二線測試探針裝置及其應(yīng)用方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種二線測試探針裝置包括牽引機(jī)構(gòu)、主體固定座、測試探針、光電傳感器；主體固定座能夠在牽引機(jī)構(gòu)的帶動(dòng)下運(yùn)動(dòng)；測試探針包括彈性支架及設(shè)置在彈性支架上的探頭，彈性支架上設(shè)有凸出的遮光塊；光電傳感器靠近測試探針的一側(cè)開設(shè)有凹口，光電傳感器具有由凹口的一側(cè)發(fā)射向凹口的另一側(cè)的對射光；其中，遮光塊能夠伸入凹口并遮擋對射光，彈性支架在測試時(shí)產(chǎn)生變形，以使遮光塊所遮擋的對射光的光量的產(chǎn)生變化，并通過光電傳感器產(chǎn)生變化的輸出電壓，牽引機(jī)構(gòu)根據(jù)輸出電壓的值控制測試探針施加在印刷電路板上的壓力。上述二線測試探針裝置具有能夠有效控制測試探針與印刷電路板之間接觸力的優(yōu)點(diǎn)。同時(shí)還提供了二線測試探針裝置應(yīng)用方法。
【專利說明】二線測試探針裝置及其應(yīng)用方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及印制電路板(PCB)測試裝置，特別是涉及一種二線測試探針裝置及其應(yīng)用方法。

【背景技術(shù)】
[0002]探針測試裝置一般用于對印刷電路板(PCB)進(jìn)行檢測，檢測時(shí)，需要用測試探針與電路板接觸。按照測試方法的不同有二線和四線兩種測試探針裝置。二線測試探針裝置用于測試阻值精度要求不高的場合，而四線測試探針裝置則用于測試阻值要求高的低阻測試場合。
[0003]傳統(tǒng)的二線測試探針裝置在測試時(shí)，探針通常以每秒10?50次的速度下針和抬針以接觸不同測試點(diǎn)。為達(dá)到可靠的測試的要求，探針需牢固扎到測試板上。同時(shí)也要保證探針與待測印刷電路板的接觸力合適，避免印刷電路板表面被扎花，這就要求其彈簧支架需要有合適的剛度及測試過程中振動(dòng)小。但是，由于運(yùn)動(dòng)速度快，測試探針裝置施加在印刷電路板上的壓力很難控制，測試探針與印刷電路板接觸后接觸力過大，導(dǎo)致印刷電路板有刮痕或者凹痕，致使印刷電路板報(bào)廢。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]基于此，有必要提供一種能夠有效控制測試探針與印刷電路板之間接觸力的二線測試探針裝置及其應(yīng)用方法。
[0005]一種二線測試探針裝置，用于對印刷電路板進(jìn)行測試，包括:
[0006]牽引機(jī)構(gòu)；
[0007]主體固定座，固定于所述牽引機(jī)構(gòu)上,所述主體固定座能夠在牽引機(jī)構(gòu)的帶動(dòng)下運(yùn)動(dòng)；
[0008]測試探針，包括固定于所述主體固定座上的彈性支架及設(shè)置在彈性支架上的探頭，所述彈性支架上設(shè)有凸出的遮光塊；
[0009]光電傳感器，設(shè)置于所述主體固定座上，并與所述牽引機(jī)構(gòu)通信連接，所述光電傳感器靠近所述測試探針的一側(cè)開設(shè)有凹口，所述光電傳感器具有由所述凹口的一側(cè)發(fā)射向所述凹口的另一側(cè)的對射光，所述光電傳感器用于實(shí)時(shí)測量所接收到的所述對射光的光量，并產(chǎn)生隨所述對射光的光量變化的輸出電壓；
[0010]其中，所述遮光塊能夠伸入所述凹口并遮擋所述對射光，所述彈性支架在測試時(shí)產(chǎn)生變形，以使所述遮光塊所遮擋的所述對射光的光量的產(chǎn)生變化，并通過光電傳感器產(chǎn)生變化的輸出電壓，所述牽引機(jī)構(gòu)根據(jù)所述輸出電壓的值控制所述測試探針施加在所述印刷電路板上的壓力。
[0011]在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括支架固定座，所述支架固定座設(shè)于所述主體固定座的一端，所述彈性支架固定于所述支架固定座上。
[0012]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述支架固定座還包括限位塊，所述限位塊與所述彈性支架遠(yuǎn)離所述主體固定座的端部相接觸。
