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      違禁物品檢測(cè)方法和裝置制造方法

      文檔序號(hào):6238803閱讀:438來(lái)源:國(guó)知局
      違禁物品檢測(cè)方法和裝置制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種違禁物品檢測(cè)方法和裝置,所述方法包括:將被測(cè)物放置于太赫茲光路中,測(cè)量被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);對(duì)太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù);根據(jù)被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù);將被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷被測(cè)物是否為其中一種違禁物品;違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)具體是從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的各波峰中選取的波峰的數(shù)據(jù)。本發(fā)明的技術(shù)方案中,根據(jù)被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)的對(duì)比結(jié)果,可以更為準(zhǔn)確地判斷出被測(cè)物是否為違禁物品。
      【專利說(shuō)明】違禁物品檢測(cè)方法和裝置

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及光譜領(lǐng)域,尤其涉及一種違禁物品檢測(cè)方法和裝置。

      【背景技術(shù)】
      [0002]目前,對(duì)違禁物品的檢測(cè)已經(jīng)廣泛地應(yīng)用在機(jī)場(chǎng)、海關(guān)、車站、港口、核電站、政府機(jī)關(guān)、郵檢中心、法院、大使館等場(chǎng)所,用以檢測(cè)出人員隨身攜帶、或者行李中的違禁物品,從而保障安全。
      [0003]現(xiàn)有的一種違禁物品檢測(cè)方法為:利用X光照射被測(cè)物,根據(jù)X光透射的原理,顯示出被測(cè)物的形狀輪廓,并對(duì)不同密度的被測(cè)物分別以不同的顏色進(jìn)行顯示,例如有機(jī)物顯示為橙色,無(wú)機(jī)物顯示為藍(lán)色,混合物顯示為綠色。檢測(cè)人員根據(jù)該違禁物品檢測(cè)裝置顯示的形狀輪廓和顏色,可以較為容易地識(shí)別出槍支、刀具等金屬類的違禁物品;但是對(duì)于化學(xué)類的違禁物品(例如炸藥、毒品),該違禁物品的形狀通常很難預(yù)測(cè),顯示的顏色又通常與日用品顯示的顏色相同或相近,因此不容易識(shí)別出化學(xué)類的違禁物品。
      [0004]現(xiàn)有的另一種違禁物品檢測(cè)方法為:利用X光照射被測(cè)物,根據(jù)康普頓散射原理,顯示出被測(cè)物的形狀輪廓,并以不同的灰度分別顯示低原子序數(shù)、高原子序數(shù)的被測(cè)物。檢測(cè)人員根據(jù)該違禁物品檢測(cè)裝置顯示的形狀輪廓和灰度,可以較為容易地識(shí)別出槍支、刀具等金屬類的違禁物品。但是對(duì)于化學(xué)類的違禁物品(例如炸藥、毒品),該違禁物品的形狀通常很難預(yù)測(cè);事實(shí)上,無(wú)論是違禁物品還是日用品都可以只包含低原子序數(shù)的成分、只包含高原子序數(shù)的成分,或者既包含低原子序數(shù)的成分又包含高原子序數(shù)的成分;導(dǎo)致該違禁物品顯示的灰度通常與日用品顯示的灰度相同或相近;造成檢測(cè)人員根據(jù)該違禁物品檢測(cè)方法不容易識(shí)別出化學(xué)類的違禁物品。
      [0005]綜上,利用現(xiàn)有的違禁物品檢測(cè)方法,判斷被測(cè)物是否為違禁物品的準(zhǔn)確性較低;因此,有必要提供一種準(zhǔn)確性更高的違禁物品檢測(cè)方法和裝置。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006]針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種違禁物品檢測(cè)方法和裝置,以更為準(zhǔn)確地判斷出被測(cè)物是否為違禁物品。
      [0007]本發(fā)明的技術(shù)方案根據(jù)一個(gè)方面,提供了一種違禁物品檢測(cè)方法,包括:
      [0008]將被測(cè)物放置于太赫茲光路中,測(cè)量所述被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);
      [0009]對(duì)得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù);
      [0010]根據(jù)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù);
      [0011]將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為其中一種違禁物品;其中,所述違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)具體是從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的各波峰中選取的波峰的數(shù)據(jù)。
      [0012]較佳地,所述參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)是根據(jù)如下方法預(yù)先計(jì)算得到的:
      [0013]在所述太赫茲光路中,測(cè)量沒(méi)有所述被測(cè)物的情況下的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),作為參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);
      [0014]將所述參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      [0015]較佳地,所述根據(jù)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù),具體包括:
      [0016]針對(duì)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的每個(gè)頻點(diǎn),根據(jù)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)、以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)在該頻點(diǎn)的fft值,計(jì)算所述被測(cè)物在該頻點(diǎn)的吸收系數(shù);
      [0017]由計(jì)算得到的所述被測(cè)物在各頻點(diǎn)的吸收系數(shù)組成所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)。
      [0018]較佳地,所述將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為其中一種違禁物品,具體包括:
      [0019]對(duì)于所述數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的一種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù),將該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的特征峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)作為中心頻點(diǎn),將該中心頻點(diǎn)兩邊設(shè)定范圍的頻段作為比對(duì)窗口 ;判斷所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)在所述比對(duì)窗口內(nèi)是否存在波峰;若不存在,則判斷所述被測(cè)物不是該種違禁物品。
