待測發(fā)光元件的光檢測裝置及其方法
【專利摘要】本發(fā)明提出一種待測發(fā)光元件的光檢測裝置及其方法，該光檢測裝置包括一積分球、一支撐治具及一點測針，其中該積分球為一中空球體，其壁面開設(shè)有至少一收光孔及一出光孔，該積分球的內(nèi)壁均勻涂布或形成有一反射面；該支撐治具包括一支撐框體及一透光板，當(dāng)該支撐框體被裝設(shè)至該積分球上，能使該透光板的一側(cè)貼靠至對應(yīng)于該收光孔的位置，該透光板的另一側(cè)供支撐及放置一待測發(fā)光元件；該點測針設(shè)置在對應(yīng)于該待測發(fā)光元件的位置，并能對該待測發(fā)光元件施加電流，以使該待測發(fā)光元件所發(fā)出的光線，能透過該透光板進(jìn)入該積分球，再經(jīng)由該出光孔射出該積分球外，進(jìn)而使設(shè)置于該出光孔外的一量測儀器能量測該待測發(fā)光元件所發(fā)出的光線。
【專利說明】待測發(fā)光元件的光檢測裝置及其方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種待測發(fā)光元件的光檢測裝置及其方法，尤指一種將一支撐治具裝 設(shè)至對應(yīng)于一積分球的一收光孔的位置，且通過一點測針的往復(fù)運(yùn)動，對該支撐治具上的 一待測發(fā)光元件進(jìn)行檢測，據(jù)此擴(kuò)大該積分球的收光角度，進(jìn)而提高該積分球的收光量的 檢測裝置及其方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 發(fā)光二極管（Light-Emitting Diode, LED)是一種于通電后能產(chǎn)生光亮的半導(dǎo)體 電子元件，相較于傳統(tǒng)的照明用具，發(fā)光二極管具有效率高、成本低、反應(yīng)速度快且使用壽 命長等優(yōu)點，故近年來開始被大量應(yīng)用在交通號志、照明器具、顯示面板甚至光通訊等領(lǐng)域 上，成為經(jīng)濟(jì)發(fā)展及科技研發(fā)上極具影響力的關(guān)鍵技術(shù)之一。
[0003] 發(fā)光二極管中主要發(fā)光的元件為晶粒（crystal grain),其一般由晶圓（wafer) 切割而成。由于晶粒的發(fā)光亮度、波長、色溫及操作電壓等特性，會因加工條件上的些微差 異而有所不同，且即便由同一片晶圓所切割而成的晶粒，其發(fā)光特性也不盡相同。因此，當(dāng) 業(yè)者將晶圓切割成多個晶粒后，會針對個別晶粒的主波長、發(fā)光強(qiáng)度、光通量、色溫、工作電 壓、反向擊穿電壓等特性參數(shù)進(jìn)行進(jìn)行檢測程序，以根據(jù)各晶粒的前述的各種參數(shù)將各晶 粒分級，以便能將不同等級的晶粒，分別應(yīng)用至其所適合的領(lǐng)域。
[0004] 傳統(tǒng)上，在檢測晶粒的發(fā)光特性時，多使用一積分球（Integrating Sphere)收集 晶粒所發(fā)出的光線，再通過一量測裝置，量測由該積分球射出的光線。積分球是一種理想的 光學(xué)擴(kuò)散器，其構(gòu)形為一中空球體，以在其內(nèi)部形成一無光害的空間，進(jìn)而能確保光線投射 至該積分球內(nèi)后，不會受到其他光源的光害影響；此外，積分球內(nèi)部通常涂布有高穩(wěn)定度、 高反射率的一反射層(如：硫酸鋇)，以通過該反射層，使射入該積分球的光線在該積分球內(nèi) 被均勻地反射及漫射，進(jìn)而能在該積分球內(nèi)形成均勻的光強(qiáng)分布，據(jù)此降低因光線形狀、發(fā) 散角度及不同檢測位置的響應(yīng)度所造成的檢測誤差，使得檢測結(jié)果更為可靠。
