利用光中子透射對物體成像的方法以及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及利用光中子透射對物體成像的方法以及裝置。本發(fā)明的方法使用光中子射線透射所述物體，具有如下步驟：使光中子源工作，發(fā)射光中子射線并照射所述物體；利用探測器對來自所述光中子源的光中子射線進行接收；以及根據(jù)由所述探測器接收到的光中子射線對所述物體進行成像，所述探測器是以能夠使光中子慢化并且能夠吸收光中子的方式構(gòu)成的探測器，來自所述光中子源的光中子射線的入射方向與所述探測器的表面的法線方向所成的角度處于60度～87度的范圍。根據(jù)本發(fā)明，通過使來自光中子源的光中子射線的入射方向與探測器的表面的法線方向所成的角度θ為60度～87度的范圍，從而能夠?qū)⒎直媛视?0cm提高到2cm左右。
【專利說明】利用光中子透射對物體成像的方法以及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種透射成像技術(shù)，特別是涉及一種利用光中子透射對物體成像的方法以及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]在利用直線電子加速器產(chǎn)生的光中子源進行透射成像時，首先要解決X射線脈沖對光中子探測的干擾問題，由于光中子是X射線的伴生物，而后者的強度遠遠大于前者(約大4飛個量級)，因此，即使某個探測器對中子非常敏感而對光子又相當不敏感，X射線脈沖的信號幅度也仍會明顯超過光中子脈沖的信號幅度，此時所獲得的透射成像信息就主要來自于X射線脈沖的貢獻，而非光中子的貢獻。
[0003]因此，在透射成像時，為了消除X射線脈沖的干擾，在現(xiàn)有技術(shù)中提出了“中子慢化體+中子吸收體”的方案(例如，參照
【發(fā)明者】楊祎罡, 張勤儉, 李元景, 張智 申請人:同方威視技術(shù)股份有限公司