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      一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具的制作方法

      文檔序號(hào):6212559閱讀:274來(lái)源:國(guó)知局
      一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具的制作方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,包括底座,底座的兩端開(kāi)有卡條活動(dòng)槽,卡條活動(dòng)槽中設(shè)有兩個(gè)貫穿兩端卡條活動(dòng)槽的卡條,卡條的下方開(kāi)有放射源槽。本實(shí)用新型的可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,通過(guò)調(diào)節(jié)卡條,可適用于不同尺寸規(guī)格的探測(cè)器,使表面污染監(jiān)測(cè)儀整個(gè)校準(zhǔn)過(guò)程更為便捷方便,極大改善和簡(jiǎn)化校準(zhǔn)過(guò)程。
      【專利說(shuō)明】 —種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及輻射監(jiān)測(cè)與防護(hù)【技術(shù)領(lǐng)域】,具體涉及一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在核電廠、后處理廠等含放射性操作的部門,放射性監(jiān)管部門和相關(guān)放射性物質(zhì)使用單位等都配備有表面污染監(jiān)測(cè)儀。該儀器能夠測(cè)量物體表面的α、β粒子污染情況,以便決定是否采取去污等處理措施,防止人員被放射性污染。
      [0003]表面污染監(jiān)測(cè)儀在放射性監(jiān)控領(lǐng)域大量使用,生產(chǎn)廠家很多,或因?yàn)槭褂媚康牟煌⒒蛞驗(yàn)槭褂脤?duì)象不同,造成表面污染監(jiān)測(cè)儀的探測(cè)器尺寸有不同的規(guī)格,這給這些儀器的校準(zhǔn)帶來(lái)不少困擾。本實(shí)用新型正是針對(duì)該問(wèn)題而提出的一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具。
      實(shí)用新型內(nèi)容
      [0004]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷,本實(shí)用新型的目的在于提供一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,通過(guò)該裝置能夠簡(jiǎn)化校準(zhǔn)過(guò)程,提高表面污染監(jiān)測(cè)儀的校準(zhǔn)效率。
      [0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案如下:
      [0006]一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,包括底座,底座的兩端開(kāi)有卡條活動(dòng)槽,卡條活動(dòng)槽中設(shè)有兩個(gè)貫穿兩端卡條活動(dòng)槽的卡條,卡條的下方開(kāi)有放射源槽。
      [0007]進(jìn)一步,如上所述的一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,所述的卡條與放射源槽的距離為5mm。
      [0008]再進(jìn)一步,如上所述的一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,所述的卡條與放射源槽的距離為10mm。
      [0009]更進(jìn)一步,如上所述的一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,所述的底座的長(zhǎng)度為20cm,寬度為15cm。
      [0010]本實(shí)用新型的有益效果在于:本實(shí)用新型的可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,通過(guò)調(diào)節(jié)卡條,可適用于不同尺寸規(guī)格的探測(cè)器,使表面污染監(jiān)測(cè)儀整個(gè)校準(zhǔn)過(guò)程更為便捷方便,極大改善和簡(jiǎn)化了校準(zhǔn)過(guò)程。
      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0011]圖1為【具體實(shí)施方式】中一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具的主視圖;
      [0012]圖2為【具體實(shí)施方式】中一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具的俯視圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0013]下面結(jié)合說(shuō)明書附圖與【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明。
      [0014]圖1和圖2分別示出了本實(shí)用新型【具體實(shí)施方式】中一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具的主視圖和俯視圖,該工具包括底座1,底座I的兩端開(kāi)有卡條活動(dòng)槽4,卡條活動(dòng)槽4中設(shè)有兩個(gè)貫穿兩端卡條活動(dòng)槽4的卡條3,卡條3的下方開(kāi)有放射源槽2。
