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      激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:6225788閱讀:265來源:國知局
      激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開一種激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),包括驅(qū)動電源、樣品臺、溫度控制子系統(tǒng)、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)、參數(shù)測試子系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng),所述樣品臺具有多個(gè)激光器夾具,該多個(gè)激光器夾具安裝在所述的溫度控制子系統(tǒng)上,所述驅(qū)動電源分別與所述激光器夾具和溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)電氣連接,所述的溫度控制子系統(tǒng)、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)和參數(shù)測試子系統(tǒng)分別與所述的計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接,且所述的溫度控制子系統(tǒng)與所述的溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)相配合,所述的參數(shù)測試子系統(tǒng)用于對裝載于各個(gè)激光器夾具中的激光器進(jìn)行監(jiān)測。該激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)能夠提高評價(jià)精度,而且能避免試驗(yàn)中的激光器器件因?yàn)闇囟冗^熱而導(dǎo)致安全事故發(fā)生。
      【專利說明】激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]經(jīng)歷了 40多年的發(fā)展,半導(dǎo)體激光器已經(jīng)成為光電子器件大家族中極為重要的一員,由它引伸發(fā)展起來的半導(dǎo)體光子學(xué)、集成光電子學(xué)已成為信息科技的重要支柱,并正在推動著諸如光通信、光信息處理、光互連、光計(jì)算等重要前沿應(yīng)用領(lǐng)域的快速發(fā)展。
      [0003]半導(dǎo)體激光器及其相關(guān)產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展,推動了半導(dǎo)體激光器可靠性研究的進(jìn)步,為了保障半導(dǎo)體激光器的工程應(yīng)用,近年來國內(nèi)外許多研究機(jī)構(gòu)開展了針對大功率半導(dǎo)體激光器的壽命評價(jià)技術(shù)研究。一方面旨在獲得大功率半導(dǎo)體激光器的退化模型和壽命分布模型,建立起大功率半導(dǎo)體激光器的壽命試驗(yàn)與評價(jià)方法;另一方面則圍繞開展大功率半導(dǎo)體激光器壽命試驗(yàn)的載體-壽命試驗(yàn)儀器開展研制工作,涌現(xiàn)出了 ILX lightwave公司、美國國家宇航局(NASA) LaRc研究中心、Nanofoot公司、中國地質(zhì)大學(xué)、山東理工大學(xué)等一批國內(nèi)外研究機(jī)構(gòu),并已有商品化的半導(dǎo)體激光器壽命試驗(yàn)儀器問世。
      [0004]對于高功率半導(dǎo)體激光器,在長期壽命試驗(yàn)過程中,現(xiàn)有的壽命試驗(yàn)儀器通常采用微通道熱沉水冷的方式對試驗(yàn)器件進(jìn)行溫度控制,微通道熱沉多采用無氧銅材質(zhì),長期試驗(yàn)過程中存在微通道腐蝕導(dǎo)致制冷效率下降引起試驗(yàn)器件溫度過高的現(xiàn)象,一方面會影響最后壽命試驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)分析結(jié)果的準(zhǔn)確性;另一方面也會導(dǎo)致器件因過熱而燒毀。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]基于此,本發(fā)明在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,提供一種激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),該激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)能夠提高評價(jià)精度,而且能避免試驗(yàn)中的激光器器件因?yàn)闇囟冗^熱而導(dǎo)致安全事故發(fā)生。
      [0006]其技術(shù)方案如下:
