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      用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置和方法

      文檔序號(hào):6218378閱讀:264來源:國知局
      用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置和方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置和方法,其裝置包括底座1,所述底座上1設(shè)有若干組具有不同直徑的繞線柱和若干個(gè)光纖夾持條2,每個(gè)所述光纖夾持條上沿其長度方向均布設(shè)有若干個(gè)用于夾持光纖的斷裂口3,每組所述繞線柱沿所述底座長度方向的中心線分別左右對(duì)稱設(shè)置,所述底座上設(shè)有與所述繞線柱和所述光纖夾持條分別適配的圓形安裝槽4和條形通孔。本發(fā)明能夠快速的將光纖繞制在不同直徑的繞線柱上并予以固定,同時(shí)快速的將光纖解除彎曲與固定狀態(tài),采用的光纖夾持條設(shè)計(jì),通過泡沫或者橡膠變形后自身的應(yīng)力來夾持固定光纖,效率高且不易損傷光纖涂層,整套裝置有效的提高了光纖測試中彎曲操作的效率。
      【專利說明】用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置和方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及光纖通信領(lǐng)域,具體涉及用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置和方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在單模光纖彎曲損耗測量中,通常需要將光纖彎曲成一定直徑的圈,通過對(duì)比光纖彎曲狀態(tài)與未彎曲狀態(tài)時(shí)光學(xué)特性的變化來測量光纖的宏彎損耗,即光纖彎曲后形成的附加損耗。目前彎曲光纖的方法一般是使用單一的繞柱,將光纖手工環(huán)繞在繞柱上,然后使用重物壓住或者夾住光纖后進(jìn)行測量。
      [0003]然而在測試不敏感光纖等特殊單模光纖時(shí),需要對(duì)光纖進(jìn)行多次繞圈,由于光纖彎曲后自身的應(yīng)力使得光纖容易發(fā)生彈開,從而使得光纖固定與測量發(fā)生困難,另一方面在現(xiàn)有光纖測量中夾持光纖一般都采用機(jī)械夾持機(jī)構(gòu),但是該機(jī)構(gòu)通常采用金屬或者金屬與橡膠配合結(jié)構(gòu),工作效率低,容易損傷光纖涂層。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是解決現(xiàn)有彎曲光纖裝置采用獨(dú)立繞線柱而使得效率低且容易損傷光纖涂層的問題。
      [0005]為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是提供一種用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,包括底座,所述底座上設(shè)有若干組具有不同直徑的繞線柱和若干個(gè)光纖夾持條,每個(gè)所述光纖夾持條上沿其長度方向均布設(shè)有若干個(gè)用于夾持光纖的斷裂口,每組所述繞線柱沿所述底座長度方向的中心線分別左右對(duì)稱設(shè)置,所述底座上設(shè)有與所述繞線柱和所述光纖夾持條分別適配的圓形安裝槽和條形通孔。
      [0006]在上述方案中,所述光纖夾持條包括第一光纖夾持條和若干個(gè)第二光纖夾持條,所述第一光纖夾持條設(shè)置在所述底座長度方向的中心線位置上,若干個(gè)所述第二光纖夾持條沿所述底座周邊布設(shè)。
      [0007]在上述方案中,所述繞線柱包括設(shè)置在所述底座長度方向的中心線左右兩側(cè),且直徑最大的第一組繞線柱,所述第一組繞線柱內(nèi)嵌套有并排設(shè)置的第二組繞線柱和第三組繞線柱,所述第二組繞線柱和所述第三組繞線柱的直徑之和不大于所述第一組繞線柱的直徑。
      [0008]在上述方案中,所述繞線柱還包括設(shè)置在以所述第一組繞線柱為圓心圓周上的第四、第五、第六和第七組繞線柱。
      [0009]在上述方案中,每個(gè)所述繞線柱的頂部均設(shè)有環(huán)形突起。
