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      一體式靈敏度試片及其制作和使用方法

      文檔序號(hào):6219344閱讀:443來源:國知局
      一體式靈敏度試片及其制作和使用方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及一種一體式靈敏度試片及其制作和使用方法,一體式靈敏度試片包括一表面為正方形的靈敏度試片,以正方形的中心為圓心,在正方形表面內(nèi)設(shè)置有圓形刻槽,以圓形刻槽的圓心為交點(diǎn),在圓形刻槽內(nèi)設(shè)置十字刻槽;其特征在于:在靈敏度試片的十字刻槽所在面的背面設(shè)置一基體,在靈敏度試片的十字刻槽所在面設(shè)置粘貼膠條;靈敏度試片和粘貼膠條均以基體中心為基點(diǎn)固定在基體上,靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu)?;w設(shè)置為“井”字形,且“井”字形的四角均設(shè)置有曲面凸起部,在基體的中央開設(shè)第一正方形孔;粘貼膠條設(shè)置成與基體相同的形狀,在粘貼膠條的中央開設(shè)第二正方形孔。本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于磁粉探傷系統(tǒng)靈敏度性能校驗(yàn)中。
      【專利說明】一體式靈敏度試片及其制作和使用方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種用于無損檢測(cè)的靈敏度試片及其制作和使用方法,特別是關(guān)于一種一體式靈敏度試片及其制作和使用方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在采用磁粉探傷方法對(duì)工件進(jìn)行探傷檢查前,需要用靈敏度試片對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn),校驗(yàn)合格后才能對(duì)工件進(jìn)行探傷作業(yè)。目前,在磁粉無損檢測(cè)中,通常采用DT4A超高純低碳純鐵材質(zhì)的A1-15/50型靈敏度試片對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)。如圖1所示,A1-15/50型靈敏度試片是一邊長為20mm、厚度為50 μ m的正方體,以正方形中心為圓心設(shè)置一直徑為10_的圓形刻槽,以圓心為交點(diǎn),在圓形刻槽內(nèi)設(shè)置一邊長為6_的十字刻槽,圓刻槽和十字刻槽的深度均為15 μ m。在使用靈敏度試片對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)時(shí),首先需要將靈敏度試片帶有刻槽的一面與工件表面密貼,用膠帶紙將靈敏度試片呈“井”字形粘貼牢固,并且膠帶紙不得遮蓋靈敏度試片的刻槽處,靈敏度試片的表面不得有磕碰傷、劃痕、折皺和銹蝕等;然后對(duì)工件進(jìn)行磁化并在靈敏度試片上噴淋磁懸液;在光照
      強(qiáng)度、探傷材料和探傷設(shè)備等均合格的條件下,觀察靈敏度試片另一面上對(duì)應(yīng)“ ? ”形刻槽的磁痕顯示情況,當(dāng)磁痕顯示清晰完整時(shí),表示探傷系統(tǒng)靈敏度校驗(yàn)合格,允許對(duì)工件進(jìn)行探傷作業(yè);否則,表示探傷系統(tǒng)靈敏度校驗(yàn)不合格,不允許對(duì)工件進(jìn)行磁粉探傷作業(yè)。
      [0003]實(shí)際上,在對(duì)工件進(jìn)行探傷作業(yè)的過程中,往往會(huì)碰到形狀各異且表面粗糙的工件。將現(xiàn)有技術(shù)中公開的靈敏度試片(例如A1-15/50型靈敏度試片)粘貼在工件表面對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)時(shí),常存在以下問題:(1)由于現(xiàn)有靈敏度試片的體積較小、材質(zhì)較脆、厚度較薄,在從包裝中取出靈敏度試片時(shí),需要用手直接捏住靈敏度試片將其拉出來,這種操作易導(dǎo)致靈敏度試片彎折。(2)在靈敏度試片粘貼過程中,需要直接用手按住其表面,再用膠帶紙將靈敏度試片的四周呈“井”字形牢固地粘貼在工件上,由于工件表面粗糙度及形狀各異,有的粗糙不平、有的位置窄小、有的形狀變化較大等因素的存在,稍有不慎靈敏度試片就可能出現(xiàn)破損、凹凸不平或折痕等,而靈敏度試片出現(xiàn)的這種破損或折痕等一般無法修復(fù),從而導(dǎo)致靈敏度試片的報(bào)廢率較高。(3)如果靈敏度試片粘貼不當(dāng),導(dǎo)致膠帶紙遮蓋住圓刻槽和十字刻槽,則需要取下靈敏度試片并重新粘貼,在取下靈敏度試片的過程中也會(huì)導(dǎo)致其受損而不能使用。因此現(xiàn)有靈敏度試片的使用過程操作繁瑣、費(fèi)時(shí)費(fèi)力且一般需要兩個(gè)人配合才能完成,從而給現(xiàn)場(chǎng)探傷工作人員帶來很大麻煩。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]針對(duì)上述問題,本發(fā)明的目的是提供一種使用和保存方便且可重復(fù)使用的用于磁粉探傷性能校驗(yàn)的一體式靈敏度試片及其制作和使用方法。
