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      一種入光效率測量裝置及入光效率測量方法

      文檔序號:6217638閱讀:185來源:國知局
      一種入光效率測量裝置及入光效率測量方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種入光效率測量裝置,包括具有可調(diào)狹縫單元的模擬光源,通過調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元來模擬不同LED封裝;可調(diào)狹縫單元一側(cè)設(shè)置有用于承載導(dǎo)光板的平臺;還包括位于平臺上方的光亮度測量儀,光亮度測量儀用于測量導(dǎo)光板上某一固定點的亮度數(shù)值。通過將兩次測量的亮度數(shù)值對比,得到入光效率之比。從而實現(xiàn)對不同LED封裝對應(yīng)不同厚度導(dǎo)光板的入光效率的定量測量評估。本發(fā)明還公開了一種入光效率測量方法。
      【專利說明】一種入光效率測量裝置及入光效率測量方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種入光效率測量裝置,特別涉及一種背光模組中不同LED封裝對不同導(dǎo)光板的入光效率測量裝置及采用該測量裝置測量入光效率的測量方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]液晶模組主要包括液晶面板和背光源。其中,背光源發(fā)出均勻的面光,光通過液晶面板傳到我們的眼睛里,液晶面板的作用就是按像素對這些光進行處理,以顯示圖像。眾所周知,液晶模組的亮度是一個比較重要的指標,而液晶面板的透過率基本固定以后,液晶模組的亮度就主要取決于背光源。請參考圖1,圖1為現(xiàn)有的背光模組的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0003]背光源即BLU (Back Light Unit,也稱背光模組),如圖1所示,BLU包括導(dǎo)光板01,位于導(dǎo)光板01兩側(cè)的LED燈條02,位于導(dǎo)光板01底部的反射片03和位于導(dǎo)光板頂部的光學膜材04。LED燈條02發(fā)出的光線從側(cè)面射入導(dǎo)光板01,由導(dǎo)光板01正面射出,然后經(jīng)過光學膜材04的擴散和匯聚射向液晶面板。反射片03主要是將導(dǎo)光板01底面漏出的光反射回導(dǎo)光板01,提高光的使用效率。
      [0004]從而可以看出,背光源的亮度主要取決于以下幾個方面:
      [0005]請參考圖2-圖5 ;其中圖2為不同LED封裝對應(yīng)的亮度表;圖3為導(dǎo)光板及其底部網(wǎng)點示意圖;圖4為光學膜材采用不同棱鏡對應(yīng)的增益表;圖5-1和圖5-2為不同LED封裝對應(yīng)不同厚度導(dǎo)光板的入光效率示意圖。
      [0006]1、LED燈條的亮度。
      [0007]其主要由LED燈的屬性決定,如圖2所示:不同LED封裝(LED PKG即LED package或LED封裝膠)使得不同的LED燈條具有不同的亮度。
      [0008]2導(dǎo)光板的性能。
      [0009]如圖3所示:不同廠家設(shè)計導(dǎo)光板底部網(wǎng)點設(shè)計能力不同,使得BLU具有不同的亮度。
      [0010]3光學膜材的組合搭配。
      [0011]如圖4所示,固定擴散片(Diffuser),并搭配不同的棱鏡片(Prism),即采用不同光學膜材組合搭配,其增益系數(shù)不同,使得從導(dǎo)光板出來的光被增益利用的百分比不同(圖4中最后一列的百分比為相對于序號I中的棱鏡片增益的比值)。
      [0012]4導(dǎo)光板的入光效率
      [0013]不同LED封裝對應(yīng)不同厚度的導(dǎo)光板,使得進入導(dǎo)光板能被利用的光能量不同,即不同LED封裝對應(yīng)不同導(dǎo)光板具有不同的入光效率。
      [0014]通常LED封裝的發(fā)光角度一般為120°?125°。圖5_1和圖5_2中給出了不同LED封裝(發(fā)光角度均為120° )對不同厚度的導(dǎo)光板的入光示意圖。通過對比可見,如果導(dǎo)光板的厚度小于或等于LED發(fā)光面的寬度,就有可能如圖5-1所示,有一部分光能無法被充分利用,造成光能的浪費。因此,定量地評估不同LED封裝對不同厚度導(dǎo)光板的入光效率就變得極為重要。[0015]對于上述四點,第一點,LED燈條的亮度可以由LED廠家提供,可以定量控制;第二點,導(dǎo)光板的性能由廠家的設(shè)計能力決定,如果廠家固定,可根據(jù)其之前設(shè)計的產(chǎn)品做預(yù)估判定,第三點,可以由背光源測試設(shè)備定量的測量,積累不同光學膜材的增益數(shù)據(jù)庫即可。然而,對于第四點,導(dǎo)光板的入光效率,目前現(xiàn)有技術(shù)中尚無裝置或方法對其進行定量分析評估。
      [0016]因此,如何提供一種裝置,能夠?qū)Σ煌琇ED封裝對不同厚度導(dǎo)光板的入光效率進行測量評估,是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的技術(shù)問題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0017]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是,提供一種能夠?qū)Σ煌琇ED封裝對不同厚度導(dǎo)光板的入光效率進行測量評估的測量裝置。
      [0018]解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種入光效率測量裝置,包括:
      [0019]模擬光源,所述模擬光源一側(cè)具有可調(diào)狹縫單元,所述模擬光源發(fā)出的均勻光線穿過可調(diào)狹縫單元傳輸給導(dǎo)光板;
      [0020]位于所述可調(diào)狹縫單元一側(cè)、用于承載導(dǎo)光板的平臺;
      [0021]位于所述平臺上方的光亮度測量儀,所述光亮度測量儀用于測量所述導(dǎo)光板上某一固定點的光亮度數(shù)值。
      [0022]優(yōu)選地,上述入光效率測量裝置中,所述模擬光源包括:積分球和位于所述積分球內(nèi)部的標準光源。
      [0023]優(yōu)選地,上述入光效率測量裝置中,所述積分球內(nèi)部還設(shè)有擋板,所述擋板位于所述標準光源和所述可調(diào)狹縫單元之間。
      [0024]所述可調(diào)狹縫單元包括:
      [0025]設(shè)置在所述積分球球壁上的開口 ;
      [0026]設(shè)置在所述開口上側(cè)的第一狹縫調(diào)節(jié)片;
      [0027]設(shè)置在所述開口下側(cè)的第二狹縫調(diào)節(jié)片;
      [0028]所述第一狹縫調(diào)節(jié)片的延伸面和第二狹縫調(diào)節(jié)片延伸面之間形成固定夾角α,所述固定夾角α的開口方向朝向所述積分球的外側(cè);
      [0029]所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L可調(diào)。
      [0030]優(yōu)選地,上述入光效率測量裝置中,所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片上均設(shè)置有螺絲道,將螺絲穿過所述螺絲道將所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片固定在所述開口上內(nèi),所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片可沿所述螺絲道移動。
      [0031]優(yōu)選地,上述入光效率測量裝置中,所述固定夾角α的角度范圍包括120。 -125。。
      [0032]優(yōu)選地,上述入光效率測量裝置中,所述固定點為所述導(dǎo)光板的中心點。
      [0033]優(yōu)選地,上述入光效率測量裝置中,所述積分球和所述平臺,至少一個高度可調(diào)。
      [0034]本發(fā)明還公開了一種入光效率測量方法,包括以下步驟:
      [0035]步驟1:將導(dǎo)光板放置在平臺上,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至LI ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)La ;
      [0036]步驟2:保持導(dǎo)光板不變,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至L2 ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)Lb ;
      [0037]步驟3:計算可調(diào)狹縫單元的寬度分別為LI和L2時的光亮度之比,即入光效率之比為:La/Lbo
      [0038]優(yōu)選地,上述入光效率測量方法中,所述步驟I包括:
      [0039]步驟101:將所述可調(diào)狹縫單元中的第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片沿螺絲道移動,使得所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L為LI ;
      [0040]步驟102:擰緊螺絲固定所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片。
      [0041]優(yōu)選地,上述入光效率測量方法中,所述步驟2包括:
      [0042]步驟201:將所述可調(diào)狹縫單元中的第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片沿螺絲道移動,使得所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L為L2 ;
      [0043]步驟202:擰緊螺絲固定所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片。
      [0044]本發(fā)明還公開了一種入光效率測量方法,包括以下步驟:
      [0045]步驟1:將第一導(dǎo)光板放置在平臺上,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至LI ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)La ;
      [0046]步驟2:保持可調(diào)狹縫單元的寬度不變,將第二導(dǎo)光板放置在平臺上;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)Lb ;
      [0047]步驟3:計算第一導(dǎo)光板和第二導(dǎo)光板在可調(diào)狹縫單元寬度為LI時的入光亮度之t匕,即入光效率之比為:La/Lb。
      [0048]本發(fā)明的有益效果是:
      [0049]本發(fā)明提供的入光效率測量裝置,包括模擬光源,模擬光源的一側(cè)具有可調(diào)狹縫單元,且模擬光源能夠從可調(diào)狹縫單元發(fā)出均勻光線;該可調(diào)狹縫單元一側(cè)設(shè)置有用于承載導(dǎo)光板的平臺;還包括位于平臺上方的光亮度測量儀,該光亮度測量儀用于測量位于平臺上的導(dǎo)光板上某一固定點的亮度數(shù)值。
      [0050]可知,本發(fā)明提供的入光效率測量裝置,模擬光源能夠從可調(diào)狹縫單元發(fā)出均勻光線,因此,該設(shè)計可模擬LED光源,進一步地,通過對可調(diào)狹縫單元的調(diào)節(jié),可以模擬不同的LED封裝。
      [0051]相同的LED封裝對應(yīng)不同的導(dǎo)光板或不同的LED封裝對應(yīng)相同的導(dǎo)光板時,光亮度測量儀將會測量出不同的亮度。通過將亮度數(shù)值進行對比,可以得出兩次測量之間的入光效率之比,即相對入光效率。從而實現(xiàn)對不同LED封裝對應(yīng)不同厚度導(dǎo)光板的入光效率的定量測量評估。
      [0052]本發(fā)明提供的入光效率測量方法,通過采用上述入光效率測量裝置,能夠得到兩次測量之間的入光效率之比,即相對入光效率。從而實現(xiàn)對不同光源或不同厚度導(dǎo)光板入光效率的定量測量評估。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0053]圖1為現(xiàn)有的背光模組的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0054]圖2為不同LED封裝對應(yīng)的亮度表;
      [0055]圖3為導(dǎo)光板及其底部網(wǎng)點示意圖;
      [0056]圖4為光學膜材米用不同棱鏡對應(yīng)的增益表;[0057]圖5-1和圖5-2為不同LED封裝對應(yīng)不同厚度導(dǎo)光板的入光效率示意圖;
      [0058]圖6為本發(fā)明實施例提供的入光效率測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0059]圖7為圖6中可調(diào)狹縫單元的局部放大圖;
      [0060]圖8為本發(fā)明實施例提供的可調(diào)狹縫單元的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0061]圖9為某一 LED封裝的發(fā)光角度與強度的示意圖。
      [0062]上圖中附圖標記和部件名稱的對應(yīng)關(guān)系為:
      [0063]01導(dǎo)光板;02LED燈條;03反射片;04光學膜材;05網(wǎng)點印刷區(qū);06網(wǎng)點;07留白區(qū);08網(wǎng)版編號;
      [0064]I積分球;11積分球支柱;2標準光源;3可調(diào)狹縫單元;31第一狹縫調(diào)節(jié)片;32第二狹縫調(diào)節(jié)片;33螺絲;34螺絲道;4平臺;41平臺支柱;5光亮度測量儀;6擋板;7可調(diào)節(jié)旋鈕。
      【具體實施方式】
      [0065]為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案,下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步詳細描述。顯然,所描述的實施例是本發(fā)明的一部分較佳的實施例,而不是全部的實施例?;谒枋龅谋景l(fā)明的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在無需付出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。
      [0066]請參考圖6,圖6為本發(fā)明實施例提供的入光效率測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0067]如圖6所示,本發(fā)明實施例中提供的入光效率測量裝置,包括模擬光源,模擬光源的一側(cè)具有可調(diào)狹縫單元3,且模擬光源能夠從可調(diào)狹縫單元3發(fā)出均勻光線,均勻光線穿過可調(diào)節(jié)狹縫單元3傳輸給導(dǎo)光板;該可調(diào)狹縫單元3—側(cè)設(shè)置有用于承載導(dǎo)光板01的平臺4 ;還包括位于平臺4上方的光亮度測量儀5,該光亮度測量儀5用于測量位于平臺4上的導(dǎo)光板01上某一固定點的亮度數(shù)值。
      [0068]可知,本發(fā)明提供的入光效率測量裝置,模擬光源能夠從可調(diào)狹縫單元發(fā)出均勻光線,因此,該設(shè)計可模擬LED光源,進一步地,通過對可調(diào)狹縫單元的調(diào)節(jié),可以模擬不同的LED封裝。
      [0069]相同的LED封裝對應(yīng)不同的導(dǎo)光板或不同的LED封裝對應(yīng)相同的導(dǎo)光板時,光亮度測量儀5將會測量出不同的亮度。通過將亮度數(shù)值進行對比,可以得出兩次測量之間的入光亮度之比,即相對入光效率。從而實現(xiàn)對不同LED封裝對應(yīng)不同厚度導(dǎo)光板的入光效率的定量測量評估。
      [0070]例如,兩次測量的亮度之比為5:6,那么如果將第一次測量時的入光效率記為100%,計算得出第二次測量時的入光效率為120%。那么第二次測量就比第一次測量的入光效率增加了百分之二十。
      [0071]需要說明的是,為了排除其他因素對測量結(jié)果的影響,本發(fā)明中,更換導(dǎo)光板01時,僅厚度可變,其它的因素,例如導(dǎo)光板01上方的光學膜材04和下方的反射片03均固定。
