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      斷層成像激光剪切干涉三維溫度測量裝置及溫度測量方法

      文檔序號:6216041閱讀:435來源:國知局
      斷層成像激光剪切干涉三維溫度測量裝置及溫度測量方法
      【專利摘要】一種斷層成像激光剪切干涉三維溫度測量裝置及溫度測量方法,屬于工業(yè)自動化儀表領(lǐng)域。它由HeNe激光器(1)所發(fā)出的激光束經(jīng)過兩個透鏡(2)和(3)等光學(xué)擴(kuò)束后,光線經(jīng)過第一個消色差透鏡(6)使之成為平行光。平行光在透過溫度測試空腔(7)后被第二個消色差透鏡(8)會聚,并經(jīng)過在會聚焦點位置的Wollaston棱鏡(9)后成為干涉圖,由CCD攝像儀(10)記錄干涉圖像。根據(jù)測試容器的特點,利用角度旋轉(zhuǎn)裝置(11)選取4個以上不同角度拍攝干涉圖像。然后根據(jù)代數(shù)重建算法對不同角度拍攝的干涉圖像進(jìn)行光學(xué)斷層成像技術(shù)處理,從而獲得測量容器內(nèi)的三維溫度場。該測溫裝置不僅具有無干涉流體、系統(tǒng)簡單、成本低等特點,而且具有高精度三維測量溫度場的顯著優(yōu)點。
      【專利說明】斷層成像激光剪切干涉三維溫度測量裝置及溫度測量方法所屬【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種新型三維溫度測量技術(shù),屬于工業(yè)自動化儀表領(lǐng)域。
      【背景技術(shù)】
      [0002]空腔內(nèi)液體三維溫度無干涉測量技術(shù)一直是工業(yè)界最需要解決的測量手段。在流體力學(xué)尤其是對流現(xiàn)象的研究中,人們通常使用光學(xué)干涉的方法觀察和測量流體的溫度分布。通過光學(xué)干涉可以得到空腔內(nèi)流場的無限寬干涉條紋,這些條紋攜帶了光束路徑(z方向)上的折射率在某一方向(可能是X或y方向)的變化率疊加的信息,這些信息是利用代數(shù)重建算法(ART-Algebraic Reconstruction Technique)進(jìn)行溫度場重建所需要的投影數(shù)據(jù),根據(jù)這些數(shù)據(jù)應(yīng)用ART可以重建空腔內(nèi)對流流場的三維溫度分布。
      [0003]折射率是介質(zhì)本身的屬性并和入射光的波長相關(guān),其值等于光線入射角的正弦值

      與折射角的正弦值之比:
      【權(quán)利要求】
      1.一種斷層成像激光剪切干涉三維溫度測量裝置,其特征在于:包括角度旋轉(zhuǎn)裝置(11)和安裝于角度旋轉(zhuǎn)裝置(11)上的光學(xué)器件;所述的光學(xué)器件依次由激光器(I)、光學(xué)擴(kuò)束裝置、第一消色差透鏡(6)、測試空腔(7)、第二消色差透鏡(8)、Wollaston棱鏡(9)和CXD攝像儀(10)組成;所述的光學(xué)擴(kuò)束裝置依次由第一透鏡(2)第一孔徑光闌(4)、第二透鏡(3)、入/4波片(15)、第二孔徑光闌(5)組成。
      2.利用權(quán)利要求1所述斷層成像激光剪切干涉三維溫度測量裝置的溫度測量方法,其特征在于包括以下過程: 一、預(yù)處理工作:1-1、所述的斷層成像激光剪切干涉三維溫度測量裝置在光線經(jīng)過測量容器后所會聚的焦點位置上安裝有Wollaston棱鏡(9);調(diào)整光路中各元件的位置,確保在未加測試空腔(7)時,CXD攝像儀(10)可以拍攝到以有限寬方式顯示的預(yù)加干涉條紋; 1-2、選取4個以上的角度對容器進(jìn)行拍攝并獲得清晰的干涉圖,其中至少有2個角度所在的方向相互垂直; 1-3、對所獲得清晰的干涉圖做二值化處理,把圖像轉(zhuǎn)化成只含有黑白兩種顏色的二值圖像;用Matlab讀各個角度的二值圖像,得到每個像素的顏色值,此時各個角度干涉圖的有效像素的數(shù)量處理為48X291,每幅二值圖像的顏色值分別存入一個顏色值數(shù)組; 1-4、按從下到上從左到右的順序處理數(shù)據(jù)原則,計算每幅二值圖像的每個像素點的像素條紋級數(shù)值,其中設(shè)每一列最下面的像素點的像素條紋級數(shù)值為0,同一列中若當(dāng)前像素點的像素顏色與前一像素點的像素顏色產(chǎn)生黑到白或白到黑的變化則當(dāng)前像素點的像素條紋級數(shù)值等于前一像素點的像素條紋級數(shù)值+1 ;若當(dāng)前像素點的像素顏色與前一像素點的像素顏色未產(chǎn)生變化則當(dāng)前像素點的像素條紋級數(shù)值等于前一像素點的像素條紋級數(shù)值,每幅圖像的像素條紋級數(shù)值分別存入一個條紋級數(shù)值數(shù)組; 1-5、對每幅二值圖像所得的條紋級數(shù)值數(shù)組進(jìn)行插值化處理,得到條紋級插值化數(shù)值數(shù)組;插值化處理的具體方法為:按從下到上的順序處理數(shù)據(jù)原則,從每一列的第一個像素開始,尋找與其像素條紋級數(shù)值相差為I的像素;然后計算這兩個像素之間間隔的像素數(shù)k,并計算得到Ak=l/(k+l);對于兩個像素之間的間隔像素,用Ak依次乘以間隔像素序號并加到其像素條紋級數(shù)值上,其中間隔像素序號從I開始計數(shù);然后從這一列的下一個像素繼續(xù)開始上述步驟,直到該列的第48個像素;所有的列都計算完畢后,得到條紋級插值化數(shù)值數(shù)組; 1-6、將重建區(qū)域劃分為一個nXn的正方形網(wǎng)格,也稱為像素,N = nXn為像素總數(shù);在每個像素內(nèi)f(x,y)是常量,fj代表第j個像素內(nèi)的常數(shù)值;光束被定義為有一固定寬度的直線,把光束一一編號,編號用P的下標(biāo)i表示是第i個光束通過第j個像素的面積占整個第j個像素面積的比例,稱做權(quán)重因子; 1-7、用每條光線經(jīng)過的所有像素各自的權(quán)重因子Wji和fj的乘積表示每個像素對每條經(jīng)過其本身的光線的貢獻(xiàn),一條光線經(jīng)過的所有像素的這些值的和稱作一個投影,這樣,每個像素的函數(shù)值fj和每條光線的投影值Pi的關(guān)系可以用下式表示:

      【文檔編號】G01K11/28GK103776559SQ201410015070
      【公開日】2014年5月7日 申請日期:2014年1月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月13日
      【發(fā)明者】黃護(hù)林, 周小明, 曹鑫暐, 張喜東 申請人:南京航空航天大學(xué)
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