發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及方法。該測試系統(tǒng)包括：計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊，用于下發(fā)脈沖電壓參數(shù)，并對接收到的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析；脈沖電壓產(chǎn)生模塊，連接至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊，用于依照計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊下發(fā)的脈沖電壓參數(shù)，產(chǎn)生脈沖電壓，并將該脈沖電壓加載至待測試的發(fā)光二極管；以及數(shù)據(jù)采集模塊，用于采集待測試的發(fā)光二極管的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)，并將該光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)上傳至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊；其中，待測試的發(fā)光二極管，連接至脈沖電壓產(chǎn)生模塊，其在脈沖電壓產(chǎn)生模塊產(chǎn)生的脈沖電壓的驅(qū)動下發(fā)光。本實(shí)施例能夠?qū)崿F(xiàn)脈沖電壓下發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)的同時(shí)快速測定。
【專利說明】發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及光電子器件的測量領(lǐng)域，具體涉及一種發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002]發(fā)光二極管是一種能將電能轉(zhuǎn)化為光能的半導(dǎo)體二極管，包括由無機(jī)材料組成的無機(jī)電致發(fā)光二極管(LED)及由有機(jī)材料組成的有機(jī)電致發(fā)光二極管(OLED)。發(fā)光二極管具有體積小，工作電壓低，工作電流小，發(fā)光均勻穩(wěn)定、響應(yīng)速度快、高效節(jié)能、無污染、發(fā)光波長可調(diào)等優(yōu)點(diǎn)。在照明及顯示等領(lǐng)域已經(jīng)被廣泛應(yīng)用，并且在快速響應(yīng)系統(tǒng)中廣泛的應(yīng)用前景。
[0003]在顯示應(yīng)用領(lǐng)域，發(fā)光二極管的電壓響應(yīng)特性是一重要參數(shù)，發(fā)光二極管的光響應(yīng)及電響應(yīng)特性分別影響了顯示器件的顯示效果及壽命，從而直接決定顯示器的優(yōu)劣。但是，目前已有的對發(fā)光二極管的響應(yīng)特性的測試方法不夠系統(tǒng)完善，不能夠很好的同時(shí)測定發(fā)光二極管的光響應(yīng)及電響應(yīng)特性；而分開測量發(fā)光二極管在脈沖電壓下的光響應(yīng)及電響應(yīng)不僅效率低更會引入較大的測量誤差。因此，如何同時(shí)實(shí)現(xiàn)對發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)準(zhǔn)確、快速、定量測定成為亟待解決的問題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004](一 )要解決的技術(shù)問題
[0005]鑒于上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及方法，以實(shí)現(xiàn)對發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)的同時(shí)測量。
[0006]( 二 )技術(shù)方案
[0007]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)包括:計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊1，用于下發(fā)脈沖電壓參數(shù)，并對接收到的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析；脈沖電壓產(chǎn)生模塊2，連接至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊1，用于依照計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I下發(fā)的脈沖電壓參數(shù)，產(chǎn)生脈沖電壓，并將該脈沖電壓加載至待測試的發(fā)光二極管3 ;以及數(shù)據(jù)采集模塊4，用于采集待測試的發(fā)光二極管3的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)，并將該光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)上傳至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I ;其中，待測試的發(fā)光二極管3，連接至脈沖電壓產(chǎn)生模塊2，其在脈沖電壓產(chǎn)生模塊2產(chǎn)生的脈沖電壓的驅(qū)動發(fā)光。
[0008]優(yōu)選地，本發(fā)明發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)中，數(shù)據(jù)采集模塊4包括:采樣電阻，與發(fā)光二極管3串聯(lián)，其一端電性連接至發(fā)光二極管的輸出端，另一端接地；光電探測器，其響應(yīng)波長與發(fā)光二極管發(fā)射光波長相匹配，其光學(xué)探頭朝向發(fā)光二極管3的出光側(cè)；以及采樣示波器，其時(shí)鐘端口與脈沖電壓產(chǎn)生模塊2的時(shí)鐘端口相連接，其第一輸入端與光電探測器的信號輸出端相連接，其第二輸入端連接至發(fā)光二極管與采樣電阻之間的電路節(jié)點(diǎn)，其信號輸出端與計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I相連接，用于實(shí)現(xiàn)對第一輸入端和第二輸入端輸出信號的采樣，并將采樣產(chǎn)生的數(shù)據(jù)傳送至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種應(yīng)用上述測試系統(tǒng)進(jìn)行發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試的方法。