      [0072]在本發(fā)明提供的一種具體實施例中,模擬光源包括積分球I和位于積分球I內(nèi)部的標準光源2。標準光源2發(fā)出的光經(jīng)過積分球I的均勻擴散作用,能夠保證在可調(diào)狹縫單元3處出光的均勻性,因此,該設(shè)計可模擬LED光源,可調(diào)狹縫單元3即為模擬的LED光源的發(fā)光面的寬度。進一步地,通過對可調(diào)狹縫單元3的調(diào)節(jié),改變LED光源的發(fā)光面的寬度,進而模擬不同的LED封裝。
      [0073]當然,模擬光源的實現(xiàn),并不局限于上述實施例,只要通過一個高反射性內(nèi)表面的殼體,對光源加以反射及漫射,得到均勻光強分布的光線即可。
      [0074]為了進一步優(yōu)化上述技術(shù)方案,本實施例中,在積分球I內(nèi)部還設(shè)置有擋板6,該擋板6位于標準光源2和可調(diào)狹縫單元3之間,這樣可以避免標準光源2對于可調(diào)狹縫單元3的直射,進一步提高了可調(diào)狹縫單元3處出光的均勻性,進而提高了本發(fā)明測量的準確性。
      [0075]擋板6的尺寸大小并不局限,優(yōu)選為10cm*10cm,可對標準光源2對可調(diào)狹縫單元3的直射光進行有效遮擋;擋板6的材質(zhì)也不局限,優(yōu)選為擋板6的表面具有同積分球I內(nèi)壁一樣的高反射性涂層,例如硫酸鋇涂層。
      [0076]請參考圖7和圖8,圖7為圖6中可調(diào)狹縫單元的局部放大圖;圖8為本發(fā)明實施例提供的可調(diào)狹縫單元的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0077]如圖7所示,本發(fā)明一種實施例中,可調(diào)狹縫單元3包括開設(shè)在積分球I球壁上的開口,設(shè)置在開口上側(cè)的第一狹縫調(diào)節(jié)片31和設(shè)置在開口下側(cè)的第二狹縫調(diào)節(jié)片32。且第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32之間具有固定夾角α,該固定夾角α的開口方向朝向積分球I的外側(cè),第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32之間的最短距離L可調(diào)??芍?,該最短距離L處為該可調(diào)狹縫單元3的出光處,即為模擬的LED光源的發(fā)光面的寬度。因此,在設(shè)計中,第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32的邊緣處在垂直方向上應(yīng)對齊,即最短距離L只有一種理解,就是第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32沿角度方向靠近的兩個邊緣處的垂直距離。
      [0078]對于上述最短距離L的調(diào)節(jié),可以通過多種方式實現(xiàn),本發(fā)明提供的實施例中,上述第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32通過螺絲33設(shè)置在積分球I的開口上,第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32上均設(shè)置有螺絲道34,上述螺絲33位于螺絲道34之內(nèi),且第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32可沿該螺絲道34移動??芍舻谝华M縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32沿螺絲道34向積分球I內(nèi)部移動,則該最短距離L變小,相反地,如第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32沿螺絲道34向積分球I外側(cè)移動,該最短距離L變大。當最短距離L達到測量要求,則可通過擰緊兩個螺絲33,將第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32固定。
      [0079]當然也并不局限于上述實施例,還可以將上述第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32直接固定在開口上,形成兩個固定片,并在兩個固定片上分別貼合設(shè)置兩個滑動片,則上述最短距離L便轉(zhuǎn)化為兩個滑動片沿角度方向靠近的兩個邊緣處的垂直距離,通過兩個滑動片的滑動,來調(diào)節(jié)最短距離L。
      [0080]請參考圖9,圖9為某一 LED封裝的發(fā)光角度與強度的示意圖。
      [0081]如圖9所示,當LED封裝的發(fā)光角度在60°以后,其發(fā)光強度急劇下降,在90°以后趨近于零,因此,廠家在設(shè)計中,一般將120°作為生產(chǎn)標準,120°視為LED封裝的極限發(fā)光角度。然而不同廠家在各自生產(chǎn)過程中,均有一定的誤差,生產(chǎn)的LED封裝的發(fā)光角度一般在120° -125°之間。因此,本發(fā)明中第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32之間的固定夾角α的角度范圍可在120° -125°之間選取。優(yōu)選地,該固定夾角α為120°。[0082]理論上,光亮度測量儀5可對導(dǎo)光板01上任一固定點進行測量,然而在實際操作中,可優(yōu)選為導(dǎo)光板01的中心點進行測量。能夠提高測量的準確性及其可參考價值。
      [0083]為了進一步優(yōu)化上述技術(shù)方案,本發(fā)明中,上述積分球I和平臺4中,至少一個高度可調(diào)。這樣在平臺4上放置不同厚度的導(dǎo)光板時,可保證導(dǎo)光板與可調(diào)狹縫單元3的對應(yīng),提高測量的準確性。
