一種lcm測試的制造方法
【專利摘要】一種LCM測試機(jī)，包括中央處理模塊，負(fù)壓控制模塊、對(duì)接模塊和調(diào)用模塊；所述中央處理模塊包括兩兩互相相連的單片機(jī)、存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)緩沖模塊；負(fù)壓控制模塊用于將正壓輸入轉(zhuǎn)換為負(fù)壓，并與待測LCM相連；對(duì)接模塊包括兩個(gè)并聯(lián)連接的20pin輸出模塊和26pin輸出模塊，該20pin輸出模塊或26pin輸出模塊分別與待測LCM的引腳對(duì)應(yīng)連接；所述調(diào)用模塊包括與單片機(jī)相連的型號(hào)調(diào)用單元和A/D轉(zhuǎn)換電路，以及通過所述A/D轉(zhuǎn)換電路與單片機(jī)相連的控制顯示屏。本發(fā)明通過設(shè)置與單片機(jī)相連的數(shù)據(jù)緩沖模塊以及儲(chǔ)存數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多種型號(hào)LCM的測試，多個(gè)產(chǎn)品型號(hào)的程序?qū)懭牒笾苯诱{(diào)用即可，方便員工的操作，而且大大提高檢測效率。
【專利說明】一種LCM測試機(jī)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測試儀器，尤其涉及一種LCM測試機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶調(diào)用模塊是即“Liquid Crystal Display Module”，簡稱“LCM”，是一種將液晶顯示器件、連接件、集成電路、PCB線路板、背光源、結(jié)構(gòu)件裝配在一起的組件，液晶顯示器件只有將驅(qū)動(dòng)電路的電場信號(hào)施加到ITO導(dǎo)電電極上，才能實(shí)現(xiàn)顯示器件的顯示，因此，LCM就是將液晶顯示件的導(dǎo)電電極與驅(qū)動(dòng)電路的電場信號(hào)連接起來，從而實(shí)現(xiàn)需要的顯示的內(nèi)容。
[0003]隨著信息產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展，配套的液晶調(diào)用模塊需求量急增，特別是單色液晶模塊、CSTN液晶模塊、TFT液晶模塊的比例也逐漸增大。一般的模塊檢測方法都相對(duì)復(fù)雜、測試內(nèi)容單一，通常使用單片機(jī)驅(qū)動(dòng)調(diào)用模塊，為了檢測產(chǎn)品的功能電流及背光源壓降等參數(shù)，還需增加電流、電壓表或萬用表等工具，其工作原理是:單片機(jī)驅(qū)動(dòng)LCM顯示，萬用表串接在測試架上監(jiān)控LCM工作電流，操作員需一邊看顯示效果，一邊觀察電流是否超標(biāo)，如果只需要檢測整個(gè)模塊功耗電流還相對(duì)容易一點(diǎn)，但如果要檢查主、副屏及背光的功耗電流時(shí)，就需分三次用萬用表分別檢測這三項(xiàng)電流，而且檢測每項(xiàng)時(shí)需要一邊看顯示效果一邊看電流變化是否超標(biāo)，這種的檢測方式存在以下問題:1)檢驗(yàn)結(jié)果不可靠，多靠主觀判斷，容易漏檢、誤判；2)效率低下:不同產(chǎn)品必須更換不同的單片機(jī)測試架，編寫新的驅(qū)動(dòng)程序。而且，一款LCM產(chǎn)品對(duì)應(yīng)一個(gè)測試程序和一個(gè)測試機(jī)，每次測試不同的產(chǎn)品都需要在測試機(jī)上灌入相對(duì)應(yīng)測試程序，方可對(duì)液晶模組進(jìn)行測試，測試產(chǎn)品的時(shí)候參數(shù)無法直接調(diào)節(jié)，也無法直觀讀出參數(shù)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種LCM測試機(jī)，提高現(xiàn)有的測試效率，解決了現(xiàn)有一臺(tái)LCM測試機(jī)無法測試多種LCM產(chǎn)品的問題。
