一種印刷電路板的測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種印刷電路板的測(cè)試方法，包括，在對(duì)印刷電路板上電，進(jìn)入測(cè)試模式測(cè)試模式時(shí)，讀取存儲(chǔ)器中測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值;判斷測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值，獲得判斷結(jié)果；當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，判斷失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否為零；若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示上一次測(cè)試成功；若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示測(cè)試項(xiàng)目成功的數(shù)值和測(cè)試失敗的數(shù)值，以及失敗的測(cè)試項(xiàng)目編號(hào)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)PCBA的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試時(shí)，存在測(cè)試過(guò)程復(fù)雜和測(cè)試結(jié)果記錄不清晰的技術(shù)問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了能夠方便且準(zhǔn)確地對(duì)印刷電路板上的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試并準(zhǔn)確保存和顯示測(cè)試結(jié)果的技術(shù)效果。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種印刷電路板的測(cè)試方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及印刷電路板的【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種印刷電路板的測(cè)試方法。

【背景技術(shù)】
[0002]在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)流程中，需要對(duì)PCBA (組裝好電子元器件的印刷電路板)進(jìn)行軟件下載，功能測(cè)試，以保證電子產(chǎn)品的功能全部正常。
[0003]在傳統(tǒng)的測(cè)試方法中，在大量的PCBA的各個(gè)流程中均以標(biāo)簽紙的形式記錄各功能模塊是合格還是不合格，標(biāo)簽紙的粘貼對(duì)于布局緊湊的PCB板來(lái)說(shuō)找不到合適的位置夕卜，本身標(biāo)簽紙的大小有限無(wú)法記錄PCBA所有的故障，以及標(biāo)簽紙會(huì)在PCBA的流轉(zhuǎn)過(guò)程中脫落導(dǎo)致下一流程根本無(wú)法判斷PCBA的狀態(tài)，需要逐一測(cè)試進(jìn)行確認(rèn)問(wèn)題所在，這些都是采用傳統(tǒng)方法所存在的弊端。
[0004]因此，現(xiàn)有技術(shù)對(duì)PCBA的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試時(shí)，存存在測(cè)試過(guò)程復(fù)雜和測(cè)試結(jié)果記錄不清晰的技術(shù)問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本申請(qǐng)實(shí)施例通過(guò)提供一種印刷電路板的測(cè)試方法，解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)PCBA的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試時(shí)，存在測(cè)試過(guò)程復(fù)雜和測(cè)試結(jié)果記錄不清晰的技術(shù)問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了能夠方便且準(zhǔn)確地對(duì)印刷電路板上的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試并準(zhǔn)確保存和顯示測(cè)試結(jié)果的技術(shù)效果。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種印刷電路板的測(cè)試方法，包括如下內(nèi)容:
S101，在確定印刷電路板處于測(cè)試模式時(shí)，讀取存儲(chǔ)器中的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值；
S102，判斷測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否等于預(yù)設(shè)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值，獲得判斷結(jié)果；
S103，當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值等于預(yù)設(shè)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值時(shí)，判斷失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否為零；
S104，若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示上一次測(cè)試通過(guò)；
S105，若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示測(cè)試項(xiàng)目成功的數(shù)值和測(cè)試失敗的數(shù)值，以及失敗的測(cè)試項(xiàng)目編號(hào)。
[0007]進(jìn)一步地，在SlOl之前，還有:
檢測(cè)是否有對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作；