      [0020]進(jìn)一步,所述數(shù)據(jù)庫(kù)中還存儲(chǔ)有該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù);以及
      [0021]在所述判斷所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)在所述比對(duì)窗口內(nèi)是否存在波峰后,還包括:
      [0022]若判斷存在波峰,則將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為該種違禁物品。
      [0023]較佳地,所述將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為該種違禁物品,具體包括:
      [0024]統(tǒng)計(jì)所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù);
      [0025]對(duì)于該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的每個(gè)波峰,在該波峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)為中心的設(shè)定窗口頻段內(nèi),若判斷所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)存在波峰,則將該頻點(diǎn)記為一個(gè)相似點(diǎn),并計(jì)算兩個(gè)波峰的峰值差,作為該相似點(diǎn)處的峰值差;
      [0026]根據(jù)得到的相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)、每個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差、所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),以及該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),計(jì)算所述被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度;
      [0027]若計(jì)算得到的相似度大于設(shè)定的相似度閾值,則判斷所述被測(cè)物是該種違禁物品;否則,判斷所述被測(cè)物不是該種違禁物品。
      [0028]較佳地,所述根據(jù)得到的相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)、每個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差、所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),以及該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),計(jì)算所述被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度,具體為:
      [0029]根據(jù)如下公式2計(jì)算得到所述被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度S:
      if \ f \ f n.\ \
      [0030]S =+ ^^-χω2 + 1-^uPi x<^3 xl00%.........(公式 2)
      vV nstd J 、tlSam J V >=1 J J
      [0031]其中,nsim、nsam、nstd分別表示所述相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)、所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù)、該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),i為不小于I且不大于nsim的自然數(shù),Pi表示第i個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差,ω” ω2、ω3分別表示三個(gè)權(quán)重系數(shù)。
      [0032]較佳地,所述數(shù)據(jù)庫(kù)根據(jù)如下方法預(yù)先建立:
      [0033]針對(duì)每種違禁物品,提取該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品基于太赫茲頻段的特征數(shù)據(jù):
      [0034]將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品放置于太赫茲光路中,測(cè)量該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);對(duì)得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù);根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及所述參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù);從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)中確定出該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)后,將該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)作為提取出的該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù);
      [0035]將提取出的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到所述數(shù)據(jù)庫(kù)中。
      [0036]進(jìn)一步,在所述將提取出的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到所述數(shù)據(jù)庫(kù)前,還包括:
      [0037]對(duì)于每種違禁物品,將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)也作為該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)。
      [0038]本發(fā)明的技術(shù)方案根據(jù)另一個(gè)方面,還提供了一種違禁物品檢測(cè)裝置,包括:
      [0039]時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊,用于測(cè)量太赫茲光路中經(jīng)過(guò)被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);
      [0040]頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊,用于對(duì)所述時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊測(cè)量得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù);
      [0041]吸收譜計(jì)算模塊,用于根據(jù)所述頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊得到的所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù);
      [0042]特征比對(duì)模塊,用于將所述吸收譜計(jì)算模塊計(jì)算出的被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為其中一種違禁物品;其中,所述違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)具體是從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的各波峰中選取的波峰的數(shù)據(jù)。
      [0043]進(jìn)一步,所述違禁物品檢測(cè)裝置,還包括:
