固定角度。其中，在校正帽49外緣處還設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)，以方便校正帽49旋轉(zhuǎn)固定角度。校正時，將校正帽49沿長軸46導(dǎo)向槽提起，彈簧50被壓縮，此時校正帽49通過滑動鍵與導(dǎo)向槽的配合帶動長軸46及非均勻校正板48轉(zhuǎn)動，當(dāng)旋轉(zhuǎn)至需要位置時，沿長軸46導(dǎo)向槽放下校正帽49，實現(xiàn)非均勻校正板48的固定。
[0027]上述各實施例中，非均勻校正板48采用扇葉狀平板結(jié)構(gòu)。
[0028]上述各實施例僅用于說明本實用新型，其中各部件的結(jié)構(gòu)和連接方式等都是可以有所變化的，凡是在本實用新型技術(shù)方案的基礎(chǔ)上進行的等同變換和改進，均不應(yīng)排除在本實用新型的保護范圍之外。
【權(quán)利要求】
1.一種光學(xué)試驗平臺，其特征在于:它包括一試驗平臺支架、一擺動調(diào)整機構(gòu)和一旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)；在所述試驗平臺支架內(nèi)部安裝有所述擺動調(diào)整機構(gòu)，所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)安裝在所述擺動調(diào)整機構(gòu)上部，且所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)與所述擺動調(diào)整機構(gòu)之間為活動連接； 位于所述試驗平臺支架的左側(cè)壁、右側(cè)壁上分別固定連接有兩連接架；每個所述連接架下方均設(shè)置有一位置調(diào)節(jié)塊，通過所述連接架將所述試驗平臺支架與測試載體固定； 所述擺動調(diào)整機構(gòu)包括一擺動工作臺、一渦輪軸、一后軸、三滾動軸承、一后軸底座、兩軸承端蓋、一渦輪軸座、一鍵、一渦輪、一圓螺母、一渦桿、兩渦桿軸承底座和一擺動搖柄；在所述擺動工作臺的兩側(cè)分別連接有所述渦輪軸和后軸，所述后軸連接第一所述滾動軸承，且所述后軸通過所述后軸底座與所述試驗平臺支架左側(cè)壁連接，第一所述滾動軸承設(shè)置在所述后軸底座上，所述后軸底座外側(cè)通過一所述軸承端蓋密封保護；所述渦輪軸通過所述渦輪軸座與所述試驗平臺支架右側(cè)壁連接，所述渦輪軸連接第二、第三兩個所述滾動軸承，且所述渦輪軸通過所述渦輪軸座與所述試驗平臺支架右側(cè)壁連接，第二、第三兩個所述滾動軸承設(shè)置在所述渦輪軸座上，所述渦輪軸座外側(cè)通過另一所述軸承端蓋密封保護；所述渦輪軸伸出所述試驗平臺支架的一端通過所述鍵與所述渦輪連接，所述渦輪通過所述渦輪軸的軸肩和固定在所述渦輪上的圓螺母實現(xiàn)軸向定位；所述渦輪與所述渦桿連接，所述渦桿由兩所述渦桿軸承底座固定在所述試驗平臺支架上。
2.如權(quán)利要求 1所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述擺動調(diào)整機構(gòu)還包括一由渦桿鎖緊底座、渦桿鎖緊內(nèi)板和渦桿鎖緊外板構(gòu)成的鎖緊機構(gòu)，所述渦桿鎖緊底座固定在所述試驗平臺支架上，所述渦桿鎖緊內(nèi)板一端連接所述渦桿鎖緊底座一端，與所述渦桿內(nèi)側(cè)壓緊；所述渦桿鎖緊外板一端也連接所述渦桿鎖緊底座一端，與所述渦桿外側(cè)壓緊，所述渦桿鎖緊內(nèi)板另一端與所述渦桿鎖緊外板另一端通過螺栓連接在一起。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述渦桿上安裝有擺動搖柄。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述擺動工作臺采用圓筒形結(jié)構(gòu)，由鋼制材料制成，并在所述擺動工作臺的側(cè)壁上間隔開設(shè)有通孔。
5.如權(quán)利要求1或2或3或4所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)包括一圓形結(jié)構(gòu)的旋轉(zhuǎn)工作臺、兩壓板和三個以上的光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)；所述旋轉(zhuǎn)工作臺設(shè)置在所述擺動工作臺頂部，所述旋轉(zhuǎn)工作臺兩側(cè)分別通過一所述壓板將其壓緊在所述擺動工作臺上，且各所述壓板分別通過螺栓連接在所述擺動工作臺上；位于所述旋轉(zhuǎn)工作臺頂部間隔開設(shè)有若干個貫通的安裝孔；各所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)上均設(shè)置有與其一體成型的兩個突出并呈對稱設(shè)置的螺栓孔，位于各所述螺栓孔處還分別安裝有一把手；每個所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)分別通過各所述安裝孔安裝在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上，并通過兩個所述螺栓孔用螺栓將所述光學(xué)測試產(chǎn)品連接環(huán)固定在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上。
6.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述旋轉(zhuǎn)調(diào)整機構(gòu)還包括長軸、校正板支撐中心臺、非均勻校正板、校正帽、彈簧、平墊圈和銷；所述長軸通過所述校正板支撐中心臺穿設(shè)在所述旋轉(zhuǎn)工作臺上，所述校正板支撐中心臺固定在所述旋轉(zhuǎn)工作臺的中心位置處；位于所述長軸的底部固定焊接有所述非均勻校正板，位于所述長軸的頂部依次套設(shè)有所述校正帽、彈簧和平墊圈，所述校正帽位于所述校正板支撐中心臺上部，且位于所述平墊圈上方在所述長軸上還穿設(shè)有所述銷；所述彈簧一端頂設(shè)在所述校正帽上，所述彈簧另一端頂設(shè)在所述平墊圈上。
7.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述校正板支撐中心臺外緣處設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)，且所述校正帽周向上還間隔設(shè)置有三個導(dǎo)向桿，通過所述三個導(dǎo)向桿將所述校正帽與所述校正板支撐中心臺花鍵結(jié)構(gòu)的花鍵槽進行定位連接。
8.如權(quán)利要求6或7所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述校正帽與所述長軸之間滑動連接，所述長軸的頂部沿軸向開設(shè)有一導(dǎo)向槽，所述校正帽內(nèi)緣處也設(shè)置有一與所述長軸上導(dǎo)向槽匹配設(shè)置的凹槽，并在該凹槽上設(shè)置有一滑動鍵，所述滑動鍵通過所述長軸上的導(dǎo)向槽在所述長軸上滑動；在所述校正帽外緣處還設(shè)置有花鍵結(jié)構(gòu)。
9.如權(quán)利要求6或7所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述非均勻校正板采用扇葉狀平板結(jié)構(gòu)。
10.如權(quán)利要求8所述的光學(xué)試驗平臺，其特征在于:所述非均勻校正板采用扇葉狀平板結(jié) 構(gòu)。
【文檔編號】G01M11/00GK203758720SQ201320756676
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2013年11月26日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月26日
【發(fā)明者】馬超, 趙自強, 劉令濤, 王少紅 申請人:北京信息科技大學(xué)