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      一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):6242881閱讀:315來(lái)源:國(guó)知局
      一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,包括分別串接有一個(gè)測(cè)試電源并相互并聯(lián)的第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路,第一測(cè)試支路上串接有測(cè)試開(kāi)關(guān)K1,第二測(cè)試支路上串接有測(cè)試指示器L1,兩測(cè)試支路通過(guò)一個(gè)切換電路相互連接,切換電路用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)引腳連接。本發(fā)明的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備操作簡(jiǎn)單,檢測(cè)快速、高效,在調(diào)節(jié)切換電路的過(guò)程中,通過(guò)切換電路所處的位置和指示器的狀態(tài)即可分辨出被測(cè)單向可控硅的A、G、K極。
      【專利說(shuō)明】一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于電子測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】,涉及一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備。

      【背景技術(shù)】
      [0002]可控硅是可控硅整流器的簡(jiǎn)稱。可控硅有單向、雙向、可關(guān)斷和光控幾種類型,具有體積小、重量輕、效率高、壽命長(zhǎng)、控制方便等優(yōu)點(diǎn),被廣泛用于可控整流、調(diào)壓、逆變以及無(wú)觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)等各種自動(dòng)控制和大功率的電能轉(zhuǎn)換的場(chǎng)合。單向可控硅是一種可控整流電子元件,有陽(yáng)極A、陰極K、控制極G三個(gè)引出腳。只有當(dāng)單向可控硅陽(yáng)極A與陰極K之間加有正向電壓,同時(shí)控制極G與陰極間加上所需的正向觸發(fā)電壓時(shí),方可被觸發(fā)導(dǎo)通。單向可控硅導(dǎo)通后,控制器G即使失去觸發(fā)電壓,只要陽(yáng)極A和陰極K之間仍保持正向電壓,單向可控硅繼續(xù)處于低阻導(dǎo)通狀態(tài)。只有把陽(yáng)極A電壓拆除或陽(yáng)極A、陰極K間電壓極性發(fā)生改變(交流過(guò)零)時(shí),單向可控硅才由低阻導(dǎo)通狀態(tài)轉(zhuǎn)換為高阻截止?fàn)顟B(tài)。
      [0003]傳統(tǒng)的單向可控硅極性判別方法是使用指針式萬(wàn)用表測(cè)量,先任測(cè)兩個(gè)極,若正、反測(cè)指針均不動(dòng)(RX 10擋),可能是A、K或G、A極,當(dāng)測(cè)量指示為幾十至幾百歐,則紅筆所接為K極,黑筆接的為G極,剩下即為A極,該方法判別檢測(cè)效率低、不準(zhǔn)確,且具有一定的局限性。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明的目的是提供一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,以解決傳統(tǒng)判別方法檢測(cè)效率低、不準(zhǔn)確且具有局限性的問(wèn)題。
      [0005]為了實(shí)現(xiàn)以上目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,包括分別串接有一個(gè)測(cè)試電源并相互并聯(lián)的第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路,所述第一測(cè)試支路上串接有測(cè)試開(kāi)關(guān)K1,第二測(cè)試支路上串接有測(cè)試指示器LI,兩測(cè)試支路通過(guò)一個(gè)切換電路相互連接,所述切換電路用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)引腳連接。
      [0006]所述第一測(cè)試支路上還并聯(lián)有一個(gè)串接有連接指示器L2的測(cè)試連接指示支路。
      [0007]所述切換電路為三刀三擲的切換開(kāi)關(guān)K3,K3具有三個(gè)靜觸點(diǎn),每個(gè)靜觸點(diǎn)分別有三個(gè)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn),其中兩個(gè)靜觸點(diǎn)分別與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路的其中一端連接,第三個(gè)靜觸點(diǎn)用于與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路另一端的短接點(diǎn)連接,各靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的三個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)弓I腳連接。