[0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中，還包括傳感器調(diào)整座，所述傳感器調(diào)整座可滑動(dòng)地設(shè)置于所述主體固定座上，所述光電傳感器固定于所述傳感器調(diào)整座上。
[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述主體固定座上開設(shè)有卡槽；所述傳感器調(diào)整座上開設(shè)有第一螺孔；所述二線測試探針裝置還包括調(diào)節(jié)螺釘，所述調(diào)節(jié)螺釘?shù)穆菝笨ǔ钟谒隹ú蹆?nèi)，且所述調(diào)節(jié)螺釘與所述第一螺孔相螺合，以使所述調(diào)節(jié)螺釘與所述傳感器調(diào)整座共同形成螺紋副結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)動(dòng)所述調(diào)節(jié)螺釘，可調(diào)節(jié)所述傳感器調(diào)整座相對所述主體固定座的位置。
[0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述傳感器調(diào)整座上開設(shè)有條形孔，所述主體固定座上開設(shè)有第二螺孔，所述二線測試探針裝置還包括固定螺釘，所述固定螺釘穿設(shè)于所述條形孔內(nèi)，并與所述第二螺孔配合，且所述固定螺釘在所述條形孔內(nèi)能夠移動(dòng)，以使傳感器調(diào)整座可滑動(dòng)地設(shè)置于所述主體固定座上。
[0016]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述彈性支架由塑料制成。
[0017]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述探頭包括連接臂及設(shè)置于所述連接臂一端上的接觸針頭，所述連接臂設(shè)于所述彈性支架上。
[0018]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述接觸針頭為刀片狀結(jié)構(gòu)或針形結(jié)構(gòu)。
[0019]一種二線測試探針裝置的應(yīng)用方法，包括以下步驟:
[0020]提供兩個(gè)上述二線測試探針裝置；
[0021]分別將兩個(gè)所述二線測試探針裝置的測試探針扎在校正板任意一聯(lián)通線路的兩端的焊盤上；
[0022]其中一個(gè)所述二線測試探針裝置保持不動(dòng)，另一個(gè)所述二線測試探針裝置移動(dòng)以調(diào)整其測試探針施加于校正板上的接觸力；
[0023]實(shí)時(shí)獲取所述二線測試探針裝置的位移量及所述光電傳感器的輸出電壓，以將所述接觸力與所述輸出電壓進(jìn)行關(guān)聯(lián)；
[0024]根據(jù)所述接觸力與所述輸出電壓間的關(guān)系對所述二線測試探針裝置進(jìn)行調(diào)節(jié)。
[0025]上述二線測試探針裝置在測試時(shí)，測試探針施加壓力于印刷電路板上，彈性支架會(huì)產(chǎn)生變形，以使遮光塊所遮擋的對射光的光量的產(chǎn)生變化，并通過光電傳感器產(chǎn)生變化的輸出電壓，牽引機(jī)構(gòu)根據(jù)輸出電壓的值控制測試探針施加在印刷電路板上的壓力，實(shí)現(xiàn)了對測試探針與印刷電路板之間接觸力的控制，避免印刷電路板表面被扎花，有效保護(hù)了印刷電路板。并且，這個(gè)控制過程實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化控制，節(jié)省了人力。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0026]圖1為一實(shí)施例中二線測試探針裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖2為圖1所示二線測試探針裝置的立體分解圖；
[0028]圖3為圖1所示二線測試探針裝置中測試探針的具體結(jié)構(gòu)圖；
[0029]圖4為另一實(shí)施例的測試探針的具體結(jié)構(gòu)圖；
[0030]圖5為一實(shí)施例中二線測試探針裝置的應(yīng)用方法的流程圖；