該方法包括:步驟A:搭建測試系統(tǒng)并調(diào)節(jié)光路，使得待測試發(fā)光二極管3發(fā)射的光可以被數(shù)據(jù)采集模塊4中的光電探測器采集；步驟B:設(shè)置計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I輸出指令，調(diào)制脈沖電壓產(chǎn)生模塊2產(chǎn)生具有一定波形、頻率、強(qiáng)度、脈寬或連續(xù)變化的脈沖電壓；步驟C:脈沖電壓產(chǎn)生模塊2接收計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I的脈沖電壓輸出調(diào)制指令，并按計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I的指令輸出相應(yīng)脈沖電壓，輸出的脈沖電壓加載到發(fā)光二極管3，同時(shí)脈沖電壓的時(shí)鐘信息被數(shù)據(jù)采集模塊4中的采樣示波器采集記錄作為校準(zhǔn)曲線；步驟D:發(fā)光二極管3受脈沖電壓產(chǎn)生模塊2輸出的脈沖電壓驅(qū)動發(fā)光，并使電路中產(chǎn)生具有一定波形的電流；步驟E數(shù)據(jù)采集模塊4中的光電探測器采集發(fā)光二極管3發(fā)射出光信號，得到發(fā)光二極管的光信號響應(yīng)數(shù)據(jù)，并輸入到采樣示波器；同時(shí)，采樣示波器采集采樣電阻兩端分壓，得到發(fā)光二極管的電響應(yīng)數(shù)據(jù)；采樣示波器將采集到的光信號響應(yīng)數(shù)據(jù)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)輸入到計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I ;以及步驟F:計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I對應(yīng)采樣示波器的輸出數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)記錄并處理分析，得到發(fā)光二極管3的光響應(yīng)及電響應(yīng)特性。
[0010](三)有益效果
[0011]從上述技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及方法不僅能夠?qū)崿F(xiàn)脈沖電壓下發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)的同時(shí)快速測定，而且能夠輕松實(shí)現(xiàn)不同脈沖電壓信號下發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)的自動化檢測；通過計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊的處理分析，不僅可以得到光響應(yīng)及電響應(yīng)特性等信息，而且可以實(shí)現(xiàn)對電響應(yīng)的電流的定量及光響應(yīng)的相對強(qiáng)度測定，對進(jìn)一步研究發(fā)光二極管的發(fā)光機(jī)理及應(yīng)用具有重要意義。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012]圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0013]圖2為圖1所示發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)中有機(jī)發(fā)光二極管的截面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖3為圖1所示發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)中發(fā)光二極管及數(shù)據(jù)采集模塊電路連接示意圖；
[0015]圖4為利用圖1所示發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)進(jìn)行測試獲得的發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)曲線。
[0016]【本發(fā)明主要元件符號說明】
[0017]1-計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊；2-脈沖電壓產(chǎn)生模塊；
[0018]3-發(fā)光二極管；4-數(shù)據(jù)采集模塊。

【具體實(shí)施方式】
[0019]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合具體實(shí)施例，并參照附圖，對本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說明。需要說明的是，在附圖或說明書描述中，相似或相同的部分都使用相同的圖號。附圖中未繪示或描述的實(shí)現(xiàn)方式，為所屬【技術(shù)領(lǐng)域】中普通技術(shù)人員所知的形式。另外，雖然本文可提供包含特定值的參數(shù)的示范，但應(yīng)了解，參數(shù)無需確切等于相應(yīng)的值，而是可在可接受的誤差容限或設(shè)計(jì)約束內(nèi)近似于相應(yīng)的值。實(shí)施例中提到的方向用語，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等，僅是參考附圖的方向。因此，使用的方向用語是用來說明并非用來限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0020]本發(fā)明提供了一種發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及方法，能夠?qū)崿F(xiàn)對發(fā)光二極管響應(yīng)特性的光響應(yīng)及電響應(yīng)的同時(shí)、快速、定量檢測及實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的記錄與處理分析，檢測效率高，準(zhǔn)確性高并且能夠?qū)崿F(xiàn)自動化測試。
