一種led數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)及其方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)及其方法，包括光學(xué)探測(cè)模塊、暗箱、可切換工裝板、工裝板驅(qū)動(dòng)模塊、LED切換驅(qū)動(dòng)模塊、主控模塊、圖像處理模塊和電性能測(cè)試模塊；所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)設(shè)置在所述暗箱內(nèi)，包括相機(jī)、光學(xué)鏡頭和光源；所述暗箱設(shè)置在所述可切換工裝板上支；所述可切換工裝板置于所述暗箱的下方和所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊的上方；所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊與所述主控模塊相連；所述LED切換驅(qū)動(dòng)模塊與所述主控模塊相連；所述圖像處理模塊與所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)和所述主控模塊相連；所述電性能測(cè)試模塊與所述主控模塊相連。本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)及其方法對(duì)LED數(shù)碼管的光電性能檢測(cè)的速度快、準(zhǔn)確度高、操作方便，成本較低。
【專利說(shuō)明】一種LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)及其方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種光電檢測(cè)系統(tǒng)及其方法，特別是涉及一種LED數(shù)碼管的光電檢測(cè) 系統(tǒng)及其方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 在LED制造領(lǐng)域，需要對(duì)已制造完成的LED數(shù)碼管進(jìn)行批量化的生產(chǎn)檢測(cè)，檢測(cè) LED數(shù)碼管的電氣性能、功能參數(shù)、外觀等。然而，對(duì)于LED數(shù)碼管而言，除檢測(cè)前述性能外， 還需要對(duì)LED數(shù)碼管的光性能參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。
[0003] 目前技術(shù)情況下，電子元器件制造過(guò)程中的前端工序，如晶片的固定、晶片的焊接 等，都已由自動(dòng)化機(jī)器來(lái)完成，而電子元器件的檢測(cè)工序，自動(dòng)化程度較低，尤其是針對(duì)部 分領(lǐng)域的電子元器件或非標(biāo)準(zhǔn)封裝的電子元器件。
[0004] 非標(biāo)準(zhǔn)封裝的電子元器件難以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化檢測(cè)的主要原因是，這些電子元器件的 外形和引腳尺寸不規(guī)則，不同種類的器件之間封裝差異性大，而自動(dòng)化機(jī)器需要首先對(duì)被 測(cè)對(duì)象的特征進(jìn)行提煉和學(xué)習(xí)，才能實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化和重復(fù)性的檢測(cè)動(dòng)作，但被測(cè)對(duì)象特征的 不確定性使提煉和學(xué)習(xí)的難度大大增加。
[0005] 具體地，現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)非標(biāo)準(zhǔn)封裝的LED數(shù)碼管大都采用人工檢測(cè)或?qū)Ｓ迷O(shè)備檢 測(cè)。檢其中，檢測(cè)包括電性能檢測(cè)及光性能檢測(cè)。電性能檢測(cè)在業(yè)界已非常成熟，主要通過(guò) 儀器測(cè)量LED器件的電壓電流特性。
[0006] 光性能的人工檢測(cè)，即點(diǎn)亮LED數(shù)碼管后，靠人工肉眼來(lái)判斷各項(xiàng)光學(xué)參數(shù)是否 符合要求。依靠人工及肉眼觀測(cè)的檢測(cè)項(xiàng)目，存在主觀性和檢測(cè)結(jié)果的不一致性，同時(shí)， 這些檢測(cè)項(xiàng)目對(duì)檢測(cè)人員的技能要求很高，檢測(cè)人員需要經(jīng)過(guò)較長(zhǎng)期的學(xué)習(xí)和訓(xùn)練才能上 崗。因此，現(xiàn)有技術(shù)中的LED數(shù)碼管光電性能的人工檢測(cè)方法不僅檢測(cè)效率低、準(zhǔn)確性差， 耗費(fèi)的人力大，而且對(duì)檢測(cè)人員的技能要求高，檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)容易造成檢測(cè)人員的疲勞損傷 及檢測(cè)準(zhǔn)確性的降低。
