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      電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置制造方法

      文檔序號(hào):6232468閱讀:199來(lái)源:國(guó)知局
      電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置,在測(cè)試臺(tái)架裝有氣缸支架、凹形槽臺(tái)、光纖傳感器支架,在氣缸支架裝有氣缸,在氣缸在伸縮桿上裝有壓塊,在光纖傳感器支架上裝有光纖傳感器;光纖傳感器連接電磁鐵電氣性能測(cè)試電路,所述的電磁鐵電氣性能測(cè)試電路包括程控電源,在程控電源有正負(fù)電源接口,程控電源與單片機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)線連接,光纖傳感器通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸線連接單片機(jī)。本發(fā)明具有如下的技術(shù)效果,應(yīng)用計(jì)算機(jī)控制技術(shù),微型計(jì)算機(jī)通過(guò)串行通信控制程控電源的輸出電壓并讀取電源輸出電流,采用光纖傳感器將電磁鐵銜鐵是否伸出的機(jī)械信號(hào)轉(zhuǎn)化為高低電平信號(hào)。測(cè)試全過(guò)程不需要人工干預(yù),與人工測(cè)試相比,該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試精度高、運(yùn)行可靠、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試迅速。
      【專利說(shuō)明】電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及到一種電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置。

      【背景技術(shù)】
      [0002]電磁鐵作為一種機(jī)電能量轉(zhuǎn)化裝置,因其自重輕、吸力大、維護(hù)簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)可靠,現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于冶金、采礦、機(jī)械、交通運(yùn)輸?shù)戎T多領(lǐng)域。電磁鐵的電氣性能包括吸合電壓、斷開電壓、最小啟動(dòng)電流、保持電流,是電磁鐵運(yùn)行性能的重要參數(shù),也是電磁鐵選型的重要依據(jù),因而對(duì)電磁鐵的電氣性能進(jìn)行測(cè)試是非常有必要的。電磁鐵電氣性能測(cè)試的傳統(tǒng)方法主要是人工測(cè)試、人工讀數(shù),這種測(cè)試方法存在測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)、測(cè)試成本高、精度和可靠性不聞的缺點(diǎn)。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明的目的是提供一種電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置,該裝置能快速、高效、安全地進(jìn)行電磁鐵電氣性能測(cè)試,具體包括吸合電壓、斷開電壓、最小啟動(dòng)電流、保持電流。
      [0004]本發(fā)明的技術(shù)方案是,一種電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置,在測(cè)試臺(tái)架裝有氣缸支架、凹形槽臺(tái)、光纖傳感器支架,在氣缸支架裝有氣缸,在氣缸在伸縮桿上裝有壓塊,在光纖傳感器支架上裝有光纖傳感器;光纖傳感器連接電磁鐵電氣性能測(cè)試電路,所述的電磁鐵電氣性能測(cè)試電路包括程控電源,在程控電源有正負(fù)電源接口,程控電源與單片機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)線連接,光纖傳感器通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸線連接單片機(jī)。
      [0005]本發(fā)明具有如下的技術(shù)效果,應(yīng)用計(jì)算機(jī)控制技術(shù),微型計(jì)算機(jī)通過(guò)串行通信控制程控電源的輸出電壓并讀取電源輸出電流,采用光纖傳感器將電磁鐵銜鐵是否伸出的機(jī)械信號(hào)轉(zhuǎn)化為高低電平信號(hào)。測(cè)試全過(guò)程不需要人工干預(yù),與人工測(cè)試相比,該測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試精度高、運(yùn)行可靠、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試迅速。

