用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，其中，檢測(cè)裝置包括空心球體和檢測(cè)模塊；在空心球體內(nèi)設(shè)置有滾動(dòng)球，并在所述空心球體的底側(cè)球面上設(shè)置有第一通孔，在所述空心球體的左側(cè)球面或者右側(cè)球面上設(shè)置有第二通孔，且使檢測(cè)模塊的第一檢測(cè)端位于所述第一通孔的外側(cè)，使檢測(cè)模塊的第二檢測(cè)端位于所述第二通孔的外側(cè)，當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)，無需依賴功能芯片完成橫屏豎屏的檢測(cè)，大大降低了軟硬件的開發(fā)難度，降低了生產(chǎn)成本。
【專利說明】用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子產(chǎn)品，特別涉及一種用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技社會(huì)的進(jìn)步，智能電子終端的使用已非常普遍，橫屏豎屏檢測(cè)及轉(zhuǎn)換功能已成為智能手機(jī)、平板電腦等智能終端的標(biāo)配功能。然而，目前在智能終端中的橫屏豎屏檢測(cè)方式均依賴于功能芯片(例如重力傳感器)，這使得現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷有:(I)必需具有相應(yīng)的功能芯片，且增加了該功能芯片的成本；(2)功能芯片需裝貼在移動(dòng)終端的主板上，增加了移動(dòng)終端布線的難度；(3)需要開發(fā)相應(yīng)的橫屏豎屏檢測(cè)算法，軟件控制要求較高。可見現(xiàn)有的智能終端在實(shí)現(xiàn)橫屏豎屏檢測(cè)功能時(shí)，其軟硬件要求都較高，且軟硬件開發(fā)成本也高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足之處，本發(fā)明的目的在于提供一種用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，無需依賴功能芯片完成移動(dòng)終端橫屏豎屏的檢測(cè)。
[0004]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明采取了以下技術(shù)方案:
一種用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其包括:空心球體和檢測(cè)模塊；
在所述空心球體內(nèi)設(shè)置有滾動(dòng)球，所述空心球體固定設(shè)置在所述移動(dòng)終端上，在所述空心球體的底側(cè)球面上設(shè)置有第一通孔，所述空心球體的左側(cè)球面或者右側(cè)球面上設(shè)置有第二通孔，所述第一通孔和第二通孔的內(nèi)徑均小于所述滾動(dòng)球的內(nèi)徑，且所述空心球體接地；
所述檢測(cè)模塊具有第一檢測(cè)端和第二檢測(cè)端，所述第一檢測(cè)端位于所述第一通孔的外偵U、該第一檢測(cè)端連接VDD供電端；所述第二檢測(cè)端位于所述第二通孔的外側(cè)、該第二檢測(cè)端連接VDD供電端；
其中，當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
[0005]所述的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置中，所述檢測(cè)模塊包括:第一上拉電阻、第二上拉電阻和中央處理器；所述中央處理器具有第一中斷管腳和第二中斷管腳，所述第一中斷管腳位于所述第一通孔的外側(cè)、該第一中斷管腳通過第一上拉電阻連接VDD供電端；所述第二中斷管腳位于所述第二通孔的外側(cè)、該第二中斷管腳通過第二上拉電阻連接VDD供電端。
[0006]所述的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置中，所述中央處理器包括: 中斷檢測(cè)單元，用于檢測(cè)所述滾動(dòng)球是否位于第一通孔或第二通孔中，并相應(yīng)產(chǎn)生第
一中斷信號(hào)或第二中斷信號(hào)； 橫豎屏判斷單元，用于中斷檢測(cè)單元輸出第一中斷信號(hào)時(shí)，判斷移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)，中斷檢測(cè)單元輸出第二中斷信號(hào)時(shí)，判斷移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)；
定時(shí)器，用于設(shè)置定時(shí)時(shí)間；