      [0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明米取以下技術(shù)方案:一種一體式靈敏度試片,它包括一表面為正方形的靈敏度試片,以所述正方形表面的中心為圓心,在所述正方形表面內(nèi)設(shè)置有一圓形刻槽,以所述圓形刻槽的圓心為交點(diǎn),在所述圓形刻槽內(nèi)設(shè)置一十字刻槽;其特征在于:在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面的背面設(shè)置一基體,在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面設(shè)置粘貼膠條;所述靈敏度試片和粘貼膠條均以所述基體中心為基點(diǎn)固定在所述基體上,所述靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu)。
      [0006]所述基體設(shè)置為“井”字形,且“井”字形的四角均設(shè)置有一曲面凸起部,在所述基體的中央開設(shè)第一正方形孔。
      [0007]所述第一正方形孔的邊長比所述靈敏度試片上所設(shè)置圓形刻槽的直徑大3mm?4mm ο
      [0008]所述基體采用塑料膠帶、紙膠帶、聚酯膠帶和無紡布膠帶中的一種,且所述基體的一側(cè)面覆有粘膠。
      [0009]所述粘貼膠條設(shè)置成與所述基體相同的形狀,在所述粘貼膠條的中央開設(shè)第二正方形孔。
      [0010]所述第二正方形孔的邊長比所述第一正方形孔的邊長大2mm?4mm。
      [0011]所述粘貼膠條設(shè)置I?2層,各層所述粘貼膠條均采用單面帶膠的塑料膠條,且各層所述粘貼膠條的形狀相同,各層所述粘貼膠條的大小依次相差1_以上。
      [0012]一種所述一體式靈敏度試片的制作方法,其包括以下步驟:1)以所述基體中心為基點(diǎn),將所述靈敏度試片粘接在所述基體中央;2)將所述粘貼膠條不帶膠的一面固定在所述靈敏度試片和基體上,使所述粘貼膠條中央開設(shè)的第二正方形孔的中心與所述靈敏度試片的中心、所述基體的中心均重合;3)所述靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu),在所述一體式結(jié)構(gòu)的表面覆蓋塑料保護(hù)膜。
      [0013]一種所述一體式靈敏度試片的使用方法,其包括以下步驟:1)打開所述基體側(cè)的塑料保護(hù)膜,將所述靈敏度試片擦拭干凈后,再將塑料保護(hù)膜覆蓋在所述基體上;2 )取下所述粘貼膠條側(cè)的塑料保護(hù)膜,將所述靈敏度試片設(shè)置有十字刻槽的一面通過所述粘貼膠條緊密粘貼在工件上;3)對(duì)工件進(jìn)行磁化,取下所述基體側(cè)的塑料保護(hù)膜,并在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面的背面上噴淋磁懸液或施加磁粉,通過對(duì)探傷工件進(jìn)行磁化,使粘貼在工件表面上的所述靈敏度試片上顯示完整、清晰的“ ? ”形磁痕。
      [0014]本發(fā)明由于采取以上技術(shù)方案,其具有以下優(yōu)點(diǎn):1、本發(fā)明由于包括一表面為正方形的靈敏度試片,以正方形表面的中心為圓心,在正方形表面內(nèi)設(shè)置有一圓形刻槽,以圓形刻槽的圓心為交點(diǎn),在圓形刻槽內(nèi)設(shè)置一十字刻槽;在靈敏度試片的十字刻槽所在面的背面設(shè)置一基體,在靈敏度試片的十字刻槽所在面設(shè)置粘貼膠條;靈敏度試片和粘貼膠條均以基體中心為基點(diǎn)固定在基體上,靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu),因此本發(fā)明現(xiàn)場(chǎng)使用方便,且能夠避免使用時(shí)對(duì)靈敏度試片造成的損傷,以及因操作不當(dāng)而遮蓋住靈敏度試片刻槽部位的失誤。2、本發(fā)明由于在靈敏度試片的十字刻槽所在面設(shè)置I?2層粘貼膠條,且各層粘貼膠條的形狀相同,各層粘貼膠條的大小依次相差I(lǐng)mm以上,使用時(shí)將粘貼在工件上的第一層粘貼膠條留下,取下其余部分,而不損壞靈敏度試片,因此本發(fā)明能夠重復(fù)使用該靈敏度試片,從而節(jié)省成本。3、本發(fā)明由于靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu),因此本發(fā)明保存方便,且粘貼有本發(fā)明的工件外形美觀,便于保存?;谝陨蟽?yōu)點(diǎn),本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于磁粉探傷系統(tǒng)靈敏度性能校驗(yàn)中。
