一種用于芯片量產(chǎn)測試的ate接口電路板管理組件的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提出了一種可以在集成電路芯片大規(guī)模量產(chǎn)測試階段，通過在測試接口電路板上增加一個額外的電路，從而達到以下幾個目的：1.對接口電路板進行全生命周期的管理。由LB(Load board)供應商存儲LB相關信息，如LB版本號，編號，LB出廠時間，供應商等，方便客戶檢查和調用(可以通過程序讀取LB設備號存在數(shù)據(jù)日志文件里，這樣可以容易對比不同LB的良率)。2.對于客戶的敏感程序可以進行加密保護，從而幫助客戶更好地保護其知識產(chǎn)權。3.對于芯片的測試結果進行記錄分析，從而排除接口電路板對于最終測試良率的影響。并且給分析人員提供可靠，有效的測試數(shù)據(jù)。4.自動保存接口板的補償值。避免量產(chǎn)企業(yè)由于采用了錯誤的補償值從而發(fā)生誤測等情況。
【專利說明】-種用于芯片量產(chǎn)測試的ATE接口電路板管理組件

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明屬于集成電路芯片測試測量領域。通過在LB (Load Board)上添加新型的 電路組件以及嵌入式軟件，達到對ATE接口板進行全生命周期管理，客戶資料加密，核心數(shù) 據(jù)管理以及芯片測試良率管理的目的。

【背景技術】
[0002] 自動測試系統(tǒng)（ATE: Automatic Testing Equipment)近年來的發(fā)展十分迅速， ATE被廣泛應用于1C量產(chǎn)測試的各個環(huán)節(jié)，包括晶圓測試、成品測試，以及少部分的老化測 試與手工測試。ATE的量產(chǎn)接口電路板LB (Load Board)在大量產(chǎn)測試中扮演著重要的角 色，它實現(xiàn)了自動化測試儀的信號與待測芯片（DUT)管腳間的電連接，從而可以對待測芯 片加以各種類型的激勵，并且對其響應進行分析。ATE量產(chǎn)接口電路板的質量直接影響到了 芯片量產(chǎn)測試的質量以及良率。


【發(fā)明內容】

[0003] 在目前的芯片大規(guī)模量產(chǎn)測試中，接口板LB(Load board)的管理一般由人工進 行，不同的芯片被對應于不同的接口板。待測芯片通過接口板與自動化測試儀進行連接，通 過運行事先編程的測試程序，ATE有序的向待測芯片發(fā)送激勵并記錄芯片的響應，并將響應 與期望數(shù)據(jù)進行比較，從而進行合格或者失效的判斷。
[0004] 在上述測試過程中，接口板LB起著重要的作用。一旦接口板出現(xiàn)恒定（Stuck- At) 故障或者隨機(Random)故障，合格的芯片就有可能被誤判成為不合格芯片，從而影響芯片的 良率，客戶也會受到不同程度的經(jīng)濟損失。所以一旦發(fā)生良率下降，量產(chǎn)維護人員會對接口板 進行檢測以及修正，這些檢測以及修正一般以經(jīng)驗的方式進行，很少有科學的管理系統(tǒng)。
[0005] 除了恒定、隨機類型的故障，接口板還會引入信號衰減，失真，額外電流的損耗等 非理想因素，從而影響對芯片真實值的測量。因此，必須針對每張接口板進行對應的補償。 一般這些補償值不能存儲在接口板上，只能存在另外獨立的文件中，量產(chǎn)管理人員根據(jù)接 口板編號選取對應的文件，一旦發(fā)生差錯，也將影響測試結果的可靠性以良率。
[0006] 測試程序本身也攜帶著芯片的知識產(chǎn)權，由于量產(chǎn)的需要，很多家芯片設計公司 可能在一個芯片測試廠進行芯片大規(guī)模量產(chǎn)測試，這樣也存在可能導致芯片知識產(chǎn)權某種 程度的泄露風險。
[0007] 要解決上述一些現(xiàn)在存在的問題，就必須在技術上進行創(chuàng)新和改進。本發(fā)明通過 在ATE接口電路板上加入本發(fā)明的電路組件（如摘要附圖），從而達到以下管理目標。
[0008] 1)接口電路板進行全生命周期的管理。由LB供應商存儲LB相關信息，如LB版 本號，編號，LB出廠時間，供應商等，方便客戶檢查和調用(可以通過程序讀取LB ID存在數(shù) 據(jù)日志文件里，這樣可以容易對比不同LB的良率)。
[0009] 2)對于客戶的敏感程序可以進行加密保護，從而幫助客戶更好地保護其知識產(chǎn) 權。
[0010] 3)對于芯片的測試結果進行記錄分析，從而排除接口電路板本身對于最終測試 良率的影響。并且給分析人員提供可靠，有效的參考數(shù)據(jù)。
[0011] 4)自動保存接口板的補償值。避免量產(chǎn)企業(yè)由于采用了錯誤的補償值從而發(fā)生 誤測等情況。
[0012] 本發(fā)明的核心硬件電路（如摘要附圖）主要由兩部分組成：32位的微處理芯片 (D以及大容量非揮發(fā)存儲器(I丨。該電路可位于ATE量產(chǎn)接口電路板上的任意位置，面積 約為4cm X 3cm，通過通用串行接口（USB) ζ|)與自動測試儀的控制電腦連接。
[0013] 與控制電腦的連接采用多種模式：USB, RS232,無線Wifi以及ISM頻段無線接口。
[0014] 本發(fā)明內存模塊至少具備512K的非揮發(fā)存儲器容量。
[0015] 本發(fā)明的軟件模塊具備如說明書附圖2的基本功能。
[0016] 本發(fā)明的軟件模塊具備接口電路板制造信息的錄入，保存，讀取功能（10)。
[0017] 本發(fā)明的軟件模塊具備接口電路板校準信息的錄入，保存，校驗，讀取功能（11)。
[0018] 本發(fā)明的軟件模塊具備接口電路板歷史維修記錄錄入，讀取功能（12)。
[0019] 本發(fā)明的軟件模塊具備接口電路板信息與測試程序版本的比對功能（13)。
[0020] 本發(fā)明的軟件模塊具備接口電路板加密信息讀取授權功能（14)。
[0021] 本發(fā)明的軟件模塊具備接口電路板工位良率記錄（15)。
[0022] 具體實施例：下面通過一個具體的例子，如說明書附圖1，來說明采用了 ATE量產(chǎn) 接口電路板管理組件后的管理流程。
[0023] 帶有本發(fā)明的ATE量產(chǎn)接口電路板實例如說明書附圖1所示。
[0024] 在本例子中，32位CPU選用意法半導體STM32F103系列處理器(g ,加密Flash芯 片選用華邦W25Q64存儲芯片,用PL2303HX芯片完成USB虛擬UART串口功能(§) , CPU可 控制激勵信號選通開關,待測芯片的響應輸入到帶PXI接口的ATE板卡(D中，最終 由ATE的軟件完成測試結果的分析。
[0025] 通過本發(fā)明的嵌入式軟件，寫入接口板制造信息，校準信息，加密信息。
[0026] 在大量產(chǎn)測試時，首先比對測試程序版本與接口板制造信息，如果不符合，說明選 錯了對應的接口板，應重新選擇。
[0027] 在大量產(chǎn)測試時，首先比對測試程序版本與接口板制造信息，如果符合，讀取校準 信息并應用于測試程序，從而保障測試精度。
[0028] 在大量產(chǎn)測試時，記錄每個測試工位的良率，一旦發(fā)現(xiàn)潛在故障，對接口板進行維 護并且記錄維護信息在。
[0029] 在大量產(chǎn)測試時，如程序有加密信息。通過加密授權從硬件電路中讀取加密信息， 測試完成后釋放，從而達到保護知識產(chǎn)權的目標。 【專利附圖】