[0005] 請參閱圖1所示，是一種公知的檢測裝置1的結(jié)構(gòu)，該檢測裝置1包括一積分球11 及一點測針12,該積分球11上設(shè)有一收光柱111及二出光柱112,該收光柱111及出光柱 112分別開設(shè)有開孔，以連通至該積分球11內(nèi)的空間，該出光柱112分別與一光纖13及一 量測儀器14相連接；該點測針12經(jīng)由一點測裝置（圖中未示）定位于對應(yīng)該收光柱111的 位置，且該點測針12下方放置有發(fā)光二極管的一晶粒10。在進(jìn)行檢測時，該積分球11與該 點測針12會共同向下位移，以在該點測針12電氣連接至該晶粒10的接腳時，令該晶粒10 投射出的光線，能被投射至該積分球11內(nèi)部，隨后，通過該光纖13與量測儀器14量測該晶 粒10所投射出的光線，進(jìn)而能分析出該晶粒10的特性參數(shù)。
[0006] 雖然，由于該晶粒10所投射出的光線會在該積分球11內(nèi)反射與漫射，以形成均勻 的光束，有效降低許多可能造成誤差的干擾因素，但是，受限于公知檢測裝置的配置方式， 實際上在進(jìn)行檢測時，公知檢測裝置1所檢測出的光線數(shù)據(jù)，仍無法理想地完全反應(yīng)出該 晶粒10的實際特性參數(shù)。現(xiàn)分別詳述其理由及該檢測裝置1的缺陷如下：
[0007] (1)晶粒10與收光柱111間的距離：由于該點測針12介于該晶粒10與該積分球 11之間，該晶粒10與該收光柱111間必然存在著一間隔距離D1，因此，該晶粒10投射出的 光線并無法在不受外界干擾的情況下，理想地投射至該積分球11中，且該晶粒10在投射出 光線時，尚具有預(yù)定的一投射角度A，若該投射角度A較大或該間隔距離D1過長，則該光線 在經(jīng)過該間隔距離D1后，必然會有部分的光線無法順利被該收光柱111收集，而影響在測 量上的精準(zhǔn)度。
[0008] (2)收光柱111上開孔的孔徑大?。喝缜八?，由于該收光柱111與該晶粒10間 具有該間隔距離D1，故在進(jìn)行檢測時，該收光柱111上的開孔必然需設(shè)計成遠(yuǎn)較該晶粒10 為大，如此，才能盡可能地避免光線經(jīng)該投射角度A擴(kuò)散后，無法全部進(jìn)入該積分球11的問 題，然而，在該收光柱111的開孔與該晶粒10并不匹配的情況下，該晶粒10投射出的光線 于該積分球11內(nèi)反射與漫射后，尚可能會由該收光柱111射出，造成該積分球內(nèi)原應(yīng)完全 密閉的檢測環(huán)境被破壞，進(jìn)而影響到檢測上的精準(zhǔn)性。
[0009] 因此，如何對公知的檢測裝置進(jìn)行改良，以解決過去在進(jìn)行檢測程序時，晶粒10 產(chǎn)生的光線無法完全地進(jìn)入該積分球11，且該積分球11中經(jīng)反射及漫射后的光線，尚可能 由該收光柱111散漏至外界的問題，即成為本發(fā)明在此亟欲解決的重要問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0010] 有鑒于公知檢測裝置受到其配置方式的限制，以致在進(jìn)行檢測程序時會產(chǎn)生諸多 問題，發(fā)明人根據(jù)其多年的實務(wù)經(jīng)驗，在不斷地研究、測試及改良后，終于設(shè)計出一種待測 發(fā)光元件的光檢測裝置及其方法，以期能透過本發(fā)明，解決公知檢測裝置的諸多問題。
[0011] 本發(fā)明的目的，是提供一種待測發(fā)光元件的光檢測裝置及其方法，其中，所述光檢 測裝置包括一積分球、一支撐治具及一點測針，其中，所述積分球為一中空球體，其壁面開 設(shè)有至少一收光孔及一出光孔，所述收光孔及出光孔分別與所述積分球內(nèi)的空間相連通， 所述積分球的內(nèi)壁均勻涂布或形成有一反射面，所述積分球的基本工作原理是一待測發(fā)光 元件(如：發(fā)光二極管的晶粒）所產(chǎn)生的光線，能經(jīng)由所述收光孔，射入所述積分球內(nèi)，隨后， 光線會在所述積分球內(nèi)被該反射面均勻地反射及漫射，以在所述積分球內(nèi)形成均勻的光強(qiáng) 分布，再經(jīng)由所述出光孔，射出所述積分球外，因此，一量測儀器能由所述出光孔，量測到非 常均勻的漫射光束，并據(jù)以對所述待測發(fā)光元件進(jìn)行檢測。