[0021]在本發(fā)明的一個(gè)示例性實(shí)施例中，提供了一種發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)。圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，本實(shí)施例發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)包括:計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊1，用于下發(fā)脈沖電壓參數(shù)，并對接收到的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析；脈沖電壓產(chǎn)生模塊2，連接至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊1，用于依照計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I下發(fā)的脈沖電壓參數(shù)，產(chǎn)生脈沖電壓，并將該脈沖電壓加載至待測試的發(fā)光二極管3 ;數(shù)據(jù)采集模塊4，用于采集待測試發(fā)光二極管3的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)，并將該光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)發(fā)送至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I。其中，發(fā)光二極管3，連接至脈沖電壓產(chǎn)生模塊2，其在脈沖電壓產(chǎn)生模塊產(chǎn)生的脈沖電壓的驅(qū)動下發(fā)光。
[0022]以下對本實(shí)施例發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)的各個(gè)組成部分進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0023]本實(shí)施例中，計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)設(shè)定脈沖電壓輸出指令為:脈沖電壓波形為矩形波形，脈沖強(qiáng)度為13.0V，脈沖頻率為33Hz，脈沖寬度為16 μ S。
[0024]其中，計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I通過USB數(shù)據(jù)傳輸線與脈沖電壓產(chǎn)生模塊2及數(shù)據(jù)采集模塊4相連接。計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I具有單獨(dú)或同時(shí)調(diào)節(jié)脈沖電壓產(chǎn)生模塊2輸出脈沖電壓的波形、頻率、強(qiáng)度、脈寬等參數(shù)的功能，并可通過程序設(shè)定自動輸出具有一定變化規(guī)律的脈沖輸出指令。此外，計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I可實(shí)現(xiàn)對數(shù)據(jù)采集模塊4采集數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)記錄及處理分析。
[0025]脈沖電壓產(chǎn)生模塊2由一個(gè)能夠產(chǎn)生可調(diào)脈沖電壓的電脈沖產(chǎn)生器組成。該電脈沖產(chǎn)生器所產(chǎn)生的脈沖電壓的強(qiáng)度、頻率、波形及脈寬等由計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I調(diào)制。
[0026]發(fā)光二極管3與脈沖電壓產(chǎn)生模塊2串聯(lián)。發(fā)光二極管3在脈沖電壓驅(qū)動下工作；發(fā)光二極管可以為無機(jī)電致發(fā)光二極管LED及有機(jī)電致發(fā)光二極管OLED中的任意一種。
[0027]圖2為圖1所示發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)中有機(jī)發(fā)光二極管的截面結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，本實(shí)施例中的發(fā)光二極管使用的為有機(jī)電致發(fā)光二極管0LED，其組成為:IT0/Mo03/NPB/A1 q3/BCP/Alq3/LiF/Al，其中ITO為導(dǎo)電玻璃，MoO3為空穴注入層，NPB為空穴傳輸層，Btt鄰NPB的Alq3為發(fā)光層，BCP為空穴阻擋層，毗鄰LiF的Alq3的為電子傳輸層，LiF為電子注入層，Al為陰極，發(fā)射光波長為542nm。
[0028]圖3為圖1所示發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)中發(fā)光二極管及數(shù)據(jù)采集模塊電路連接示意圖。如圖3所示，本實(shí)施例中的信號采集模塊4包括:
[0029]采樣電阻R，與發(fā)光二極管3串聯(lián)，其一端電性連接至發(fā)光二極管的輸出端，另一端接地；
[0030]光電探測器，其響應(yīng)波長與發(fā)光二極管發(fā)射光波長相匹配，其光學(xué)探頭朝向發(fā)光二極管的出光側(cè)；
[0031]采樣示波器，其時(shí)鐘端口與脈沖電壓產(chǎn)生模塊2的時(shí)鐘端口相連接，從而實(shí)現(xiàn)信號的同步觸發(fā)，其第一輸入端與光電探測器的信號輸出端相連接，其第二輸入端連接至發(fā)光二極管與采樣電阻R之間的電路節(jié)點(diǎn)，其信號輸出端通過USB數(shù)據(jù)傳輸線與計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I相連接，用于實(shí)現(xiàn)對第一輸入端和第二輸入端輸出信號的采樣，并將采樣產(chǎn)生的數(shù)據(jù)傳送至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I。
[0032]本實(shí)施例中，采樣電阻采用阻值為50Ω的定值電阻。光電探測器采用響應(yīng)波長為460?600nm的高靈敏度光電倍增管。采樣示波器可以為單線示波器加轉(zhuǎn)換開關(guān)、雙線/多線示波器及雙蹤/多蹤示波器中的任意一種，其通過USB數(shù)據(jù)傳輸線連接至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊I。
[0033]至此，本實(shí)施例發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)介紹完畢。
