一種電子鼓檢測裝置及電子鼓檢測方法
【專利摘要】一種電子鼓檢測裝置及電子鼓檢測方法，裝置包括殼體、設置在殼體內(nèi)的信號放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動電路和電源、設置在殼體上的檢測光發(fā)射、接收裝置、設置在殼體上或殼體內(nèi)的檢測信號輸出裝置，電源分別與前述各電路、裝置連接供電，采樣檢波電路從調(diào)幅波中取出包絡信號，檢測光發(fā)射、接收裝置光路的夾角在0°至50°之間，檢測光接收、放大、檢波、濾波、整形、MCU、驅(qū)動、檢測光發(fā)射等電路依次連接；MCU與檢波電路、檢測信號輸出裝置連接。方法包括對振動鼓膜發(fā)射接收檢測光，將檢測光進行放大、檢波、濾波和整形處理，檢測整形后的信號頻率，輸出振動信息。本發(fā)明可避免誤檢，檢測不受環(huán)境振動干擾、準確便捷。
【專利說明】一種電子鼓檢測裝置及電子鼓檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及一種用于電子鼓振動的檢測裝置，還涉及使用該裝置對電子鼓的振動進行檢測的方法。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的電子鼓檢測方法，是采用傳統(tǒng)的電子鼓檢測裝置進行的。傳統(tǒng)的電子鼓檢測裝置包括壓電蜂鳴片和連接該壓電蜂鳴片的檢測電路，檢測時將壓電蜂鳴片接觸電子鼓鼓皮，敲擊電子鼓時，壓電蜂鳴片通過振動的鼓皮拾取其振動音頻信號，通過檢測電路放大該振動音頻信號，從而檢測出鼓皮振幅的大小。
[0003]上述傳統(tǒng)的電子鼓檢測裝置和電子鼓檢測方法存在如下缺陷:
[0004]由于電子鼓結(jié)構(gòu)上通常是將多個鼓的鼓皮設置在同一鼓架上,米用現(xiàn)有電子鼓檢測裝置檢測電子鼓的振動狀態(tài)時，須將電子鼓檢測裝置的壓電蜂鳴片接觸電子鼓鼓皮，在敲擊檢測多個電子鼓的其中一個鼓皮時，其振動會通過鼓架將微弱的振動傳遞到其他鼓皮上；由于壓電蜂鳴片是無源元件，其靈敏度很高且不可調(diào)節(jié)，當微弱的振動通過鼓架傳遞到未被敲擊的鼓皮上時，壓電蜂鳴片會檢測出與其接觸的鼓皮的振動，從而發(fā)出該鼓皮被敲擊的檢測信號，導致誤檢。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題之一在于，提供一種電子鼓檢測裝置，克服現(xiàn)有電子鼓檢測裝置無法識別非敲擊產(chǎn)生的微弱振動導致誤檢的缺陷。
[0006]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題之二在于，提供一種電子鼓檢測方法，利用上述電子鼓檢測裝置，克服現(xiàn)有電子鼓檢測方法存在的無法識別非敲擊產(chǎn)生的微弱振動導致誤檢的缺陷。
[0007]本發(fā)明解決其技術(shù)問題之一所采用的技術(shù)方案是:構(gòu)造一種電子鼓檢測裝置，其特征在于，包括殼體、設置在該殼體內(nèi)的信號放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動電路和電源、設置在該殼體上的檢測光發(fā)射裝置和檢測光接收裝置、設置在該殼體上或殼體內(nèi)的檢測信號輸出裝置；該電源分別與該信號放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動電路、檢測光發(fā)射裝置、檢測光接收裝置和檢測信號輸出裝置連接供電；
[0008]該采樣檢波電路為能夠從調(diào)幅波中取出包絡信號的檢波電路；
[0009]該整形電路輸出波形為尖波；
[0010]該檢測光發(fā)射裝置、檢測光接收裝置的光路夾角大于等于0°小于等于50° ;