      [0044]參考時(shí)域波形測(cè)量模塊,用于在所述太赫茲光路中,測(cè)量沒(méi)有所述被測(cè)物的情況下的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),作為參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);
      [0045]參考頻域波形計(jì)算模塊,用于將所述參考時(shí)域波形測(cè)量模塊測(cè)量得到的參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)。
      [0046]進(jìn)一步,所述違禁物品檢測(cè)裝置,還包括:
      [0047]標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)據(jù)庫(kù)建立模塊,用于針對(duì)每種違禁物品,將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品放置于太赫茲光路中,測(cè)量該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);對(duì)得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù);根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及所述參考頻域波形計(jì)算模塊得到的參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù);從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)中確定出該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)后,將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)和吸收譜數(shù)據(jù)存入到所述數(shù)據(jù)庫(kù)中。
      [0048]本發(fā)明的技術(shù)方案中,將被測(cè)物吸收太赫茲波的吸收譜數(shù)據(jù),與每種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品對(duì)太赫茲波的吸收譜數(shù)據(jù)中的特征數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,可以根據(jù)對(duì)比結(jié)果更為準(zhǔn)確地判斷出被測(cè)物是否為違禁物品。
      [0049]而且,還可以根據(jù)對(duì)比結(jié)果計(jì)算出相似度的值,并根據(jù)相似度的值判斷被測(cè)物是否為違禁物品,進(jìn)一步提高了判斷的準(zhǔn)確性。
      [0050]此外,被測(cè)物吸收太赫茲波的吸收譜數(shù)據(jù)、以及每種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)都是從各自時(shí)域波形數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換出的頻域數(shù)據(jù);與時(shí)域波形數(shù)據(jù)相比,數(shù)據(jù)量大大減少,使得對(duì)比時(shí)的計(jì)算量大大降低;從而可以加快對(duì)比速率,提高判斷效率。

      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0051]圖1為本發(fā)明實(shí)施例的獲取太赫茲光路的參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)的方法的流程不意圖;
      [0052]圖2為本發(fā)明實(shí)施例的提取每種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品基于太赫茲頻段的特征數(shù)據(jù)的方法的流程示意圖;
      [0053]圖3為本發(fā)明實(shí)施例的違禁物品檢測(cè)方法的流程示意圖;
      [0054]圖4為本發(fā)明實(shí)施例的將被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與一種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷該被測(cè)物是否為該種違禁物品的方法的流程示意圖;
      [0055]圖5為本發(fā)明實(shí)施例的被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與一種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的實(shí)例示意圖;
      [0056]圖6為本發(fā)明實(shí)施例的違禁物品檢測(cè)裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的框架示意圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0057]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下參照附圖并舉出優(yōu)選實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。然而,需要說(shuō)明的是,說(shuō)明書中列出的許多細(xì)節(jié)僅僅是為了使讀者對(duì)本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)方面有一個(gè)透徹的理解,即便沒(méi)有這些特定的細(xì)節(jié)也可以實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的這些方面。
      [0058]本申請(qǐng)使用的“模塊”、“系統(tǒng)”等術(shù)語(yǔ)旨在包括與計(jì)算機(jī)相關(guān)的實(shí)體,例如但不限于硬件、固件、軟硬件組合、軟件或者執(zhí)行中的軟件。例如,模塊可以是,但并不僅限于:處理器上運(yùn)行的進(jìn)程、處理器、對(duì)象、可執(zhí)行程序、執(zhí)行的線程、程序和/或計(jì)算機(jī)。舉例來(lái)說(shuō),計(jì)算設(shè)備上運(yùn)行的應(yīng)用程序和此計(jì)算設(shè)備都可以是模塊。一個(gè)或多個(gè)模塊可以位于執(zhí)行中的一個(gè)進(jìn)程和/或線程內(nèi)。
      [0059]本發(fā)明的發(fā)明人考慮到,不同的違禁物品對(duì)太赫茲(Thz)頻段的電磁波具有不同的吸收特征;采用太赫茲頻段的電磁波(本文中簡(jiǎn)稱為太赫茲波)照射被測(cè)物,得到被測(cè)物吸收太赫茲波的數(shù)據(jù);并與預(yù)先測(cè)得的各種違禁物品吸收太赫茲波的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,從而可以更為準(zhǔn)確地判斷出被測(cè)物是否為違禁物品。太赫茲波的波長(zhǎng)在30ym-3mm之間,在電磁波譜中介于微波與紅外光波之間,屬于遠(yuǎn)紅外波段。
      [0060]而且,被測(cè)物吸收太赫茲波的數(shù)據(jù)、以及違禁物品吸收太赫茲波的數(shù)據(jù)都可以轉(zhuǎn)換到頻域后,進(jìn)行比較;可以加快比較速率,提高判斷的效率。
      [0061]下面結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案。
      [0062]本發(fā)明實(shí)施例提供的違禁物品檢測(cè)裝置實(shí)施違禁物品檢測(cè)方法之前,需要獲取太赫茲光路的參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),并建立違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的數(shù)據(jù)庫(kù)。
      [0063]其中,違禁物品檢測(cè)裝置獲取太赫茲光路的參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)的方法,其流程示意圖如圖1所示,包括如下步驟:
      [0064]SlOl:在太赫茲光路中,測(cè)量沒(méi)有被測(cè)物的情況下的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),作為參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0065]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置開啟太赫茲光路后,周期性采集在該太赫茲光路中未放置被測(cè)物的情況下的太赫茲波(簡(jiǎn)稱參考太赫茲波)的信號(hào)強(qiáng)度值,得到太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),作為參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0066]參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)可以記為k行兩列的數(shù)組(t,ref),t列中的數(shù)據(jù)為各采集時(shí)刻,ref列中的數(shù)據(jù)為參考太赫茲波在各采集時(shí)刻的信號(hào)強(qiáng)度值,k為自然數(shù)。
      [0067]S102:將參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      [0068]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置對(duì)步驟SlOl中得到的參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),進(jìn)行2-個(gè)變換點(diǎn)(即頻點(diǎn))的快速傅里葉變換fft,得到參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。m為自然數(shù)且2m比2m^\2m+1更接近于k ;較佳地,2m等于1024。
      [0069]參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)可以記為2m行兩列的數(shù)組(co,fft(ref,2m)),ω列中的數(shù)據(jù)為各頻點(diǎn),fft (ref,2m)列中的數(shù)據(jù)為參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的在各頻點(diǎn)的fft值。
      [0070]本發(fā)明實(shí)施例中,建立違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的數(shù)據(jù)庫(kù)的方法包括:針對(duì)每種違禁物品,提取該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品基于太赫茲頻段的特征數(shù)據(jù);并將提取出的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)存到該數(shù)據(jù)庫(kù)中。
      [0071]其中,違禁物品檢測(cè)裝置對(duì)于每種違禁物品,提取該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品基于太赫茲頻段的特征數(shù)據(jù)的方法,其流程示意圖如圖2所示,包括如下步驟:
      [0072]S201:將違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品放置于太赫茲光路中,測(cè)量該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0073]具體地,技術(shù)人員將違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品放置于太赫茲光路中后,違禁物品檢測(cè)裝置周期性采集太赫茲波的信號(hào)強(qiáng)度值,得到該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0074]違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)可以記為k行兩列的數(shù)組(t,sam),t列中的數(shù)據(jù)為各采集時(shí)刻,sam列中的數(shù)據(jù)為該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲波在各采集時(shí)刻的信號(hào)強(qiáng)度值。
      [0075]S202:對(duì)得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      [0076]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置對(duì)步驟S201中得到的違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),根據(jù)與步驟S102中相同的2m個(gè)變換點(diǎn),進(jìn)行快速傅里葉變換fft,得到該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      [0077]違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)可以記為2m行兩列的數(shù)組(?,fft (sam, 2m)), ω列中的數(shù)據(jù)為各頻點(diǎn),fft (sam,2m)列中的數(shù)據(jù)為該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的在各頻點(diǎn)的fft值。
      [0078]S203:根據(jù)違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及步驟S102中的參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)。
      [0079]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置對(duì)于步驟S202中得到的違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的每個(gè)頻點(diǎn)ω"根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的在該頻點(diǎn)的fft值、參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)在該頻點(diǎn)的fft值,以及如下公式I計(jì)算該標(biāo)準(zhǔn)品在該頻點(diǎn)的吸收系數(shù)a j:

      fft i sam,T)1
      [0080]ai =-ln.................................(公式 I)
      [0081]公式I中,j為O到2""1之間的非負(fù)整數(shù)Jftdsam,2m) ^fftj (ref, 2m)分別表示該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)、參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)在頻點(diǎn)的fft值。
      [0082]之后,違禁物品檢測(cè)裝置將由計(jì)算得到的違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品在各頻點(diǎn)的吸收系數(shù)組成該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)。該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)可以記為2m行兩列的數(shù)組(ω,α),α列中的數(shù)據(jù)為違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品在各頻點(diǎn)的吸收系數(shù)。
      [0083]S204:從違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)中確定出該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)后,將該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)作為提取出的該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)。