[0034]在本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例中，還提供了一種利用上述測試系統(tǒng)進(jìn)行發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試的方法，該方法包括以下步驟:
[0035]步驟A:按圖1所示結(jié)構(gòu)示意圖搭建本發(fā)明所述的測試系統(tǒng)并調(diào)節(jié)光路，使得發(fā)光二極管3發(fā)射的光可以被數(shù)據(jù)采集模塊4中的高靈敏光電探測器采集；
[0036]步驟B:設(shè)置計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊輸出指令，波形設(shè)置為矩形波形，脈沖強(qiáng)度為13.0V,脈沖頻率為33Hz，脈沖寬度為16μ s ;
[0037]步驟C:脈沖電壓產(chǎn)生模塊接收脈沖電壓輸出指令并輸出相應(yīng)脈沖電壓，脈沖電壓加載到發(fā)光二極管同時(shí)被采樣示波器采集記錄作為校準(zhǔn)曲線；
[0038]步驟D:發(fā)光二極管受脈沖電壓驅(qū)動發(fā)光；
[0039]步驟E:光電倍增管采集發(fā)光二極管發(fā)射出的光信號，轉(zhuǎn)換為電信號后輸入到采樣示波器；同時(shí)，采樣示波器采集采樣電阻兩端分壓；采樣示波器將采集到的光信號響應(yīng)數(shù)據(jù)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)輸入到計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊；
[0040]步驟F:計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊對光響應(yīng)采樣示波器及電響應(yīng)采樣示波器輸出數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)記錄并處理分析，得到發(fā)光二極管的光響應(yīng)及電響應(yīng)特性。
[0041]圖4為利用圖1所示發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試系統(tǒng)進(jìn)行測試獲得的發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)曲線。由圖4中曲線可分別得出本實(shí)驗(yàn)中OLED器件的光響應(yīng)時(shí)間特性、光強(qiáng)度變化規(guī)律、電響應(yīng)時(shí)間特性、電流的定量數(shù)值等響應(yīng)特性。
[0042]至此，本實(shí)施例發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試方法介紹完畢。
[0043]至此，已經(jīng)結(jié)合附圖對本發(fā)明兩個(gè)實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)描述。依據(jù)以上描述，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)對本發(fā)明發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及測試方法有了清楚的認(rèn)識。
[0044]此外，上述對各元件和方法的定義并不僅限于實(shí)施例中提到的各種具體結(jié)構(gòu)、形狀或方式，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可對其進(jìn)行簡單地更改或替換；例如:
[0045](I)采樣電阻采用的是小電阻，其阻值可以介于10 Ω?100 Ω之間，而不局限于上述實(shí)施例中的50 Ω ；
[0046](2)發(fā)光二級管的波長介于380nm?700nm之間，相應(yīng)的光電探測器的響應(yīng)波長介于350nm?750nm之間，而不限于上述實(shí)施例中的相關(guān)內(nèi)容；
[0047](3)在計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊向脈沖電壓產(chǎn)生模塊輸出指令中的脈沖電壓參數(shù)，例如:脈沖強(qiáng)度和脈沖頻率等，均可以根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整，而不限于上述實(shí)施例中所提到的數(shù)值。
[0048]綜上所述，本發(fā)明發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)及測試方法不僅能夠?qū)崿F(xiàn)脈沖電壓下發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)的同時(shí)快速測定，而且能夠輕松實(shí)現(xiàn)不同脈沖電壓信號下發(fā)光二極管光響應(yīng)及電響應(yīng)的自動化檢測，在光電探測領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。
[0049]以上所述的具體實(shí)施例，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已，并不用于限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種發(fā)光二極管響應(yīng)特性的測試系統(tǒng)，其特征在于，包括: 計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)，用于下發(fā)脈沖電壓參數(shù)，并對接收到的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析； 脈沖電壓產(chǎn)生模塊(2)，連接至所述計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)，用于依照所述計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)下發(fā)的脈沖電壓參數(shù)，產(chǎn)生脈沖電壓，并將該脈沖電壓加載至待測試的發(fā)光二極管(3);以及 數(shù)據(jù)采集模塊(4)，用于采集待測試的發(fā)光二極管(3)的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)，并將該光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)上傳至所述計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)； 其中，待測試的發(fā)光二極管(3)，連接至所述脈沖電壓產(chǎn)生模塊(2)，其在所述脈沖電壓產(chǎn)生模塊(2)產(chǎn)生的脈沖電壓的驅(qū)動下發(fā)光。