Oled并行檢測分揀系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明的OLED并行檢測分揀系統(tǒng)包括同時(shí)連接基板上各顯示單元的測試治具、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和控制系統(tǒng)運(yùn)行的系統(tǒng)主機(jī)、矩陣開關(guān)控制單元和自動(dòng)機(jī)械手；所述矩陣開關(guān)控制單元連接測試治具和系統(tǒng)主機(jī)，用于在系統(tǒng)主機(jī)的控制下將顯示單元逐個(gè)與對(duì)應(yīng)的信號(hào)測試單元電聯(lián)通以完成該顯示單元的全檢測試；系統(tǒng)主機(jī)設(shè)定測試標(biāo)準(zhǔn)并記錄測試結(jié)果。有益效果在于通過使用并行的測試治具同時(shí)與基板上的所有顯示單元相連接，并結(jié)合矩陣開關(guān)控制單元通過軟件控制測試的進(jìn)行和記錄測試結(jié)果，根據(jù)測試結(jié)果控制劃線裂片機(jī)切割顯示單元的基礎(chǔ)上通過自動(dòng)機(jī)械手自動(dòng)分揀，實(shí)現(xiàn)測試與分揀的自動(dòng)化進(jìn)行。加快了OLED制造過程中的工序節(jié)拍，提高器件檢測效率。
【專利說明】OLED并行檢測分揀系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于OLED顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，OLED面板的生產(chǎn)檢測工藝，具體涉及OLED顯示器件的一種并行檢測及分揀系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]作為第三代顯示器件，OLED具有顯示質(zhì)量高、輕薄、低功耗的特性。在OLED器件的生產(chǎn)制造中，對(duì)器件電學(xué)性能的檢測并判斷其是否為良品并將不同產(chǎn)品分揀出來是生產(chǎn)過程的必要步驟。目前行業(yè)通用的做法是按照工藝設(shè)定的所有條件對(duì)基板上的各個(gè)器件逐個(gè)全檢，在全部器件檢測完成后由系統(tǒng)統(tǒng)計(jì)出不良品的個(gè)數(shù)和位置，再由操作人員根據(jù)系統(tǒng)提示用筆標(biāo)在器件的背面標(biāo)識(shí)出來，待到基板切割工序完成后，操作人員根據(jù)標(biāo)識(shí)從中剔除良品和不良品放入不同的托盤中，分類進(jìn)入之后的其他工序。這種方式在生產(chǎn)過程中的檢測速度慢，效率低并且操作人員在長時(shí)間的標(biāo)識(shí)中容易產(chǎn)生人為的失誤。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有的OLED檢測分揀依靠人工逐個(gè)全檢效率低下、容易產(chǎn)生人為操作失誤等不足，提出了一種OLED并行檢測分揀系統(tǒng)。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案為:0LED并行檢測分揀系統(tǒng)，其特征在于，包括同時(shí)連接基板上各顯示單元的測試治具、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和控制系統(tǒng)運(yùn)行的系統(tǒng)主機(jī)、矩陣開關(guān)控制單元和自動(dòng)機(jī)械手；所述矩陣開關(guān)控制單元連接測試治具和系統(tǒng)主機(jī)，用于在系統(tǒng)主機(jī)的控制下將顯示單元逐個(gè)與對(duì)應(yīng)的信號(hào)測試單元電聯(lián)通以完成該顯示單元的全檢測試；系統(tǒng)主機(jī)設(shè)定測試標(biāo)準(zhǔn)并記錄測試結(jié)果；所述信號(hào)測試單元用于存儲(chǔ)所述顯示單元的全檢測試信號(hào)；自動(dòng)機(jī)械手用于根據(jù)系統(tǒng)主機(jī)控制將不同檢測結(jié)果的顯示單元分揀到不同的位置。
[0005]進(jìn)一步的，所述系統(tǒng)還包括劃線裂片機(jī)，所述劃線裂片機(jī)與系統(tǒng)主機(jī)相連接，用于根據(jù)系統(tǒng)主機(jī)控制將基板上的顯示單元切割并分裂開。
[0006]進(jìn)一步的，系統(tǒng)主機(jī)記錄的測試結(jié)果包括顯示單元的坐標(biāo)位置及測試等級(jí)結(jié)果。