      [0010]在上述方案中,所述第一組繞線柱與其內(nèi)部嵌套的所述第二、第三組繞線柱可以同時(shí)安裝使用,也可以不同時(shí)安裝使用。
      [0011]在上述方案中,所述斷裂口的長度大于2mm,縫隙寬度小于0.1mm。
      [0012]在上述方案中,所述光纖夾持條采用橡膠或者泡沫材質(zhì)。[0013]在上述方案中,所述繞線柱采用卡裝或者螺紋連接的方式設(shè)置在所述底座上,所述光纖夾持條采用卡裝的方式設(shè)置在所述底座上。
      [0014]本發(fā)明還提供了一種利用如上述用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置進(jìn)行測量的方法,包括以下步驟:
      [0015]將需要測量的光纖的一端穿過光纖夾持條的斷裂口并被牢牢夾持??;
      [0016]將所需的具有不同直徑的繞線柱安裝于對(duì)應(yīng)的圓形安裝槽內(nèi),光纖的中間部分按照所需的測試要求以不同的圈數(shù)環(huán)繞在繞線柱上;
      [0017]完成繞線動(dòng)作后稍微拉緊光纖,并將光纖的另一端穿過其他的光纖夾持條的斷裂口并夾持住;
      [0018]使用儀器測量光纖在彎曲狀態(tài)下的光學(xué)參數(shù),然后將光纖一端從光纖夾持條上取下并松開被繞制在繞線柱上的中間部分;
      [0019]從光纖夾持條上將光纖的另一端也取下來,并整理光纖至無彎折狀態(tài);
      [0020]然后,使用儀器測量光纖在未彎曲狀態(tài)下的光學(xué)參數(shù)并最終得到光纖的宏彎損耗數(shù)值。
      [0021]本發(fā)明能夠快速的將光纖繞制在不同直徑的繞線柱上并予以固定,同時(shí)快速的將光纖解除彎曲與固定狀態(tài),然后通過測試儀器測定光纖的宏彎損耗,該發(fā)明克服了光纖宏彎損耗測試中光纖彎曲程序繁瑣、光纖不易固定、測試效率低下的問題。
      [0022]本發(fā)明的有益效果是,將傳統(tǒng)光纖宏彎損耗測試過程中使用到的所有繞線柱集成安裝到了一個(gè)安裝底座上,使得繞線柱,特別是小直徑的繞線柱在測試時(shí)能夠穩(wěn)定的保持豎直向上的狀態(tài),因此,本裝置在環(huán)繞光纖時(shí)更容易,同時(shí)本發(fā)明采用多個(gè)圓形安裝槽組合嵌套的結(jié)構(gòu),空間緊湊,使得整套裝置小巧,容易攜帶,多種尺寸的繞線柱可以根據(jù)測試需要任意組合安裝,本發(fā)明中采用的光纖夾持條設(shè)計(jì),通過泡沫或者橡膠變形后自身的應(yīng)力來夾持固定光纖,效率高且不易損傷光纖涂層,光纖夾持條被安放在穩(wěn)固的底座上進(jìn)一步保證了光纖固定操作的便利性與穩(wěn)定性,整套裝置有效的提高了光纖測試中彎曲操作的效率。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0023]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0024]圖2為本發(fā)明分解結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0025]圖3為本發(fā)明中底座的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0026]圖4為本發(fā)明中光纖夾持條的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0027]圖5為本發(fā)明中繞線柱的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0028]圖6為本發(fā)明中圖5的剖視圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0029]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作出詳細(xì)的說明。
      [0030]如圖1至圖4所示,本發(fā)明提供了一種用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,包括底座I,底座I上設(shè)有若干組具有不同直徑的繞線柱和若干個(gè)光纖夾持條2,每個(gè)光纖夾持條2上沿其長度方向均布設(shè)有若干個(gè)用于夾持光纖的斷裂口 3,每組繞線柱沿底座長度方向的中心線分別左右對(duì)稱設(shè)置,底座I上設(shè)有與繞線柱和光纖夾持條2分別適配的圓形安裝槽4和條形通孔。一般要求不少于四個(gè)光纖夾持條,以及不少于7組繞線柱。本實(shí)施例中,光纖夾持條采用長方形結(jié)構(gòu)。