[0012] 所述支撐治具包括一支撐框體及一透光板，所述支撐框體與所述透光板相互結(jié)合 成一體，當(dāng)所述支撐框體被裝設(shè)至所述積分球上，能使所述透光板的一側(cè)貼靠至對應(yīng)于所 述收光孔的位置，所述透光板的另一側(cè)供支撐及放置一待測發(fā)光元件。
[0013] 所述點測針設(shè)置在對應(yīng)于所述待測發(fā)光元件的位置，且能相對于所述待測發(fā)光元 件往復(fù)位移，以在接觸所述待測發(fā)光元件的狀態(tài)下，對所述待測發(fā)光元件施加電流，以使所 述待測發(fā)光元件所發(fā)出的光線，能透過所述透光板進(jìn)入所述積分球，再經(jīng)由所述出光孔射 出所述積分球外，進(jìn)而使設(shè)置于所述出光孔外的一量測儀器能量測所述待測發(fā)光元件所發(fā) 出的光線。
[0014] 本發(fā)明提出的待測發(fā)光元件的光檢測方法，其應(yīng)用于如上所述的待測發(fā)光元件的 光檢測裝置中，且所述待測發(fā)光元件的光檢測方法包括以下步驟：
[0015] 將所述待測發(fā)光元件放置于所述透光板的所述另一側(cè)；
[0016] 在所述積分球、支撐治具及待測發(fā)光元件間的相對位置固定的狀態(tài)下，令所述點 測針相對于所述待測發(fā)光元件往復(fù)位移；及
[0017] 在所述點測針接觸所述待測發(fā)光元件的狀態(tài)下，透過所述點測針對所述待測發(fā)光 元件施加電流，以使所述待測發(fā)光元件所發(fā)出的光線，能透過所述透光板進(jìn)入所述積分球， 再經(jīng)由所述出光孔射出所述積分球外，進(jìn)而使設(shè)置于所述出光孔外的一量測儀器能量測所 述待測發(fā)光元件所發(fā)出的光線。
[0018] 如此，由于所述透光板的一側(cè)貼靠至所述收光孔，且所述待測發(fā)光元件直接被置 放在所述透光板的所述另一側(cè)，因此，當(dāng)所述點測針對所述待測發(fā)光元件施加電流，進(jìn)行點 測時，所述待測發(fā)光元件在收光角度范圍內(nèi)所產(chǎn)生的所有光線，均能經(jīng)由所述收光孔，射入 所述積分球，且在所述積分球內(nèi)被所述反射面均勻地反射及漫射，形成均勻光束后，再經(jīng)由 所述出光孔，射出所述積分球外，故能大幅增加所述積分球的收光角度，且大幅提高該量測 儀器對所述待測發(fā)光元件的量測準(zhǔn)確度。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019] 圖1是公知檢測裝置的示意圖；
[0020] 圖2是本發(fā)明較佳實施例的檢測裝置立體示意圖；
[0021] 圖3A是本發(fā)明的收光裝置的作動示意圖；及
[0022] 圖3B是本發(fā)明的收光裝置的作動示意圖。
[0023] 主要元件標(biāo)號說明：
[0024] 檢測裝置.........2
[0025] 積分球.........21
[0026] 反射面.........210
[0027] 收光柱.........211
[0028] 收光孔.........211a
[0029] 出光柱.........212
[0030] 出光孔.........212a
[0031] 支撐治具.........22
[0032] 支撐框體.........221
[0033] 定位空間.........221a
[0034] 迫緊元件.........221b
[0035] 透光板.........222
[0036] 點測針.........30
[0037] 待測發(fā)光元件.........L
[0038] 透光檢測區(qū).........F1
[0039] 不透光反射區(qū).........F2
[0040] 收光角度.........Θ
[0041] 密封元件.........Μ
[0042] 厚度.........D2

【具體實施方式】