[0011]所述檢測光接收裝置、信號放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動電路、檢測光發(fā)射裝置依次連接；
[0012]該MCU與該采樣檢波電路連接，驅(qū)動該采樣檢波電路進行檢波；該1(^與該檢測信號輸出裝置連接，輸出鼓皮振動的相關(guān)信息；該MCU控制該驅(qū)動電路驅(qū)動所述檢測光發(fā)射裝置發(fā)射檢測光。
[0013]在本發(fā)明的電子鼓檢測裝置中，所述采樣檢波電路包括電子模擬開關(guān)一、電子模擬開關(guān)二、積分電容一、積分電容二和運算放大器，該電子模擬開關(guān)一、電子模擬開關(guān)二分別連接該運算放大器的正負輸入端，該積分電容一的一端接地、另一端連接該電子模擬開關(guān)一與該運算放大器的連接端，該積分電容二的一端接地、另一端連接該電子模擬開關(guān)二與該運算放大器的連接端；該電子模擬開關(guān)一、電子模擬開關(guān)二的輸入端為采樣檢波電路的輸入端，該運算放大器的輸出端為米樣檢波電路的輸出端。
[0014]在本發(fā)明的電子鼓檢測裝置中，所述采樣檢波電路包括檢波二極管、檢波電容和檢波電阻，該檢波二極管的正極串聯(lián)在采樣檢波電路的第一輸入端，該檢波電容和檢波電阻分別連接在該檢波二極管的負極與該采樣檢波電路的第二輸入端之間，該檢波電阻的兩端為該采樣檢波電路的輸出端。
[0015]在本發(fā)明的電子鼓檢測裝置中，所述檢測光發(fā)射裝置與檢測光接收裝置分別為紅外光發(fā)射裝置與紅外光接收裝置，或所述檢測光發(fā)射裝置與檢測光接收裝置分別為紫外光發(fā)射裝置與紫外光接收裝置。
[0016]在本發(fā)明的電子鼓檢測裝置中，所述檢測信號輸出裝置為顯示器或音頻輸出裝置。
[0017]本發(fā)明解決其技術(shù)問題之二所采用的技術(shù)方案是:提供一種電子鼓檢測方法，其特征在于，包括如下步驟:
[0018]S1、對振動的被測鼓膜的檢測位置發(fā)射檢測光，接收被測鼓膜反射的檢測光；
[0019]S2、對接收到的檢測光反射信號依次進行信號放大、采樣檢波、濾波放大和整形處理；
[0020]S3、檢測經(jīng)整形處理信號的振幅；
[0021]S4、輸出鼓皮振動信息。
[0022]在本發(fā)明的電子鼓檢測方法中，所述檢測光為紅外線或紫外線。
[0023]實施本發(fā)明的電子鼓檢測裝置及電子鼓檢測方法，與現(xiàn)有技術(shù)比較，其有益效果是:
[0024]1.通過調(diào)整電子鼓檢測裝置的檢測光接收裝置傳感器靈敏度，可避免拾取通過鼓架傳遞到其他鼓皮上的微弱振動，從而避免在鼓架上一個鼓皮被敲擊時，其他鼓皮因鼓架傳遞的微弱振動造成誤檢的情況發(fā)生。
[0025]2.不受環(huán)境振動干擾，鼓盤檢測準確便捷。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]圖1是本發(fā)明電子鼓檢測裝置一種實施例的結(jié)構(gòu)框圖。
[0027]圖2是本發(fā)明電子鼓檢測裝置的檢測原理圖。
[0028]圖3是圖1中采樣檢波電路一種實施方式的電路圖。
[0029]圖4是圖1中采樣檢波電路另一種實施方式的電路圖。
[0030]圖5是本發(fā)明電子鼓檢測方法一種實施例的流程圖。
【具體實施方式】[0031]下面將結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明作進一步說明。
[0032]如圖1至圖4所示，本發(fā)明的電子鼓檢測裝置包括殼體(圖中未示出)、設置在該殼體內(nèi)的信號放大電路2、采樣檢波電路3、帶通濾波放大器4、整形電路5、MCU8、驅(qū)動電路9和電源6、設置在該殼體上的檢測光發(fā)射裝置和檢測光接收裝置、設置在該殼體上或殼體內(nèi)的檢測信號輸出裝置。電源6分別與信號放大電路2、采樣檢波電路3、帶通濾波放大器