當(dāng)檢測(cè)到有對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作時(shí)，進(jìn)入印刷電路板的測(cè)試模式；
當(dāng)檢測(cè)到未對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作時(shí)，進(jìn)入印刷電路板的正常工作模式。
[0008]進(jìn)一步地，在S102之前，所述方法還包括:
統(tǒng)計(jì)已測(cè)試項(xiàng)目的個(gè)數(shù)，測(cè)試成功的測(cè)試項(xiàng)目的個(gè)數(shù)以及測(cè)試失敗的測(cè)試項(xiàng)目的個(gè)數(shù)。
[0009]進(jìn)一步地，在S102之后，所述測(cè)試印刷電路板的方法還包括:
當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，繼續(xù)對(duì)印刷電路板的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試。
[0010]進(jìn)一步地，當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，繼續(xù)對(duì)印刷電路板的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試具體為:
當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，根據(jù)當(dāng)前測(cè)試的功能模塊的測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值，判斷當(dāng)前測(cè)試的功能模塊是否已經(jīng)過(guò)測(cè)試；
當(dāng)測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值表明當(dāng)前測(cè)試的功能模塊經(jīng)過(guò)測(cè)試時(shí)，判斷是否有對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作；
當(dāng)判斷獲得有對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作時(shí)，將測(cè)試成功的數(shù)值加一，進(jìn)入對(duì)下一個(gè)功能模塊的測(cè)試；
當(dāng)判斷獲得未對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作時(shí)，將測(cè)試失敗的數(shù)值加一，并對(duì)所述當(dāng)前測(cè)試的功能模塊進(jìn)行編號(hào)并記錄；
更改當(dāng)前測(cè)試的功能模塊的測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值，使得所述當(dāng)前測(cè)試的功能模塊顯示已經(jīng)過(guò)測(cè)試。
[0011]本申請(qǐng)實(shí)施例中提供的一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果或優(yōu)點(diǎn): 由于采用了在確定印刷電路板處于測(cè)試模式時(shí)，讀取存儲(chǔ)器中側(cè)測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值，判斷測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否等于預(yù)設(shè)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值，獲得判斷結(jié)果；當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值等于預(yù)設(shè)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值時(shí)，判斷失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否為零，若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示一次測(cè)試通過(guò)；若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不為零時(shí)，通過(guò)顯示器測(cè)試項(xiàng)目成功的數(shù)值和測(cè)試失敗的數(shù)值，以及失敗的測(cè)試項(xiàng)目編號(hào)，有效解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)PCBA的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試時(shí)，存在測(cè)試過(guò)程復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了能夠方便且準(zhǔn)確的對(duì)印刷電路板上的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試的技術(shù)效果。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為本發(fā)明實(shí)施例中測(cè)試印刷電路板的流程圖；
圖2為本發(fā)明實(shí)施例中在進(jìn)入測(cè)試模式之前的準(zhǔn)備步驟的流程圖；
圖3為本發(fā)明實(shí)施例中具體的測(cè)試過(guò)程的流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0013]本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)提供一種印刷電路板的測(cè)試方法，解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)PCBA的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試時(shí)，存在測(cè)試過(guò)程復(fù)雜和測(cè)試結(jié)果記錄不清晰的技術(shù)問(wèn)題，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了能夠方便且準(zhǔn)確地對(duì)印刷電路板上的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試并準(zhǔn)確保存和顯示測(cè)試結(jié)果的技術(shù)效果。