[0031]圖6為圖5所示二線測試探針裝置的應(yīng)用方法的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0032]為了便于理解本發(fā)明，下面將參照相關(guān)附圖對本發(fā)明進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本發(fā)明的較佳實(shí)施方式。但是，本發(fā)明可以以許多不同的形式來實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施方式。相反地，提供這些實(shí)施方式的目的是使對本發(fā)明的公開內(nèi)容理解的更加透徹全面。
[0033]需要說明的是，當(dāng)元件被稱為“固定于”另一個(gè)元件，它可以直接在另一個(gè)元件上或者也可以存在居中的元件。當(dāng)一個(gè)元件被認(rèn)為是“連接”另一個(gè)元件，它可以是直接連接到另一個(gè)元件或者可能同時(shí)存在居中元件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的，并不表示是唯一的實(shí)施方式。
[0034]除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本發(fā)明的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施方式的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。
[0035]請參閱圖1，一實(shí)施例中的二線測試探針裝置10，用于對印刷電路板(圖未示)進(jìn)行測試。二線測試探針裝置10包括牽引機(jī)構(gòu)(圖未示)、主體固定座100、測試探針200及光電傳感器300。
[0036]主體固定座100固定于牽引機(jī)構(gòu)上，主體固定座100能夠在牽引機(jī)構(gòu)的帶動(dòng)下運(yùn)動(dòng)。
[0037]請一并參閱圖2，測試探針200包括固定于主體固定座100上的彈性支架210及設(shè)置在彈性支架210上的探頭230。彈性支架210由塑料制成，具備了一定的彈性。彈性支架210上設(shè)有凸出的遮光塊211。
[0038]光電傳感器300設(shè)置于主體固定座100上，并與牽引機(jī)構(gòu)通信連接。光電傳感器300靠近測試探針200的一側(cè)開設(shè)有凹口 310，光電傳感器300具有由凹口 310的一側(cè)發(fā)射向凹口 310的另一側(cè)的對射光。光電傳感器300實(shí)時(shí)接收對射光的光量，當(dāng)光電傳感器300所接收到的光量產(chǎn)生變化時(shí)，光電傳感器300的輸出電壓也相應(yīng)的會(huì)產(chǎn)生變化。具體的，光電傳感器300的輸出信號為模擬電壓信號，其與所接收到的對射光的光量成線性變化關(guān)系O
[0039]遮光塊211能夠伸入凹口 310并遮擋對射光。在對印刷電路板進(jìn)行測試時(shí)，測試探針200施加壓力于印刷電路板上，彈性支架210會(huì)產(chǎn)生變形，以使遮光塊211所遮擋的對射光的光量的產(chǎn)生變化，并通過光電傳感器300產(chǎn)生變化的輸出電壓。牽引機(jī)構(gòu)根據(jù)輸出電壓的值控制測試探針200施加在印刷電路板上的壓力。
[0040]具體的，由于測試探針200對印刷電路板施加壓力，會(huì)帶來彈性支架210的形變，而彈性支架210的形變會(huì)帶來遮光塊211在凹口 310中的位移，則對測試探針200與印刷電路板之間接觸力的控制可轉(zhuǎn)換成對遮光塊211位移量的控制。并且，由于遮光塊211的位移會(huì)帶來光電傳感器300接收到的光量的變化，進(jìn)而改變光電傳感器300的輸出電壓。外部軟件對光電傳感器300的輸出電壓進(jìn)行分析，當(dāng)輸出電壓的變化超過閾值時(shí)，即說明測試探針200施加于印刷電路板上的壓力足夠大，牽引機(jī)構(gòu)即刻停止運(yùn)動(dòng)，以控制測試探針200與印刷電路板之間接觸力。由于光電傳感器300實(shí)時(shí)對對射光的光量進(jìn)行監(jiān)測，進(jìn)而可對測試探針200與印刷電路板之間接觸力進(jìn)行實(shí)時(shí)控制，保證了接觸力大小的精確度。