      [0084]為了滿足平臺4的高度可調(diào),本發(fā)明中,平臺4通過平臺支柱41支撐,平臺支柱41下方設(shè)置可調(diào)節(jié)旋鈕7,通過調(diào)節(jié)該可調(diào)節(jié)旋鈕7,調(diào)整平臺4的高度。積分球I的高度調(diào)整同理,即積分球I通過積分球支柱11支撐,在積分球支柱11下方設(shè)置可調(diào)節(jié)旋鈕7??烧{(diào)節(jié)旋鈕7可以通過一個可旋進旋出的螺絲實現(xiàn)。
      [0085]本發(fā)明還提供了一種入光效率測量方法,包括以下步驟:
      [0086]步驟1:將導(dǎo)光板放置在平臺上,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至LI ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)La ;
      [0087]其中可調(diào)節(jié)狹縫單元的寬度為第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L,即第一狹縫調(diào)節(jié)片31和第二狹縫調(diào)節(jié)片32沿角度方向靠近的兩個邊緣處的垂直距離。
      [0088]步驟2:保持導(dǎo)光板不變,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至L2 ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)Lb ;
      [0089]步驟3:計算可調(diào)狹縫單元的寬度分別為LI和L2時的光亮度之比,即入光效率之比為:La/Lbo
      [0090]通過本發(fā)明提供的入光效率測量方法,能夠得到兩次測量之間的入光效率之比,即相對入光效率。從而實現(xiàn)對不同光源對相同厚度導(dǎo)光板入光效率的定量測量評估。
      [0091]優(yōu)選地,上述入光效率測量方法中,步驟I包括:
      [0092]步驟101:將所述可調(diào)狹縫單元中的第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片沿螺絲道移動,使得所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L為LI ;
      [0093]步驟102:擰緊螺絲固定所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片。
      [0094]優(yōu)選地,上述入光效率測量方法中,步驟2包括:
      [0095]步驟201:將所述可調(diào)狹縫單元中的第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片沿螺絲道移動,使得所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L為L2 ;
      [0096]步驟202:擰緊螺絲固定所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片。
      [0097]本發(fā)明還公開了一種入光效率測量方法,包括以下步驟:
      [0098]步驟1:將第一導(dǎo)光板放置在平臺上,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至LI ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)La ;
      [0099]步驟2:保持可調(diào)狹縫單元的寬度不變,將第二導(dǎo)光板放置在平臺上;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)Lb ;
      [0100]步驟3:計算第一導(dǎo)光板和第二導(dǎo)光板在可調(diào)狹縫單元寬度為LI時的入光亮度之t匕,即入光效率之比為:La/Lb。
      [0101]通過本發(fā)明提供的入光效率測量方法,能夠得到兩次測量之間的入光效率之比,即相對入光效率。從而實現(xiàn)對相同光源對不同厚度導(dǎo)光板入光效率的定量測量評估。
      [0102]可知,打開標準光源后,光的強度先增強,后減弱,最后趨于平穩(wěn),因此,本發(fā)明實施例在測量過程中,為了得到更加均勻的光線,應(yīng)當?shù)葮藴使庠吹墓鈴姺€(wěn)定后在進行測量。一般情況下,在打開標準光源10-15分鐘后即可。
      [0103]可以理解的是,以上實施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實施方式,然而本發(fā)明并不局限于此。對于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言,在不脫離本發(fā)明的精神和實質(zhì)的情況下,可以做出各種變型和改進,這些變型和改進也視為本發(fā)明的保護范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種入光效率測量裝置,其特征在于,包括: 模擬光源,所述模擬光源一側(cè)具有可調(diào)狹縫單元,所述模擬光源發(fā)出的均勻光線穿過可調(diào)狹縫單元傳輸給導(dǎo)光板; 位于所述可調(diào)狹縫單元一側(cè)、用于承載導(dǎo)光板的平臺; 位于所述平臺上方的光亮度測量儀,所述光亮度測量儀用于測量所述導(dǎo)光板上某一固定點的光亮度數(shù)值。