[0014]為了解決上述存在對(duì)印刷電路板的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試時(shí)測(cè)試過(guò)程復(fù)雜的技術(shù)問(wèn)題，總體思路如下:
首先，當(dāng)在確定印刷電路板在進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，讀取存儲(chǔ)器中的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值；接著，判斷讀取的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否等于總的測(cè)試數(shù)值，從而獲得判斷結(jié)果，然后，根據(jù)判斷結(jié)果，當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值等于總的測(cè)試數(shù)值時(shí)，判斷失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否為零；若判斷獲得失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示為上一次測(cè)試通過(guò)，即整個(gè)印刷電路板已經(jīng)完成了一次測(cè)試且測(cè)試通過(guò)；而當(dāng)判斷獲得失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示測(cè)試項(xiàng)目成功的數(shù)值和失敗的數(shù)值，以及失敗的測(cè)試項(xiàng)目編號(hào)。進(jìn)而有效解決了測(cè)試過(guò)程復(fù)雜和測(cè)試結(jié)果記錄不清晰的技術(shù)問(wèn)題。
[0015]為了更好的理解上述技術(shù)方案，下面將結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖以及具體的實(shí)施方式對(duì)上述技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。
[0016]首先，對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行上電，接著，對(duì)該測(cè)試裝置進(jìn)行初始化，其中包括對(duì)該裝置各端口狀態(tài)、寄存器初始值、變量初始值等進(jìn)行初始化，初始化完成之后，確定該測(cè)試裝置進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，執(zhí)行如下步驟，如圖1所示:
S101，在確定印刷電路板處于測(cè)試模式時(shí)，讀取存儲(chǔ)器中的測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)值；具體地，是讀取EEPROM (帶電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器)中指定地址的數(shù)值。
[0017]在具體的實(shí)施方式中，在SlOl之前，該方法還包括如下內(nèi)容，如圖2所示，S201，檢測(cè)是否有對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作，獲得檢測(cè)結(jié)果，當(dāng)檢測(cè)結(jié)果表明有對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作時(shí)，執(zhí)行S202，當(dāng)檢測(cè)結(jié)果表明沒(méi)有對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作時(shí)，執(zhí)行S203 ；
S202，進(jìn)入印刷電路板的測(cè)試模塊；
S203，進(jìn)入印刷電路板的正常工作模式。
[0018]在進(jìn)入印刷電路板的測(cè)試模式時(shí)，執(zhí)行S101，接著，執(zhí)行S102，判斷測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值，獲得判斷結(jié)果。
[0019]在S102之前，該方法還包括統(tǒng)計(jì)已測(cè)試的項(xiàng)目的個(gè)數(shù)，測(cè)試成功的項(xiàng)目的個(gè)數(shù)以及測(cè)試失敗的測(cè)試項(xiàng)目的個(gè)數(shù)。具體的統(tǒng)計(jì)過(guò)程參考測(cè)試的過(guò)程。
[0020]獲得的判斷結(jié)果有兩種情況，一種是測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值，一種是測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值。其中，當(dāng)測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，繼續(xù)對(duì)該印刷電路板的功能模塊進(jìn)行測(cè)試，下面就先對(duì)測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，對(duì)印刷電路板的功能模塊進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0021]如圖3所示，S301，根據(jù)當(dāng)前測(cè)試的功能模塊的測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值，判斷當(dāng)前測(cè)試的功能模塊是否已經(jīng)過(guò)測(cè)試，在測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值表明當(dāng)前測(cè)試的功能模塊是已經(jīng)過(guò)測(cè)試時(shí)，執(zhí)行S302 ;當(dāng)測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值表明當(dāng)前測(cè)試的功能模塊未經(jīng)過(guò)測(cè)試時(shí)，執(zhí)行S203，對(duì)該功能模塊進(jìn)行測(cè)試。