      [0031]光纖夾持條包括第一光纖夾持條和若干個(gè)第二光纖夾持條,分別對(duì)應(yīng)第一條形通孔5和第二條形通孔6,第一光纖夾持條設(shè)置在底座I長度方向的中心線位置上,若干個(gè)第二光纖夾持條沿底座I周邊布設(shè)。
      [0032]繞線柱包括設(shè)置在底座I長度方向的中心線左右兩側(cè),且直徑最大的第一組繞線柱7,第一組繞線柱7內(nèi)嵌套有并排設(shè)置的第二組繞線柱8和第三組繞線柱9,第二組繞線柱8和第三組繞線柱9的直徑之和不大于第一組繞線柱7的直徑。本實(shí)施例中,第一、第二和第三組繞線柱的直徑分別為60mm、20mm、30mm。
      [0033]繞線柱還包括設(shè)置在以第一組繞線柱7為圓心圓周上的第四、第五、第六和第七組繞線柱10、11、12和13。本實(shí)施例中,圓周直徑為68mm,第四、第五、第六和第七組繞線柱的直徑為10mm、15mm、5mm和3mm。直徑不小于20mm的繞線柱底部中心加工有內(nèi)螺紋,其可通過螺栓固定于對(duì)應(yīng)的圓形安裝槽中,直徑小于20_的繞線柱底部加工有外螺紋,其可通過螺紋安裝于安裝底座具備相應(yīng)直徑內(nèi)螺紋的圓形安裝槽中。
      [0034]結(jié)合圖5至圖6所示,每個(gè)繞線柱的頂部均設(shè)有環(huán)形突起14。斷裂口 3的長度大于2mm,縫隙寬度小于0.1_。光纖夾持條米用橡膠或者泡沫材質(zhì)。
      [0035]第一組繞線柱7與其內(nèi)部嵌套的第二、第三組繞線柱8和9可以同時(shí)安裝使用,也可以不同時(shí)安裝使用。
      [0036]繞線柱采用卡裝或者螺紋連接的方式設(shè)置在底座I上,光纖夾持條采用卡裝的方式設(shè)置在底座I上。光纖夾持條底部與底座I底部平齊。
      [0037]本發(fā)明還提供了一種利用上述用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置進(jìn)行測量的方法,包括以下步驟:
      [0038]將需要測量的光纖的一端穿過光纖夾持條的斷裂口并被牢牢夾持??;
      [0039]將所需的具有不同直徑的繞線柱安裝于對(duì)應(yīng)的圓形安裝槽內(nèi),光纖的中間部分按照所需的測試要求以不同的圈數(shù)環(huán)繞在繞線柱上;
      [0040]完成繞線動(dòng)作后稍微拉緊光纖,并將光纖的另一端穿過其他的光纖夾持條的斷裂口并夾持?。?br> [0041]使用儀器測量光纖在彎曲狀態(tài)下的光學(xué)參數(shù),然后將光纖一端從光纖夾持條上取下并松開被繞制在繞線柱上的中間部分;
      [0042]從光纖夾持條上將光纖的另一端也取下來,并整理光纖至無彎折狀態(tài);
      [0043]然后,使用儀器測量光纖在未彎曲狀態(tài)下的光學(xué)參數(shù)并最終得到光纖的宏彎損耗數(shù)值。
      [0044]本發(fā)明能夠快速的將光纖繞制在不同直徑的繞線柱上并予以固定,同時(shí)快速的將光纖解除彎曲與固定狀態(tài),然后通過測試儀器測定光纖的宏彎損耗,該發(fā)明克服了光纖宏彎損耗測試中光纖彎曲程序繁瑣、光纖不易固定、測試效率低下的問題。
      [0045]本發(fā)明的有益效果是,將傳統(tǒng)光纖宏彎損耗測試過程中使用到的所有繞線柱集成安裝到了一個(gè)安裝底座上,使得繞線柱,特別是小直徑的繞線柱在測試時(shí)能夠穩(wěn)定的保持豎直向上的狀態(tài),因此,本裝置在環(huán)繞光纖時(shí)更容易,同時(shí)本發(fā)明采用多個(gè)圓形安裝槽組合嵌套的結(jié)構(gòu),空間緊湊,使得整套裝置小巧,容易攜帶,多種尺寸的繞線柱可以根據(jù)測試需要任意組合安裝,本發(fā)明中采用的光纖夾持條設(shè)計(jì),通過泡沫或者橡膠變形后自身的應(yīng)力來夾持固定光纖,效率高且不易損傷光纖涂層,光纖夾持條被安放在穩(wěn)固的底座上進(jìn)一步保證了光纖固定操作的便利性與穩(wěn)定性,整套裝置有效的提高了光纖測試中彎曲操作的效率。