[0007] 光性能的專用設(shè)備檢測(cè)，即采用專用的亮度測(cè)試儀器進(jìn)行檢測(cè)。這需要逐個(gè)點(diǎn)亮 每個(gè)管芯，并通過(guò)人工操作逐個(gè)測(cè)試和記錄每個(gè)LED數(shù)碼管的光學(xué)特性。用這樣的方法測(cè) 試一個(gè)器件需要很長(zhǎng)的時(shí)間，一般是用于樣品測(cè)試研究，而完全無(wú)法用于批量生產(chǎn)制造過(guò) 程，亮度測(cè)試儀器成本較高，無(wú)法測(cè)試色度指標(biāo)、雜質(zhì)指標(biāo)等，且利用率低。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0008] 鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種LED數(shù)碼管的光電檢 測(cè)系統(tǒng)及其方法，能夠?qū)ED數(shù)碼管的光電性能進(jìn)行自動(dòng)化的檢測(cè)，滿足對(duì)少量LED數(shù)碼管 光電性能的檢測(cè)需求。
[0009] 為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)， 包括光學(xué)探測(cè)模塊、暗箱、可切換工裝板、工裝板驅(qū)動(dòng)模塊、LED切換驅(qū)動(dòng)模塊、主控模塊、圖 像處理模塊和電性能測(cè)試模塊；所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)設(shè)置在所述暗箱內(nèi)，包括相機(jī)、光學(xué)鏡頭 和光源，用于獲取點(diǎn)亮后的被測(cè)LED數(shù)碼管的圖像信息；所述暗箱設(shè)置在所述可切換工裝 板上，用于為所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)提供工作環(huán)境；所述可切換工裝板置于所述暗箱的下方和 所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊的上方，用于可切換地放置被測(cè)LED數(shù)碼管；所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊與 所述主控模塊相連，用于在所述主控模塊的控制下驅(qū)動(dòng)所述可切換工裝板進(jìn)行位置切換； 所述LED切換驅(qū)動(dòng)模塊與所述主控模塊相連，用于在所述主控模塊的控制下驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮所述 暗箱正對(duì)的工作位上的被測(cè)LED數(shù)碼管；所述圖像處理模塊與所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)和所述 主控模塊相連，用于對(duì)所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)所獲取的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處 理，獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息；所述電性能測(cè)試模塊與所述主控模塊相連，用于 獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的電學(xué)性能信息；所述主控模塊用于根據(jù)所述圖像處理模塊和所述電 性能測(cè)試模塊的測(cè)試結(jié)果，判斷被測(cè)LED數(shù)碼管是否為良品。
[0010] 根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：所述相機(jī)采用CCD相機(jī)或CMOS相 機(jī)。
[0011] 根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：所述可切換工裝板為長(zhǎng)條形，左右 兩側(cè)分別設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位上用于放置若干個(gè)被測(cè)LED數(shù)碼管，且兩側(cè)的工 作位能夠?qū)崿F(xiàn)左右切換。
[0012] 根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：所述可切換工裝板為轉(zhuǎn)盤式，在轉(zhuǎn) 盤上每隔一定角度設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位用于放置若干個(gè)被測(cè)LED數(shù)碼管，通過(guò) 轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)盤能夠?qū)崿F(xiàn)工作位的切換。
[0013] 根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊采用電機(jī)驅(qū) 動(dòng)，或者采用氣缸驅(qū)動(dòng)，或者直接通過(guò)人工進(jìn)行推動(dòng)。
[0014] 根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：所述光學(xué)性能信息包括被測(cè)LED數(shù) 碼管發(fā)光的亮度均勻性、色度均勻性、亮度分檔、色度分檔、是否漏光、是否有雜質(zhì)以及是外 殼否有劃痕。
[0015] 根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：所述電學(xué)性能信息包括被測(cè)LED數(shù) 碼管的正向電壓值、反向漏電值、開(kāi)路信息、短路信息。
[0016] 根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：還包括顯示模塊，與所述主控模塊 相連，用于顯示被測(cè)LED數(shù)碼管是否為良品。