[0007]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明的OLED并行檢測分揀系統(tǒng)通過使用并行的測試治具同時(shí)與基板上的所有顯示單元相連接，并結(jié)合矩陣開關(guān)控制單元通過軟件控制測試的進(jìn)行和記錄測試結(jié)果，根據(jù)測試結(jié)果控制劃線裂片機(jī)切割顯示單元的基礎(chǔ)上通過自動(dòng)機(jī)械手自動(dòng)分揀，實(shí)現(xiàn)測試與分揀的自動(dòng)化進(jìn)行。加快了 OLED制造過程中的工序節(jié)拍，提高器件檢測效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是本發(fā)明的OLED并行檢測分揀系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]本發(fā)明的實(shí)施例是根據(jù)本發(fā)明的原理而設(shè)計(jì)，下面結(jié)合附圖和具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的闡述。
[0010]如圖1所示，本發(fā)明的OLED并行檢測分揀系統(tǒng)，包括同時(shí)連接基板上各顯示單元的測試治具2、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和控制系統(tǒng)運(yùn)行的系統(tǒng)主機(jī)、矩陣開關(guān)控制單元和自動(dòng)機(jī)械手；所述矩陣開關(guān)控制單元連接測試治具和系統(tǒng)主機(jī)，具體通過數(shù)據(jù)總線3連接。用于在系統(tǒng)主機(jī)的控制下將顯示單元I逐個(gè)與對(duì)應(yīng)的信號(hào)測試單元電聯(lián)通以完成該顯示單元的全檢測試；系統(tǒng)主機(jī)設(shè)定測試標(biāo)準(zhǔn)并記錄測試結(jié)果；所述信號(hào)測試單元用于存儲(chǔ)所述顯示單元的全檢測試信號(hào)；自動(dòng)機(jī)械手用于根據(jù)系統(tǒng)主機(jī)控制將不同檢測結(jié)果的顯示單元分揀到不同的位置。所述系統(tǒng)還包括劃線裂片機(jī)，所述劃線裂片機(jī)與系統(tǒng)主機(jī)相連接，用于根據(jù)系統(tǒng)主機(jī)控制將基板上的顯示單元切割并分裂開。系統(tǒng)主機(jī)記錄的測試結(jié)果包括顯示單元的坐標(biāo)位置及測試等級(jí)結(jié)果。
[0011]下面結(jié)合發(fā)明問題及原理對(duì)本實(shí)施例的方案做詳細(xì)描述:如圖1所示，OLED器件未切割前處于同一基板之上，因器件在基板上的排布是標(biāo)準(zhǔn)的陣列形式，所以可在軟件系統(tǒng)中按照生產(chǎn)工藝要求對(duì)其編號(hào)，具體編號(hào)方式比如橫向?yàn)閿?shù)字，縱向?yàn)樽帜福缱笊辖堑谝粋€(gè)器件為Al。在開始對(duì)器件進(jìn)行檢測之前，操作人員把基板安裝在分配治具上，使分配治具上的探針與各個(gè)器件的測試電極接觸連通。這些電路通過分配治具的端口線纜與矩陣開控制器實(shí)現(xiàn)通訊。通過對(duì)矩陣開關(guān)控制器進(jìn)行設(shè)置，使基板上各個(gè)OLED器件的電極與矩陣開關(guān)各通道相對(duì)應(yīng)。信號(hào)測試單元用于對(duì)單個(gè)器件的電學(xué)性能進(jìn)行檢測，其信號(hào)測試要求的由系統(tǒng)主機(jī)指示并在測試完成后將測試結(jié)果的信息反饋給系統(tǒng)主機(jī)。系統(tǒng)主機(jī)在測試過程中根據(jù)信號(hào)測試單元反饋的結(jié)果來控制矩陣開關(guān)控制器內(nèi)的通道的選擇。系統(tǒng)主機(jī)與劃線裂片機(jī)和自動(dòng)機(jī)械手通訊連接，在劃線裂片機(jī)完成對(duì)基板的切割分裂后，自動(dòng)機(jī)械手根據(jù)系統(tǒng)主機(jī)傳輸過來的關(guān)于基板上各個(gè)器件信息，對(duì)不同測試結(jié)果的器件分類拾取不同的托盤中。操作人員只需取走不同托盤即可進(jìn)入下一道工序。
[0012]系統(tǒng)具體操作方式為:操作人員把基板安放在分配治具上，在系統(tǒng)主機(jī)程序中輸入行列數(shù)。主機(jī)算出總通道數(shù)并向矩陣開關(guān)發(fā)出指令，矩陣開關(guān)控制器根據(jù)信號(hào)測試單元的數(shù)量依次分配測試通道。操作人員操作系統(tǒng)主機(jī)開始測試，主機(jī)發(fā)送工藝測試參數(shù)到各臺(tái)信號(hào)測試單元，信號(hào)測試單元通過矩陣開關(guān)控制器發(fā)出和接受電信號(hào)。開始檢測時(shí)，一號(hào)信號(hào)測試單元對(duì)應(yīng)Al，二號(hào)信號(hào)測試單元對(duì)應(yīng)A2，以此類推。