[0022]S302，判斷是否有對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作，在判斷獲得有對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作時(shí)，執(zhí)行S304 ;在判斷獲得未對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作時(shí)，執(zhí)行S305
S304,將測(cè)試成功的數(shù)值加一，進(jìn)入對(duì)洗衣功能模塊的測(cè)試；
S305，將測(cè)試失敗的數(shù)值加一，并對(duì)當(dāng)前測(cè)試的功能模塊進(jìn)行編號(hào)并記錄。
[0023]無(wú)論測(cè)試成功還是測(cè)試失敗，都接著執(zhí)行S306，更改當(dāng)前測(cè)試的功能模塊的測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值，使得當(dāng)前測(cè)試功能模塊顯示已經(jīng)過(guò)測(cè)試。
[0024]在具體的實(shí)施方式中，比如，測(cè)試項(xiàng)目標(biāo)志位為I時(shí)，表明該功能模塊已經(jīng)經(jīng)過(guò)測(cè)試，則直接進(jìn)入下一功能模塊的測(cè)試，若測(cè)試標(biāo)志位不為I時(shí)，表明該功能模塊還沒(méi)有經(jīng)過(guò)測(cè)試，因此，執(zhí)行測(cè)試該功能模塊的測(cè)試代碼，針對(duì)不同功能模塊，每個(gè)功能模塊的測(cè)試代碼不一樣，在此就不一一贅述了。具體地，在檢測(cè)是否有對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作過(guò)程中，可以是檢測(cè)是否有對(duì)pass按鍵的按壓操作，若有對(duì)pass按鍵的按壓，則說(shuō)明該功能模塊測(cè)試成功，因此，對(duì)測(cè)試成功的項(xiàng)目個(gè)數(shù)加1，若有對(duì)fall按鍵的按壓，則說(shuō)明該功能模塊測(cè)試失敗，對(duì)測(cè)試失敗的項(xiàng)目個(gè)數(shù)加1，并對(duì)該測(cè)試失敗的項(xiàng)目進(jìn)行編號(hào)，并將該失敗項(xiàng)目的編號(hào)存入到失敗項(xiàng)目編號(hào)的數(shù)組中，直到完成一次測(cè)試。
[0025]在具體的實(shí)施方式中，對(duì)于不同功能模塊具有不同的測(cè)試標(biāo)志位，不是所有的功能模塊都共用一個(gè)測(cè)試標(biāo)志位，對(duì)于同一產(chǎn)品的功能是確定的，對(duì)每一個(gè)功能有一個(gè)固定的編號(hào)，因此只要在顯示此編號(hào)即可明確是哪一個(gè)功能有問(wèn)題，對(duì)于具有顯示字符內(nèi)容不受限制的高級(jí)顯示設(shè)備，可以將對(duì)應(yīng)的功能也顯示出來(lái)，而對(duì)于只有LED數(shù)碼管或者顯示內(nèi)容受限制的字符型IXD，則顯示數(shù)字代碼1、2、3等即可。
[0026]在完成一次測(cè)試之后的步驟進(jìn)行詳細(xì)描述，當(dāng)然，也是對(duì)當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，進(jìn)行詳細(xì)的描述。
[0027]因此，接著執(zhí)行S103，根據(jù)測(cè)試數(shù)值中失敗的測(cè)試項(xiàng)目的數(shù)值，判斷失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否為零，當(dāng)失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值為零時(shí)，執(zhí)行S104 ;若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不為零，執(zhí)行S105.S104，通過(guò)顯示器顯示一次通過(guò)，即顯示測(cè)試全部通過(guò)的字樣，例如pass。
[0028]S105，通過(guò)顯示器顯示測(cè)試項(xiàng)目成功的數(shù)值和測(cè)試失敗的數(shù)值，以及失敗的測(cè)試項(xiàng)目編號(hào)。
[0029]這樣，能夠直觀(guān)地顯示印刷電路板的測(cè)試結(jié)果，而無(wú)需測(cè)試員挨個(gè)貼標(biāo)簽的方式對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，節(jié)約了勞動(dòng)力，也節(jié)約了紙張，起到環(huán)保的作用。
[0030]因此，采用上述的測(cè)試印刷電路板的方法能夠應(yīng)用于具有顯示設(shè)備、微處理器、EEPROM的電子產(chǎn)品中，在采用上述的方法進(jìn)行測(cè)試代碼設(shè)計(jì)之后，使得PCBA在生產(chǎn)組裝的流程達(dá)到了無(wú)紙化的環(huán)保狀態(tài)，每一個(gè)過(guò)程對(duì)PCBA進(jìn)行上電進(jìn)入測(cè)試模式，即可觀(guān)察當(dāng)前PCBA的狀態(tài)，不會(huì)再因?yàn)闇y(cè)試員的疏忽將正常的PCBA貼上不合格的標(biāo)簽，或者將不正常的PCBA貼上合格的標(biāo)簽而導(dǎo)致不合格的PCBA流入到后面的生產(chǎn)流程，同時(shí)對(duì)于將PCB貼片工作交給外協(xié)貼片單位完成的單位，要確認(rèn)貼片單位交過(guò)來(lái)的貨是否完全測(cè)試通過(guò)，只需要對(duì)PCBA進(jìn)行上電進(jìn)入測(cè)試模式即可立馬檢查該P(yáng)CBA是否經(jīng)過(guò)測(cè)試以及是否是全部項(xiàng)目測(cè)試合格的，因此，避免了外協(xié)單位因管理疏忽等原因沒(méi)有測(cè)試PCBA或者僅僅抽測(cè)PCBA的行為。