[0017] 進(jìn)一步地，根據(jù)上述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其中：所述顯示模塊采用數(shù)碼 管或者指示燈。
[0018] 同時(shí),本發(fā)明還提供一種根據(jù)上述LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)的光電檢測(cè)方法， 包括以下步驟：
[0019] 步驟S1、在處于暗箱外的可切換工裝板上的工作位上放置被測(cè)LED數(shù)碼管；
[0020] 步驟S2、啟動(dòng)工裝板驅(qū)動(dòng)模塊將可切換工裝板上放置有被測(cè)LED數(shù)碼管的工作位 移動(dòng)到暗箱內(nèi)；
[0021] 步驟S3、LED切換驅(qū)動(dòng)模塊在主控模塊的控制下將LED數(shù)碼管測(cè)試所需要的激勵(lì) 源切換到暗箱內(nèi)的工作位上，并切斷對(duì)暗箱外工作位的激勵(lì)；
[0022] 步驟S4、光學(xué)探測(cè)模塊獲取點(diǎn)亮后的被測(cè)LED數(shù)碼管的圖像信息，圖像處理模塊 對(duì)所獲取的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處理，獲取LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息；電 性能測(cè)試模塊獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的電學(xué)性能信息；
[0023] 步驟S5、主控模塊根據(jù)被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息和電學(xué)性能信息判斷被測(cè) LED數(shù)碼管是否為良品。
[0024] 如上所述，本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)及其方法，具有以下有益效果：
[0025] (1)對(duì)LED數(shù)碼管的光電性能檢測(cè)的速度快、準(zhǔn)確度高；
[0026] (2)操作方便；
[0027] (3)成本較低。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0028] 圖1顯示為本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)的框架結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029] 圖2顯示為本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)的外部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030] 圖3顯示為本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)的外部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031] 圖4顯示為本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032] 圖5顯示為本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)方法的流程圖。
[0033] 元件標(biāo)號(hào)說(shuō)明
[0034] 1 暗箱
[0035] 21 相機(jī)
[0036] 22 光學(xué)鏡頭
[0037] 23 光源
[0038] 3 可切換工裝板
[0039] 4 工裝板驅(qū)動(dòng)模塊
[0040] 5 LED切換驅(qū)動(dòng)模塊
[0041] 6 主控模塊
[0042] 7 圖像處理模塊
[0043] 8 電性能測(cè)試模塊

【具體實(shí)施方式】
[0044] 以下通過(guò)特定的具體實(shí)例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說(shuō)明書(shū) 所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明還可以通過(guò)另外不同的具體實(shí) 施方式加以實(shí)施或應(yīng)用，本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒(méi)有背離 本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。
[0045] 需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中所提供的圖示僅以示意方式說(shuō)明本發(fā)明的基本構(gòu)想， 遂圖式中僅顯示與本發(fā)明中有關(guān)的組件而非按照實(shí)際實(shí)施時(shí)的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪 制，其實(shí)際實(shí)施時(shí)各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態(tài)也可 能更為復(fù)雜。
[0046] 參照?qǐng)D1-圖4,本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)包括光學(xué)探測(cè)模塊、暗箱1、 可切換工裝板3、工裝板驅(qū)動(dòng)模塊4、LED切換驅(qū)動(dòng)模塊5、主控模塊6、圖像處理模塊7和電 性能測(cè)試模塊8。