      [0084]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置從步驟S203中得到的違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)中,確定出該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜的各波峰的數(shù)據(jù);并從各波峰的數(shù)據(jù)中確定出特征峰數(shù)據(jù)后,將該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)作為提取出的該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)。特征峰數(shù)據(jù)具體包括:特征峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)、違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品在該頻點(diǎn)的吸收系數(shù)。
      [0085]更優(yōu)的,違禁物品檢測(cè)裝置還可以將上述步驟S203中得到的違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)作為提取出的該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)。
      [0086]之后,違禁物品檢測(cè)裝置可以將上述步驟S101-S102中的參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)、參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),以及步驟S201-S204中提取出的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù),都存儲(chǔ)到預(yù)先創(chuàng)建的數(shù)據(jù)庫(kù)中。
      [0087]本發(fā)明實(shí)施例的違禁物品檢測(cè)方法的流程示意圖,如圖3所示,包括如下步驟:
      [0088]S301:將被測(cè)物放置于太赫茲光路中,測(cè)量被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0089]具體地,被測(cè)物的攜帶者將被測(cè)物放置于太赫茲光路中,違禁物品檢測(cè)裝置周期性采集太赫茲波的信號(hào)強(qiáng)度值,得到被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0090]S302:對(duì)得到的被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      [0091]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置對(duì)步驟S301中得到的得到的被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),根據(jù)與步驟S102中相同的2m個(gè)變換點(diǎn),進(jìn)行快速傅里葉變換,得到被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      [0092]被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)可以記為2m行兩列的數(shù)組,一列中的數(shù)據(jù)為各頻點(diǎn),另一列中的數(shù)據(jù)為該被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的在各頻點(diǎn)的fft值。
      [0093]S303:根據(jù)被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)。
      [0094]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置對(duì)于步驟S302中得到的被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的每個(gè)頻點(diǎn),根據(jù)該被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)、以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)在該頻率的fft值,計(jì)算出該被測(cè)物在該頻點(diǎn)的吸收系數(shù)。將該被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)在各頻點(diǎn)的fft值代替步驟S203中違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)在各頻點(diǎn)的fft值后,計(jì)算該被測(cè)物在每個(gè)頻點(diǎn)的吸收系數(shù)的具體方法,與步驟S203中計(jì)算違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品在每個(gè)頻點(diǎn)的吸收系數(shù)的方法相同,此處不再贅述。
      [0095]之后,違禁物品檢測(cè)裝置將由計(jì)算得到的被測(cè)物在各頻點(diǎn)的吸收系數(shù)組成該被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)。
      [0096]S304:將被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷該被測(cè)物是否為其中一種違禁物品。
      [0097]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置對(duì)于每種違禁物品,從上述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取預(yù)先存儲(chǔ)的該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù),將該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的特征峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)作為中心頻點(diǎn),將該中心頻點(diǎn)兩邊設(shè)定范圍的頻段作為比對(duì)窗口 ;判斷被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)在該比對(duì)窗口內(nèi)是否存在波峰;若不存在,則判斷出該被測(cè)物不是該種違禁物品。比對(duì)窗口可以根據(jù)歷史數(shù)據(jù)、經(jīng)驗(yàn)或者實(shí)際要求等因素確定,不再贅述;用以消除不同時(shí)刻、不同測(cè)量條件下數(shù)據(jù)的漂移引起的誤差或影響。
      [0098]違禁物品檢測(cè)裝置若判斷出被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)在該比對(duì)窗口內(nèi)存在波峰,則從上述數(shù)據(jù)庫(kù)中獲取該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù),并將該被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷該被測(cè)物是否為該種違禁物品,具體方法將在后續(xù)進(jìn)行詳細(xì)介紹。
      [0099]下面詳細(xì)介紹上述步驟S304中,違禁物品檢測(cè)裝置將被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與一種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷該被測(cè)物是否為該種違禁物品的方法,其流程示意圖如圖4所示,包括如下步驟:
      [0100]S401:統(tǒng)計(jì)被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù)。
      [0101]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置統(tǒng)計(jì)被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù);并統(tǒng)計(jì)該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù)。