所述中斷檢測(cè)單元連接橫豎屏判斷單元和定時(shí)器。
[0007]所述的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置中，所述空心球體的內(nèi)表面和外表面均為光滑球面。
[0008]一種如上述用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其包括:
A、滾動(dòng)球在空心球體內(nèi)滾動(dòng)；
B、當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
[0009]所述的檢測(cè)方法中，當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)，所述步驟B具體包括: BH、中央處理器檢測(cè)到第一中斷管腳產(chǎn)生下降沿時(shí)輸出第一中斷信號(hào)；
B12、將定時(shí)器清零；
B13、判斷定時(shí)器是否超時(shí)；如果是，則執(zhí)行B14 ;否則，執(zhí)行步驟B15 ；
B14、判斷第一中斷管腳的電平是否為低電平；如果是，則執(zhí)行步驟B15 ;否則，判定為未檢測(cè)到橫屏或豎屏信號(hào)；
B15、發(fā)出豎屏信號(hào)，控制移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)。
[0010]所述的檢測(cè)方法中，當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)，所述步驟B具體包括: B21、中央處理器檢測(cè)到第二中斷管腳產(chǎn)生下降沿時(shí)輸出第二中斷信號(hào)；
B22、將定時(shí)器清零；
B23、判斷定時(shí)器是否超時(shí)；如果是，則執(zhí)行B24，否則，執(zhí)行步驟B25 ；
B24、判斷第二中斷管腳的電平是否為低電平；如果是，則執(zhí)行步驟B25 ;否則，判定為未檢測(cè)到橫屏或豎屏信號(hào)；
B25、發(fā)出橫屏信號(hào)，控制移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
[0011]所述的檢測(cè)方法中，所述定時(shí)器的定時(shí)時(shí)間為30ms。
[0012]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，通過設(shè)置一空心球體，在空心球體內(nèi)設(shè)置有滾動(dòng)球，并在所述空心球體的底側(cè)球面上設(shè)置有第一通孔，在所述空心球體的左側(cè)球面或者右側(cè)球面上設(shè)置有第二通孔，且使檢測(cè)模塊的第一檢測(cè)端位于所述第一通孔的外側(cè)，使檢測(cè)模塊的第二檢測(cè)端位于所述第二通孔的外側(cè)，當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)，無需依賴功能芯片完成橫屏豎屏的檢測(cè)，大大降低了軟硬件的開發(fā)難度，降低了生產(chǎn)成本。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】[0014]本發(fā)明提供一種用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法，為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及效果更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0015]請(qǐng)參閱圖1，其為本發(fā)明用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。本發(fā)明提供的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置通過一空心球體實(shí)現(xiàn)移動(dòng)終端橫屏豎屏的檢測(cè)，如圖1所示，本發(fā)明的檢測(cè)裝置包括空心球體10和檢測(cè)模塊20，所述空心球體10的內(nèi)表面和外表面均為光滑球面。
[0016]在所述空心球體10內(nèi)設(shè)置有滾動(dòng)球101，該滾動(dòng)球101為一個(gè)可以在空心球體10內(nèi)自由滾動(dòng)的小球,且該空心球體10和滾動(dòng)球101均為導(dǎo)電性能良好的導(dǎo)體。