      [0007]一種激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),包括驅(qū)動電源、樣品臺、溫度控制子系統(tǒng)、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)、參數(shù)測試子系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng),所述樣品臺具有多個(gè)激光器夾具,該多個(gè)激光器夾具安裝在所述的溫度控制子系統(tǒng)上,所述驅(qū)動電源分別與所述激光器夾具和溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)電氣連接,所述的溫度控制子系統(tǒng)、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)和參數(shù)測試子系統(tǒng)分別與所述的計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接,且所述的溫度控制子系統(tǒng)與所述的溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)相配合,所述的參數(shù)測試子系統(tǒng)用于對裝載于各個(gè)激光器夾具中的激光器進(jìn)行監(jiān)測。
      [0008]上述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)主要適用于單管大功率半導(dǎo)體激光器的壽命試驗(yàn)。使用時(shí),將各個(gè)激光器分別裝載于相應(yīng)的激光器夾具中,使各個(gè)激光器串聯(lián)電連接,然后由驅(qū)動電源通過激光器夾具為各個(gè)激光器提供驅(qū)動電流進(jìn)行試驗(yàn)。在試驗(yàn)過程中:溫度控制子系統(tǒng)一方面為壽命試驗(yàn)提供穩(wěn)定的外部環(huán)境條件,降低環(huán)境溫度變化對試驗(yàn)評價(jià)結(jié)果的影響,另一方面則用于控制試驗(yàn)激光器的工作溫度;參數(shù)測試子系統(tǒng)用于監(jiān)測激光器的敏感參數(shù)-輸出功率隨時(shí)間的變化信息,并將該變化信息傳輸給計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)進(jìn)行記錄;溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)能夠在計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)的配合下來實(shí)時(shí)監(jiān)測和判斷試驗(yàn)系統(tǒng)中每只試驗(yàn)激光器的工作溫度,當(dāng)發(fā)現(xiàn)某只激光器的溫度超過設(shè)定值時(shí),能夠自動切斷驅(qū)動電源并發(fā)出報(bào)警信號,從而能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)溫度過熱異常器件,避免試驗(yàn)器件燒毀等事故的發(fā)生。其中,驅(qū)動電源、溫度控制子系統(tǒng)、參數(shù)測試子系統(tǒng)與計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)的配合能夠?yàn)榧す馄鲏勖u價(jià)、老化篩選等試驗(yàn)提供基本的設(shè)備保障,而驅(qū)動電源、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)之間的配合,使得在進(jìn)行批量單管器件壽命試驗(yàn)過程中,能夠確保試驗(yàn)器件之間溫度的均勻性,提高評價(jià)精度,同時(shí)也能夠?qū)υ囼?yàn)過程中出現(xiàn)過熱異常器件實(shí)施保護(hù)與報(bào)警,避免器件過熱燒毀或火災(zāi)等事故的發(fā)生。
      [0009]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述樣品臺為多個(gè)所述激光器夾具組合形成的平臺。因而,該樣品臺能夠?yàn)檫M(jìn)行試驗(yàn)的上述激光器提供載體,而且能夠?qū)崿F(xiàn)需試驗(yàn)的激光器件的串聯(lián)電連接。
      [0010]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述溫度控制子系統(tǒng)包括多個(gè)水冷通道,所述溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)包括溫度過熱報(bào)警裝置和多個(gè)溫度傳感器,所述激光器夾具設(shè)置在相應(yīng)的水冷通道上,所述溫度傳感器設(shè)置在激光器夾具和水冷通道之間,且該溫度傳感器和所述驅(qū)動電源分別與所述溫度過熱報(bào)警裝置電氣連接。因而,溫度控制子系統(tǒng)能通過水冷通道來控制試驗(yàn)激光器的工作溫度;而溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)則能夠在計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)的配合下通過溫度傳感器來實(shí)時(shí)監(jiān)測和判斷試驗(yàn)系統(tǒng)中每只試驗(yàn)激光器的工作溫度。
      [0011]在其中一個(gè)實(shí)施例中,相鄰的兩個(gè)水冷通道之間通過導(dǎo)熱絕緣片連接,使各個(gè)水冷通道之間串聯(lián)形成回路。因而,各個(gè)水冷通道能夠獨(dú)立工作,為安置在它上面的激光器提供溫度上的保障和控制。