[0005]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種LCM測試機(jī)，包括中央處理模塊，與中央處理模塊電連接的負(fù)壓控制模塊、對(duì)接模塊和調(diào)用模塊。
[0006]中央處理模塊包括兩兩互相相連的單片機(jī)、存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)緩沖模塊；所述單片機(jī)用于調(diào)取存儲(chǔ)器中的程序，控制數(shù)據(jù)緩沖模塊工作，并接收數(shù)據(jù)緩沖模塊、存儲(chǔ)器反饋的信息；所述數(shù)據(jù)緩沖模塊用于讀取存儲(chǔ)器的驅(qū)動(dòng)程序，并與對(duì)接模塊相串聯(lián)；所述存儲(chǔ)器的信號(hào)輸出端與數(shù)據(jù)緩沖模塊的信號(hào)輸入端相連。負(fù)壓控制模塊用于將正壓輸入轉(zhuǎn)換為負(fù)壓，并與待測LCM相連，該負(fù)壓控制模塊的輸出端連接單片機(jī)的輸入端，負(fù)壓控制模塊的輸入端連接單片機(jī)的輸出端。對(duì)接模塊包括兩個(gè)并聯(lián)連接的20pin輸出模塊和26pin輸出模塊，該20pin輸出模塊或26pin輸出模塊分別與待測LCM的引腳對(duì)應(yīng)連接。調(diào)用模塊包括與單片機(jī)相連的型號(hào)調(diào)用單元和A/D轉(zhuǎn)換電路，以及通過所述A/D轉(zhuǎn)換電路與單片機(jī)相連的控制顯示屏；所述單片機(jī)的輸入端與A/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端相連。[0007]為了避免插拔單片機(jī)1C，造成單片機(jī)IC損壞，LCM測試機(jī)還包括與單片機(jī)相連的在線編譯模塊。
[0008]為了方便調(diào)節(jié)電壓，LCM測試機(jī)還包括與單片機(jī)相連的手動(dòng)調(diào)壓單元。
[0009]進(jìn)一步的，數(shù)據(jù)緩沖模塊包括三個(gè)SN74HC245芯片，將數(shù)字信號(hào)由內(nèi)部的Vcc邏輯電平轉(zhuǎn)換為Vdd模塊邏輯工作電壓電平，從而驅(qū)動(dòng)待測LCM。
[0010]本發(fā)明的有益效果:由于單片機(jī)本身擁有豐富的拓展功能，通過設(shè)置與單片機(jī)相連的數(shù)據(jù)緩沖模塊以及儲(chǔ)存數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多種型號(hào)LCM的測試，多個(gè)產(chǎn)品型號(hào)的程序?qū)懭牒笾苯诱{(diào)用即可，方便員工的操作，而且大大提高檢測效率。成本方面，一臺(tái)現(xiàn)有普通測試機(jī)一年消耗的單片機(jī)IC所用的金額遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于本發(fā)明LCM測試機(jī)的制造成本。操作方面，本發(fā)明擁有存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)緩沖模塊，使得存儲(chǔ)量大大提高，雖然現(xiàn)有的LCM測試機(jī)也有存儲(chǔ)功能，但是調(diào)用型號(hào)后還需要設(shè)定參數(shù)，操作十分不便，本發(fā)明可對(duì)單色液晶模塊、CSTN液晶模塊、TFT液晶模塊進(jìn)行檢測，涵蓋了所有模塊的產(chǎn)品測試。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]以下將結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行較為詳細(xì)的說明。
[0012]圖1為本發(fā)明的系統(tǒng)框圖。