[0017]本實(shí)施例中，所述空心球體10固定設(shè)置在所述移動(dòng)終端上，如固定在移動(dòng)終端的主板上，在移動(dòng)終端運(yùn)動(dòng)時(shí)，空心球體10的位置相對(duì)固定,而滾動(dòng)球101可在空心球體10內(nèi)自由滾動(dòng)。本發(fā)明在所述空心球體10的底側(cè)球面上設(shè)置有第一通孔102，所述空心球體10的左側(cè)球面或者右側(cè)球面上設(shè)置有第二通孔103，所述第一通孔102和第二通孔103的內(nèi)徑均小于所述滾動(dòng)球101的內(nèi)徑,且所述空心球體10接地,使空心球體10和滾動(dòng)球101在常態(tài)下保持低電平。
[0018]其中，所述述檢測(cè)模塊20具有第一檢測(cè)端和第二檢測(cè)端，所述第一檢測(cè)端位于所述第一通孔102的外側(cè)、該第一檢測(cè)端連接VDD供電端；所述第二檢測(cè)端位于所述第二通孔103的外側(cè)、該第二檢測(cè)端連接VDD供電端，使第一檢測(cè)端和第二檢測(cè)端在常態(tài)下被上拉為高電平。
[0019]具體來說，所述第一通孔102和第二通孔103均為圓形孔，且兩通孔的半徑相同，所述滾動(dòng)球101的半徑大于所述第一通孔102或第二通孔103的半徑，使?jié)L動(dòng)球101滾動(dòng)至所述第一通孔102或第二通孔103中時(shí)，不會(huì)從第一通孔102或第二通孔103中掉出，且通過接觸到所述第一檢測(cè)端或者第二檢測(cè)端。
[0020]本發(fā)明的檢測(cè)方式為:當(dāng)所述滾動(dòng)球101滾動(dòng)至所述第一通孔102中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，此時(shí)第一檢測(cè)端變?yōu)榈碗娖?，所述檢測(cè)模塊20檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)，檢測(cè)模塊20相應(yīng)控制移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球101滾動(dòng)至所述第二通孔103中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，此時(shí)第二檢測(cè)端變?yōu)榈碗娖剑鰴z測(cè)模塊20檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)，檢測(cè)模塊20相應(yīng)控制移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
[0021]換句話說:當(dāng)滾動(dòng)球101與地球重力方向相同時(shí)，所述滾動(dòng)球101會(huì)蓋住第一通孔102或者第二通孔103，且與第一檢測(cè)端或者第二檢測(cè)端相連，此時(shí)由于空心球體10接地，所以相應(yīng)的檢測(cè)端為低電平，而沒有被蓋住的通孔處的檢測(cè)端為高電平，因此本發(fā)明只需檢測(cè)中斷管腳是否為低電平即可判斷移動(dòng)終端的橫屏和豎屏狀態(tài)。
[0022]請(qǐng)繼續(xù)參閱圖1，所述檢測(cè)模塊20包括第一上拉電阻R1、第二上拉電阻R2和中央處理器201 ;所述中央處理器201具有第一中斷管腳GIPOl和第二中斷管腳GIP02，所述第一中斷管腳GIPOl位于所述第一通孔102的外側(cè)、該第一中斷管腳GIPOl通過第一上拉電阻Rl連接VDD供電端；所述第二中斷管腳GIP02位于所述第二通孔103的外側(cè)、該第二中斷管腳GIP02通過第二上拉電阻R2連接VDD供電端。
[0023]具體實(shí)施時(shí)，所述中央處理器201包括中斷檢測(cè)單元、橫豎屏判斷單元和定時(shí)器，所述中斷檢測(cè)單元連接橫豎屏判斷單元和定時(shí)器。所述中斷檢測(cè)單元，用于檢測(cè)所述滾動(dòng)球101是否位于第一通孔102或第二通孔103中，并相應(yīng)產(chǎn)生第一中斷信號(hào)或第二中斷信號(hào)；所述橫豎屏判斷單元，用于中斷檢測(cè)單元輸出第一中斷信號(hào)時(shí)，判斷移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)，中斷檢測(cè)單元輸出第二中斷信號(hào)時(shí)，判斷移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)；定時(shí)器，用于設(shè)置定時(shí)時(shí)間。當(dāng)某一中斷管腳有下降沿中斷產(chǎn)生時(shí)，連續(xù)檢測(cè)固定時(shí)間內(nèi)該中斷管腳是否一直保持低電平狀態(tài)，如果是則認(rèn)為移動(dòng)終端保持某一狀態(tài)，從而觸發(fā)橫屏豎屏操作。