[0031]因此，采用本發(fā)明的測(cè)試印刷電路板的方法，由于測(cè)試過(guò)程記錄無(wú)紙化，對(duì)環(huán)境也起到了很好的保護(hù)作用。
[0032]盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造性概念，則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu)選實(shí)施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。
[0033]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)
明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種印刷電路板的測(cè)試方法，其特征在于，包括如下內(nèi)容: S101，在確定印刷電路板處于測(cè)試模式時(shí)，讀取存儲(chǔ)器中的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值； S102，判斷測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否等于預(yù)設(shè)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值，獲得判斷結(jié)果； S103，當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值等于預(yù)設(shè)的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值時(shí)，判斷失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值是否為零； S104，若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示上一次測(cè)試通過(guò)； S105，若失敗的測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不為零時(shí)，通過(guò)顯示器顯示測(cè)試項(xiàng)目成功的數(shù)值和測(cè)試失敗的數(shù)值，以及失敗的測(cè)試項(xiàng)目編號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試印刷電路板的方法，其特征在于，在SlOl之前，還有: 檢測(cè)是否有對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作； 當(dāng)檢測(cè)到有對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作時(shí)，進(jìn)入印刷電路板的測(cè)試模式； 當(dāng)檢測(cè)到未對(duì)測(cè)試按鍵的按壓操作時(shí)，進(jìn)入印刷電路板的正常工作模式。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試印刷電路板的方法，其特征在于，在S102之前，所述方法還包括: 統(tǒng)計(jì)已測(cè)試項(xiàng)目的個(gè)數(shù)，測(cè)試成功的測(cè)試項(xiàng)目的個(gè)數(shù)以及測(cè)試失敗的測(cè)試項(xiàng)目的個(gè)數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試印刷電路板的方法，其特征在于，在S102之后，所述測(cè)試印刷電路板的方法還包括: 當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，繼續(xù)對(duì)印刷電路板的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試印刷電路板的方法，其特征在于，當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，繼續(xù)對(duì)印刷電路板的各功能模塊進(jìn)行測(cè)試具體包括: 當(dāng)判斷結(jié)果表明測(cè)試項(xiàng)目數(shù)值不等于預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)值時(shí)，根據(jù)當(dāng)前測(cè)試的功能模塊的測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值，判斷當(dāng)前測(cè)試的功能模塊是否已經(jīng)過(guò)測(cè)試； 當(dāng)測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值表明當(dāng)前測(cè)試的功能模塊經(jīng)過(guò)測(cè)試時(shí)，判斷是否有對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作； 當(dāng)判斷獲得有對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作時(shí)，將測(cè)試成功的數(shù)值加一，進(jìn)入對(duì)下一個(gè)功能模塊的測(cè)試； 當(dāng)判斷獲得未對(duì)測(cè)試通過(guò)按鍵的按壓操作時(shí)，將測(cè)試失敗的數(shù)值加一，并對(duì)所述當(dāng)前測(cè)試的功能模塊進(jìn)行編號(hào)并記錄； 更改當(dāng)前測(cè)試的功能模塊的測(cè)試標(biāo)志位的數(shù)值，使得所述當(dāng)前測(cè)試的功能模塊顯示已經(jīng)過(guò)測(cè)試。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK104198921SQ201410492314
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年9月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月24日
【發(fā)明者】劉紅斌, 康逸 申請(qǐng)人:四川泰鵬測(cè)控儀表科技有限公司