一種同步輻射x射線顯微ct成像樣品臺的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，包括安裝在旋轉(zhuǎn)臺上的位移臺，所述樣品臺還包括垂直于所述位移臺的表面向外延伸的延長裝置；所述延長裝置包括固定于所述位移臺的表面上的基座，用于承載樣品的支架，以及連接在所述基座和所述支架之間的支撐棒。本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，通過垂直于位移臺的表面向外延伸的延長裝置使得樣品與CCD的距離更加靈活可調(diào)，滿足對于CCD到樣品近距離掃描的要求。
【專利說明】一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺。

【背景技術(shù)】
[0002]利用現(xiàn)有的同步輻射X射線顯微CT (計(jì)算機(jī)斷層掃描)成像樣品臺進(jìn)行同步輻射X射線顯微CT成像時，通常直接將樣品固定在位移臺的表面，通過調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)臺和位移臺，確定樣品在光路上，旋轉(zhuǎn)180°并且確保在旋轉(zhuǎn)過程中樣品放置穩(wěn)固而發(fā)生不移動，然后采集圖影。根據(jù)實(shí)驗(yàn)的要求，需要選擇樣品與CCD(電荷耦合器件)的合適距離。然而，現(xiàn)有的位移臺安裝在旋轉(zhuǎn)臺上，樣品直接固定在位移臺的表面，由于位移臺上還設(shè)有兩個電極，因此使得樣品與CCD的距離無法小于電極長度，所以無法滿足一些實(shí)驗(yàn)對于CCD到樣品近距離掃描的要求。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明提供一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，使得樣品與CXD的距離更加靈活可調(diào)，滿足對于CCD到樣品近距離掃描的要求。
[0004]為解決上述問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
[0005]一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，包括安裝在旋轉(zhuǎn)臺上的位移臺，所述樣品臺還包括垂直于所述位移臺的表面向外延伸的延長裝置；所述延長裝置包括固定于所述位移臺的表面上的基座，用于承載樣品的支架，以及連接在所述基座和所述支架之間的支撐棒。
[0006]所述支架包括一端與所述支撐棒連接的插桿，所述插桿的另一端具有用于承載樣品的承載面。
[0007]所述支撐棒具有用于容納所述插桿的中心孔，以及與所述插桿的直徑相匹配的可旋縮口。
[0008]所述支架為闊面樣品支架，所述闊面樣品支架的承載面為平面，并且所述闊面樣品支架的所述承載面的直徑大于所述闊面樣品支架的所述插桿的直徑。
[0009]所述支架為半球凹面樣品支架，所述半球凹面樣品支架的承載面為凹面，并且所述半球凹面樣品支架的所述承載面的直徑等于所述半球凹面樣品支架的所述插桿的直徑。
[0010]所述支架為調(diào)整用樣品支架，所述調(diào)整用樣品支架的插桿包括至少一段彈簧。
[0011]所述調(diào)整用樣品支架的承載面為平面，并且所述調(diào)整用樣品支架的所述承載面的直徑大于所述調(diào)整用樣品支架的所述插桿的直徑。
[0012]所述調(diào)整用樣品支架的承載面為凹面，并且所述調(diào)整用樣品支架的所述承載面的直徑等于所述調(diào)整用樣品支架的所述插桿的直徑。
[0013]所述基座與所述支撐棒通過螺紋連接。
[0014]所述基座與所述位移臺通過螺紋連接。
[0015]本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，通過垂直于位移臺的表面向外延伸的延長裝置使得樣品與CCD的距離更加靈活可調(diào)，滿足對于CCD到樣品近距離掃描的要求。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的基座和支撐棒的組合狀態(tài)示意圖；
[0017]圖2是本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的基座的示意圖；
[0018]圖3是本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的支撐棒的示意圖；
[0019]圖4是本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的闊面樣品支架的不意圖；
[0020]圖5是本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的半球凹面樣品支架的示意圖；
[0021]圖6是本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺的延長裝置的調(diào)整用樣品支架的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0022]下面結(jié)合附圖給出本發(fā)明較佳實(shí)施例，以詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)方案。
[0023]本發(fā)明提供一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其包括安裝在旋轉(zhuǎn)臺上的位移臺(未示出)，以及垂直于該位移臺的表面向外延伸的延長裝置。如圖1-圖6所示，延長裝置包括基座1，支撐棒2和支架3、4、5，其中，基座I固定于位移臺的表面上，支架3、4、5用于承載樣品，支撐棒2連接在基座I和支架3、4、5之間。
[0024]圖1示出處于組合狀態(tài)的基座I和支撐棒2。如圖2所示，基座I包括用于與支撐棒2螺紋連接的螺紋孔11以及用于與位移臺螺紋連接的螺紋孔12。如圖3所示，支撐棒2具有中心孔21，用于容納支架3、4、5的插桿31、41、51，支撐棒2還具有與插桿31、41、51的直徑相匹配的可旋縮口 22，以便將插桿31、41、51鎖緊固定。支撐棒2的長度可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求進(jìn)行設(shè)置，例如在一個實(shí)施例中，支撐棒2的長度為72mm。
[0025]圖4、5分別示出可拆卸和可替換的闊面樣品支架3和半球凹面樣品支架4。