[0024]在優(yōu)選的實(shí)施例中，所述空心球體10上還可設(shè)置第三通孔和第四通孔，所述第三通孔位于空心球體10的頂側(cè)球面上，即與第一通孔102相對(duì)設(shè)置，所述第四通孔位于空心球體10的右側(cè)球面或者左側(cè)球面上，即與第二通孔103相對(duì)設(shè)置。并且所述中央處理器201相應(yīng)具有第三中斷管腳和第四中斷管腳，所述第三中斷管腳位于所述第三通孔的外側(cè)、該第一中斷管腳通過一上拉電阻連接VDD供電端；所述第四中斷管腳位于所述第四通孔的外側(cè)、該第四中斷管腳通過另一上拉電阻連接VDD供電端。
[0025]并且第三通孔和第四通孔的檢測(cè)方式相應(yīng)與第一通孔102和第二通孔103相同，即第三通孔和第三中斷管腳用于檢測(cè)豎屏狀態(tài)，第四通孔和第四中斷管腳用于檢測(cè)橫屏狀態(tài)。本發(fā)明通過四個(gè)通孔和四個(gè)中斷管腳實(shí)現(xiàn)移動(dòng)終端的正倒向豎屏和左右橫屏狀態(tài)的檢測(cè)。當(dāng)?shù)谝煌?02和第二通孔103分別用于檢測(cè)正向豎屏和左側(cè)橫屏?xí)r，所述第三通孔和第四通孔分別檢測(cè)移動(dòng)終端倒置豎屏和右側(cè)橫屏，從而控制移動(dòng)終端的屏幕顯示相應(yīng)的方向，進(jìn)一步增加移動(dòng)終端的功能，提高用戶體驗(yàn)效果。
[0026]基本上述的檢測(cè)裝置，本發(fā)明還相應(yīng)提供一種上述檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其包括:第一步、使?jié)L動(dòng)球在空心球體內(nèi)滾動(dòng)；第二步、當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
[0027]其中，當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)，所述第二步具體包括:
步驟a、中央處理器檢測(cè)到第一中斷管腳產(chǎn)生下降沿時(shí)輸出第一中斷信號(hào)；
步驟b、將定時(shí)器清零；
步驟C、判斷定時(shí)器是否超時(shí)；如果是，則執(zhí)行步驟d ;否則，執(zhí)行步驟步驟e ；
步驟d、判斷第一中斷管腳的電平是否為低電平；如果是，則執(zhí)行步驟e ;否則，判定為未檢測(cè)到橫屏或豎屏信號(hào)；
步驟e、發(fā)出豎屏信號(hào)，控制移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)。
[0028]當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)，所述第二步具體包括:
步驟a'、中央處理器檢測(cè)到第二中斷管腳產(chǎn)生下降沿時(shí)輸出第二中斷信號(hào)；
步驟b'、將定時(shí)器清零；
步驟c'、判斷定時(shí)器是否超時(shí)；如果是，則執(zhí)行步驟d';否則，執(zhí)行步驟步驟e'；步驟d'、判斷第二中斷管腳的電平是否為低電平；如果是，則執(zhí)行步驟步驟e';否貝U，判定為未檢測(cè)到橫屏或豎屏信號(hào)；
步驟e,、發(fā)出橫屏信號(hào)，控制移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
[0029]其中，所述定時(shí)器的定時(shí)時(shí)間為30ms。當(dāng)空心球體上設(shè)置有四個(gè)通孔，且中央處理器包括四個(gè)中斷管腳時(shí)，第三通孔和第四通孔的檢測(cè)方式與上述第一通孔和第二通孔的檢測(cè)方式相同，具體請(qǐng)參閱上述實(shí)施例。
[0030]綜上所述，本發(fā)明通過空心球體和滾動(dòng)球，并在所述空心球體上設(shè)置兩個(gè)通孔，配合中央處理器就能檢測(cè)移動(dòng)終端的橫屏和豎屏狀態(tài)，無需依賴功能芯片完成橫屏豎屏的檢測(cè)，大大降低了軟硬件的開發(fā)難度，降低了生產(chǎn)成本。