4、整形電路5、MCU8、驅(qū)動電路9、檢測光發(fā)射裝置、檢測光接收裝置和檢測信號輸出裝置連接供電。
[0033]檢測光接收裝置、信號放大電路2、采樣檢波電路3、帶通濾波放大器4、整形電路
5、MCU8、驅(qū)動電路9、檢測光發(fā)射裝置依次連接。整形電路輸出波形為尖波。
[0034]MCU8與采樣檢波電路3連接，驅(qū)動該采樣檢波電路3進行檢波。MCU8與該檢測信號輸出裝置連接，輸出鼓皮振動的相關(guān)信息。MCU8控制該驅(qū)動電路9驅(qū)動檢測光發(fā)射裝置發(fā)射檢測光。
[0035]在本實施例中，檢測光發(fā)射裝置采用紅外發(fā)射裝置10，檢測光接收裝置采用紅外接收裝置1，對應的檢測光為紅外光。在其他實施例中，檢測光發(fā)射裝置可以采用紫外發(fā)射裝置，檢測光接收裝置可以采用紫外接收裝置，對應的檢測光為紫外光。
[0036]在本實施例中，檢測信號輸出裝置采用顯示器7，用于輸出檢測數(shù)據(jù)、色彩、圖形等信息，顯示器7設置在電子鼓檢測裝置的殼體上。在其他實施例中，檢測信號輸出裝置可以采用音頻輸出裝置(即揚聲器及其音頻輸出電路)，用于輸出用音頻檢測信息，例如讀報鼓皮檢測振幅、鼓皮有無振動信號等等信息，揚聲器可以設置在電子鼓檢測裝置的殼體內(nèi)，也可設置在殼體上。
[0037]上述采樣檢波電路3采樣能夠從調(diào)幅波中取出包絡信號的檢波電路，包括但不限于如下采樣檢波電路:
[0038]如圖3所示，采樣檢波電路3采用如下結(jié)構(gòu):采樣檢波電路包括電子模擬開關(guān)31、電子模擬開關(guān)34、積分電容32、積分電容35和運算放大器33,電子模擬開關(guān)31、電子模擬開關(guān)34分別連接運算放大器33的正負輸入端，積分電容32的一端接地、另一端連接該電子模擬開關(guān)31與運算放大器33的連接端，積分電容35的一端接地、另一端連接電子模擬開關(guān)34與運算放大器33的連接端。電子模擬開關(guān)31、電子模擬開關(guān)34的輸入端為采樣檢波電路的輸入端，運算放大器33的輸出端為米樣檢波電路的輸出端。
[0039]如圖4所示，采樣檢波電路3采用如下結(jié)構(gòu):采樣檢波電路包括檢波二極管36、檢波電容37和檢波電阻38，檢波二極管36的正極串聯(lián)在采樣檢波電路的第一輸入端，檢波電容37和檢波電阻38分別連接在檢波二極管36的負極與該采樣檢波電路的第二輸入端之間，該檢波電阻38的兩端為該采樣檢波電路的輸出端。
[0040]如圖2所示，該檢測光發(fā)射裝置、檢測光接收裝置的光路夾角在大于等于0°小于等于50°范圍內(nèi)選取，例如，可以選擇檢測光發(fā)射裝置、檢測光接收裝置的光路夾角為
5。、10。、15。、20。、25。、30。、35。、40。、45。等。
[0041]使用時，調(diào)整電子鼓檢測裝置中檢測光接收裝置傳感器的靈敏度，可避免拾取通過鼓架傳遞到其他鼓皮上的微弱振動，從而避免在鼓架上一個鼓皮被敲擊時，其他鼓皮因鼓架傳遞的微弱振動造成誤檢的情況發(fā)生。
[0042]如圖5所示，本發(fā)明的電子鼓檢測方法包括如下步驟:[0043]第一、對振動的被測鼓膜(即鼓面)的檢測位置發(fā)射檢測光，接收被測鼓膜反射的檢測光。檢測光經(jīng)振動的鼓膜反射后拾取鼓膜的振動信號，檢測位置通常為鼓的張緊點附近。
[0044]第二、對接收到的檢測光反射信號依次進行信號放大處理、采樣檢波處理、濾波放大處理和整形處理，得到振動信號的幅度波形，該波形通常為尖波。
[0045]第三、檢測經(jīng)整形處理信號的振幅。
[0046]第四、輸出鼓皮振動信息。