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的入光效率測量裝置,其特征在于,所述模擬光源包括:積分球和位于所述積分球內(nèi)部的標準光源。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的入光效率測量裝置,其特征在于,所述積分球內(nèi)部還設(shè)有擋板,所述擋板位于所述標準光源和所述可調(diào)狹縫單元之間。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的入光效率測量裝置,其特征在于,所述可調(diào)狹縫單元包括: 設(shè)置在所述積分球球壁上的開口; 設(shè)置在所述開口上側(cè)的第一狹縫調(diào)節(jié)片; 設(shè)置在所述開口下側(cè)的第二狹縫調(diào)節(jié)片; 所述第一狹縫調(diào)節(jié)片的延伸面和第二狹縫調(diào)節(jié)片的延伸面之間形成固定夾角α,所述固定夾角α的開口方向朝 向所述積分球的外側(cè); 所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L可調(diào)。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的入光效率測量裝置,其特征在于,所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片上均設(shè)置有螺絲道,將螺絲穿過所述螺絲道將所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片固定在所述開口上,所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片可沿所述螺絲道移動。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的入光效率測量裝置,其特征在于,所述固定夾角α的角度范圍包括 120° -125°。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的入光效率測量裝置,其特征在于,所述固定點為所述導(dǎo)光板的中心點。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項權(quán)利要求所述的入光效率測量裝置,其特征在于,所述積分球和所述平臺,至少一個高度可調(diào)。
      9.一種入光效率測量方法,其特征在于,包括以下步驟: 將導(dǎo)光板放置在平臺上,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至LI ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)La ; 保持導(dǎo)光板不變,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至L2 ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)Lb ; 計算可調(diào)狹縫單元的寬度分別為LI和L2時的入光亮度之比,即入光效率之比為:La/Lb0
      10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的入光效率測量方法,其特征在于,所述調(diào)節(jié)可調(diào)節(jié)狹縫單元的寬度至LI包括: 將所述可調(diào)狹縫單元中的第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片沿螺絲道移動,使得所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L為LI ; 擰緊螺絲固定所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片。
      11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的入光效率測量方法,其特征在于,所述調(diào)節(jié)可調(diào)節(jié)狹縫單元的寬度至L2包括: 將所述可調(diào)狹縫單元中的第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片沿螺絲道移動,使得所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片之間的最短距離L為L2 ; 擰緊螺絲固定所述第一狹縫調(diào)節(jié)片和第二狹縫調(diào)節(jié)片。
      12.—種入光效率測量方法,其特征在于,包括以下步驟: 將第一導(dǎo)光板放置在平臺上,調(diào)節(jié)可調(diào)狹縫單元的寬度至LI ;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)La ; 保持可調(diào)狹縫單元的寬度不變,將第二導(dǎo)光板放置在平臺上;記錄光亮度測量儀的亮度讀數(shù)Lb ; 計算第一導(dǎo)光板和第二導(dǎo)光板在可調(diào)狹縫單元寬度為LI時的入光亮度之比,即入光效率之比為:La/Lb。
      【文檔編號】G01J1/08GK103792002SQ201410041828
      【公開日】2014年5月14日 申請日期:2014年1月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月28日
      【發(fā)明者】顏凱, 柏玲, 鹿堃, 布占場 申請人:北京京東方顯示技術(shù)有限公司, 京東方科技集團股份有限公司
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