[0026]闊面樣品支架3包括一端與支撐棒2連接的插桿31，插桿31的另一端具有用于承載樣品的承載面32，該承載面32為平面，并且承載面32的直徑大于插桿31的直徑。例如在一個實(shí)施例中，承載面32的直徑為1mm,插桿31的直徑為3.9mm。插桿31的長度可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行設(shè)置，例如可為1mm和25mm兩種。
[0027]半球凹面樣品支架4包括一端與支撐棒2連接的插桿41，插桿41的另一端具有用于承載樣品的承載面42，該承載面42為凹面，并且承載面42的直徑等于插桿41的直徑。例如在一個實(shí)施例中，承載面42的直徑和插桿41的直徑均為3.9mm。插桿41的長度可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行設(shè)置，例如可為20mm和35mm兩種。
[0028]因?yàn)殚熋鎸?shí)驗(yàn)樣品支架3和半球凹面樣品支架4的插桿具有不同的長度，這樣可以根據(jù)光路和實(shí)驗(yàn)樣品的大小，通過升降來調(diào)整樣品臺高度。一般來說尺寸大的樣品可以選擇闊面樣品臺，而尺寸小的樣品可選擇半球凹面樣本臺，以滿足高分辨率相襯成像時CCD到樣品近距離掃描的要求(例如l_2mm)，也可以滿足吸收成像CXD到樣品距離盡可能小的要求。
[0029]在實(shí)驗(yàn)過程中，還需要把樣品臺轉(zhuǎn)軸與像素的行方向垂直(校軸)，同時樣品的幾何中心也需要調(diào)整到旋轉(zhuǎn)中心。當(dāng)樣品和CXD充分接近時，可以選擇調(diào)整用樣品支架5 (如圖6所示)進(jìn)行校軸和樣品幾何中心位置的調(diào)整。與闊面樣品支架3和半球凹面樣品支架4不同的是，調(diào)整用樣品支架5的插桿51包括至少一段彈簧53以起到緩沖作用，從而減小調(diào)節(jié)過程中發(fā)生C⑶碰撞樣品而造成樣品或者(XD損咅的風(fēng)險。當(dāng)校軸和樣品幾何中心位置的調(diào)整結(jié)束后，則可以改用闊面實(shí)驗(yàn)樣品支架3或半球凹面樣品支架4進(jìn)行試驗(yàn)。
[0030]在如圖6所示的一個實(shí)施例中，與闊面樣品支架3類似地，調(diào)整用樣品支架5的承載面52為平面，并且承載面52的直徑大于插桿51的直徑；在未示出的其它實(shí)施例中，與半球凹面樣品支架4類似地，調(diào)整用樣品支架5的承載面52也可以為凹面，并且承載面52的直徑等于插桿51的直徑。
[0031 ] 本發(fā)明的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，通過垂直于位移臺的表面向外延伸的延長裝置使得樣品與CCD的距離更加靈活可調(diào)，滿足對于CCD到樣品近距離掃描的要求。
[0032]以上所述的，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非用以限定本發(fā)明的范圍，本發(fā)明的上述實(shí)施例還可以做出各種變化。即凡是依據(jù)本發(fā)明申請的權(quán)利要求書及說明書內(nèi)容所作的簡單、等效變化與修飾，皆落入本發(fā)明專利的權(quán)利要求保護(hù)范圍。本發(fā)明未詳盡描述的均為常規(guī)技術(shù)內(nèi)容。
【權(quán)利要求】
1.一種同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，包括安裝在旋轉(zhuǎn)臺上的位移臺，其特征在于， 所述樣品臺還包括垂直于所述位移臺的表面向外延伸的延長裝置； 所述延長裝置包括固定于所述位移臺的表面上的基座，用于承載樣品的支架，以及連接在所述基座和所述支架之間的支撐棒。
2.如權(quán)利要求1所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述支架包括一端與所述支撐棒連接的插桿，所述插桿的另一端具有用于承載樣品的承載面。
3.如權(quán)利要求2所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述支撐棒具有用于容納所述插桿的中心孔，以及與所述插桿的直徑相匹配的可旋縮口。
4.如權(quán)利要求2所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述支架為闊面樣品支架，所述闊面樣品支架的承載面為平面，并且所述闊面樣品支架的所述承載面的直徑大于所述闊面樣品支架的所述插桿的直徑。
5.如權(quán)利要求2所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述支架為半球凹面樣品支架，所述半球凹面樣品支架的承載面為凹面，并且所述半球凹面樣品支架的所述承載面的直徑等于所述半球凹面樣品支架的所述插桿的直徑。
6.如權(quán)利要求2所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述支架為調(diào)整用樣品支架，所述調(diào)整用樣品支架的插桿包括至少一段彈簧。
7.如權(quán)利要求6所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述調(diào)整用樣品支架的承載面為平面，并且所述調(diào)整用樣品支架的所述承載面的直徑大于所述調(diào)整用樣品支架的所述插桿的直徑。
8.如權(quán)利要求6所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述調(diào)整用樣品支架的承載面為凹面，并且所述調(diào)整用樣品支架的所述承載面的直徑等于所述調(diào)整用樣品支架的所述插桿的直徑。
9.如權(quán)利要求1或2所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述基座與所述支撐棒通過螺紋連接。
10.如權(quán)利要求1或2所述的同步輻射X射線顯微CT成像樣品臺，其特征在于，所述基座與所述位移臺通過螺紋連接。
【文檔編號】G01N23/04GK104237237SQ201410513981
【公開日】2014年12月24日 申請日期:2014年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月29日
【發(fā)明者】彭冠云, 肖體喬, 謝紅蘭, 鄧彪, 杜國浩, 佟亞軍, 薛艷玲 申請人:中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所