[0047] 其中，光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)設(shè)置在暗箱1內(nèi)，包括相機(jī)21、光學(xué)鏡頭22和光源23，用于獲 取點(diǎn)亮后的被測(cè)LED數(shù)碼管的圖像信息。優(yōu)選地，相機(jī)21采用CCD相機(jī)或CMOS相機(jī)。光 源23為高均勻性光源。
[0048] 暗箱1設(shè)置在可切換工裝板3上，用于為光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)提供工作環(huán)境。
[0049] 可切換工裝板3置于暗箱1的下方和工裝板驅(qū)動(dòng)模塊4的上方，用于可切換地放 置被測(cè)LED數(shù)碼管。在本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，可切換工裝板為長(zhǎng)條形，左右兩側(cè)分別 設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位上可以放置若干個(gè)被測(cè)LED數(shù)碼管。優(yōu)選地，可放置1-3個(gè) LED數(shù)碼管，以滿足小批量LED數(shù)碼管的檢測(cè)需求。檢測(cè)時(shí)，將可切換工裝板滑動(dòng)到左側(cè)時(shí)， 操作人員在左側(cè)工作位上放置待測(cè)器件，而右側(cè)的工作位上的LED數(shù)碼管進(jìn)入到暗箱進(jìn)行 檢測(cè)；當(dāng)工裝板滑動(dòng)到右側(cè)時(shí)，右側(cè)的工作位從暗箱中滑出，工作人員可以拔出右側(cè)工作位 上的已測(cè)LED數(shù)碼管，而左側(cè)工作位上的LED數(shù)碼管進(jìn)入暗箱進(jìn)行檢測(cè)，從而通過(guò)左右切換 實(shí)現(xiàn)LED數(shù)碼管的檢測(cè)。在本發(fā)明的另一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，可切換工裝板為轉(zhuǎn)盤式，在轉(zhuǎn)盤 上每隔一定角度設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位上可以放置若干個(gè)被測(cè)LED數(shù)碼管。優(yōu)選 地，可放置1-3個(gè)LED數(shù)碼管，以滿足少量LED數(shù)碼管的檢測(cè)需求。檢測(cè)時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)可切換工 裝板使得放置有LED數(shù)碼管的工作位進(jìn)入暗箱進(jìn)行檢測(cè)，操作人員可以在其他工作位上放 置待測(cè)器件；當(dāng)暗箱內(nèi)的LED數(shù)碼管檢測(cè)完畢后，轉(zhuǎn)動(dòng)可切換工裝板，將放置有LED數(shù)碼管 的工作位轉(zhuǎn)入暗箱進(jìn)行檢測(cè)，從而可通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)盤實(shí)現(xiàn)LED數(shù)碼管的檢測(cè)。
[0050] 工裝板驅(qū)動(dòng)模塊4與主控模塊6相連，用于在主控模塊6的控制下驅(qū)動(dòng)可切換工 裝板3進(jìn)行位置切換。優(yōu)選地，工裝板驅(qū)動(dòng)模塊4可以采用電機(jī)驅(qū)動(dòng)，也可以采用氣缸驅(qū)動(dòng)， 或者沒(méi)有動(dòng)力系統(tǒng)直接人工進(jìn)行推動(dòng)。
[0051] LED切換驅(qū)動(dòng)模塊5與主控模塊6相連，用于在主控模塊6的控制下驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮暗箱 正對(duì)的工作位上的被測(cè)LED數(shù)碼管。具體地，LED切換驅(qū)動(dòng)模塊5將被測(cè)LED數(shù)碼管所需 的激勵(lì)源切換到暗箱正對(duì)的工作位上。具體地，LED切換驅(qū)動(dòng)模塊是一個(gè)電子開(kāi)關(guān)陣列，可 將主控模塊發(fā)出的激勵(lì)源根據(jù)需要切換到測(cè)試工作位上被測(cè)LED數(shù)碼管的管腳上。激勵(lì)源 是指驅(qū)動(dòng)LED數(shù)碼管點(diǎn)亮的電路模塊，其由主控模塊6控制。
[0052] 圖像處理模塊7與光學(xué)探測(cè)模塊和主控模塊6相連，用于對(duì)光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)所獲取 的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處理，獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息。其中， 光學(xué)性能信息包括LED數(shù)碼管發(fā)光的亮度均勻性、色度均勻性、亮度分檔、色度分檔、是否 漏光、是否有雜質(zhì)以及是外殼是否有劃痕等息。
[0053] 電性能測(cè)試模塊8與主控模塊6相連，用于獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的電學(xué)性能信息。 具體地，電學(xué)性能信息包括LED數(shù)碼管的正向電壓值、反向漏電值、開(kāi)路信息、短路信息。通 常，電性能測(cè)試模塊與主控模塊6共同設(shè)置在一塊PCB板上。
[0054] 主控模塊6用于根據(jù)圖像處理模塊7和電性能測(cè)試模塊8的測(cè)試結(jié)果，判斷被測(cè) LED數(shù)碼管是否為良品。