      [0102]S402:對(duì)于該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的每個(gè)波峰,在該波峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)為中心的設(shè)定窗口頻段內(nèi),若判斷被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)存在波峰,則將該頻點(diǎn)記為一個(gè)相似點(diǎn),并計(jì)算兩個(gè)波峰的峰值差,作為該相似點(diǎn)處的峰值差。
      [0103]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置從該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)中,確定出每個(gè)波峰及其所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn);對(duì)于確定出的每個(gè)波峰,在該波峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)為中心的設(shè)定窗口頻段內(nèi),判斷被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)是否存在波峰;若存在波峰,則將該頻點(diǎn)記為一個(gè)相似點(diǎn),并計(jì)算兩個(gè)波峰的峰值差,作為該相似點(diǎn)處的峰值差;若不存在波峰,則忽略該頻點(diǎn)相關(guān)的數(shù)據(jù)。例如,如圖5所示,橫坐標(biāo)表示頻率,縱坐標(biāo)表示吸收系數(shù);標(biāo)識(shí)為SAMPLE的曲線表示被測(cè)物的吸收譜,標(biāo)識(shí)為rdx的曲線表示違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜;對(duì)于違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜中的一個(gè)波峰,以該波峰對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)為中心的設(shè)定窗口頻段內(nèi),被測(cè)物的吸收譜存在一個(gè)波峰。
      [0104]之后,違禁物品檢測(cè)裝置計(jì)算出相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)。
      [0105]S403:根據(jù)步驟S402中得到的相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)、每個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差、步驟S401中被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),以及該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),計(jì)算被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度。
      [0106]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置根據(jù)步驟S402中得到的相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)nsim、每個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差、步驟S401中被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù)nsam、該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù)nstd,以及如下公式2計(jì)算出被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度S:
      ff \ f \ / n'sfm \ \
      [0107]S= ^xo1 + ^χω + I —£凡 XO3 X100%.........(公式 2)
      VV tlStd 7 V ll^um J V i=1 J J
      [0108]公式2中,i為不小于I且不大于nsim的自然數(shù),Pi表示第i個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差, ω2、ω3分別表示三個(gè)權(quán)重系數(shù)。
      [0109]S404:若計(jì)算得到的相似度大于設(shè)定的相似度閾值,則判斷被測(cè)物是該種違禁物品;否則,判斷被測(cè)物不是該種違禁物品。
      [0110]具體地,違禁物品檢測(cè)裝置判斷步驟S403中計(jì)算得到的相似度S是否大于預(yù)先設(shè)定的相似度閾值:若是,判斷被測(cè)物是該種違禁物品,并將該種違禁物品原先存儲(chǔ)的名稱、所屬種類以及計(jì)算出的相似度進(jìn)行顯示S,供檢查人員參考;否則,判斷被測(cè)物不是該種違禁物品。
      [0111]基于上述違禁物品檢測(cè)方法,本發(fā)明實(shí)施例的違禁物品檢測(cè)裝置的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的框架示意圖,如圖6所示,包括:時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊601、頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊602、吸收譜計(jì)算模塊603和特征比對(duì)模塊604。
      [0112]時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊601用于測(cè)量太赫茲光路中經(jīng)過(guò)被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0113]頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊602用于對(duì)時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊601測(cè)量得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      [0114]吸收譜計(jì)算模塊603用于根據(jù)頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊602得到的被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)。
      [0115]特征比對(duì)模塊604用于將吸收譜計(jì)算模塊603計(jì)算出的被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷被測(cè)物是否為其中一種違禁物品;其中,違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)具體是從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的各波峰中選取的波峰的數(shù)據(jù)。
      [0116]更優(yōu)的,如圖6所示,違禁物品檢測(cè)裝置還包括:參考時(shí)域波形測(cè)量模塊605和參考頻域波形計(jì)算模塊606。
      [0117]參考時(shí)域波形測(cè)量模塊605用于在太赫茲光路中,測(cè)量沒(méi)有被測(cè)物的情況下的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),作為參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)。
      [0118]參考頻域波形計(jì)算模塊606用于將參考時(shí)域波形測(cè)量模塊605測(cè)量得到的參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)。