[0041]二線測試探針裝置10還可包括支架固定座400。支架固定座400設(shè)于主體固定座100的一端，彈性支架210固定于支架固定座400上。
[0042]支架固定座400還包括限位塊410，限位塊410與彈性支架210遠(yuǎn)離主體固定座100的端部相接觸。限位塊410與彈性支架210的端部相接觸，使彈性支架210產(chǎn)生了一定的預(yù)變形，當(dāng)彈性支架210由于高速運(yùn)動(dòng)而發(fā)生振動(dòng)時(shí)，由于限位塊410的存在，彈性支架210產(chǎn)生的振動(dòng)很快就能被抑制，以減小測試時(shí)測試探針200所發(fā)生的振動(dòng)，提高了測試的精確度。
[0043]可以理解，在其它實(shí)施例中，彈性支架210直接固定于主體固定座100上，此時(shí)，支架固定座400可以省略。
[0044]由于在二線測試探針裝置10在裝配或使用過程中有可能出現(xiàn)誤差，從而使光電傳感器300有可能偏離電壓原點(diǎn)。為了減小誤差、使測試更加準(zhǔn)確，二線測試探針裝置10還可包括傳感器調(diào)整座500。傳感器調(diào)整座500可滑動(dòng)地設(shè)置于主體固定座100上。光電傳感器300固定于傳感器調(diào)整座500上。通過調(diào)節(jié)傳感器調(diào)整座500在主體固定座100上的位置，可調(diào)節(jié)光電傳感器300與彈性支架210之間的距離，進(jìn)而可以對光電傳感器300的電壓原點(diǎn)的調(diào)節(jié)。
[0045]主體固定座100上開設(shè)有卡槽120。傳感器調(diào)整座500上開設(shè)有第一螺孔(圖未示)。二線測試探針裝置10還包括調(diào)節(jié)螺釘600，調(diào)節(jié)螺釘600的螺帽卡持于卡槽120內(nèi)，且調(diào)節(jié)螺釘600與第一螺孔相螺合，以使調(diào)節(jié)螺釘600與傳感器調(diào)整座500共同形成螺紋副結(jié)構(gòu)。轉(zhuǎn)動(dòng)調(diào)節(jié)螺釘600，可調(diào)節(jié)傳感器調(diào)整座500相對主體固定座100的位置。
[0046]傳感器調(diào)整座500上開設(shè)有條形孔510，主體固定座100上開設(shè)有第二螺孔140，二線測試探針裝置10還包括固定螺釘700，固定螺釘700穿設(shè)于條形孔510內(nèi)，并與第二螺孔140配合，且固定螺釘700在條形孔510內(nèi)能夠移動(dòng)，以使傳感器調(diào)整座500可滑動(dòng)地設(shè)置于主體固定座100上。
[0047]請一并參閱圖3，彈性支架210具體包括固定部212、第一力臂214、第二力臂216及探頭安裝部218。
[0048]第一力臂214及第二力臂216均為長條狀結(jié)構(gòu)。第一力臂214及第二力臂216的一端均設(shè)置于固定部212上。第一力臂214與第二力臂216相間隔。
[0049]探頭安裝部218設(shè)置于第一力臂214及第二力臂216遠(yuǎn)離固定部212的一端。探頭安裝部218上開設(shè)有探頭安裝槽218a，探頭安裝槽218a的延伸方向與第一力臂214的延伸方向垂直。第一力臂214、第二力臂216與固定部212及探頭安裝部218的連接處213均開設(shè)有凹槽213a。
[0050]探頭230包括連接臂232及設(shè)置于連接臂232 —端上的接觸針頭234，連接臂232卡設(shè)于探頭安裝槽218a中。具體在本實(shí)施例中，連接臂232為梯形結(jié)構(gòu)，探頭安裝槽218a也為與連接臂232相對應(yīng)的梯形結(jié)構(gòu)。通過梯形結(jié)構(gòu)的連接臂232與梯形結(jié)構(gòu)探頭安裝槽218a相卡合，使得探頭230更好的連接于彈性支架210上。
[0051]上述測試探針200中，第一力臂214、第二力臂216與固定部212及探頭安裝部218的連接處213均開設(shè)有凹槽213a，這些凹槽213a降低了彈性支架210整體的剛度，利用彈性支架210自身的柔韌性，避免了在測試過程中測試探針200與印刷電路板硬性接觸，有效保護(hù)了印刷電路板。