[0055] 優(yōu)選地，本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)中還包括顯示模塊（圖中未示出）， 與主控模塊相連，用于顯示當(dāng)前被測(cè)LED數(shù)碼管是否為良品，以便檢測(cè)人員準(zhǔn)確地進(jìn)行分 揀。具體地，顯示模塊可以采用LED數(shù)碼管，，也可以采用指示燈。當(dāng)被測(cè)LED數(shù)碼管為良 品時(shí)，LED數(shù)碼管無(wú)顯示，或指示燈顯示為綠色；當(dāng)被測(cè)LED數(shù)碼管為缺陷品時(shí)，LED數(shù)碼管 顯示缺陷類型或指示燈顯示為紅色。
[0056] 具體地，如圖5所示，本發(fā)明的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)方法包括以下步驟：
[0057] 步驟S1、在處于暗箱外的可切換工裝板上的工作位上放置被測(cè)LED數(shù)碼管。
[0058] 步驟S2、啟動(dòng)工裝板驅(qū)動(dòng)模塊，將可切換工裝板上放置有被測(cè)LED數(shù)碼管的工作 位移動(dòng)到暗箱內(nèi)。
[0059] 步驟S3、LED切換驅(qū)動(dòng)模塊在主控模塊的控制下將LED數(shù)碼管測(cè)試所需要的激勵(lì) 源切換到暗箱內(nèi)的工作位上，并切斷對(duì)暗箱外工作位的激勵(lì)。
[0060] 步驟S4、光學(xué)探測(cè)模塊獲取點(diǎn)亮后的被測(cè)LED數(shù)碼管的圖像信息，圖像處理模塊 對(duì)所獲取的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處理，獲取LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息；電 性能測(cè)試模塊獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的電學(xué)性能信息。
[0061] 步驟S5、主控模塊根據(jù)被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息和電學(xué)性能信息判斷被測(cè) LED數(shù)碼管是否為良品。
[0062] 當(dāng)需要測(cè)量下一個(gè)LED數(shù)碼管時(shí)，在暗箱外的工作位上插入待測(cè)LED數(shù)碼管，切換 可切換工裝板，將待測(cè)LED數(shù)碼管切換暗箱內(nèi)，已測(cè)LED數(shù)碼管切換到暗箱外，從而進(jìn)行下 一次LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)。
[0063] 下面詳細(xì)闡述一下LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息的獲取。
[0064] 亮度不均，是指同一個(gè)器件上某些筆段與此器件所有筆段的亮度平均值偏差大于 一定的數(shù)值。即這些筆段過(guò)亮或者過(guò)暗了。在檢測(cè)亮度不均時(shí)，為了與人眼視覺(jué)有一定的 匹配度，筆段之間亮度的比較需要遵循一定的策略。這個(gè)策略包括：
[0065] A)不同顏色的筆段之間，無(wú)需比較；只比較同一顏色之間的不均；
[0066] B)不同面積的筆段之間，無(wú)需比較；只比較相似面積筆段之間的不均 [0067] C)對(duì)用戶使用感官影響可忽略的，無(wú)需比較。例如：專用數(shù)碼管上特定圖案。 [0068] 判斷LED數(shù)碼管的亮度時(shí)，需要根據(jù)對(duì)LED數(shù)碼管品質(zhì)的要求來(lái)設(shè)定檢測(cè)不均的 檔位參數(shù)。檔位與亮度差異的轉(zhuǎn)換關(guān)系為如表1所示，可用以下公式表示：亮度差異度=檔 位*5 %。當(dāng)某個(gè)筆段的亮度比平均亮度小或者大，并且亮度差異大于所設(shè)置檔位后，就被判 斷為亮度不均。
[0069] 表1、亮度差異與檔位的關(guān)系
[0070]

【權(quán)利要求】
1. 一種L邸數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：包括光學(xué)探測(cè)模塊、暗箱、可切換工 裝板、工裝板驅(qū)動(dòng)模塊、L邸切換驅(qū)動(dòng)模塊、主控模塊、圖像處理模塊和電性能測(cè)試模塊； 所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)設(shè)置在所述暗箱內(nèi)，包括相機(jī)、光學(xué)鏡頭和光源，用于獲取點(diǎn)亮后的 被測(cè)LED數(shù)碼管的圖像信息； 所述暗箱設(shè)置在所述可切換工裝板上，用于為所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)提供工作環(huán)境； 所述可切換工裝板置于所述暗箱的下方和所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊的上方，用于可切換地 放置被測(cè)L邸數(shù)碼管； 所述工裝板驅(qū)動(dòng)模塊與所述主控模塊相連，用于在所述主控模塊的控制下驅(qū)動(dòng)所述可 切換工裝板進(jìn)行位置切換； 所述L邸切換驅(qū)動(dòng)模塊與所述主控模塊相連，用于在所述主控模塊的控制下驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮 所述暗箱正對(duì)的工作位上的被測(cè)LED數(shù)碼管； 所述圖像處理模塊與所述光學(xué)探測(cè)系統(tǒng)和所述主控模塊相連，用于對(duì)所述光學(xué)探測(cè)系 統(tǒng)所獲取的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處理，獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信 息； 所述電性能測(cè)試模塊與所述主控模塊相連，用于獲取被測(cè)L邸數(shù)碼管的電學(xué)性能信 息； 所述主控模塊用于根據(jù)所述圖像處理模塊和所述電性能測(cè)試模塊的測(cè)試結(jié)果，判斷被 測(cè)LED數(shù)碼管是否為良品。