      [0008]所述切換電路為四刀三擲的切換開(kāi)關(guān)K3,K3具有四個(gè)靜觸點(diǎn),每個(gè)靜觸點(diǎn)分別有三個(gè)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn),所述第一靜觸點(diǎn)和第二靜觸點(diǎn)均與第一測(cè)試支路的其中一端連接,第三靜觸點(diǎn)用于與第二測(cè)試支路的其中一端連接,第四靜觸點(diǎn)用于與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路另一端的短接點(diǎn)連接,第一靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn)均與測(cè)試連接指示支路連接,第二、三、四靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的三個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)弓I腳連接。
      [0009]所述第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路的短接點(diǎn)與K3的靜觸點(diǎn)之間設(shè)有控制開(kāi)關(guān)K2。
      [0010]所述第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路上分別串接有一個(gè)電位計(jì)。
      [0011]所述測(cè)試連接指示支路上串接有保護(hù)電阻。
      [0012]本發(fā)明的單向可控硅識(shí)別設(shè)備在使用過(guò)程中僅需將待識(shí)別可控硅的三個(gè)極的引腳隨機(jī)地接到與切換開(kāi)關(guān)的靜觸點(diǎn)連接的三個(gè)接線端子上,閉合測(cè)試開(kāi)關(guān)K1,依次撥動(dòng)切換開(kāi)關(guān),當(dāng)測(cè)試指示燈LI和連接指示燈L2同時(shí)點(diǎn)亮?xí)r,將測(cè)試開(kāi)關(guān)斷開(kāi),觀察測(cè)試指示燈LI是點(diǎn)亮還是熄滅,并結(jié)合切換開(kāi)關(guān)所處的動(dòng)觸點(diǎn)接通的位置,則可判斷出單向可控硅的極性排列。如果撥動(dòng)切換開(kāi)關(guān),測(cè)試指示燈LI始終無(wú)法點(diǎn)亮,則說(shuō)明單向可控硅已損壞。該識(shí)別設(shè)備操作簡(jiǎn)單,檢測(cè)快速、高效,在扳動(dòng)切換開(kāi)關(guān)的過(guò)程中,通過(guò)切換開(kāi)關(guān)所處的位置和指示燈的狀態(tài)即可分辨出被測(cè)單向可控硅的A、G、K極。
      [0013]本發(fā)明的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備操作簡(jiǎn)單,檢測(cè)快速、高效,在調(diào)節(jié)切換電路的過(guò)程中,通過(guò)切換電路所處的位置和指示器的狀態(tài)即可分辨出被測(cè)單向可控硅的A、G、K極。

      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0014]圖1為本發(fā)明第一種實(shí)施例的電路圖;
      [0015]圖2為本發(fā)明第二種實(shí)施例的電路圖;
      [0016]圖3為本發(fā)明第三種實(shí)施例的電路圖;
      [0017]圖4為本發(fā)明第四種實(shí)施例的電路圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0018]下面結(jié)合附圖及具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步介紹。
      [0019]實(shí)施例1:如圖1所示為本發(fā)明單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備一種實(shí)施例的電路原理圖,由圖可知,該設(shè)備包括分別串接有一個(gè)測(cè)試電源并相互并聯(lián)的第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路,第一測(cè)試支路上串接有測(cè)試開(kāi)關(guān)K1,第二測(cè)試支路上串接有測(cè)試指示器LI,兩測(cè)試支路通過(guò)一個(gè)切換電路相互連接,切換電路用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)引腳連接。
      [0020]實(shí)施例2:如圖2所示,本實(shí)施例的第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路上分別串接有一個(gè)電位計(jì)RP1、RP2。
      [0021]另外,在第一測(cè)試支路上還并聯(lián)有一個(gè)串接有連接指示器L2的測(cè)試連接指示支路,該測(cè)試連接指示支路上串接有保護(hù)電阻Rl ;第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路的短接點(diǎn)與切換電路之間設(shè)有控制開(kāi)關(guān)K2,如圖3和圖4所示。
      [0022]實(shí)施例3:本實(shí)施例的切換電路為三刀三擲的切換開(kāi)關(guān)K3,K3具有三個(gè)靜觸點(diǎn),每個(gè)靜觸點(diǎn)分別有三個(gè)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn),其中兩個(gè)靜觸點(diǎn)分別與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路的其中一端連接,第三個(gè)靜觸點(diǎn)用于與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路另一端的短接點(diǎn)連接,各靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的三個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)弓I腳連接。當(dāng)然,本實(shí)施例的切換開(kāi)關(guān)K3也可以采用三刀四擲開(kāi)關(guān),如圖3所示,將各靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第四個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)空置。