[0047]本方法的檢測光可以采用紅外線，也可以采用紫外線。
[0048]本方法的輸出相關(guān)信息的方式可采用視頻信號輸出，也可采用音頻信號輸出，均能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明目的。
【權(quán)利要求】
1.一種電子鼓檢測裝置，其特征在于，包括殼體、設置在該殼體內(nèi)的信號放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動電路和電源、設置在該殼體上的檢測光發(fā)射裝置和檢測光接收裝置、設置在該殼體上或殼體內(nèi)的檢測信號輸出裝置；該電源分別與該信號放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動電路、檢測光發(fā)射裝置、檢測光接收裝置和檢測信號輸出裝置連接供電； 該采樣檢波電路為能夠從調(diào)幅波中取出包絡信號的檢波電路； 該整形電路輸出波形為尖波； 該檢測光發(fā)射裝置、檢測光接收裝置的光路夾角大于等于0°小于等于50° ; 所述檢測光接收裝置、信號放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動電路、檢測光發(fā)射裝置依次連接； 該MCU與該采樣檢波電路連接，驅(qū)動該采樣檢波電路進行檢波；該MCU與該檢測信號輸出裝置連接，輸出鼓皮振動的相關(guān)信息；該MCU控制該驅(qū)動電路驅(qū)動所述檢測光發(fā)射裝置發(fā)射檢測光。
2.如權(quán)利要求1所述的電子鼓檢測裝置，其特征在于，所述采樣檢波電路包括電子模擬開關(guān)一、電子模擬開關(guān)二、積分電容一、積分電容二和運算放大器，該電子模擬開關(guān)一、電子模擬開關(guān)二分別連接該運算放大器的正負輸入端，該積分電容一的一端接地、另一端連接該電子模擬開關(guān)一與該運算放大器的連接端，該積分電容二的一端接地、另一端連接該電子模擬開關(guān)二與該運算放大器的連接端；該電子模擬開關(guān)一、電子模擬開關(guān)二的輸入端為采樣檢波電路的輸入端，該運算放大器的輸出端為采樣檢波電路的輸出端。
3.如權(quán)利要求1所述的電子鼓檢測裝置，其特征在于，所述采樣檢波電路包括檢波二極管、檢波電容和檢波電阻，該檢波二極管的正極串聯(lián)在采樣檢波電路的第一輸入端，該檢波電容和檢波電阻分別連接在該檢波二極管的負極與該采樣檢波電路的第二輸入端之間，該檢波電阻的兩端為該采樣檢波電路的輸出端。
4.如權(quán)利要求1所述的電子鼓檢測裝置，其特征在于，所述檢測光發(fā)射裝置與檢測光接收裝置分別為紅外光發(fā)射裝置與紅外光接收裝置，或所述檢測光發(fā)射裝置與檢測光接收裝置分別為紫外光發(fā)射裝置與紫外光接收裝置。
5.如權(quán)利要求1至4之一所述的電子鼓檢測裝置，其特征在于，所述檢測信號輸出裝置為顯示器或音頻輸出裝置。
6.一種電子鼓檢測方法，其特征在于，包括如下步驟: 51、對振動的被測鼓膜的檢測位置發(fā)射檢測光，接收被測鼓膜反射的檢測光； 52、對接收到的檢測光反射信號依次進行信號放大、采樣檢波、濾波放大和整形處理； 53、檢測經(jīng)整形處理信號的振幅； 54、輸出鼓皮振動信息。
7.如權(quán)利要求6所述的電子鼓檢測方法，其特征在于，所述檢測光為紅外線或紫外線。
【文檔編號】G01H9/00GK104019883SQ201410271749
【公開日】2014年9月3日 申請日期:2014年6月18日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月18日
【發(fā)明者】趙哲 申請人:深圳市蔚科電子科技開發(fā)有限公司