      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0006]圖1是電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置機(jī)械結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0007]圖2是電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置電路連接示意圖。
      [0008]圖3是被測(cè)電磁鐵銜鐵伸出時(shí)被光纖傳感器感應(yīng)示意圖。
      [0009]圖4是被測(cè)電磁鐵銜鐵沒(méi)有伸出時(shí)被光纖傳感器感應(yīng)示意圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0010]如圖1所示,一種電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置,在測(cè)試臺(tái)架4裝有氣缸支架1、凹形槽臺(tái)3、光纖傳感器支架11,在氣缸支架I裝有氣缸6,在氣缸6在伸縮桿上裝有壓塊7,在光纖傳感器支架11上裝有光纖傳感器9。
      [0011]如圖2電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置電路連接示意圖所示,光纖傳感器9連接電磁鐵電氣性能測(cè)試電路,所述電磁鐵電氣性能測(cè)試系統(tǒng)電路包括E3631A程控電源12、光纖傳感器9、PIC18F8722單片機(jī)13 ;在程控電源12有正負(fù)電源接口,程控電源12與單片機(jī)13通過(guò)數(shù)據(jù)線連接,光纖傳感器9通過(guò)數(shù)據(jù)傳輸線連接單片機(jī)13。
      [0012]測(cè)量時(shí):被測(cè)電磁鐵2安放在凹形槽臺(tái)3上,啟動(dòng)氣缸6,氣缸6的伸縮桿上壓塊7將被測(cè)電磁鐵2壓緊;光纖傳感器9的中軸線與所述電磁鐵銜鐵8軸線呈90度;被測(cè)電磁鐵2由程控電源12供電,程控電源12正負(fù)電源接口分別與被測(cè)電磁鐵2正負(fù)極相連接;
      [0013]如圖3被測(cè)電磁鐵銜鐵伸出時(shí)被光纖傳感器感應(yīng)示意圖所示,當(dāng)被測(cè)電磁鐵9得電吸合使得電磁鐵銜鐵8伸出來(lái)的時(shí)候,將改變光的光學(xué)性質(zhì),所述光纖傳感器輸出給單片機(jī)聞電平;
      [0014]如圖4被測(cè)電磁鐵銜鐵沒(méi)有伸出時(shí)被光纖傳感器感應(yīng)示意圖所示,當(dāng)被測(cè)電磁鐵9失電斷開使得電磁鐵銜鐵8縮進(jìn)去的時(shí)候,將改變光的光學(xué)性質(zhì),所述光纖傳感器輸出給單片機(jī)低電平;據(jù)此可以判斷被測(cè)電磁鐵是否吸合。
      [0015]當(dāng)測(cè)試被測(cè)電磁鐵2吸合電壓的時(shí)候,首先控制程控電源12輸出電壓為0V,然后以一定步長(zhǎng)緩慢地增加輸出電壓,同時(shí)單片機(jī)13不斷讀取光纖傳感器9傳輸過(guò)來(lái)的電平信號(hào),當(dāng)單片機(jī)13讀取到高電平信號(hào)的時(shí)候,停止測(cè)試,此時(shí)程控電源12輸出電壓即為被測(cè)電磁鐵2吸合電壓。
      [0016]當(dāng)測(cè)試電磁鐵2斷開電壓的時(shí)候,首先控制程控電源12輸出電壓為被測(cè)電磁鐵9的額定電壓,然后以一定步長(zhǎng)緩慢地減小輸出電壓,同時(shí)單片機(jī)13不斷讀取光纖傳感器9傳輸過(guò)來(lái)的電平信號(hào),當(dāng)單片機(jī)13讀取到低電平信號(hào)的時(shí)候,停止測(cè)試,此時(shí)程控電源12輸出電壓即為被測(cè)電磁鐵2斷開電壓。
      [0017]當(dāng)測(cè)試被測(cè)電電磁鐵2最小啟動(dòng)電流的時(shí)候,首先控制程控電源12輸出電壓為被測(cè)電磁鐵2吸合電壓,然后單片機(jī)13通過(guò)數(shù)據(jù)線讀取程控電源12輸出電流,此電流值即為被測(cè)電磁鐵2最小起動(dòng)電流。
      [0018]當(dāng)測(cè)試被測(cè)電磁鐵2保持電流的時(shí)候,首先控制程控電源12輸出電壓為被測(cè)電磁鐵2額定電壓,然后單片機(jī)13通過(guò)數(shù)據(jù)線讀取程控電源12輸出電流,此電流值即為被測(cè)電磁鐵2的保持電流。
      [0019]使用本電磁鐵電氣性能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試某礦用本質(zhì)安全型電磁鐵,被測(cè)電磁鐵額定電壓為12V,額定電流為120mA ;E3631A程控電源12電壓輸出精度為5mV,電流測(cè)量精度為ImA ;測(cè)試結(jié)果顯示被測(cè)電磁鐵吸合電壓4.125V,斷開電壓IV,最小啟動(dòng)電流40mA,保持電流 118mA。
      【權(quán)利要求】
      1.一種電磁鐵電氣性能測(cè)試裝置,其特征在于:在測(cè)試臺(tái)架(4)裝有氣缸支架(1)、凹形槽臺(tái)(3)、光纖傳感器支架(11),在氣缸支架(1)裝有氣缸(6),在氣缸(6)在伸縮桿上裝有壓塊(7),在光纖傳感器支架(11)上裝有光纖傳感器(9);光纖傳感器(9)連接電磁鐵電氣性能測(cè)試電路,所述的電磁鐵電氣性能測(cè)試電路包括程控電源(12),在程控電源(12)有正負(fù)電源接 口,程控電源(12)與單片機(jī)(13)通過(guò)數(shù)據(jù)線連接,光纖傳感器(9)接單片機(jī)(13)。
      【文檔編號(hào)】G01R31/00GK104049165SQ201410304677
      【公開日】2014年9月17日 申請(qǐng)日期:2014年6月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月24日
      【發(fā)明者】黃輝先, 龐達(dá)凌, 譚志飛, 任科明, 譚榮福, 陳任, 曾莎, 陳資濱 申請(qǐng)人:湘潭大學(xué)
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