一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置和方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置和方法。采用的技術(shù)方案是裝置由測高裝置、底座和平臺構(gòu)成，測高裝置上設(shè)有手柄、測頭和控制裝置，平臺安裝在底座上，平臺上設(shè)有導(dǎo)入孔。方法如下：將環(huán)狀平臺置于底座上，將待測飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體Ⅰ插入平臺上的導(dǎo)入孔內(nèi)，待測飛機(jī)下位鎖圓柱體Ⅱ的下端面與平臺的工作面緊密配合；調(diào)整測高裝置上測頭的高度，使之與平臺的工作面接觸，通過控制裝置將此高度設(shè)置為“0”；垂直上移，測量下位鎖上端的固定孔的最高點(diǎn)和最低點(diǎn)的高度值，得到固定孔軸線的高度值。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，測量準(zhǔn)確。
【專利說明】一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置和方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明主要涉及一種應(yīng)用于對飛機(jī)下位鎖固定孔軸線與后端小平面距離的檢測裝置和方法。

【背景技術(shù)】
[0002]飛機(jī)下位鎖為飛機(jī)上的一個(gè)重要部件，如圖1所示為一種飛機(jī)下位鎖，圓柱形主體(4-1)的下端依次設(shè)有圓柱體III (4-5)和圓柱體I (4-2)，上端為設(shè)有固定孔(4-3)的圓柱體II (4-4)。在飛機(jī)下位鎖設(shè)計(jì)中，為了保證飛機(jī)下位鎖的安裝質(zhì)量，保證固定孔軸線與后端小平面距離是關(guān)鍵。距離過大無法安裝，過小產(chǎn)生縫隙，影響安全性。因此固定孔軸線與后端小平面距離是否符合要求是檢測產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。固定孔軸線與后端小平面距離也就是固定孔軸線與圓柱體III (4-5)和圓柱體I (4-2)連接面之間的距離?，F(xiàn)有的方法是通過手扶將飛機(jī)下位鎖立住，然后手工操作測量固定孔軸線與后端小平面的距離，存在的問題是:眾所周知，通常圓柱體I (4-2)的直徑約為Φ40πιπι，構(gòu)成的后端小平面端面較小、長度為60mm且飛機(jī)下位鎖的重量較重，因此飛機(jī)下位鎖站立不穩(wěn)，定位不準(zhǔn)造成測量不準(zhǔn)；而且構(gòu)成主體(4-1)、圓柱體I (4-2)、圓柱體II (4-4)和圓柱體III (4-5)的直徑不等，因此固定孔軸線和后端小平面所處的兩個(gè)平面難以引出，造成測量不準(zhǔn)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決以上問題，本發(fā)明提供一種結(jié)構(gòu)簡單，操作方便，測量準(zhǔn)確的檢測飛機(jī)下位鎖的裝置。
[0004]本發(fā)明的另一目的是提供一種通過上述的裝置準(zhǔn)確測量飛機(jī)下位鎖固定孔軸線與后端小平面距離的方法。
[0005]本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，由測高裝置、底座和平臺構(gòu)成，測高裝置上設(shè)有手柄、測頭和控制裝置，平臺安裝在底座上，平臺上設(shè)有導(dǎo)入孔。
[0006]上述的一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，所述的平臺為環(huán)狀。
[0007]上述的一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，平臺的高度大于待檢測飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體I的高度；平臺上導(dǎo)入孔的孔徑小于圓柱體III的直徑且大于圓柱體I的直徑，平臺上、下平面的平行度為0.005mm，平臺的工作面的平面度為0.005mm,表面粗糙度Ra值為
0.4 μ m0
[0008]上述的一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，平臺的工作面硬度為60HRC，線膨脹系數(shù)小于±0.3Χ1(Γ6μπι。
[0009]一種檢測飛機(jī)下位鎖的方法，利用上述的裝置，方法如下:
[0010]I)將環(huán)狀平臺置于底座上，將待測飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體I插入平臺上的導(dǎo)入孔內(nèi)，待測飛機(jī)下位鎖圓柱體III的下端面與平臺的工作面緊密配合；
[0011]2)調(diào)整測高裝置上測頭的高度，使之與平臺的工作面接觸，通過控制裝置將此高度設(shè)置為“O”；
[0012]3)通過手柄帶動(dòng)測頭垂直上移，測量設(shè)在待測飛機(jī)下位鎖上端的固定孔的最高點(diǎn)和最低點(diǎn)的高度值，計(jì)算得到固定孔軸線的高度值；
[0013]4)將固定孔軸線的高度值與設(shè)計(jì)值相比較，高度值在“設(shè)計(jì)值±0.5mm”范圍內(nèi)，即為合格產(chǎn)品。
[0014]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明由于設(shè)置了環(huán)狀平臺，測量時(shí)，將飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體I插入導(dǎo)入孔中，使得圓柱體III的下端面坐在平臺上，由圓柱體I和圓柱體III之間的平面構(gòu)成的飛機(jī)下位鎖后端小平面恰好與環(huán)狀平臺上的工作面緊密配合。因此利用環(huán)狀平臺的工作面將下位鎖后端小平面的標(biāo)準(zhǔn)平面引出，作為測量基準(zhǔn)面。通過測頭采用接觸測量原理，即可準(zhǔn)確測量。
[0015]本發(fā)明即可以將待測下位鎖穩(wěn)定裝夾在平臺上，同時(shí)又可以將被測平面引出，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是一種飛機(jī)下位鎖的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖2是本發(fā)明檢測飛機(jī)下位鎖的裝置結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0018]實(shí)施例1 一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置
[0019]如圖2所示，一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，由測高裝置(I)、底座(2)和環(huán)狀平臺
(3)構(gòu)成。
[0020]測高裝置⑴上設(shè)有手柄(1-1)、測頭(1-2)和控制裝置(1-3)。
[0021]環(huán)狀平臺(3)安裝在底座(2)上，環(huán)狀平臺(3)上設(shè)有導(dǎo)入孔(3-1)。
[0022]環(huán)狀平臺(3)的高度大于待檢測飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體I (4-2)的高度；平臺
(3)上導(dǎo)入孔(3-1)的孔徑小于圓柱體III (4-5)的直徑且大于圓柱體I (4-2)的直徑，環(huán)狀平臺上、下平面的平行度為0.005mm，平臺的工作面的平面度為0.005mm，表面粗糙度Ra值為 0.4 μ m。
[0023]由于下位鎖專用環(huán)狀平臺的精度較高，所以在選擇材料時(shí)應(yīng)考慮表面硬度、線膨脹系數(shù)等因素，避免變形及測頭劃傷表面而影響測量精度。為避免測量過程中由于測力影響力下位鎖專用環(huán)狀平臺表面參數(shù)，環(huán)狀平臺表面硬度應(yīng)達(dá)到60HRC，線膨脹系數(shù)小于±0.3 X Kr6 μ m，為此采用58%鎳鋼材料。
[0024]在加工時(shí)，加工環(huán)境應(yīng)在(20± I) °C環(huán)境下，避免材料因熱膨脹系數(shù)影響而帶來測量結(jié)果修正的困難。
[0025]加工工藝包括:熱處理調(diào)質(zhì)，冷冰處理，線切割，數(shù)控平面磨，鉗工研磨，內(nèi)圓磨等。由于該環(huán)狀規(guī)對上下工作面幾何量參數(shù)要求較高，所以在最后精加工時(shí)，應(yīng)在(20±1)°C環(huán)境下，用高精度的三坐標(biāo)測量機(jī)和精密測長儀、粗糙度測量儀對厚度、上下工作面平行度、上表面平面度、上表面粗糙度進(jìn)行檢測，直至符合設(shè)計(jì)要求。
[0026]實(shí)施例2 —種檢測飛機(jī)下位鎖的方法
[0027]如圖1所示為一種飛機(jī)下位鎖，圓柱形主體(4-1)的下端依次設(shè)有圓柱體III (4-5)和圓柱體I (4-2)，上端為設(shè)有固定孔(4-3)的圓柱體II (4-4)。主體(4-1)的直徑為120mm;圓柱體I (4-2)的直徑為Φ40mm,長度為60mm。在設(shè)計(jì)時(shí),該下位鎖固定孔軸線與后端小平面(5)之間的距離為H = 304.8mm。