[0043] 為了對本發(fā)明的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解，現(xiàn)結(jié)合附圖進(jìn)一步說 明本發(fā)明的【具體實施方式】。
[0044] 本發(fā)明是一種待測發(fā)光元件的光檢測裝置及其方法，請參閱圖2及圖3A所示，在 本發(fā)明的較佳實施例中，該檢測裝置2包括一積分球21及一支撐治具22,該積分球21的 構(gòu)形為一中空球體，其內(nèi)壁面上均勻涂布或形成有一反射面210。在一較佳實施例中，該積 分球21的外壁上凸設(shè)有一收光柱211及至少一出光柱212,該收光柱211的中央開設(shè)有一 收光孔211a，各出光柱212的中央則分別開設(shè)有一出光孔212a，且該收光孔211a及出光孔 212a與該積分球21內(nèi)部的空間相連通，但是，本發(fā)明并不以此為限，實際施作時，亦可省略 該收光柱211及出光柱212,并將該收光孔211a及出光孔212a直接開設(shè)于該積分球21的 壁面，在此首先說明。在此特別一提的是，該出光柱212的數(shù)量可依業(yè)者實際的檢測方式調(diào) 整，且能通過一密封元件Μ將處于非使用狀態(tài)的出光孔212a封閉。
[0045] 承上，該支撐治具22包括一支撐框體221及一透光板222,該支撐框體221面向該 積分球21的底側(cè)內(nèi)緣開設(shè)有一定位空間221a，該定位空間221a的構(gòu)形與該收光柱211的 構(gòu)形相匹配，以令該支撐框體221的底側(cè)能被套接于該收光柱211上。該支撐框體221尚 設(shè)有多個迫緊元件221b，該等迫緊元件221b設(shè)置于該支撐框體221上對應(yīng)于該定位空間 221a的位置，以在該支撐框體221被套接至該收光柱211的狀態(tài)下，令該支撐框體221與該 收光柱211能緊密地結(jié)合成一體。在一較佳實施例中，該等迫緊元件221b為多個螺絲，其一 端對應(yīng)于該定位空間221a的位置，且該等迫緊元件221b活動地設(shè)置于該支撐框體221上， 且使用者能由各迫緊元件221b的另一端轉(zhuǎn)動各迫緊元件221b，以令該迫緊元件221b的該 一端能迫緊至該收光柱211的周緣，進(jìn)而使該支撐框體221與該收光柱211結(jié)合成一體，或 轉(zhuǎn)動各迫緊元件221b，以令各迫緊元件221b的該一端不會抵靠至該收光柱211的周緣，進(jìn) 而能將該支撐框體221自該收光柱211上卸下。該透光板222固設(shè)于該支撐框體221上， 當(dāng)該支撐框體221被裝設(shè)至該積分球21上，能使該透光板222的一側(cè)貼靠至對應(yīng)于該收光 孔211a的位置，以令外界的光線，能依序通過該透光板222及該收光孔211a，進(jìn)入該積分球 21中。該透光板222的另一側(cè)供支撐及放置一待測發(fā)光元件L。
[0046] 在此特別一提的是，該支撐框體221及該透光板222的定位方式并不以前述的方 法為限，舉例而言，在本發(fā)明的其他實施例中，該迫緊元件221b亦可為一彈性體，且設(shè)置于 該支撐框體221上對應(yīng)于該定位空間221a的位置，以在該支撐框體221被套接至該收光 柱211的狀態(tài)下，通過該迫緊元件221b的彈性，使該支撐框體221與該收光柱211彈性緊 迫為一體，如此，亦可達(dá)到均等的功效，或者，該支撐框體221亦可透過嵌卡、螺合等方式， 與該收光柱211結(jié)合成一體，業(yè)者得視需要自由變化。此外，在一較佳實施例中，該透光板 222直接固設(shè)(如：以粘膠固定）于該支撐框體221的頂面，但是，在本發(fā)明的其他較佳實施 例中，該透光板222還能以套合或嵌卡的方式，固設(shè)于該支撐框體221上，在此一并說明。 [0047] 發(fā)明人根據(jù)多年來的實務(wù)經(jīng)驗，發(fā)現(xiàn)公知的檢測裝置之所以難以降低檢測誤差， 其主要原因是公知檢測裝置的配置方式，使得在執(zhí)行檢測程序時，發(fā)光二極管的晶粒與收 光孔間的距離過大，以致于在檢測的過程中常有漏光的問題，而成為檢測誤差的主要來源， 因此，請參閱圖3A所示，本發(fā)明的檢測裝置2的一設(shè)計重點，在于該透光板222不僅能直接 作為承載一待測發(fā)光元件L (如：發(fā)光二極管的晶粒）的支撐面，且由于該透光板222緊貼 在對應(yīng)于該收光孔21 la的位置，因此，該待測發(fā)光元件L所發(fā)出的光線，便能透過該透光板 222直接進(jìn)入該積分球21中。據(jù)此，不僅能確保該待測發(fā)光元件L所發(fā)出的大部分光線均 能投射至該積分球21中，且能有效避免外界的其他光源所造成的影響。在進(jìn)行前述的檢測 程序時，業(yè)者能在各該出光柱212上分別連接裝設(shè)一量測儀器（圖中未示);或在各該出光柱 212上裝設(shè)一密封元件Μ (如：密封蓋或反射板)，以將處于非使用狀態(tài)的該出光孔212a封 閉，在此一并說明。
[0048] 請參閱圖2至圖3B所示，在本實施例中，該檢測裝置2配合一點測裝置（圖中未 示)，對該待測發(fā)光元件L進(jìn)行檢測，該點測裝置的一點測針30定位于該檢測裝置2的上方， 且能活動地進(jìn)行往復(fù)位移，由于該點測針30并非介在該積分球21與該待測發(fā)光元件L之 間，因此，該點測針30的占用空間并不會影響該檢測裝置2于檢測上的精確度。在該點測 針30電氣連接至該待測發(fā)光元件L的接腳時，該待測發(fā)光元件L將能被通電驅(qū)動，并產(chǎn)生 出光線，且該光線能經(jīng)由該收光孔21 la，射入該積分球21內(nèi)，隨后，光線會在該積分球21內(nèi) 被該反射面均勻地反射及漫射，以在該積分球21內(nèi)形成均勻的光強(qiáng)分布，再經(jīng)由該出光孔 212a，射出該積分球21外，使得量測儀器能由該出光孔212a，量測到非常均勻的漫射光束， 并據(jù)以對該待測發(fā)光元件L進(jìn)行檢測。
[0049] 承上，在一較佳實施例中，該透光板222面對收光孔211a的一側(cè)尚涂布有一反光 層，以通過涂布有該反光層的區(qū)域，形成一不透光反射區(qū)F2,且使該透光板上未途布該反光 層的區(qū)域，形成一透光檢測區(qū)F1，該透光檢測區(qū)F1對應(yīng)于放置該待測發(fā)光元件L的位置， 且其構(gòu)形對應(yīng)于該待測發(fā)光元件L的大小。如此，除了該透光檢測區(qū)F1能供該待測發(fā)光元 件L所產(chǎn)生的光線通過外，對應(yīng)于該收光孔211a的其他位置均會被該不透光反射區(qū)F2所 遮蔽，因此，在該點測針30當(dāng)對該待測發(fā)光元件L施加電流，進(jìn)行點測時，該待測發(fā)光元件 L所產(chǎn)生的光線，在射入該積分球21后，將不會由該收光孔211a的其他位置射出該積分球 21夕卜，而會被該不透光反射區(qū)F2反射回該積分球21內(nèi)，繼續(xù)被該積分球21內(nèi)的該反射面 反射及漫射，直到形成均勻光強(qiáng)，經(jīng)由該出光孔212a，射出該積分球21外為止，故能避免已 進(jìn)入該積分球21內(nèi)的光線由該收光孔211a散失。
[0050] 請參閱圖1、2、3B所示，比較公知檢測裝置1與本發(fā)明的檢測裝置2后可明顯看 出，利用該檢測裝置2進(jìn)行檢測時，該待測發(fā)光元件L與該積分球21間的距離僅為該透光 板222的厚度D2,該厚度D2不僅遠(yuǎn)較圖1中的間隔距離D1為短，且由于該透光板222貼設(shè) 于該收光柱211上，故該待測發(fā)光元件L產(chǎn)生的光線并無需先穿過外界空氣，再進(jìn)入該積分 球21，據(jù)此，即能確保光線不會受到外界的干擾，并提升檢測上的精準(zhǔn)度與穩(wěn)定度，此外，該 待測發(fā)光元件L產(chǎn)生的光線雖具有一收光角度Θ，然而，由于該透光板222緊鄰該收光孔 211a及該透光檢測區(qū)F1，故該待測發(fā)光元件L產(chǎn)生的光線在進(jìn)入積分球21后，會隨著該收 光角度Θ擴(kuò)散，意即，本發(fā)明的檢測裝置2能確保該待測發(fā)光元件L產(chǎn)生的光線完全地投 射至該積分球21中，令該積分球21的收光量能遠(yuǎn)較公知檢測裝置來的理想，同時，亦能完 善地解決收光角度的問題。