      [0023]實(shí)施例4:本實(shí)施例的切換電路為四刀三擲的切換開(kāi)關(guān)K3,K3具有四個(gè)靜觸點(diǎn),每個(gè)靜觸點(diǎn)分別有三個(gè)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn),第一靜觸點(diǎn)和第二靜觸點(diǎn)均與第一測(cè)試支路的其中一端連接,第三靜觸點(diǎn)用于與第二測(cè)試支路的其中一端連接,第四靜觸點(diǎn)用于與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路另一端的短接點(diǎn)連接,第一靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn)均與測(cè)試連接指示支路連接,第二、三、四靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的三個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)弓I腳連接。當(dāng)然,本實(shí)施例的切換開(kāi)關(guān)K3也可以采用四刀四擲開(kāi)關(guān),如圖4所示,將各靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的第四個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)空置。
      [0024]現(xiàn)以圖4的實(shí)施例進(jìn)行對(duì)本發(fā)明識(shí)別設(shè)備的電路結(jié)構(gòu)及工作原理進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
      [0025]由圖可知,該識(shí)別設(shè)備包括兩個(gè)測(cè)試支路,第一測(cè)試支路上串接有測(cè)試電源P1、測(cè)試開(kāi)關(guān)Kl和電位計(jì)RP1,第二測(cè)試支路上串接有測(cè)試電源P2、測(cè)試指示燈LI和電位計(jì)RP2,第一測(cè)試支路上并聯(lián)有測(cè)試連接指示支路,測(cè)試連接指示支路上串接有指示燈L2、保護(hù)電阻Rl ;切換電路采用四刀四擲的切換開(kāi)關(guān)K3,第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路的短接點(diǎn)與K3的靜觸點(diǎn)之間設(shè)有控制開(kāi)關(guān)K2 ;K1、K2均采用單刀單擲開(kāi)關(guān)或者單刀雙擲開(kāi)關(guān)。
      [0026]待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)引腳為X1、Χ2、Χ3 ;切換開(kāi)關(guān)Κ3具有四個(gè)靜觸點(diǎn)Α、B、C、D,其對(duì)應(yīng)的四個(gè)靜觸點(diǎn)分別為Al?Α4、BI?Β4、Cl?C4、Dl?D4。Pl的正極接Kl的A端,Kl的Al端接RPl的1、2腳,Kl的Α2端空置;RP1的3腳接K3的A、B端;K3的Α1、Α2、A3 端接 Rl 的 2 腳,Κ3 的 Β2、Β3、Dl 端接 XI,Κ3 的 B1、C3、D2 端接 Χ2, Κ3 的 Cl、C2、D3 端接Χ3,Κ3的Α4、Β4、C4、D4空置,Κ3的C端接所述的RP2的3腳,Κ3的D端接Κ2的Al端;Rl的I腳接L2的2腳;P1的負(fù)極接P2的負(fù)極、L2的I腳、K2的A端;P2的正極接LI的I腳;L1的2腳接RP2的1、2腳;K2的Α2端空置。
      [0027]本發(fā)明的工作原理及過(guò)程如下:首先將被測(cè)單向可控硅的三個(gè)極的引腳隨機(jī)地接到Χ1、Χ2、Χ3上,并將Κ1、Κ2撥到Al位置,并將Κ3依次從第一組動(dòng)觸點(diǎn)撥到第四組動(dòng)觸點(diǎn)上,如果在撥動(dòng)Κ3的過(guò)程中,指示燈LI始終無(wú)法點(diǎn)亮,則說(shuō)明單向可控硅已損壞。如果在撥動(dòng)過(guò)程中,指示燈LI點(diǎn)亮,停止撥動(dòng),并觀察Κ3所處的位置,具體判斷過(guò)程如下:
      [0028]a)如果K3處于第一動(dòng)觸點(diǎn)接通位置,將開(kāi)關(guān)Kl撥到第二組動(dòng)觸點(diǎn)上,如果L1、L2均熄滅,則X1、X2、X3所接依次為K、A、G極;如果L2熄滅、LI點(diǎn)亮,則X1、X2、X3所接依次為K、G、A極;
      [0029]b)如果K3處于第二動(dòng)觸點(diǎn)接通位置,將開(kāi)關(guān)Kl撥到第二組動(dòng)觸點(diǎn)上,如果L1、L2均熄滅,則X1、X2、X3所接依次為A、K、G極;如果L2熄滅、LI點(diǎn)亮,則X1、X2、X3所接依次為G、K、A極;
      [0030]c)如果K3處于第三動(dòng)觸點(diǎn)接通位置,將開(kāi)關(guān)Kl撥到第二組動(dòng)觸點(diǎn)上,如果L1、L2均熄滅,則X1、X2、X3所接依次為A、G、K極;如果L2熄滅、LI點(diǎn)亮,則X1、X2、X3所接依次為G、A、K極。