      【專利附圖】

      【附圖說明】[0015]圖1是現(xiàn)有靈敏度試片的結(jié)構(gòu)示意圖
      [0016]圖2是本發(fā)明一體式靈敏度試片的結(jié)構(gòu)示意圖
      [0017]圖3是基體的結(jié)構(gòu)不意圖
      [0018]圖4是粘貼膠條的結(jié)構(gòu)示意圖
      【具體實(shí)施方式】
      [0019]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的描述。
      [0020]如圖2所示,本發(fā)明一體式靈敏度試片與現(xiàn)有技術(shù)類似,包括一表面為正方形的靈敏度試片I,以正方形表面的中心為圓心,在正方形表面內(nèi)設(shè)置有一圓形刻槽;以圓形刻槽的圓心為交點(diǎn),在圓形刻槽內(nèi)設(shè)置一十字刻槽。本發(fā)明一體式靈敏度試片與現(xiàn)有技術(shù)的不同之處在于:在靈敏度試片I的十字刻槽所在面的背面設(shè)置一基體2,在靈敏度試片I的十字刻槽所在面設(shè)置粘貼膠條3 ;靈敏度試片I和粘貼膠條3均以基體2中心為基點(diǎn)固定在基體2上,靈敏度試片1、基體2和粘貼膠條3形成一體式結(jié)構(gòu)。
      [0021]上述實(shí)施例中,如圖3所示,為適應(yīng)各工件的不同形狀,有利于牢固粘貼,基體2設(shè)置為“井”字形,且“井”字形的四角均設(shè)置有一曲面凸起部,在基體2的中央開設(shè)第一正方形孔,第一正方形孔的邊長比靈敏度試片I上所設(shè)置圓形刻槽的直徑大3mm?4mm,優(yōu)選4mm,從而可以保證靈敏度試片I上圓形刻槽與基體2的第一正方形孔之間保留1.5mm?2mm的間隙,優(yōu)選2mm。將靈敏度試片I與基體2之間的粘合搭接量設(shè)置為3mm?3.5mm,優(yōu)選 2mm。
      [0022]上述實(shí)施例中,靈敏度試片I的外形大小變化時(shí),可以通過調(diào)整基體2的第一正方形孔的邊長大小,保證靈敏度試片I上圓形刻槽與基體2的第一正方形孔之間的間隙為
      1.5mm ?2mmο
      [0023]上述實(shí)施例中,基體2可以采用塑料膠帶、紙膠帶、聚酯膠帶、無紡布膠帶等軟性材料?;w2的一側(cè)面覆有粘膠,在基體2與靈敏度試片I粘接的部位增加粘膠的厚度,從而提高基體2與靈敏度試片I粘接的牢固度,同時(shí)也有利于靈敏度試片I與工件表面的緊S粘貝占。
      [0024]上述實(shí)施例中,如圖4所示,將粘貼膠條3設(shè)置成與基體2相同的形狀,在粘貼膠條3的中央開設(shè)第二正方形孔,第二正方形孔的邊長比第一正方形孔的邊長大2mm?4mm,目的在于保證靈敏度試片I與粘貼膠條3之間留有Imm以上的間隙,靈敏度試片I使用時(shí)不被破壞,便于重復(fù)使用。
      [0025]上述實(shí)施例中,為便于本發(fā)明一體式靈敏度試片的重復(fù)使用,粘貼膠條3設(shè)置I?2層,各層粘貼膠條3均采用單面帶膠的塑料膠條,且各層粘貼膠條3的形狀相同、大小不同,各層粘貼膠條3的大小依次相差I(lǐng)mm以上。
      [0026]本發(fā)明一體式靈敏度試片的制作方法包括以下步驟:
      [0027]I)以基體2中心為基點(diǎn),將靈敏度試片I粘接在基體2中央,使靈敏度試片I的中心與基體2的中心重合。
      [0028]2)將粘貼膠條3不帶膠的一面固定在靈敏度試片I和基體2上,使粘貼膠條3中央開設(shè)的第二正方形孔的中心與靈敏度試片I的中心、基體2的中心均重合。
      [0029]3)靈敏度試片1、基體2和粘貼膠條3形成一體式結(jié)構(gòu),在本發(fā)明一體式靈敏度試片的表面覆蓋塑料保護(hù)膜,從而便于包裝和保存。
      [0030]本發(fā)明一體式靈敏度試片的使用方法包括以下步驟:
      [0031]I)打開基體2側(cè)的塑料保護(hù)膜,將靈敏度試片I擦拭干凈后,再將塑料保護(hù)膜覆蓋在基體2上。
      [0032]2)取下粘貼膠條3側(cè)的塑料保護(hù)膜,將靈敏度試片I設(shè)置有十字刻槽的一面通過粘貼膠條3緊密粘貼在工件上,如果粘貼不當(dāng)或需要更換粘貼在工件上的位置,則將與工件粘貼的一層粘貼膠條3留下,取下一體式靈敏度試片的剩余部分,即可再次使用。
