一種電磁閥測試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種電磁閥測試裝置，包括底座和設(shè)置在底座上的機(jī)殼，機(jī)殼上設(shè)有測試臺，測試臺設(shè)有測試槽，機(jī)殼上設(shè)有支架，所述支架連接有夾柄，夾柄的橫截面為Y型形狀，夾柄的端部設(shè)有彎曲部，彎曲部向內(nèi)彎曲，夾柄的下方設(shè)有測試探頭，測試探頭布置在測試臺的正上方，夾柄設(shè)有滑塊，測試探頭與滑塊連接，測試探頭與滑塊通過升降螺栓連接。本實(shí)用新型可以實(shí)現(xiàn)豎直升降與水平移動，與電磁閥接觸更好。
【專利說明】一種電磁閥測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測試裝置，尤其是涉及一種電磁閥測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，如專利ZL201210514683.3公開了一種電磁脈沖閥噴吹性能綜合測試裝置，包括分氣箱，電磁脈沖閥設(shè)于分氣箱上，還包括相互連接的電腦及數(shù)據(jù)采集單元，電腦還連接脈沖噴吹控制儀，用于檢測電磁脈沖閥輸出壓力的輸出壓力傳感器設(shè)于打靶臺上，用于檢測輸入壓力的輸入壓力傳感器、進(jìn)氣閥及放氣閥連接在標(biāo)準(zhǔn)氣包上，輸入壓力傳感器及輸出壓力傳感器連接數(shù)據(jù)采集單元，進(jìn)氣閥及放氣閥分別連接進(jìn)氣管路及放氣管路，由電腦控制進(jìn)氣閥及放氣閥的啟閉。該測試裝置不具有測試探頭的豎直升降與水平移動結(jié)構(gòu)，與電磁閥接觸性能差。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種測試探頭可以實(shí)現(xiàn)豎直升降與水平移動，與電磁閥接觸更好的電磁閥測試裝置。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:
[0005]—種電磁閥測試裝置,包括底座和設(shè)置在底座上的機(jī)殼,機(jī)殼上設(shè)有測試臺，測試臺設(shè)有測試槽，機(jī)殼上設(shè)有支架，所述支架連接有夾柄，夾柄的橫截面為Y型形狀，夾柄的端部設(shè)有彎曲部，彎曲部向內(nèi)彎曲，夾柄的下方設(shè)有測試探頭，測試探頭布置在測試臺的正上方，夾柄設(shè)有滑塊，測試探頭與滑塊連接，測試探頭與滑塊通過升降螺栓連接。
[0006]進(jìn)一步地，所述機(jī)殼上設(shè)有操作柄，操作柄的橫截面為Y型形狀，操作柄與支架通過活動銷連接。
[0007]進(jìn)一步地，所述支架包括底板和設(shè)置在底板上的第一夾板與第二夾板,第一夾板與第二夾板呈平行布置，操作柄的夾頭兩端分別與第一夾板以及第二夾板連接，操作柄的夾頭兩端分別布置在第一夾板與第二夾板的對外朝向面，夾柄的尾部設(shè)置在第一夾板與第二夾板之間并通過活動銷連接。
[0008]進(jìn)一步地，所述機(jī)殼的橫截面為L型形狀。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果是:由于所述支架連接有夾柄，夾柄的橫截面為Y型形狀，夾柄的端部設(shè)有彎曲部，彎曲部向內(nèi)彎曲，夾柄的下方設(shè)有測試探頭，測試探頭布置在測試臺的正上方，夾柄設(shè)有滑塊，測試探頭與滑塊連接，測試探頭與滑塊通過升降螺栓連接；所以先安裝膠圈在待測試的電磁閥上，再將電磁閥放置在測試槽上，通過測試探頭與電磁閥接觸，通過升降螺栓可以調(diào)節(jié)測試探頭的升降高度，通過滑塊可以調(diào)節(jié)測試探頭的水平移動距離，從而能更好地與電磁閥接觸，完成測試電磁閥性能，能單獨(dú)判定電磁閥性能的好壞；且通過彎曲部可以有效防止滑塊從夾柄上滑落下。
[0010]以下將結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果作進(jìn)一步說明，以充分地了解本實(shí)用新型的目的、特征和效果?！緦＠綀D】

【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型電磁閥測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]如圖1所示，本實(shí)施例是一種電磁閥測試裝置，包括底座I和設(shè)置在底座I上的機(jī)殼2，機(jī)殼2上設(shè)有測試臺3，測試臺3設(shè)有測試槽10，機(jī)殼2上設(shè)有支架5，支架5連接有夾柄9,夾柄9的橫截面為Y型形狀，夾柄9的端部設(shè)有彎曲部11，彎曲部11向內(nèi)彎曲，夾柄9的下方設(shè)有測試探頭12，測試探頭12布置在測試臺3的正上方，夾柄9設(shè)有滑塊13，測試探頭12與滑塊13連接，測試探頭12與滑塊13通過升降螺栓14連接；機(jī)殼2上設(shè)有操作柄4,操作柄4的橫截面為Y型形狀，操作柄4與支架5通過活動銷連接。