[0051] 在此特別一提的是，圖2中所繪制的積分球21，其收光孔211a開設(shè)于該收光柱 211上，但是，如同前述，該收光孔211a亦能直接開設(shè)于該積分球21的壁面上，而無須于該 積分球21上設(shè)置該收光柱211。業(yè)者僅需將該支撐框體221的底側(cè)設(shè)計成與該積分球21 上對應(yīng)于該收光孔21 la的部位相匹配(如：一弧狀凹面，以貼合至該積分球21上，或使該支 撐框體221能嵌設(shè)于該積分球21上的一嵌卡槽中)，如此，也能使該透光板222密閉地固設(shè) 于該積分球21上對應(yīng)于該收光孔211a的位置。
[0052] 此外，在前述實施例中，該透光板222通過反射層，區(qū)分為該透光檢測區(qū)F1及不透 光反射區(qū)F2,但是，業(yè)者還能直接使用不同材料制作該透光板222,意即，業(yè)者能使用透光 材料制成該透光板222上透光檢測區(qū)F1，并使用整塊的不透光反射材料制作該不透光反射 區(qū)F2,如此，亦能達(dá)成相同的效果。此外，在前述實施例中，該反射層的材質(zhì)與該積分球21 中反射面210的材質(zhì)相同，以達(dá)成較佳的檢測效果，但是，實際施作上，該反射層的材質(zhì)仍 可依業(yè)者的需求進(jìn)行調(diào)整。
[0053] 還請參閱圖1、2、3B所示，相較于公知檢測裝置1，透過本發(fā)明的檢測裝置2對該 待測發(fā)光元件L進(jìn)行檢測時，其檢測方法尚具備下列特點：（1)該透光板222的一側(cè)緊貼至 該積分球21上對應(yīng)于該收光孔211a的位置，且該待測發(fā)光元件放置于該透光板的另一側(cè)； (2)在該積分球21、支撐治具22及待測發(fā)光元件L間的相對位置固定的狀態(tài)下，該點測針 30會相對于該待測發(fā)光元件L往復(fù)位移；（3)在該點測針30接觸該待測發(fā)光元件L的狀 態(tài)下，該點測針30會對該待測發(fā)光元件L施加電流，以使該待測發(fā)光元件L所發(fā)出的光線， 能透過該透光板222進(jìn)入該積分球21，再經(jīng)由該出光孔212a射出該積分球21外，進(jìn)而使 設(shè)置于該出光孔212a外的一量測儀器(如圖1所示）能量測該待測發(fā)光元件L所發(fā)出的光 線。在本發(fā)明的檢測方法中，僅需使該點測針30往復(fù)位移，即可針對該待測發(fā)光元件L進(jìn) 行檢測，較公知檢測裝置1須使該積分球11與該點測針12共同位移，本發(fā)明的方法顯然簡 便許多。
[0054] 以上所述僅為本發(fā)明的若干較佳實施例，但是，本發(fā)明的技術(shù)方案并不局限于此， 凡相關(guān)【技術(shù)領(lǐng)域】的人士，在參酌本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容后所能輕易思及的等效變化，均應(yīng)不脫 離本發(fā)明的保護(hù)范疇。
【權(quán)利要求】
1. 一種待測發(fā)光元件的光檢測裝置，其特征在于，所述待測發(fā)光元件的光檢測裝置包 括： 一積分球，為一中空球體，其壁面開設(shè)有至少一收光孔及一出光孔，所述收光孔及出光 孔分別與所述積分球內(nèi)的空間相連通，所述積分球的內(nèi)壁均勻涂布或形成有一反射面； 一支撐治具，其包括一支撐框體及一透光板，所述支撐框體與所述透光板相互結(jié)合成 一體，當(dāng)所述支撐框體被裝設(shè)至所述積分球上，能使所述透光板的一側(cè)貼靠至對應(yīng)于所述 收光孔的位置，所述透光板的另一側(cè)供支撐及放置一待測發(fā)光元件；及 一點測針，設(shè)置在對應(yīng)于放置所述待測發(fā)光元件的位置，且能相對于所述待測發(fā)光元 件往復(fù)位移，以在接觸所述待測發(fā)光元件的狀態(tài)下，對所述待測發(fā)光元件施加電流。