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的L邸數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于；所述相機(jī)采用CCD 相機(jī)或CMOS相機(jī)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的L邸數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述可切換工裝 板為長(zhǎng)條形，左右兩側(cè)分別設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位上用于放置若干個(gè)被測(cè)L邸數(shù) 碼管，且兩側(cè)的工作位能夠?qū)崿F(xiàn)左右切換。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述可切換工裝 板為轉(zhuǎn)盤式，在轉(zhuǎn)盤上每隔一定角度設(shè)置有測(cè)試工作位，每個(gè)工作位用于放置若干個(gè)被測(cè) L邸數(shù)碼管，通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)盤能夠?qū)崿F(xiàn)工作位的切換。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的L邸數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述工裝板驅(qū)動(dòng) 模塊采用電機(jī)驅(qū)動(dòng)，或者采用氣缸驅(qū)動(dòng)，或者直接通過(guò)人工進(jìn)行推動(dòng)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述光學(xué)性能信 息包括被測(cè)LED數(shù)碼管發(fā)光的亮度均勻性、色度均勻性、亮度分檔、色度分檔、是否漏光、是 否有雜質(zhì)W及是外殼否有劃痕。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的LED數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述電學(xué)性能信 息包括被測(cè)L邸數(shù)碼管的正向電壓值、反向漏電值、開(kāi)路信息、短路信息。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的L邸數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：還包括顯示模塊， 與所述主控模塊相連，用于顯示被測(cè)L邸數(shù)碼管是否為良品。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的L邸數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于：所述顯示模塊采 用數(shù)碼管或者指示燈。
10. -種根據(jù)權(quán)利要求1-9之一所述L邸數(shù)碼管的光電檢測(cè)系統(tǒng)的光電檢測(cè)方法，其特 征在于：包括W下步驟： 步驟SI、在處于暗箱外的可切換工裝板上的工作位上放置被測(cè)L邸數(shù)碼管； 步驟S2、啟動(dòng)工裝板驅(qū)動(dòng)模塊將可切換工裝板上放置有被測(cè)LED數(shù)碼管的工作位移動(dòng) 到暗箱內(nèi)； 步驟S3、L邸切換驅(qū)動(dòng)模塊在主控模塊的控制下將L邸數(shù)碼管測(cè)試所需要的激勵(lì)源切 換到暗箱內(nèi)的工作位上，并切斷對(duì)暗箱外工作位的激勵(lì)； 步驟S4、光學(xué)探測(cè)模塊獲取點(diǎn)亮后的被測(cè)L邸數(shù)碼管的圖像信息，圖像處理模塊對(duì)所 獲取的點(diǎn)亮后的LED數(shù)碼管的圖像信息進(jìn)行處理，獲取LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息；電性能 測(cè)試模塊獲取被測(cè)LED數(shù)碼管的電學(xué)性能信息； 步驟S5、主控模塊根據(jù)被測(cè)LED數(shù)碼管的光學(xué)性能信息和電學(xué)性能信息判斷被測(cè)LED 數(shù)碼管是否為良品。
【文檔編號(hào)】G01R31/26GK104344944SQ201410572662
【公開(kāi)日】2015年2月11日 申請(qǐng)日期:2014年10月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月23日
【發(fā)明者】蔡曉愷 申請(qǐng)人:上海維銳智能科技有限公司