[0013]圖2為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)原理圖。
[0014]圖3為圖2所示數(shù)據(jù)緩沖模塊與對(duì)接模塊的電路原理圖。
[0015]圖4為圖2所示單片機(jī)與A/D轉(zhuǎn)換電路的電路原理圖。
[0016]圖5為本發(fā)明控制軟件的流程框圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]實(shí)施例，如圖1至2所示，本優(yōu)選實(shí)施例中LCM測試機(jī)，包括中央處理模塊1，與中央處理模塊電連接的負(fù)壓控制模塊2、對(duì)接模塊3和調(diào)用模塊4。
[0018]中央處理模塊I包括兩兩互相相連的單片機(jī)11、存儲(chǔ)器12和數(shù)據(jù)緩沖模塊13 ;所述單片機(jī)11用于調(diào)取存儲(chǔ)器中的程序，控制數(shù)據(jù)緩沖模塊工作，并接收數(shù)據(jù)緩沖模塊、存儲(chǔ)器反饋的信息；所述數(shù)據(jù)緩沖模塊13用于讀取存儲(chǔ)器12的驅(qū)動(dòng)程序，并與對(duì)接模塊相串聯(lián)；所述存儲(chǔ)器12的信號(hào)輸出端與數(shù)據(jù)緩沖模塊13的信號(hào)輸入端相連。
[0019]負(fù)壓控制模塊2用于將正壓輸入轉(zhuǎn)換為負(fù)壓，并與待測LCM相連，該負(fù)壓控制模塊的輸出端連接單片機(jī)的輸入端，負(fù)壓控制模塊的輸入端連接單片機(jī)的輸出端。
[0020]對(duì)接模塊3包括兩個(gè)并聯(lián)連接的20pin輸出模塊31和26pin輸出模塊32，該20pin輸出模塊31或26pin輸出模塊32分別與待測LCM的引腳對(duì)應(yīng)連接。
[0021 ] 調(diào)用模塊4包括與單片機(jī)相連的型號(hào)調(diào)用單元41和A/D轉(zhuǎn)換電路42，以及通過所述A/D轉(zhuǎn)換電路與單片機(jī)相連的控制顯示屏43 ;所述單片機(jī)的輸入端與A/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端相連。
[0022]為了避免插拔單片機(jī)1C，造成單片機(jī)IC損壞，LCM測試機(jī)還包括與單片機(jī)相連的在線編譯模塊5。
[0023]為了方便調(diào)節(jié)電壓，LCM測試機(jī)還包括與單片機(jī)相連的手動(dòng)調(diào)壓單元6。
[0024]如圖3所示，數(shù)據(jù)緩沖模塊包括三個(gè)SN74HC245芯片，通過讀取存儲(chǔ)器的驅(qū)動(dòng)程序，并將數(shù)字信號(hào)由內(nèi)部的V。。邏輯電平轉(zhuǎn)換為Vdd模塊邏輯工作電壓電平，從而驅(qū)動(dòng)待測LCM。
[0025]如圖4所示，單片機(jī)采用ATMEGA64，負(fù)責(zé)控制協(xié)調(diào)整個(gè)測試機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)。存儲(chǔ)器的型號(hào)為AT24C1024，A/D轉(zhuǎn)換電路采用U8 (SN74HC164)。本發(fā)明以單片機(jī)為核心，控制程序存放在存儲(chǔ)器中，A/D轉(zhuǎn)換電路外接有132*64點(diǎn)陣液晶顯示屏，能直觀的讀取產(chǎn)品型號(hào)以供調(diào)取，并通過負(fù)壓控制模塊提供待測LCM所需的電壓，數(shù)據(jù)緩沖模塊和對(duì)接模塊達(dá)到驅(qū)動(dòng)效果。
[0026]如圖5所示，員工可進(jìn)行如下操作:首先打開電源，選擇待測LCM的產(chǎn)品類型，按確認(rèn)件確認(rèn)，將待測LCM測試板接入20pin輸出模塊或26pin輸出模塊處，將測試板固定在測試架上開始測試。檢測時(shí)通過選擇產(chǎn)品類型直接調(diào)用，真正做到一機(jī)多用，并存儲(chǔ)多種模式的檢測方式，如筆段(斷碼)模塊、圖形點(diǎn)陣模塊、字符點(diǎn)陣模塊、圖形點(diǎn)陣-C0B，可對(duì)單色液晶模塊、CSTN液晶模塊、TFT液晶模塊進(jìn)行檢測，以上基本涵蓋所有模塊的產(chǎn)品測試。