      [0015]本實(shí)用新型的可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,主要用于輔助表面污染監(jiān)測(cè)儀的校準(zhǔn),在校準(zhǔn)時(shí),探測(cè)器置于卡條3上,放射源置于放射源槽2中,卡條3穿過(guò)兩端的卡條活動(dòng)槽4,即卡條3外露,以便在卡條活動(dòng)槽4內(nèi)自由調(diào)節(jié)卡條3,以適應(yīng)不同尺寸的探測(cè)器。
      [0016]表面污染監(jiān)測(cè)儀在涉及放射性的領(lǐng)域大量使用,其探測(cè)器尺寸有很多的規(guī)格,我國(guó)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程要求,檢定/校準(zhǔn)這些儀器時(shí),探測(cè)器到放射源的距離是固定的,對(duì)α粒子為5mm,對(duì)β粒子來(lái)說(shuō)是10mm。為了完成儀器的α粒子和β粒子的校準(zhǔn)內(nèi)容,本實(shí)施方式中可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具的卡條3與放射源槽2的距離為5mm或者10mm,即探測(cè)器距放射源的距離設(shè)計(jì)為5mm或10mm。
      [0017]本實(shí)施方式中整個(gè)輔助校準(zhǔn)裝置的長(zhǎng)度為20cm,寬度為15cm,即底座I的長(zhǎng)度為20cm,寬度為 15cm。
      [0018]本實(shí)用新型的可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具用于表面污染監(jiān)測(cè)儀的α、β校準(zhǔn),α和β的表面污染單位以Bq/cm2給出,但實(shí)際上,探測(cè)器測(cè)量的是入射進(jìn)探測(cè)器的α、β粒子個(gè)數(shù),測(cè)量單位為cps (每秒鐘計(jì)數(shù))。探測(cè)器計(jì)數(shù)與表面污染值是成正比的,即存在一個(gè)比例系數(shù)將探測(cè)器計(jì)數(shù)和表面污染值聯(lián)系起來(lái),如何準(zhǔn)確找到這個(gè)比例系數(shù)可通過(guò)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)來(lái)實(shí)現(xiàn),這個(gè)比例系數(shù)稱為表面活度響應(yīng)。使用本實(shí)施方式中可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具開(kāi)展校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)時(shí),將放射源從放射源槽2內(nèi)插入,表面污染監(jiān)測(cè)儀放在卡條3上,移動(dòng)卡條3以適應(yīng)不同尺寸的探測(cè)器,開(kāi)展校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)。由于放射源的表面活度已知,通過(guò)與測(cè)量得到的探測(cè)器計(jì)數(shù)相比,即可得到儀器的表面活度響應(yīng)。在實(shí)際使用中,通過(guò)探測(cè)器計(jì)數(shù)和校準(zhǔn)的表面活度響應(yīng)可以得到物體、墻壁、地面等的表面污染情況,保證測(cè)量數(shù)據(jù)的有效性。
      [0019]此外,為了降低α、β的散射和β產(chǎn)生的韌致輻射,本實(shí)施方式的可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具整體采用有機(jī)玻璃材料,從而降低校準(zhǔn)時(shí)引起的干擾,更好的開(kāi)展校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)。
      [0020]顯然,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍。這樣,倘若本實(shí)用新型的這些修改和變型屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求及其同等技術(shù)的范圍之內(nèi),則本實(shí)用新型也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,其特征在于,包括底座(1),底座(I)的兩端開(kāi)有卡條活動(dòng)槽(4),卡條活動(dòng)槽(4)中設(shè)有兩個(gè)貫穿兩端卡條活動(dòng)槽(4)的卡條(3),卡條(3)的下方開(kāi)有放射源槽(2)。
      2.如權(quán)利要求1所述的一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,其特征在于,所述的卡條(3)與放射源槽(2)的距離為5mm。
      3.如權(quán)利要求1所述的一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,其特征在于,所述的卡條(3)與放射源槽(2)的距離為10mm。
      4.如權(quán)利要求1至3之一所述的一種可用于表面污染監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)的工具,其特征在于,所述的底座(I)的長(zhǎng)度為20cm,寬度為15cm。
      【文檔編號(hào)】G01T1/169GK203773060SQ201320881203
      【公開(kāi)日】2014年8月13日 申請(qǐng)日期:2013年12月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月30日
      【發(fā)明者】王勇, 黃亞雯, 韋應(yīng)靖, 李強(qiáng), 馮梅, 楊慧梅, 牛蒙青, 陳立 申請(qǐng)人:中國(guó)輻射防護(hù)研究院
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