      [0031 ] 測(cè)試完畢后,斷開(kāi)Kl、K2、K3,并將單向可控硅的引線從Xl、X2、X3上拆除。
      [0032]本實(shí)施例的兩個(gè)指示燈可以是一個(gè)紅色,一個(gè)綠色;用于與被測(cè)單向可控硅的三個(gè)極的引腳及切換開(kāi)關(guān)的靜觸點(diǎn)連接的三個(gè)接線端子可以設(shè)置為一個(gè)是紅色接線端子,一個(gè)是白色接線端子,一個(gè)是黑色接線端子,以便于區(qū)分。
      [0033]以上實(shí)施例僅用于幫助理解本發(fā)明的核心思想,不能以此限制本發(fā)明,對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員,凡是依據(jù)本發(fā)明的思想,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行修改或者等同替換,在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上所做的任何改動(dòng),均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,其特征在于:包括分別串接有一個(gè)測(cè)試電源并相互并聯(lián)的第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路,所述第一測(cè)試支路上串接有測(cè)試開(kāi)關(guān)K1,第二測(cè)試支路上串接有測(cè)試指示器LI,兩測(cè)試支路通過(guò)一個(gè)切換電路相互連接,所述切換電路用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)弓I腳連接。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,其特征在于:所述第一測(cè)試支路上還并聯(lián)有一個(gè)串接有連接指示器L2的測(cè)試連接指示支路。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,其特征在于:所述切換電路為三刀三擲的切換開(kāi)關(guān)K3,K3具有三個(gè)靜觸點(diǎn),每個(gè)靜觸點(diǎn)分別有三個(gè)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn),其中兩個(gè)靜觸點(diǎn)分別與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路的其中一端連接,第三個(gè)靜觸點(diǎn)用于與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路另一端的短接點(diǎn)連接,各靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的三個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)弓I腳連接。
      4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,其特征在于:所述切換電路為四刀三擲的切換開(kāi)關(guān)K3,K3具有四個(gè)靜觸點(diǎn),每個(gè)靜觸點(diǎn)分別有三個(gè)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn),所述第一靜觸點(diǎn)和第二靜觸點(diǎn)均與第一測(cè)試支路的其中一端連接,第三靜觸點(diǎn)用于與第二測(cè)試支路的其中一端連接,第四靜觸點(diǎn)用于與第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路另一端的短接點(diǎn)連接,第一靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的動(dòng)觸點(diǎn)均與測(cè)試連接指示支路連接,第二、三、四靜觸點(diǎn)對(duì)應(yīng)的三個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)用于與待測(cè)可控硅的三個(gè)待測(cè)引腳連接。
      5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,其特征在于:所述第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路的短接點(diǎn)與K3的靜觸點(diǎn)之間設(shè)有控制開(kāi)關(guān)K2。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,其特征在于:所述第一測(cè)試支路和第二測(cè)試支路上分別串接有一個(gè)電位計(jì)。
      7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的單向可控硅極性識(shí)別設(shè)備,其特征在于:所述測(cè)試連接指示支路上串接有保護(hù)電阻。
      【文檔編號(hào)】G01R31/00GK104316783SQ201410514285
      【公開(kāi)日】2015年1月28日 申請(qǐng)日期:2014年9月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月29日
      【發(fā)明者】喻波, 李號(hào)召, 吳曉鳴, 盛軍, 韋雙 申請(qǐng)人:中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所
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