      [0012]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述激光器夾具、水冷通道和溫度傳感器的數(shù)量一致。因而,每個(gè)水冷通道可單獨(dú)對相應(yīng)的激光器進(jìn)行溫度上的控制,而溫度報(bào)警保護(hù)子系統(tǒng)則可以通過溫度傳感器監(jiān)測每只試驗(yàn)激光器的工作溫度。
      [0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述的溫度控制子系統(tǒng)包括循環(huán)水冷機(jī),該循環(huán)水冷機(jī)與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接,且與所述的水冷通道相連通。因而,水冷通道可以通過循環(huán)水冷機(jī)的作用來實(shí)現(xiàn)溫度控制。
      [0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述的溫度控制子系統(tǒng)還包括環(huán)境溫度控制箱,該環(huán)境溫度控制箱與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接。該環(huán)境溫度控制箱主要用于控制上述壽命試驗(yàn)的外在環(huán)境溫度。
      [0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述的溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)還包括流量傳感器,該流量傳感器設(shè)置在循環(huán)水冷機(jī)和水冷通道之間,且流量傳感器與所述的溫度過熱報(bào)警裝置之間實(shí)現(xiàn)電氣連接。因而,通過流量傳感器可以檢測水冷通道中的水流量,進(jìn)而可通過控制流量來使水冷通道實(shí)現(xiàn)溫度控制。
      [0016]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述的參數(shù)測試子系統(tǒng)包括測試裝置和驅(qū)動裝置,測試裝置安裝在所述的驅(qū)動裝置上,且測試裝置和驅(qū)動裝置分別與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接。因而,測試裝置可以在驅(qū)動裝置的驅(qū)動下,對各個(gè)工位上的激光器或者說每只試驗(yàn)激光器進(jìn)行敏感參數(shù)-輸出功率隨時(shí)間的變化信息進(jìn)行監(jiān)測,并把該變化信息傳遞給計(jì)算機(jī)記錄。[0017]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述的測試裝置包括光電探測器和積分球,所述的驅(qū)動裝置為步進(jìn)電機(jī),積分球安裝在該步進(jìn)電機(jī)上,光電探測器安裝在積分球上,且光電探測器與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)電氣連接。因而,積分球及相應(yīng)的光電探測器在步進(jìn)電機(jī)的帶動下能夠?qū)の簧系募す馄髌骷M(jìn)行循環(huán)檢測,并且光電探測器及相應(yīng)的讀出電路能夠?qū)⑸鲜鲎兓畔⑥D(zhuǎn)換為輸出功率值傳送給計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)進(jìn)行記錄。則比起現(xiàn)有測試裝置中一個(gè)積分球?qū)?yīng)一個(gè)激光器器件的方式,本發(fā)明由于采用了上述驅(qū)動裝置,因此只需要用到一個(gè)積分球,這有利于降低系統(tǒng)的復(fù)雜度,并有利于提高測試的可靠性。
      [0018]本發(fā)明的有益效果在于:
      [0019](I)本發(fā)明的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)能夠提高評價(jià)精度,而且能避免試驗(yàn)中的激光器器件因?yàn)闇囟冗^熱而導(dǎo)致安全事故發(fā)生。
      [0020](2)本發(fā)明的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)能夠?yàn)閱喂芗す馄鞯膲勖u價(jià)、老化篩選提供設(shè)備保障,有利于保障激光器的工程應(yīng)用。
      [0021](3)本發(fā)明的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)相對簡單,且測試可靠性高。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0022]圖1是本發(fā)明實(shí)施例所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)的整體電氣結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0023]圖2是本發(fā)明實(shí)施例所述的溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)與溫度控制子系統(tǒng)之間的電氣結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0024]附圖標(biāo)記說明:
      [0025]10、驅(qū)動電源,20、樣品臺,21、激光器夾具,30、溫度控制子系統(tǒng),31、循環(huán)水冷機(jī),