[0052]以第一力臂214及第二力臂216延伸的方向?yàn)楦叨确较?。以探頭安裝槽218a延伸的方向?yàn)閷挾确较颉Ｅc高度方向及寬度方向均垂直的方向?yàn)楹穸确较颉?br> [0053]具體在本實(shí)施例中，第一力臂214、第二力臂216與固定部212及探頭安裝部218的每個(gè)連接處213上均開設(shè)有兩個(gè)相對的凹槽213a。凹槽213a為U形槽，以使第一力臂214、第二力臂216與固定部212及探頭安裝部218的每個(gè)連接處213均為“工”字形結(jié)構(gòu)。
[0054]由于測試時(shí)，測試探針200運(yùn)動(dòng)速度飛快，導(dǎo)致了測試探針200的振動(dòng)不可避免，劇烈的振動(dòng)會(huì)導(dǎo)致測試探針200與印刷電路板的接觸不穩(wěn)定。測試探針200在受力后退過程中不能保證其能平行移動(dòng)。在受到反推力作用之后，測試探針200在后退移動(dòng)過程中高度會(huì)有所降低，偏移量較大，從而在測試過程中可能會(huì)出現(xiàn)扎偏的情況，嚴(yán)重影響測試探針200裝置的測試精度。
[0055]每個(gè)連接處213上均開設(shè)有兩個(gè)相對的凹槽213a，以使連接處213形成“工”字形結(jié)構(gòu)，進(jìn)一步降低了彈性支架210的剛度。第一力臂214及第二力臂216能夠有效分配彈性支架210所受的力的大小。第一力臂214及第二力臂216通過分配得到的力的大小，使每個(gè)開設(shè)有凹槽213a的連接處213產(chǎn)生相應(yīng)的變形，以彌補(bǔ)測試探針200高度的不足，保證測試探針200在后退過程中平行移動(dòng)，不會(huì)產(chǎn)生過大的傾斜角度，進(jìn)而保證了后退移動(dòng)過程中測試針能夠與接觸面保持相對靜止，測試探針200不會(huì)發(fā)生過大偏擺，保證了測試的精度。
[0056]此外，連接處213均為“工”字形結(jié)構(gòu)，相對于傳統(tǒng)的單獨(dú)開設(shè)圓弧槽的形式，其凹槽213a內(nèi)部的應(yīng)力分布更加均勻，應(yīng)力不會(huì)集中在某一條線上，而是分布在面上，更加有利于彈性支架210的使用壽命的提高。
[0057]第一力臂214及第二力臂216沿寬度方向排列。第一力臂214相對第二力臂216更靠近接觸針頭234，且第一力臂214的長度大于第二力臂216的長度。固定部212呈臺階狀結(jié)構(gòu)。固定部212包括第一臺階部212a及與第一臺階部212a相連接的第二臺階部212b。第二臺階部212b的高度高于第一臺階部212a。第一力臂214與第一臺階部212a相連接，第二力臂216與第二臺階部212b相連接。
[0058]第一力臂214及第二力臂216的長度均通過有限元計(jì)算得出。彈性支架210采用第一力臂214的長度長于第二力臂216的形式，既可保證開設(shè)有凹槽213a的連接處213容易產(chǎn)生變形，以保證測試探針200與印刷電路板之間的接觸力合適及運(yùn)行平穩(wěn)，又可保證彈性支架210能夠有效抵抗寬度方向的振動(dòng)。
[0059]第一力臂214及第二力臂216均為矩形柱狀結(jié)構(gòu)。第一力臂214包括相連接的第一桿體214a及第二桿體214b，第一桿體214a與固定部212相連接，第二桿體214b與探頭安裝部218相連接，第一桿體214a的厚度大于第二桿體214b的厚度。
[0060]第二力臂216包括相連接的第三桿體216a及第四桿體216b，第三桿體216a與固定部212相連接，第四桿體216b與探頭安裝部218相連接，第三桿體216a的厚度大于第四桿體216b的厚度。
[0061]第一力臂214及第二力臂216均采用一側(cè)比另一側(cè)厚的形式，可以有效減輕彈性支架210頭部的質(zhì)量，并且更加有利于測試探針200的抗振性，特別是寬度方向上的振動(dòng)。
[0062]可以理解，第一力臂214及第二力臂216不限于矩形柱狀結(jié)構(gòu)，還可為圓柱狀等結(jié)構(gòu)。
[0063]具體在本實(shí)施例中，接觸針頭234為刀片狀結(jié)構(gòu)。刀片狀結(jié)構(gòu)的接觸針頭234，其針尖234a的大小約為60微米以上，制造成本較低，一般用于普通的印刷電路板。
[0064]接觸針頭234的針尖234a位于彈性支架210在厚度方向的中線上，可以避免測試過程中力矩的產(chǎn)生，進(jìn)一步提高測試探針200的抗振性。