      [0033]3)對(duì)工件進(jìn)行磁化,取下基體2側(cè)的塑料保護(hù)膜,并在靈敏度試片I的十字刻槽所在面的背面上噴淋磁懸液或施加磁粉,通過對(duì)探傷工件進(jìn)行磁化,使粘貼在工件表面上的一體式靈敏度試片上顯示完整、清晰的“
      【權(quán)利要求】
      1.一種一體式靈敏度試片,它包括一表面為正方形的靈敏度試片,以所述正方形表面的中心為圓心,在所述正方形表面內(nèi)設(shè)置有一圓形刻槽,以所述圓形刻槽的圓心為交點(diǎn),在所述圓形刻槽內(nèi)設(shè)置一十字刻槽;其特征在于: 在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面的背面設(shè)置一基體,在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面設(shè)置粘貼膠條;所述靈敏度試片和粘貼膠條均以所述基體中心為基點(diǎn)固定在所述基體上,所述靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu)。
      2.如權(quán)利要求1所述的一體式靈敏度試片,其特征在于:所述基體設(shè)置為“井”字形,且“井”字形的四角均設(shè)置有一曲面凸起部,在所述基體的中央開設(shè)第一正方形孔。
      3.如權(quán)利要求2所述的一體式靈敏度試片,其特征在于:所述第一正方形孔的邊長比所述靈敏度試片上所設(shè)置圓形刻槽的直徑大3_?4_。
      4.如權(quán)利要求1或2或3所述的一體式靈敏度試片,其特征在于:所述基體采用塑料膠帶、紙膠帶、聚酯膠帶和無紡布膠帶中的一種,且所述基體的一側(cè)面覆有粘膠。
      5.如權(quán)利要求1或2或3所述的一體式靈敏度試片,其特征在于:所述粘貼膠條設(shè)置成與所述基體相同的形狀,在所述粘貼膠條的中央開設(shè)第二正方形孔。
      6.如權(quán)利要求5所述的一體式靈敏度試片,其特征在于:所述第二正方形孔的邊長比所述第一正方形孔的邊長大2mm?4mm。
      7.如權(quán)利要求1或2或3或6所述的一體式靈敏度試片,其特征在于:所述粘貼膠條設(shè)置I?2層,各層所述粘貼膠條均采用單面帶膠的塑料膠條,且各層所述粘貼膠條的形狀相同,各層所述粘貼膠條的大小依次相差1_以上。
      8.如權(quán)利要求5所述的一體式靈敏度試片,其特征在于:所述粘貼膠條設(shè)置I?2層,各層所述粘貼膠條均采用單面帶膠的塑料膠條,且各層所述粘貼膠條的形狀相同,各層所述粘貼膠條的大小依次相差I(lǐng)mm以上。
      9.一種如權(quán)利要求1?8任一項(xiàng)所述一體式靈敏度試片的制作方法,其包括以下步驟: 1)以所述基體中心為基點(diǎn),將所述靈敏度試片粘接在所述基體中央; 2)將所述粘貼膠條不帶膠的一面固定在所述靈敏度試片和基體上,使所述粘貼膠條中央開設(shè)的第二正方形孔的中心與所述靈敏度試片的中心、所述基體的中心均重合; 3)所述靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu),在所述一體式結(jié)構(gòu)的表面覆蓋塑料保護(hù)膜。
      10.一種如權(quán)利要求1?9任一項(xiàng)所述一體式靈敏度試片的使用方法,其包括以下步驟: 1)打開所述基體側(cè)的塑料保護(hù)膜,將所述靈敏度試片擦拭干凈后,再將塑料保護(hù)膜覆蓋在所述基體上; 2)取下所述粘貼膠條側(cè)的塑料保護(hù)膜,將所述靈敏度試片設(shè)置有十字刻槽的一面通過所述粘貼膠條緊密粘貼在工件上; 3)對(duì)工件進(jìn)行磁化,取下所述基體側(cè)的塑料保護(hù)膜,并在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面的背面上噴淋磁懸液或施加磁粉,通過對(duì)探傷工件進(jìn)行磁化,使粘貼在工件表面上的所述靈敏度試片上顯示完整、清晰的“ ? ”形磁痕。
      【文檔編號(hào)】G01N1/28GK103792125SQ201410071851
      【公開日】2014年5月14日 申請(qǐng)日期:2014年2月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月28日
      【發(fā)明者】李艷琴, 王艷清, 付守用, 張博, 宋力, 陳東波, 高國強(qiáng) 申請(qǐng)人:南車二七車輛有限公司
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