[0028]本實(shí)施例以檢測如圖1所示的飛機(jī)下位鎖為例，進(jìn)行說明。
[0029]為此，設(shè)計(jì)環(huán)狀平臺的具體尺寸為:環(huán)狀平臺外徑Φ200πιπι，內(nèi)徑Φ42πιπι，其公差均為±0.0lmm,環(huán)狀平臺的厚度應(yīng)大于下位鎖圓柱體I的高度,設(shè)計(jì)厚度為70mm,公差為±0.005mm,上、下工作面平行度0.005mm,由于上表面將作為測量的基準(zhǔn)面，上表面平面度設(shè)計(jì)為0.005mm,表面粗糙度Ra值為0.4 μ m。
[0030]測高裝置采用Mahr817型數(shù)字測高儀。
[0031]檢測方法如下:
[0032]I)將環(huán)狀平臺(3)置于底座(2)上，將待測飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體I插入平臺
(3)上的導(dǎo)入孔(3-1)內(nèi)，待測飛機(jī)下位鎖圓柱體III的下端面與平臺(3)的工作面緊密配合；
[0033]2)調(diào)整Mahr817型數(shù)字測高儀的測頭(1_2)高度，使之與環(huán)狀平臺(3)的工作面接觸，通過控制裝置(1-3)將此高度設(shè)置為“0”，即將此高度作為被測參數(shù)的基準(zhǔn)面；
[0034]3)通過手柄(1-1)帶動(dòng)測頭(1-2)垂直上移，利用Mahr817數(shù)字測高儀的孔軸線測量功能，利用測高儀的測頭找到固定孔的最高點(diǎn)和最低點(diǎn)，測量高度值，計(jì)算得到固定孔軸線的高度值；
[0035]4)將固定孔軸線的高度值與設(shè)計(jì)值相比較，高度值在“設(shè)計(jì)值±0.5mm”范圍內(nèi)，即為合格產(chǎn)品。
【權(quán)利要求】
1.一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，其特征在于:由測高裝置(I)、底座(2)和平臺(3)構(gòu)成，測高裝置(I)上設(shè)有手柄(1-1)、測頭(1-2)和控制裝置(1-3)，平臺(3)安裝在底座(2)上，平臺(3)上設(shè)有導(dǎo)入孔(3-1)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，其特征在于:所述的平臺(3)為環(huán)狀。
3.如權(quán)利要求2所述的一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，其特征在于:平臺(3)的高度大于待檢測飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體I的高度；平臺(3)上導(dǎo)入孔(3-1)的孔徑小于圓柱體III的直徑且大于圓柱體I的直徑，平臺(3)上下平面的平行度為0.005mm，平臺工作面的平面度為0.005mm,表面粗糙度Ra值為0.4 μ m。
4.如權(quán)利要求3所述的一種檢測飛機(jī)下位鎖的裝置，其特征在于:平臺的工作面硬度為60HRC，線膨脹系數(shù)小于±0.3X10_Vm。
5.一種檢測飛機(jī)下位鎖的方法，其特征在于利用權(quán)利要求1-4任一所述的裝置，方法如下: 1)將環(huán)狀平臺(3)置于底座(2)上，將待測飛機(jī)下位鎖下端的圓柱體I插入平臺(3)上的導(dǎo)入孔(3-1)內(nèi)，待測飛機(jī)下位鎖圓柱體III的下端面與平臺(3)的工作面緊密配合； 2)調(diào)整測高裝置(I)上測頭(1-2)的高度，使之與平臺(3)的工作面接觸，通過控制裝置(1-3)將此高度設(shè)置為“O”； 3)通過手柄(1-1)帶動(dòng)測頭(1-2)垂直上移，測量設(shè)在待測飛機(jī)下位鎖上端的固定孔的最高點(diǎn)和最低點(diǎn)的高度值，計(jì)算得到固定孔軸線的高度值； 4)將固定孔軸線的高度值與設(shè)計(jì)值相比較，高度值在“設(shè)計(jì)值±0.5mm”范圍內(nèi)，即為合格產(chǎn)品。
【文檔編號】G01B21/16GK104197885SQ201410471068
【公開日】2014年12月10日 申請日期:2014年9月16日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月16日
【發(fā)明者】關(guān)月, 陳艷紅, 孫士祥, 劉東梅 申請人:沈陽飛機(jī)工業(yè)（集團(tuán)）有限公司