【附圖說明】： 圖1本發(fā)明在ATE接口板的具體實施案例 圖2本發(fā)明所附嵌入式軟件具備的功能。
【權利要求】
1. 一個可應用于任何ATE接口電路板上的硬件電路，包括：一個32位處理器以及非揮 發(fā)存儲器(如摘要附圖）；一套運行于自動測量設備控制器上的軟件(如說明書附圖2,提供 基于VB以及C語言2種版本)。
2. 根據(jù)權利要求1，對接口電路板進行全生命周期的管理：由LB供應商存儲LB相關 信息，如LB版本號，編號，LB出廠時間，供應商等，方便客戶檢查和調用(可以通過程序讀取 LB設備號存在數(shù)據(jù)日志文件里，以對比不同LB的良率)。
3. 根據(jù)權利要求1，對于客戶的敏感程序可以進行加密保護，從而幫助客戶更好地保 護其知識產(chǎn)權。
4. 根據(jù)權利要求1，對于芯片的測試結果進行記錄分析，從而排除接口電路板對于最 終測試良率的影響，并且給分析人員提供可靠，有效的測試數(shù)據(jù)。
5. 根據(jù)權利要求1，自動保存接口板的補償值，避免量產(chǎn)企業(yè)由于采用了錯誤的補償 值而發(fā)生誤測等情況。
6. 根據(jù)權利要求1，與32位CPU相配合的嵌入式軟件，其功能如說明書附圖2所示，該 軟件由VB和C語言編寫。
7. 根據(jù)權利要求1，本發(fā)明的嵌入式軟件具備接口電路板制造信息的錄入，保存，讀取 功能。
8. 根據(jù)權利要求1，本發(fā)明的嵌入式軟件具備接口電路板校準信息的錄入，保存，校 驗，讀取功能。
9. 根據(jù)權利要求1，本發(fā)明的嵌入式軟件具備接口電路板歷史維修記錄錄入，讀取功 能。
10. 根據(jù)權利要求1，本發(fā)明的嵌入式軟件具備接口電路板信息與測試程序版本的比 對功能。
11. 根據(jù)權利要求1，本發(fā)明的嵌入式軟件具備接口電路板加密信息讀取授權功能。
12. 根據(jù)權利要求1，本發(fā)明的嵌入式軟件具備接口電路板工位良率記錄。
【文檔編號】G01R31/28GK104297665SQ201410148113
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年4月15日 優(yōu)先權日:2014年4月15日
【發(fā)明者】陳宰曼, 蘇佳寧, 卜濤 申請人:蘇佳寧, 陳宰曼, 卜濤