      [0119]更優(yōu)的,如圖6所示,違禁物品檢測(cè)裝置還包括:標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)據(jù)庫(kù)建立模塊607。
      [0120]標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)據(jù)庫(kù)建立模塊607用于針對(duì)每種違禁物品,將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品放置于太赫茲光路中,測(cè)量該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);對(duì)得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù);根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及參考頻域波形計(jì)算模塊606得到的參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù);從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)中確定出該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)后,將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)和吸收譜數(shù)據(jù)存入到數(shù)據(jù)庫(kù)中。
      [0121]上述時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊601、頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊602、吸收譜計(jì)算模塊603、特征比對(duì)模塊604、參考時(shí)域波形測(cè)量模塊605、參考頻域波形計(jì)算模塊606和標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)據(jù)庫(kù)建立模塊607的功能的具體實(shí)現(xiàn)方法,可以參考上述如圖1?圖4所示的方法流程步驟的具體內(nèi)容,此處不再贅述。
      [0122]本發(fā)明的技術(shù)方案中,將被測(cè)物吸收太赫茲波的吸收譜數(shù)據(jù),與每種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品對(duì)太赫茲波的吸收譜數(shù)據(jù)中的特征數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,可以根據(jù)對(duì)比結(jié)果更為準(zhǔn)確地判斷出被測(cè)物是否為違禁物品。
      [0123]而且,還可以根據(jù)對(duì)比結(jié)果計(jì)算出相似度的值,并根據(jù)相似度的值判斷被測(cè)物是否為違禁物品,進(jìn)一步提高了判斷的準(zhǔn)確性。
      [0124]此外,被測(cè)物吸收太赫茲波的吸收譜數(shù)據(jù)、以及每種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征數(shù)據(jù)都是從各自時(shí)域波形數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換出的頻域數(shù)據(jù);與時(shí)域波形數(shù)據(jù)相比,數(shù)據(jù)量大大減少,使得對(duì)比時(shí)的計(jì)算量大大降低;從而可以加快對(duì)比速率,提高判斷效率。
      [0125]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過(guò)程序來(lái)指令相關(guān)的硬件來(lái)完成,該程序可以存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中,如:R0M/RAM、磁碟、光盤等。
      [0126]以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出,對(duì)于本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以作出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種違禁物品檢測(cè)方法,其特征在于,包括: 將被測(cè)物放置于太赫茲光路中,測(cè)量所述被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù); 對(duì)得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù); 根據(jù)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù); 將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為其中一種違禁物品;其中,所述違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)具體是從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的各波峰中選取的波峰的數(shù)據(jù)。
      2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)是根據(jù)如下方法預(yù)先計(jì)算得到的: 在所述太赫茲光路中,測(cè)量沒(méi)有所述被測(cè)物的情況下的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),作為參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù); 將所述參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)。
      3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù),具體包括: 針對(duì)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)中的每個(gè)頻點(diǎn),根據(jù)所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)、以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)在該頻點(diǎn)的fft值,計(jì)算所述被測(cè)物在該頻點(diǎn)的吸收系數(shù); 由計(jì)算得到的所述被測(cè)物在各頻點(diǎn)的吸收系數(shù)組成所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)。
      4.如權(quán)利要求1-3任一所述的方法,其特征在于,所述將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為其中一種違禁物品,具體包括: 對(duì)于所述數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的一種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù),將該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的特征峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)作為中心頻點(diǎn),將該中心頻點(diǎn)兩邊設(shè)定范圍的頻段作為比對(duì)窗口 ;判斷所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)在所述比對(duì)窗口內(nèi)是否存在波峰;若不存在,則判斷所述被測(cè)物不是該種違禁物品。
      5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述數(shù)據(jù)庫(kù)中還存儲(chǔ)有該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù);以及 在所述判斷所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)在所述比對(duì)窗口內(nèi)是否存在波峰后,還包括: 若判斷存在波峰,則將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為該種違禁物品。