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集模塊(4)包括: 采樣電阻，與所述發(fā)光二極管(3)串聯(lián)，其一端電性連接至發(fā)光二極管的輸出端，另一端接地； 光電探測器，其響應(yīng)波長與發(fā)光二極管發(fā)射光波長相匹配，其光學(xué)探頭朝向所述發(fā)光二極管(3)的出光側(cè)；以及 米樣不波器，其時(shí)鐘端口與所述脈沖電壓產(chǎn)生模塊(2)的時(shí)鐘端口相連接，其第一輸入端與所述光電探測器的信號輸出端相連接，其第二輸入端連接至所述發(fā)光二極管與采樣電阻之間的電路節(jié)點(diǎn)，其信號輸出端與計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)相連接，用于實(shí)現(xiàn)對第一輸入端和第二輸入端輸出信號的采樣，并將采樣產(chǎn)生的數(shù)據(jù)傳送至計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述的采樣電阻為10Ω?100Ω的定值電阻。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)光二極管的發(fā)射光波長為380nm?700nm ;所述光電探測器為響應(yīng)波長為350nm?750nm的光電倍增管。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述采樣示波器為單線示波器加轉(zhuǎn)換開關(guān)、雙線/多線示波器及雙蹤/多蹤示波器中的任意一種； 該采樣示波器通過USB數(shù)據(jù)傳輸線連接至所述計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)，以將待測試的發(fā)光二極管(3)的光響應(yīng)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)上傳至所述計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述脈沖電壓產(chǎn)生模塊(2)由能夠產(chǎn)生可調(diào)脈沖電壓的電脈沖產(chǎn)生器組成； 該電脈沖產(chǎn)生器所產(chǎn)生的脈沖電壓的強(qiáng)度、頻率、波形及脈寬由所述計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)下發(fā)的脈沖電壓參數(shù)決定。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)通過USB數(shù)據(jù)傳輸線連接至所述電脈沖產(chǎn)生器，以下發(fā)所述的脈沖電壓參數(shù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)光二極管為無機(jī)電致發(fā)光二極管LED或有機(jī)電致發(fā)光二極管OLED。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)光二極管為有機(jī)電致發(fā)光二極管 OLED，其組成為依次沉積的 IT0/Mo03/NPB/Alq3/BCP/Alq3/LiF/Al ； 其中，ITO為導(dǎo)電玻璃，MoO3為空穴注入層，NPB為空穴傳輸層，Btt鄰NPB的Alq3為發(fā)光層，BCP為空穴阻擋層，Btt鄰LiF的Alq3的為電子傳輸層，LiF為電子注入層，Al為陰極。
10.一種利用權(quán)利要求2至5中任一項(xiàng)所述測試系統(tǒng)進(jìn)行發(fā)光二極管響應(yīng)特性測試的方法，其特征在于，包括: 步驟A:搭建測試系統(tǒng)并調(diào)節(jié)光路，使得待測試發(fā)光二極管(3)發(fā)射的光可以被數(shù)據(jù)采集模塊(4)中的光電探測器采集； 步驟B:設(shè)置計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)輸出指令，調(diào)制脈沖電壓產(chǎn)生模塊(2)產(chǎn)生具有一定波形、頻率、強(qiáng)度、脈寬或連續(xù)變化的脈沖電壓； 步驟C:脈沖電壓產(chǎn)生模塊⑵接收計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊⑴的脈沖電壓輸出調(diào)制指令，并按計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)的指令輸出相應(yīng)脈沖電壓，輸出的脈沖電壓加載到發(fā)光二極管(3)，同時(shí)脈沖電壓的時(shí)鐘信息被數(shù)據(jù)采集模塊(4)中的采樣示波器采集記錄作為校準(zhǔn)曲線；步驟D:發(fā)光二極管(3)受脈沖電壓產(chǎn)生模塊(2)輸出的脈沖電壓驅(qū)動發(fā)光，并使電路中產(chǎn)生具有一定波形的電流； 步驟E:數(shù)據(jù)采集模塊(4)中的光電探測器采集發(fā)光二極管(3)發(fā)射出光信號，得到所述發(fā)光二極管的光信號響應(yīng)數(shù)據(jù)，并輸入到采樣示波器；同時(shí)，采樣示波器采集采樣電阻兩端分壓，得到所述發(fā)光二極管的電響應(yīng)數(shù)據(jù)；采樣示波器將采集到的光信號響應(yīng)數(shù)據(jù)和電響應(yīng)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)輸入到計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I);以及 步驟F:計(jì)算機(jī)調(diào)制模塊(I)對應(yīng)采樣示波器的輸出數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)記錄并處理分析，得到發(fā)光二極管(3)的光響應(yīng)及電響應(yīng)特性。
【文檔編號】G01R31/26GK104181450SQ201410443019
【公開日】2014年12月3日 申請日期:2014年9月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月2日
【發(fā)明者】牛立濤, 關(guān)敏, 楚新波, 李弋洋, 曾一平 申請人:中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所