[0065]可以理解，在其它實(shí)施例中，例如附圖4所示，接觸針頭234還可為針形結(jié)構(gòu)。針形結(jié)構(gòu)的接觸針頭234，其針尖234a的大小約為20微米，制造成本較高，適用于高密度印刷電路板。
[0066]上述二線測試探針裝置10在測試時(shí)，測試探針200施加壓力于印刷電路板上，彈性支架210會(huì)產(chǎn)生變形，以使遮光塊211所遮擋的對射光的光量的產(chǎn)生變化，并通過光電傳感器300產(chǎn)生變化的輸出電壓，牽引機(jī)構(gòu)根據(jù)輸出電壓的值控制測試探針200施加在印刷電路板上的壓力，實(shí)現(xiàn)了對測試探針200與印刷電路板之間接觸力的控制，避免印刷電路板表面被扎花，有效保護(hù)了印刷電路板。并且，這個(gè)控制過程實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化控制，節(jié)省了人力。
[0067]此外，請一并參閱圖5，還提供了一種二線測試探針裝置的應(yīng)用方法，包括以下步驟:
[0068]步驟S110，提供兩個(gè)上述二線測試探針裝置。
[0069]步驟S120，分別將兩個(gè)二線測試探針裝置的測試探針扎在校正板任意一聯(lián)通線路的兩端的焊盤上。
[0070]請一并參閱圖6，分別將兩個(gè)二線測試探針裝置10的測試探針200扎在校正板60任意一聯(lián)通線路的兩端的焊盤上。校正板60為一完好的印刷電路板。
[0071]步驟S130，其中一個(gè)二線測試探針裝置保持不動(dòng)，另一個(gè)二線測試探針裝置移動(dòng)以調(diào)整其測試探針施加于校正板上的接觸力。
[0072]其中一個(gè)二線測試探針裝置10保持不動(dòng)，另一個(gè)二線測試探針裝置10移動(dòng)以調(diào)整其測試探針200施加于校正板60上的接觸力。當(dāng)兩個(gè)二線測試探針裝置10測試信號聯(lián)通的那一刻位移記為零。
[0073]步驟S140，實(shí)時(shí)獲取二線測試探針裝置的位移量及光電傳感器的輸出電壓，以將接觸力與輸出電壓進(jìn)行關(guān)聯(lián)。
[0074]每當(dāng)其中一個(gè)二線測試探針裝置10向前運(yùn)動(dòng)一段距離時(shí)，實(shí)時(shí)獲取位移量及光電傳感器300所輸出的電壓。通過上述測試可以獲得測試探針200與待測印刷電路板接觸后的變形量與光電傳感器的輸出電壓的關(guān)系，結(jié)合接觸力與變形量測試的結(jié)果，將接觸力與光電傳感器的輸出電壓進(jìn)行關(guān)聯(lián)。
[0075]步驟S150，根據(jù)接觸力與輸出電壓間的關(guān)系對二線測試探針裝置進(jìn)行調(diào)節(jié)。
[0076]將接觸力與光電傳感器300的輸出電壓進(jìn)行關(guān)聯(lián)，需要對接觸力進(jìn)行控制時(shí)，可將對接觸力的控制又轉(zhuǎn)換成對電壓信號的控制。具體工作時(shí)，可以設(shè)定一個(gè)電壓閾值，當(dāng)光電傳感器的輸出電壓變化，達(dá)到電壓閾值時(shí)，停止二線測試探針裝置10的移動(dòng)，進(jìn)而控制了測試探針200與印刷電路板間的接觸力。
[0077]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種二線測試探針裝置，用于對印刷電路板進(jìn)行測試，其特征在于，包括: 牽引機(jī)構(gòu)； 主體固定座，固定于所述牽引機(jī)構(gòu)上，所述主體固定座能夠在牽引機(jī)構(gòu)的帶動(dòng)下運(yùn)動(dòng)； 測試探針，包括固定于所述主體固定座上的彈性支架及設(shè)置在彈性支架上的探頭，所述彈性支架上設(shè)有凸出的遮光塊；及 光電傳感器，設(shè)置于所述主體固定座上，并與所述牽引機(jī)構(gòu)通信連接，所述光電傳感器靠近所述測試探針的一側(cè)開設(shè)有凹口，所述光電傳感器具有由所述凹口的一側(cè)發(fā)射向所述凹口的另一側(cè)的對射光，所述光電傳感器用于實(shí)時(shí)測量所接收到的所述對射光的光量，并產(chǎn)生隨所述對射光的光量變化的輸出電壓； 其中，所述遮光塊能夠伸入所述凹口并遮擋所述對射光，所述彈性支架在測試時(shí)產(chǎn)生變形，以使所述遮光塊所遮擋的所述對射光的光量的產(chǎn)生變化，并通過光電傳感器產(chǎn)生變化的輸出電壓，所述牽引機(jī)構(gòu)根據(jù)所述輸出電壓的值控制所述測試探針施加在所述印刷電路板上的壓力。