一種用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，包括調(diào)試模型，所述調(diào)試模型包括上體、下體及設(shè)于所述上體、下體之間的立柱，所述立柱的一邊緣線與所述上體、下體的中心線重合。該用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件具有提高檢測(cè)藥瓶漏檢準(zhǔn)確率的優(yōu)點(diǎn)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】—種用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及食品、醫(yī)藥包裝機(jī)械領(lǐng)域，特指一種用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件。
【背景技術(shù)】
[0002]在食品、醫(yī)藥包裝設(shè)備領(lǐng)域，為檢測(cè)瓶裝液態(tài)食品或藥品(如:安瓿瓶、口服液、西林瓶等)中的異物，經(jīng)常用燈檢機(jī)檢測(cè)異物。
[0003]目前，燈檢機(jī)檢測(cè)設(shè)備(相機(jī))的調(diào)試主要為肉眼判別，即在檢測(cè)設(shè)備(相機(jī))進(jìn)行焦距調(diào)試時(shí)，根據(jù)帶檢測(cè)藥瓶的邊緣清晰度進(jìn)行調(diào)試，采用現(xiàn)有的燈檢機(jī)異物檢測(cè)調(diào)試方法易產(chǎn)生調(diào)試誤差，導(dǎo)致檢測(cè)藥瓶的漏檢和誤判。具體來(lái)講，如圖1所示，現(xiàn)有的燈檢機(jī)異物檢測(cè)調(diào)試主要根據(jù)邊界線的清晰度調(diào)試，其調(diào)試后的焦距中心為線a，其偏離于藥瓶理論中心線b，相對(duì)檢測(cè)藥瓶而言，理論中心點(diǎn)M與采用該方法進(jìn)行調(diào)試后的中心點(diǎn)N的距離s即為相機(jī)調(diào)試誤差，該調(diào)試誤差使調(diào)試后的焦距靠近檢測(cè)設(shè)備(即檢測(cè)藥瓶外側(cè))，使外側(cè)異物清晰，內(nèi)側(cè)異物模糊，形成燈檢盲區(qū)，從而導(dǎo)致在設(shè)置異物檢測(cè)參數(shù)時(shí)，異物大小和灰度值難以界定，這樣就出現(xiàn)了對(duì)同一個(gè)檢測(cè)藥瓶不同時(shí)期檢測(cè)效果的差異，導(dǎo)致檢測(cè)藥瓶的漏檢和誤判。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種提高檢測(cè)藥瓶漏檢準(zhǔn)確率的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件。
[0005]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
[0006]一種用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，包括調(diào)試模型，所述調(diào)試模型包括上體、下體及設(shè)于所述上體、下體之間的立柱，所述立柱的一邊緣線與所述上體、下體的中心線重合。
[0007]作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步改進(jìn):
[0008]還包括用于提供調(diào)試模型照明的光源組件。
[0009]所述光源組件包括位于調(diào)試模型一側(cè)并傾斜照向調(diào)試模型的輔助光源。
[0010]所述調(diào)試模型的下端設(shè)有用于支撐調(diào)試模型的底座。
[0011]所述光源組件還包括設(shè)于調(diào)試模型底部并豎直照向調(diào)試模型的底光源。
[0012]所述底座上設(shè)有便于底光源豎直照向調(diào)試模型的中心孔。
[0013]所述底光源為L(zhǎng)ED點(diǎn)光源。
[0014]所述邊緣線上設(shè)有用于精確調(diào)焦的刻度線。
[0015]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:
[0016]本實(shí)用新型的異物檢測(cè)調(diào)試組件的調(diào)試模型的立柱邊緣線與調(diào)試模型的上體、下體的中心線重合，通過(guò)相機(jī)的調(diào)試界面觀察邊緣線的清晰度來(lái)調(diào)節(jié)相機(jī)焦距，有效消除了利用帶檢測(cè)藥瓶的邊緣清晰度進(jìn)行調(diào)試導(dǎo)致的調(diào)試誤差；同時(shí)，焦距對(duì)準(zhǔn)邊緣線進(jìn)行調(diào)試，消除了燈檢盲區(qū)，保證了內(nèi)外側(cè)異物檢測(cè)的清晰度，提高了檢測(cè)藥瓶漏檢準(zhǔn)確率?！緦?zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0017]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中燈檢機(jī)異物檢測(cè)誤差原理圖。
[0018]圖2是本實(shí)用新型的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]圖3是本實(shí)用新型的調(diào)試模型的立體結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]圖中各標(biāo)號(hào)表不:
[0021]1、調(diào)試模型；11、上體；12、下體；13、立柱；131、邊緣線；132、刻度線；2、相機(jī)；3、
底光源；4、輔助光源；5、底座。
【具體實(shí)施方式】
[0022]以下將結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0023]圖2、圖3所示了本實(shí)用新型的一種用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，包括調(diào)試模型1，調(diào)試模型I包括上體11、下體12及設(shè)于上體11、下體12之間的立柱13，立柱13的一邊緣線131與上體11、下體12的中心線重合，在調(diào)試模型I的一側(cè)設(shè)有對(duì)邊緣線131進(jìn)行焦距調(diào)試的相機(jī)2，通過(guò)相機(jī)2的調(diào)試界面觀察邊緣線131的清晰度來(lái)調(diào)節(jié)相機(jī)2焦距，有效消除了利用帶檢測(cè)藥瓶的邊緣清晰度進(jìn)行調(diào)試導(dǎo)致的調(diào)試誤差；同時(shí)，相機(jī)2對(duì)準(zhǔn)邊緣線131進(jìn)行調(diào)試，消除了燈檢盲區(qū)，保證了內(nèi)外側(cè)異物檢測(cè)的清晰度，提高了檢測(cè)藥瓶漏檢準(zhǔn)確率。
[0024]本實(shí)施例中，用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件還包括用于提供調(diào)試模型I照明的光源組件，光源組件包括位于調(diào)試模型I 一側(cè)并傾斜照向調(diào)試模型I的輔助光源4，在其他實(shí)施例中，光源組件還包括設(shè)于調(diào)試模型I底部并豎直照向調(diào)試模型I的底光源3，底光源3為L(zhǎng)ED點(diǎn)光源。
[0025]本實(shí)施例中，用于調(diào)試模型I的下端設(shè)有用于支撐調(diào)試模型I的底座5，在其他實(shí)施例中，底座5上還設(shè)有便于底光源3豎直照向調(diào)試模型I的中心孔。
[0026]本實(shí)施例中，邊緣線131上設(shè)有刻度線132，刻度線132的設(shè)置使調(diào)焦更加精確。
[0027]本實(shí)施例中，在相機(jī)焦距調(diào)試時(shí)，將該調(diào)試模型I放置在底座5上，打開(kāi)輔助光源4和底光源3，在輔助光源4和底光源3的光照下，通過(guò)相機(jī)2的調(diào)試界面觀察邊緣線131的清晰度，并通過(guò)相機(jī)2的焦距旋鈕進(jìn)行調(diào)試，保證邊緣線131達(dá)到最佳清晰度。同時(shí)，通過(guò)觀察界面上的刻度線132直接調(diào)試相機(jī)2的位置，從而滿足裝量的調(diào)試要求。
[0028]以上僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式，本發(fā)明的保護(hù)范圍并不僅局限于上述實(shí)施例，凡屬于本發(fā)明思路下的技術(shù)方案均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理前提下的若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:包括調(diào)試模型(I)，所述調(diào)試模型(I)包括上體(11)、下體(12 )及設(shè)于所述上體(11)、下體(12 )之間的立柱(13 )，所述立柱(13)的一邊緣線(131)與所述上體(11)、下體(12)的中心線重合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:還包括用于提供調(diào)試模型(I)照明的光源組件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:所述光源組件包括位于調(diào)試模型(I) 一側(cè)并傾斜照向調(diào)試模型(I)的輔助光源(4)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:所述調(diào)試模型(O的下端設(shè)有用于支撐調(diào)試模型(I)的底座(5)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:所述光源組件還包括設(shè)于調(diào)試模型(I)底部并豎直照向調(diào)試模型(I)的底光源(3 )。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:所述底座(5)上設(shè)有便于底光源(3)豎直照向調(diào)試模型(I)的中心孔。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:所述底光源(3)為L(zhǎng)ED點(diǎn)光源。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7中任意一項(xiàng)所述的用于異物檢測(cè)的焦距調(diào)試組件，其特征在于:所述邊緣線(131)上設(shè)有用于精確調(diào)焦的刻度線(132 )。
【文檔編號(hào)】G01N21/01GK203688433SQ201320767364
【公開(kāi)日】2014年7月2日 申請(qǐng)日期:2013年11月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月29日
【發(fā)明者】馬文智 申請(qǐng)人:楚天科技股份有限公司