      32、水冷通道,40、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng),41、溫度過熱報(bào)警裝置,42、流量傳感器,43、溫度傳感器,50、參數(shù)測試子系統(tǒng),60、計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)。
      【具體實(shí)施方式】
      [0026]下面對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明:
      [0027]如圖1和圖2所不,一種激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),包括驅(qū)動電源10、樣品臺20、溫度控制子系統(tǒng)30、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)40、參數(shù)測試子系統(tǒng)50以及計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60,所述樣品臺20具有多個(gè)激光器夾具21,該多個(gè)激光器夾具21安裝在所述的溫度控制子系統(tǒng)30上,所述驅(qū)動電源10分別與所述激光器夾具21和溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)40電氣連接,所述的溫度控制子系統(tǒng)30、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)40和參數(shù)測試子系統(tǒng)50分別與所述的計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60電氣連接,且所述的溫度控制子系統(tǒng)30與所述的溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)40相配合,所述的參數(shù)測試子系統(tǒng)50用于對裝載于各個(gè)激光器夾具21中的激光器進(jìn)行監(jiān)測。
      [0028]其中,上述驅(qū)動電源10包括2套恒流電流源,可用于驅(qū)動60工位單管激光器,每套電流源的驅(qū)動電流為0-64A,電壓100V內(nèi)自適應(yīng),電流源可由上述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60控制。上述樣品臺20為多個(gè)銅質(zhì)C-MOunt或F-MOunt封裝單管激光器夾具21所組合形成的平臺,且該樣品臺上的激光器夾具21可以進(jìn)行拆卸更換。
      [0029]上述的溫度控制子系統(tǒng)30包括循環(huán)水冷機(jī)31、環(huán)境溫度控制箱和多個(gè)水冷通道32,相鄰的兩個(gè)水冷通道32之間通過導(dǎo)熱絕緣片連接,使各個(gè)水冷通道32串聯(lián)形成回路;溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)40則包括溫度過熱報(bào)警裝置41、流量傳感器42和多個(gè)溫度傳感器43 ;上述激光器夾具21設(shè)置在相應(yīng)的水冷通道32上,溫度傳感器43則設(shè)置在激光器夾具21和水冷通道32之間,且該溫度傳感器43和所述驅(qū)動電源10分別與溫度過熱報(bào)警裝置41電氣連接,且激光器夾具21、水冷通道32和溫度傳感器43的數(shù)量一致;循環(huán)水冷機(jī)31和環(huán)境溫度控制箱分別與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60電氣連接,且循環(huán)水冷機(jī)31與水冷通道32相連通;流量傳感器42則設(shè)置在循環(huán)水冷機(jī)31和水冷通道32之間,該流量傳感器42還與所述的溫度過熱報(bào)警裝置41之間實(shí)現(xiàn)電氣連接。
      [0030]上述的參數(shù)測試子系統(tǒng)50包括測試裝置和驅(qū)動裝置,測試裝置安裝在所述的驅(qū)動裝置上,且測試裝置和驅(qū)動裝置分別與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60電氣連接。該驅(qū)動裝置可為步進(jìn)電機(jī);測試裝置主要用于監(jiān)測試驗(yàn)激光器的敏感參數(shù)-輸出功率隨時(shí)間的變化信息,該測試裝置包括光電探測器、積分球和讀出電路,積分球安裝在步進(jìn)電機(jī)上,光電探測器安裝在該積分球上,該光電探測器與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60實(shí)現(xiàn)電氣連接。
      [0031]本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)或原理具體如下:
      [0032]1、上述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng)主要適用于單管大功率半導(dǎo)體激光器的壽命試驗(yàn)。使用時(shí),將各個(gè)激光器分別裝載于相應(yīng)的激光器夾具21中,并使各個(gè)激光器串聯(lián)電連接,然后由驅(qū)動電源10通過激光器夾具21為各個(gè)激光器提供驅(qū)動電流進(jìn)行試驗(yàn);在試驗(yàn)過程中:溫度控制子系統(tǒng)30 —方面為壽命試驗(yàn)提供穩(wěn)定的外部環(huán)境條件,降低環(huán)境溫度變化對試驗(yàn)評價(jià)結(jié)果的影響,另一方面通過冷卻裝置來控制試驗(yàn)激光器的工作溫度;參數(shù)測試子系統(tǒng)50用于監(jiān)測激光器的敏感參數(shù)-輸出功率隨時(shí)間的變化信息,并將該變化信息傳輸給計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60進(jìn)行記錄;溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)40能夠在計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60的配合下通過溫度傳感器43來實(shí)時(shí)監(jiān)測和判斷試驗(yàn)系統(tǒng)中每只試驗(yàn)激光器的工作溫度,當(dāng)發(fā)現(xiàn)某只激光器的溫度超過設(shè)定值時(shí),能夠自動切斷驅(qū)動電源10并發(fā)出報(bào)警信號,從而能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)溫度過熱異常器件,避免試驗(yàn)器件燒毀等安全事故的發(fā)生。其中,驅(qū)動電源10、溫度控制子系統(tǒng)30、參數(shù)測試子系統(tǒng)50與計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60的配合能夠?yàn)榧す馄鲏勖u價(jià)、老化篩選等試驗(yàn)提供基本的設(shè)備保障,從而有利于保障激光器的工程應(yīng)用;而驅(qū)動電源10、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)40和計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60之間的配合,使得在進(jìn)行批量單管器件壽命試驗(yàn)過程中,能夠確保試驗(yàn)器件之間間溫度的均勻性,提高評價(jià)精度,同時(shí)也能夠?qū)υ囼?yàn)過程中出現(xiàn)過熱異常器件實(shí)施保護(hù)與報(bào)警,避免器件過熱燒毀或火災(zāi)等安全事故的發(fā)生。
      [0033]2、上述樣品臺20能夠?yàn)檫M(jìn)行試驗(yàn)的上述激光器提供載體,而且能夠?qū)崿F(xiàn)進(jìn)行試驗(yàn)的激光器件的串聯(lián)電連接。
      [0034]3、相鄰的兩個(gè)水冷通道32之間通過導(dǎo)熱絕緣片連接,使各個(gè)水冷通道32之間串聯(lián)形成回路。因而,各個(gè)水冷通道32能夠獨(dú)立工作,為安置在它上面的激光器提供溫度上的保障和控制。
      [0035]4、激光器夾具21、水冷通道32和溫度傳感器43的數(shù)量一致。因而,每個(gè)水冷通道32可單獨(dú)對相應(yīng)的激光器進(jìn)行溫度上的控制,而溫度報(bào)警保護(hù)子系統(tǒng)則可以通過溫度傳感器43監(jiān)測每只試驗(yàn)激光器的工作溫度。
      [0036]5、循環(huán)水冷機(jī)31與計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60電氣連接,且與水冷通道32相連通。因而,水冷通道32可以通過循環(huán)水冷機(jī)31的作用來實(shí)現(xiàn)溫度控制。
      [0037]6、環(huán)境溫度控制箱與計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60電氣連接。該環(huán)境溫度控制箱主要用于控制上述壽命試驗(yàn)的外在環(huán)境溫度。
      [0038]7、流量傳感器42設(shè)置在循環(huán)水冷機(jī)31和水冷通道32之間,且流量傳感器42與所述的溫度過熱報(bào)警裝置41之間實(shí)現(xiàn)電氣連接。因而,通過流量傳感器42可以檢測水冷通道32中的水流量,進(jìn)而可通過控制流量來使水冷通道32實(shí)現(xiàn)溫度控制。
      [0039]8、測試裝置安裝在所述的驅(qū)動裝置上,且測試裝置和驅(qū)動裝置分別與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60電氣連接。因而,測試裝置可以在驅(qū)動裝置的驅(qū)動下,對各個(gè)工位上的激光器或者說每只試驗(yàn)激光器進(jìn)行敏感參數(shù)-輸出功率隨時(shí)間的變化信息進(jìn)行監(jiān)測,并把該變化信息傳遞給計(jì)算機(jī)記錄。
      [0040]9、測試裝置包括光電探測器和積分球,積分球安裝在步進(jìn)電機(jī)上,光電探測器安裝在該積分球上,該光電探測器與計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60實(shí)現(xiàn)電連接。因而,積分球及相應(yīng)的光電探測器在步進(jìn)電機(jī)的帶動下能夠?qū)の簧系募す馄髌骷M(jìn)行循環(huán)檢測,并且光電探測器及相應(yīng)的讀出電路能夠?qū)⑸鲜鲎兓畔⑥D(zhuǎn)換為輸出功率值傳送給計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)60進(jìn)行記錄;則比起現(xiàn)有測試裝置中一個(gè)積分球?qū)?yīng)一個(gè)激光器器件的方式,本實(shí)施例由于采用了上述驅(qū)動裝置,因此只需要用到一個(gè)積分球,這有利于降低系統(tǒng)的復(fù)雜度,并有利于提高測試的可靠性。