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，還包括支架固定座，所述支架固定座設(shè)于所述主體固定座的一端，所述彈性支架固定于所述支架固定座上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述支架固定座還包括限位塊，所述限位塊與所述彈性支架遠(yuǎn)離所述主體固定座的端部相接觸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，還包括傳感器調(diào)整座，所述傳感器調(diào)整座可滑動(dòng)地設(shè)置于所述主體固定座上，所述光電傳感器固定于所述傳感器調(diào)整座上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述主體固定座上開設(shè)有卡槽；所述傳感器調(diào)整座上開設(shè)有第一螺孔；所述二線測試探針裝置還包括調(diào)節(jié)螺釘，所述調(diào)節(jié)螺釘?shù)穆菝笨ǔ钟谒隹ú蹆?nèi)，且所述調(diào)節(jié)螺釘與所述第一螺孔相螺合，以使所述調(diào)節(jié)螺釘與所述傳感器調(diào)整座共同形成螺紋副結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)動(dòng)所述調(diào)節(jié)螺釘，可調(diào)節(jié)所述傳感器調(diào)整座相對所述主體固定座的位置。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述傳感器調(diào)整座上開設(shè)有條形孔，所述主體固定座上開設(shè)有第二螺孔，所述二線測試探針裝置還包括固定螺釘，所述固定螺釘穿設(shè)于所述條形孔內(nèi)，并與所述第二螺孔配合，且所述固定螺釘在所述條形孔內(nèi)能夠移動(dòng)，以使傳感器調(diào)整座可滑動(dòng)地設(shè)置于所述主體固定座上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述彈性支架由塑料制成。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述探頭包括連接臂及設(shè)置于所述連接臂一端上的接觸針頭，所述連接臂設(shè)于所述彈性支架上。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的二線測試探針裝置，其特征在于，所述接觸針頭為刀片狀結(jié)構(gòu)或針形結(jié)構(gòu)。
10.一種二線測試探針裝置的應(yīng)用方法，其特征在于，包括以下步驟: 提供兩個(gè)權(quán)利要求1至權(quán)利要求9任意一項(xiàng)所述的二線測試探針裝置； 分別將兩個(gè)所述二線測試探針裝置的測試探針扎在校正板上任意一聯(lián)通線路的兩端的焊盤上； 其中一個(gè)所述二線測試探針裝置保持不動(dòng)，另一個(gè)所述二線測試探針裝置移動(dòng)以調(diào)整其測試探針施加于校正板上的接觸力； 實(shí)時(shí)獲取所述二線測試探針裝置的位移量及所述光電傳感器的輸出電壓，以將所述接觸力與所述輸出電壓進(jìn)行關(guān)聯(lián)； 根據(jù)所述接觸力與所述輸出電壓間的關(guān)系對所述二線測試探針裝置進(jìn)行調(diào)節(jié)。
【文檔編號】G01R31/00GK104251923SQ201410476692
【公開日】2014年12月31日 申請日期:2014年9月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月17日
【發(fā)明者】譚艷萍, 黃俊華, 陳百強(qiáng), 王星, 翟學(xué)濤, 楊朝輝, 高云峰 申請人:深圳市大族激光科技股份有限公司, 深圳市大族數(shù)控科技有限公司