      [0046]本發(fā)明不局限于上述最佳實(shí)施方式,任何人應(yīng)該得知在本發(fā)明的啟示下作出的結(jié)構(gòu)變化,凡是與本發(fā)明具有相同或相近的技術(shù)方案,均落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,包括底座,所述底座上設(shè)有若干組具有不同直徑的繞線柱和若干個(gè)光纖夾持條,每個(gè)所述光纖夾持條上沿其長度方向均布設(shè)有若干個(gè)用于夾持光纖的斷裂口,每組所述繞線柱沿所述底座長度方向的中心線分別左右對(duì)稱設(shè)置,所述底座上設(shè)有與所述繞線柱和所述光纖夾持條分別適配的圓形安裝槽和條形通孔。
      2.如權(quán)利要求1所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,所述光纖夾持條包括第一光纖夾持條和若干個(gè)第二光纖夾持條,所述第一光纖夾持條設(shè)置在所述底座長度方向的中心線位置上,若干個(gè)所述第二光纖夾持條沿所述底座周邊布設(shè)。
      3.如權(quán)利要求1所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,所述繞線柱包括設(shè)置在所述底座長度方向的中心線左右兩側(cè),且直徑最大的第一組繞線柱,所述第一組繞線柱內(nèi)嵌套有并排設(shè)置的第二組繞線柱和第三組繞線柱,所述第二組繞線柱和所述第三組繞線柱的直徑之和不大于所述第一組繞線柱的直徑。
      4.如權(quán)利要求3所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,所述繞線柱還包括設(shè)置在以所述第一組繞線柱為圓心圓周上的第四、第五、第六和第七組繞線柱。
      5.如權(quán)利要求1所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,每個(gè)所述繞線柱的頂部均設(shè)有環(huán)形突起。
      6.如權(quán)利要求3所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,所述第一組繞線柱與其內(nèi)部嵌套的所述第二、第三組繞線柱可以同時(shí)安裝使用,也可以不同時(shí)安裝使用。
      7.如權(quán)利要求1所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,所述斷裂口的長度大于2mm,縫隙寬度小于0.1mm。
      8.如權(quán)利要求1所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,所述光纖夾持條采用橡膠或者泡沫材質(zhì)。
      9.如權(quán)利要求1所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置,其特征在于,所述繞線柱采用卡裝或者螺紋連接的方式設(shè)置在所述底座上,所述光纖夾持條采用卡裝的方式設(shè)置在所述底座上。
      10.利用如權(quán)利要求1-9所述的用于光纖宏彎損耗測量時(shí)彎曲光纖的裝置進(jìn)行測量的方法,其特征在于,包括以下步驟: 將需要測量的光纖的一端穿過光纖夾持條的斷裂口并被牢牢夾持?。? 將所需的具有不同直徑的繞線柱安裝于對(duì)應(yīng)的圓形安裝槽內(nèi),光纖的中間部分按照所需的測試要求以不同的圈數(shù)環(huán)繞在繞線柱上; 完成繞線動(dòng)作后稍微拉緊光纖,并將光纖的另一端穿過其他的光纖夾持條的斷裂口并夾持?。? 使用儀器測量光纖在彎曲狀態(tài)下的光學(xué)參數(shù),然后將光纖一端從光纖夾持條上取下并松開被繞制在繞線柱上的中間部分; 從光纖夾持條上將光纖的另一端也取下來,并整理光纖至無彎折狀態(tài); 然后,使用儀器測量光纖在未彎曲狀態(tài)下的光學(xué)參數(shù)并最終得到光纖的宏彎損耗數(shù)值。
      【文檔編號(hào)】G01M11/02GK103776617SQ201410054691
      【公開日】2014年5月7日 申請(qǐng)日期:2014年2月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月18日
      【發(fā)明者】雷瓊, 莫琦, 陳偉, 杜城, 張濤, 杜琨, 但融, 袁媛, 李詩愈 申請(qǐng)人:烽火通信科技股份有限公司, 烽火藤倉光纖科技有限公司
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