[0031]可以理解的是，對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，而所有這些改變或替換都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，包括:空心球體和檢測(cè)模塊； 在所述空心球體內(nèi)設(shè)置有滾動(dòng)球，所述空心球體固定設(shè)置在所述移動(dòng)終端上，在所述空心球體的底側(cè)球面上設(shè)置有第一通孔，所述空心球體的左側(cè)球面或者右側(cè)球面上設(shè)置有第二通孔，所述第一通孔和第二通孔的內(nèi)徑均小于所述滾動(dòng)球的內(nèi)徑，且所述空心球體接地； 所述檢測(cè)模塊具有第一檢測(cè)端和第二檢測(cè)端，所述第一檢測(cè)端位于所述第一通孔的外偵U、該第一檢測(cè)端連接VDD供電端；所述第二檢測(cè)端位于所述第二通孔的外側(cè)、該第二檢測(cè)端連接VDD供電端； 其中，當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)模塊包括:第一上拉電阻、第二上拉電阻和中央處理器；所述中央處理器具有第一中斷管腳和第二中斷管腳，所述第一中斷管腳位于所述第一通孔的外側(cè)、該第一中斷管腳通過第一上拉電阻連接VDD供電端；所述第二中斷管腳位于所述第二通孔的外側(cè)、該第二中斷管腳通過第二上拉電阻連接VDD供電端。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述中央處理器包括: 中斷檢測(cè)單元，用于檢測(cè) 所述滾動(dòng)球是否位于第一通孔或第二通孔中，并相應(yīng)產(chǎn)生第一中斷信號(hào)或第二中斷信號(hào)； 橫豎屏判斷單元，用于中斷檢測(cè)單元輸出第一中斷信號(hào)時(shí)，判斷移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)，中斷檢測(cè)單元輸出第二中斷信號(hào)時(shí)，判斷移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)； 定時(shí)器，用于設(shè)置定時(shí)時(shí)間； 所述中斷檢測(cè)單元連接橫豎屏判斷單元和定時(shí)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述空心球體的內(nèi)表面和外表面均為光滑球面。
5.一種權(quán)利要求1所述用于檢測(cè)移動(dòng)終端的橫豎屏狀態(tài)的檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法，其特征在于，包括: A、滾動(dòng)球在空心球體內(nèi)滾動(dòng)； B、當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)與所述第一檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)；當(dāng)所述滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)與所述第二檢測(cè)端接觸，所述檢測(cè)模塊檢測(cè)所述移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第一通孔中時(shí)，所述步驟B具體包括: BH、中央處理器檢測(cè)到第一中斷管腳產(chǎn)生下降沿時(shí)輸出第一中斷信號(hào)； B12、將定時(shí)器清零； B13、判斷定時(shí)器是否超時(shí)；如果是，則執(zhí)行B14 ;否則，執(zhí)行步驟B15 ； B14、判斷第一中斷管腳的電平是否為低電平；如果是，則執(zhí)行步驟B15 ;否則，判定為未檢測(cè)到橫屏或豎屏信號(hào)； B15、發(fā)出豎屏信號(hào)，控制移動(dòng)終端為豎屏狀態(tài)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)滾動(dòng)球滾動(dòng)至所述第二通孔中時(shí)，所述步驟B具體包括: B21、中央處理器檢測(cè)到第二中斷管腳產(chǎn)生下降沿時(shí)輸出第二中斷信號(hào)； B22、將定時(shí)器清零； B23、判斷定時(shí)器是否超時(shí)；如果是，則執(zhí)行B24，否則，執(zhí)行步驟B25 ； B24、判斷第二中斷管腳的電平是否為低電平；如果是，則執(zhí)行步驟B25 ;否則，判定為未檢測(cè)到橫屏或豎屏 信號(hào)； B25、發(fā)出橫屏信號(hào)，控制移動(dòng)終端為橫屏狀態(tài)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的檢測(cè)方法，其特征在于，所述定時(shí)器的定時(shí)時(shí)間為30ms。
【文檔編號(hào)】G01D21/00GK103791942SQ201410059440
【公開日】2014年5月14日 申請(qǐng)日期:2014年2月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月21日
【發(fā)明者】俞斌, 楊維琴 申請(qǐng)人:Tcl通訊（寧波）有限公司