      6.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述將所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為該種違禁物品,具體包括: 統(tǒng)計(jì)所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù); 對(duì)于該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的每個(gè)波峰,在該波峰所對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)為中心的設(shè)定窗口頻段內(nèi),若判斷所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)存在波峰,則將該頻點(diǎn)記為一個(gè)相似點(diǎn),并計(jì)算兩個(gè)波峰的峰值差,作為該相似點(diǎn)處的峰值差; 根據(jù)得到的相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)、每個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差、所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),以及該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),計(jì)算所述被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度; 若計(jì)算得到的相似度大于設(shè)定的相似度閾值,則判斷所述被測(cè)物是該種違禁物品;否貝1J,判斷所述被測(cè)物不是該種違禁物品。
      7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)得到的相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)、每個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差、所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),以及該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),計(jì)算所述被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度,具體為: 根據(jù)如下公式2計(jì)算得到所述被測(cè)物與該標(biāo)準(zhǔn)品之間的相似度S: if\ /\ /\ Λ S =+ 1一藝凡 χω3 χ100%.........(公式 2)
      VV nstd y V nsam ) \ i=l y J 其中,nsim、nsam、nstd分別表示所述相似點(diǎn)的個(gè)數(shù)、所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù)、該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的波峰總數(shù),i為不小于1且不大于nsim的自然數(shù),Pi表示第i個(gè)相似點(diǎn)處的峰值差,ωρ ω2、ω3分別表示三個(gè)權(quán)重系數(shù)。
      8.一種違禁物品檢測(cè)裝置,其特征在于,包括: 時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊,用于測(cè)量太赫茲光路中經(jīng)過(guò)被測(cè)物的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù); 頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊,用于對(duì)所述時(shí)域數(shù)據(jù)檢測(cè)模塊測(cè)量得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù); 吸收譜計(jì)算模塊,用于根據(jù)所述頻域數(shù)據(jù)計(jì)算模塊得到的所述被測(cè)物的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),以及參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出所述被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù); 特征比對(duì)模塊,用于將所述吸收譜計(jì)算模塊計(jì)算出的被測(cè)物的吸收譜數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫(kù)中預(yù)先存儲(chǔ)的各種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,判斷所述被測(cè)物是否為其中一種違禁物品;其中,所述違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)具體是從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)的各波峰中選取的波峰的數(shù)據(jù)。
      9.如權(quán)利要求8所述的裝置,其特征在于,還包括: 參考時(shí)域波形測(cè)量模塊,用于在所述太赫茲光路中,測(cè)量沒(méi)有所述被測(cè)物的情況下的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù),作為參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù); 參考頻域波形計(jì)算模塊,用于將所述參考時(shí)域波形測(cè)量模塊測(cè)量得到的參考太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到所述參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)。
      10.如權(quán)利要求9所述的裝置,其特征在于,還包括: 標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)據(jù)庫(kù)建立模塊,用于針對(duì)每種違禁物品,將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品放置于太赫茲光路中,測(cè)量該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù);對(duì)得到的太赫茲時(shí)域波形數(shù)據(jù)進(jìn)行快速傅里葉變換,得到該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù);根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)品的太赫茲頻域波形數(shù)據(jù)以及所述參考頻域波形計(jì)算模塊得到的參考太赫茲頻域波形數(shù)據(jù),計(jì)算出該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù);從該標(biāo)準(zhǔn)品的吸收譜數(shù)據(jù)中確定出該標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)后,將該種違禁物品的標(biāo)準(zhǔn)品的特征峰數(shù)據(jù)和吸收譜數(shù)據(jù)存入到所述數(shù)據(jù)庫(kù)中。
      【文檔編號(hào)】G01N21/3586GK104251838SQ201410429717
      【公開日】2014年12月31日 申請(qǐng)日期:2014年8月27日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月27日
      【發(fā)明者】賈雨生, 鐘華, 孫金海, 張少華, 蔡禾 申請(qǐng)人:北京環(huán)境特性研究所
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