[0027]本發(fā)明的工作原理如下:通過型號(hào)調(diào)用單元選擇待測LCM的產(chǎn)品型號(hào)，單片機(jī)接收該數(shù)據(jù)并經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換電路得到相應(yīng)的數(shù)字量，使得控制顯示屏上顯示出產(chǎn)品型號(hào)、IC型號(hào)、電壓值、電流值、電源值、Uled、Iled。操作時(shí)只需調(diào)取產(chǎn)品型號(hào)即可。另一方面，單片機(jī)通過負(fù)壓控制模塊產(chǎn)生LCM所需的Vdd (邏輯工作電壓)、Vled (背光源工作電壓)、If (背光源驅(qū)動(dòng)用的恒流源)，并通過數(shù)據(jù)緩沖模塊和對(duì)接模塊，驅(qū)動(dòng)待測LCM，得到測試結(jié)果。
【權(quán)利要求】
1.一種LCM測試機(jī)，包括中央處理模塊，其特征在于:還包括與所述中央處理模塊電連接的負(fù)壓控制模塊、對(duì)接模塊和調(diào)用模塊； 所述中央處理模塊包括兩兩互相相連的單片機(jī)、存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)緩沖模塊；所述單片機(jī)用于調(diào)取存儲(chǔ)器中的程序，控制數(shù)據(jù)緩沖模塊工作，并接收數(shù)據(jù)緩沖模塊、存儲(chǔ)器反饋的信息；所述數(shù)據(jù)緩沖模塊用于讀取存儲(chǔ)器的驅(qū)動(dòng)程序，并與對(duì)接模塊相串聯(lián)；所述存儲(chǔ)器的信號(hào)輸出端與數(shù)據(jù)緩沖模塊的信號(hào)輸入端相連； 所述負(fù)壓控制模塊用于將正壓輸入轉(zhuǎn)換為負(fù)壓，并與待測LCM相連，該負(fù)壓控制模塊的輸出端連接單片機(jī)的輸入端，負(fù)壓控制模塊的輸入端連接單片機(jī)的輸出端； 所述對(duì)接模塊包括兩個(gè)并聯(lián)連接的20pin輸出模塊和26pin輸出模塊，該20pin輸出模塊或26pin輸出模塊分別與待測LCM的引腳對(duì)應(yīng)連接； 所述調(diào)用模塊包括與單片機(jī)相連的型號(hào)調(diào)用單元和Α/D轉(zhuǎn)換電路，以及通過所述A/D轉(zhuǎn)換電路與單片機(jī)相連的控制顯示屏；所述單片機(jī)的輸入端與Α/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端相連。
2.如權(quán)利要求1所述的LCM測試機(jī)，其特征在于:還包括與所述單片機(jī)相連的在線編譯模塊。
3.如權(quán)利要求1所述的LCM測試機(jī)，其特征在于:還包括與所述單片機(jī)相連的手動(dòng)調(diào)壓單元。
4.如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的LCM測試機(jī)，其特征在于:所述數(shù)據(jù)緩沖模塊包括三個(gè)SN74HC245芯片，并將數(shù)字信號(hào)由內(nèi)部的V。。邏輯電平轉(zhuǎn)換為Vdd模塊邏輯工作電壓電平，從而驅(qū)動(dòng)待測LCM。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK103777386SQ201410054857
【公開日】2014年5月7日 申請(qǐng)日期:2014年2月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月18日
【發(fā)明者】方勇茂, 游仁文 申請(qǐng)人:安徽金視界光電科技有限公司