2. 如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述透光板的一側(cè)還涂布有一反光層，通過 涂布有所述反光層的區(qū)域，形成一不透光反射區(qū)，且使所述透光板上未途布所述反光層的 區(qū)域，形成一透光檢測區(qū)，所述透光檢測區(qū)對應(yīng)于放置所述待測發(fā)光元件的位置，且所述透 光檢測區(qū)構(gòu)形對應(yīng)于所述待測發(fā)光元件的大小，所述不透光反射區(qū)用以將所述積分球內(nèi)反 射來的光線再次反射回所述積分球內(nèi)。
3. 如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述積分球尚設(shè)有一收光柱，所述收光孔開 設(shè)于所述收光柱的中央部位。
4. 如權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述支撐框體的底側(cè)開設(shè)有一定位空間， 所述定位空間的構(gòu)形與所述收光柱相匹配，以令所述支撐框體的底側(cè)能被套接至所述收光 柱。
5. 如權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述支撐框體尚設(shè)有多個迫緊元件，所述迫 緊元件設(shè)置于所述支撐框體上對應(yīng)于所述定位空間的位置，以在所述支撐框體被套接至所 述收光柱的狀態(tài)下，令所述支撐框體與所述收光柱能緊密地結(jié)合成一體。
6. 如權(quán)利要求2、3、4或5所述的裝置，其特征在于，所述透光板上反光層的材質(zhì)與所述 積分球內(nèi)壁上的反射面的材質(zhì)相同。
7. -種待測發(fā)光元件的光檢測方法，應(yīng)用至一光檢測裝置，所述光檢測裝置包括一積 分球、一支撐治具及一點測針，其中所述積分球為一中空球體，所述積分球壁面開設(shè)有至少 一收光孔及一出光孔，所述收光孔及出光孔分別與所述積分球內(nèi)的空間相連通，所述積分 球的內(nèi)壁均勻涂布或形成有一反射面，所述支撐治具包括一支撐框體及一透光板，所述支 撐框體與所述透光板相互結(jié)合成一體，當(dāng)所述支撐框體被裝設(shè)至所述積分球上，能使所述 透光板的一側(cè)貼靠至對應(yīng)于所述收光孔的位置，所述透光板的另一側(cè)供支撐及放置一待 測發(fā)光元件，所述點測針設(shè)置在對應(yīng)于放置所述待測發(fā)光元件的位置，該方法包括下列步 驟： 將所述待測發(fā)光元件放置于所述透光板的所述另一側(cè)； 在所述積分球、支撐治具及待測發(fā)光元件間的相對位置固定的狀態(tài)下，令所述點測針 相對于所述待測發(fā)光元件往復(fù)位移；及 在所述點測針接觸所述待測發(fā)光元件的狀態(tài)下，透過所述點測針對所述待測發(fā)光元件 施加電流，以使所述待測發(fā)光元件所發(fā)出的光線，能透過所述透光板進(jìn)入所述積分球，再經(jīng) 由所述出光孔射出所述積分球外，進(jìn)而使設(shè)置于所述出光孔外的一量測儀器能量測所述待 測發(fā)光元件所發(fā)出的光線。
【文檔編號】G01M11/02GK104111162SQ201410047701
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年2月11日 優(yōu)先權(quán)日:2013年4月16日
【發(fā)明者】陳正泰, 李志宏, 陳志偉 申請人:豪勉科技股份有限公司