      [0041]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,包括驅(qū)動電源、樣品臺、溫度控制子系統(tǒng)、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)、參數(shù)測試子系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng),所述樣品臺具有多個(gè)激光器夾具,該多個(gè)激光器夾具安裝在所述的溫度控制子系統(tǒng)上,所述驅(qū)動電源分別與所述激光器夾具和溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)電氣連接,所述的溫度控制子系統(tǒng)、溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)和參數(shù)測試子系統(tǒng)分別與所述的計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接,且所述的溫度控制子系統(tǒng)與所述的溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)相配合,所述的參數(shù)測試子系統(tǒng)用于對裝載于各個(gè)激光器夾具中的激光器進(jìn)行監(jiān)測。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述樣品臺為多個(gè)所述激光器夾具組合形成的平臺。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述溫度控制子系統(tǒng)包括多個(gè)水冷通道,所述溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)包括溫度過熱報(bào)警裝置和多個(gè)溫度傳感器,所述激光器夾具設(shè)置在相應(yīng)的水冷通道上,所述溫度傳感器設(shè)置在激光器夾具和水冷通道之間,且該溫度傳感器和所述驅(qū)動電源分別與所述溫度過熱報(bào)警裝置電氣連接。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,相鄰的兩個(gè)水冷通道之間通過導(dǎo)熱絕緣片連接,使各個(gè)水冷通道串聯(lián)形成回路。
      5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述激光器夾具、水冷通道和溫度傳感器的數(shù)量一致。
      6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述的溫度控制子系統(tǒng)包括循環(huán)水冷機(jī),該循環(huán)水冷機(jī)與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接,且與所述的水冷通道相連通。
      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述的溫度保護(hù)報(bào)警子系統(tǒng)還包括流量傳感器,該流量傳感器設(shè)置在循環(huán)水冷機(jī)和水冷通道之間,且流量傳感器與所述的溫度過熱報(bào)警裝置之間實(shí)現(xiàn)電氣連接。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述的溫度控制子系統(tǒng)還包括環(huán)境溫度控制箱,該環(huán)境溫度控制箱與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接。
      9.根據(jù)權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述的參數(shù)測試子系統(tǒng)包括測試裝置和驅(qū)動裝置,測試裝置安裝在所述的驅(qū)動裝置上,且測試裝置和驅(qū)動裝置分別與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)電氣連接。
      10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的激光器壽命試驗(yàn)系統(tǒng),其特征在于,所述的測試裝置包括光電探測器和積分球,所述的驅(qū)動裝置為步進(jìn)電機(jī),積分球安裝在該步進(jìn)電機(jī)上,光電探測器安裝在積分球上,且光電探測器與所述計(jì)算機(jī)控制子系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)電氣連接。
      【文檔編號】G01M11/00GK103926052SQ201410180968
      【公開日】2014年7月16日 申請日期:2014年4月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年4月30日
      【發(fā)明者】謝少鋒, 路國光, 肖慶中, 郝明明, 賴燦雄, 周振威, 黃云, 恩云飛 申請人:工業(yè)和信息化部電子第五研究所
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