[0013]本實(shí)施例中,支架5包括底板8和設(shè)置在底板8上的第一夾板6與第二夾板7，第一夾板6與第二夾板7呈平行布置，操作柄4的夾頭兩端分別與第一夾板6以及第二夾板7連接，操作柄4的夾頭兩端分別布置在第一夾板6與第二夾板7的對外朝向面，夾柄9的尾部設(shè)置在第一夾板6與第二夾板7之間并通過活動銷連接，機(jī)殼2的橫截面為L型形狀，滑塊13兩側(cè)的端部與底部的對外朝向面均設(shè)有扣塊，扣塊扣住夾柄9，扣塊呈L型形狀。
[0014]本實(shí)用新型電磁閥測試裝置，由于機(jī)殼2上設(shè)有測試臺3，測試臺3設(shè)有測試槽10，機(jī)殼2上設(shè)有支架5，支架5連接有夾柄9，夾柄9的橫截面為Y型形狀，夾柄9的端部設(shè)有彎曲部11，彎曲部11向內(nèi)彎曲，夾柄9的下方設(shè)有測試探頭12，測試探頭12布置在測試臺3的正上方，夾柄9設(shè)有滑塊13，測試探頭12與滑塊13連接，測試探頭12與滑塊13通過升降螺栓14連接；所以先安裝膠圈在待測試的電磁閥上，再將電磁閥放置在測試槽10上，通過測試探頭12與電磁閥接觸，通過升降螺栓14可以調(diào)節(jié)測試探頭12的升降高度，通過滑塊13可以調(diào)節(jié)測試探頭12的水平移動距離，從而能更好地與電磁閥接觸，完成測試電磁閥性能，能單獨(dú)判定電磁閥性能的好壞。
[0015]且通過彎曲部11可以有效防止滑塊13從夾柄9上滑落下。由于機(jī)殼2上設(shè)有操作柄4，操作柄4的橫截面為Y型形狀，操作柄4與支架5通過活動銷連接，所以通過操作柄4可以繞支架5旋動，使測試探頭12向下壓，可以與電磁閥接觸更加良好。
[0016]由于支架5包括底板8和設(shè)置在底板8上的第一夾板6與第二夾板7，第一夾板6與第二夾板7呈平行布置，操作柄4的夾頭兩端分別與第一夾板6以及第二夾板7連接，操作柄4的夾頭兩端分別布置在第一夾板6與第二夾板7的對外朝向面，夾柄9的尾部設(shè)置在第一夾板6與第二夾板7之間并通過活動銷連接，所以操作柄4與夾柄9可以分別繞支架5轉(zhuǎn)動，且相互之間不影響。由于機(jī)殼2的橫截面為L型形狀，所以方便測試臺3的設(shè)置。由于滑塊13兩側(cè)的端部與底部的對外朝向面均設(shè)有扣塊，扣塊扣住夾柄9，扣塊呈L型形狀，所以滑塊13可以牢固地扣在夾柄9中。
[0017]以上詳細(xì)描述了本實(shí)用新型的較佳具體實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)理解，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員無需創(chuàng)造性勞動就可以根據(jù)本實(shí)用新型的構(gòu)思做出諸多修改和變化。因此，凡本【技術(shù)領(lǐng)域】中技術(shù)人員依本實(shí)用新型的構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過邏輯分析、推理或者有限的實(shí)驗(yàn)可以得到的技術(shù)方案，皆應(yīng)在由權(quán)利要求書所確定的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電磁閥測試裝置，包括底座和設(shè)置在底座上的機(jī)殼，機(jī)殼上設(shè)有測試臺，測試臺設(shè)有測試槽，機(jī)殼上設(shè)有支架，其特征在于:所述支架連接有夾柄，所述夾柄的橫截面為Y型形狀，所述夾柄的端部設(shè)有彎曲部，所述彎曲部向內(nèi)彎曲，所述夾柄的下方設(shè)有測試探頭，測試探頭布置在測試臺的正上方，所述夾柄設(shè)有滑塊，所述測試探頭與滑塊連接，所述測試探頭與滑塊通過升降螺栓連接。
2.如權(quán)利要求1所述的電磁閥測試裝置，其特征在于:所述機(jī)殼上設(shè)有操作柄，所述操作柄的橫截面為Y型形狀，所述操作柄與支架通過活動銷連接。
3.如權(quán)利要求2所述的電磁閥測試裝置，其特征在于:所述支架包括底板和設(shè)置在底板上的第一夾板與第二夾板，第一夾板與第二夾板呈平行布置，操作柄的夾頭兩端分別與第一夾板以及第二夾板連接，操作柄的夾頭兩端分別布置在第一夾板與第二夾板的對外朝向面，夾柄的尾部設(shè)置在第一夾板與第二夾板之間并通過活動銷連接。
4.如權(quán)利要求1所述的電磁閥測試裝置，其特征在于:所述機(jī)殼的橫截面為L型形狀。
【文檔編號】G01M13/00GK203732251SQ201320888763
【公開日】2014年7月23日 申請日期:2013年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月31日
【發(fā)明者】高飛, 繆小祥, 蘭朝輝, 劉焚東 申請人:蕪湖雙翼航空裝備科技有限公司