在檢測過程中，單個(gè)信號(hào)測試單元對(duì)于對(duì)應(yīng)器件輸出不同的工藝檢測信號(hào)并收取反饋信息，根據(jù)工藝判定要求，如果檢測到其中一個(gè)信號(hào)為不良則系統(tǒng)直接判定檢測停止，系統(tǒng)記錄該器件不良類型并記錄其編號(hào)并由主機(jī)發(fā)出指令控制矩陣開關(guān)控制器分配下一個(gè)通道給處于待機(jī)檢測狀態(tài)的信號(hào)測試單元。同理若在檢測過程中，信號(hào)測試單元收到反饋信號(hào)為次級(jí)良品或可讓步接收產(chǎn)品，則根據(jù)系統(tǒng)中的工藝輸入判定要求進(jìn)行表決。具體標(biāo)準(zhǔn)比如:器件反饋電流>標(biāo)準(zhǔn)電流
0.5%直接判定為C級(jí)不良，標(biāo)準(zhǔn)電流0.1% <反饋電流<標(biāo)準(zhǔn)電流0.5%判定為B級(jí)，同一器件已測參數(shù)出現(xiàn)三個(gè)以內(nèi)B級(jí)可判定為次級(jí)良品。如此通過并行測量結(jié)合表決判定的方式最大程度減少檢測時(shí)間。整個(gè)基板檢測完成后，操作人員把基板放在劃線裂片機(jī)基臺(tái)上進(jìn)行切片，器件被切割完成后將完成信號(hào)回傳給系統(tǒng)主機(jī)，系統(tǒng)主機(jī)按照已經(jīng)記錄存檔的器件信息(包括位置編號(hào)及不良類型)轉(zhuǎn)化為自動(dòng)機(jī)械手可識(shí)別的平面坐標(biāo)信息，此時(shí)劃線裂片機(jī)關(guān)閉基臺(tái)的真空吸附狀態(tài)，機(jī)械手手端的真空吸盤把不同判定類型的器件放入不同的托盤中，待機(jī)械手完成作業(yè)后操作人員只需取走相應(yīng)的托盤即可進(jìn)行分類并使器件進(jìn)入下一工序。對(duì)不同的器件判定類型再進(jìn)入不同的工藝流程。
[0013]本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將會(huì)意識(shí)到，這里所述的實(shí)施例是為了幫助讀者理解本發(fā)明的原理，應(yīng)被理解為本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于這樣的特別陳述和實(shí)施例。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以根據(jù)本發(fā)明公開的這些技術(shù)啟示做出各種不脫離本發(fā)明實(shí)質(zhì)的其它各種具體變形和組合，這些變形和組合仍然在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.0LED并行檢測分揀系統(tǒng)，其特征在于，包括同時(shí)連接基板上各顯示單元的測試治具、用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和控制系統(tǒng)運(yùn)行的系統(tǒng)主機(jī)、矩陣開關(guān)控制單元和自動(dòng)機(jī)械手；所述矩陣開關(guān)控制單元連接測試治具和系統(tǒng)主機(jī)，用于在系統(tǒng)主機(jī)的控制下將顯示單元逐個(gè)與對(duì)應(yīng)的信號(hào)測試單元電聯(lián)通以完成該顯示單元的全檢測試；系統(tǒng)主機(jī)設(shè)定測試標(biāo)準(zhǔn)并記錄測試結(jié)果；所述信號(hào)測試單元用于存儲(chǔ)所述顯示單元的全檢測試信號(hào)；自動(dòng)機(jī)械手用于根據(jù)系統(tǒng)主機(jī)控制將不同檢測結(jié)果的顯示單元分揀到不同的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的OLED并行檢測分揀系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括劃線裂片機(jī)，所述劃線裂片機(jī)與系統(tǒng)主機(jī)相連接，用于根據(jù)系統(tǒng)主機(jī)控制將基板上的顯示單元切割并分裂開。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的OLED并行檢測分揀系統(tǒng)，其特征在于，系統(tǒng)主機(jī)記錄的測試結(jié)果包括顯示單元的坐標(biāo)位置及測試等級(jí)結(jié)果。
【文檔編號(hào)】G01R31/26GK103792477SQ201410058419
【公開日】2014年5月14日 申請(qǐng)日期:2014年2月20日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月20日
【發(fā)明者】向欣, 任海, 樸章浩, 張曉茗, 王小月 申請(qǐng)人:四川虹視顯示技術(shù)有限公司