一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置及其方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置，包含：主控計(jì)算機(jī)；第一測(cè)控組件，與所述主控計(jì)算機(jī)通過(guò)PXI總線(xiàn)連接；第二測(cè)控組件，與所述主控計(jì)算機(jī)通過(guò)LXI總線(xiàn)連接；測(cè)試接口，分別與所述第一測(cè)控組件及第二測(cè)控組件連接；電源模塊，一端與所述主控計(jì)算機(jī)連接，其另一端連接所述測(cè)試接口；校準(zhǔn)儀表，與所述測(cè)試接口連接。本發(fā)明還公開(kāi)了一種原位自檢方法及原位計(jì)量方法。本發(fā)明能有效提高自檢計(jì)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，縮短系統(tǒng)自檢計(jì)量周期，滿(mǎn)足自動(dòng)化和信息化需求。
【專(zhuān)利說(shuō)明】一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置及其方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置及其方法。

【背景技術(shù)】
[0002]自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)作為綜合性集成測(cè)試系統(tǒng)，以整體技術(shù)指標(biāo)為被測(cè)對(duì)象提供激勵(lì)，測(cè)量被測(cè)對(duì)象輸入響應(yīng)。系統(tǒng)精度指標(biāo)受PXI機(jī)箱、EMC (電磁兼容性)性能、系統(tǒng)供電、冷卻和程序設(shè)計(jì)等因素的影響。傳統(tǒng)的離位計(jì)量方式將測(cè)試系統(tǒng)看作獨(dú)立測(cè)試儀器的組合，忽略測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部連接電纜、開(kāi)關(guān)、負(fù)載等造成的測(cè)試信號(hào)的變化，無(wú)法考察儀器儀表在測(cè)試系統(tǒng)中的性能指標(biāo)，不能滿(mǎn)足系統(tǒng)可靠性和準(zhǔn)確性要求，計(jì)量結(jié)果缺乏完整性和真實(shí)性。同時(shí)離位計(jì)量需要定期從測(cè)試系統(tǒng)拆卸測(cè)試儀器，也會(huì)造成系統(tǒng)連接器不必要的磨損以及停用。離位計(jì)量中針對(duì)獨(dú)立儀器儀表進(jìn)行的計(jì)量，其數(shù)據(jù)處理和記錄也無(wú)法滿(mǎn)足自動(dòng)化和
息化需求。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置及其方法，能有效避免人工干預(yù)下實(shí)施的自檢和計(jì)量對(duì)校準(zhǔn)結(jié)果的影響，提高自檢計(jì)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，有效縮短系統(tǒng)自檢計(jì)量周期，自動(dòng)化整體原位自檢和計(jì)量使校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)滿(mǎn)足自動(dòng)化和息化需求。
[0004]為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置，其特點(diǎn)是，基于PXI和LXI混合總線(xiàn)架構(gòu)，包含:
主控計(jì)算機(jī)；
第一測(cè)控組件，與所述主控計(jì)算機(jī)通過(guò)PXI總線(xiàn)連接；
第二測(cè)控組件，與所述主控計(jì)算機(jī)通過(guò)LXI總線(xiàn)連接；
測(cè)試接口，分別與所述第一測(cè)控組件及第二測(cè)控組件連接；
電源模塊，一端與所述主控計(jì)算機(jī)連接，其另一端連接所述測(cè)試接口 ；
校準(zhǔn)儀表，與所述測(cè)試接口連接。
[0005]原位自檢、計(jì)量裝置進(jìn)一步包含一適配器，設(shè)置在與所述測(cè)試接口與校準(zhǔn)儀表之間，用于信息交換。
[0006]所述的第一測(cè)控組件分為高級(jí)別第一測(cè)控組件及低級(jí)別第一測(cè)控組件；其中低級(jí)別第一測(cè)控組件包含第一激勵(lì)模塊、開(kāi)關(guān)模塊及第一測(cè)試模塊。
[0007]所述的高級(jí)別第一測(cè)控組件包含萬(wàn)用表卡；
第一激勵(lì)模塊包含數(shù)據(jù)采集卡AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道及電阻卡；
開(kāi)關(guān)模塊包含開(kāi)關(guān)矩陣卡及復(fù)用器卡；
第一測(cè)試模塊包含數(shù)據(jù)采集卡的Al通道及數(shù)據(jù)采集卡的DI通道。
[0008]所述的第二測(cè)控組件分為高級(jí)別第二測(cè)控組件及低級(jí)別第二測(cè)控組件；其中低級(jí)別第二測(cè)控組件包含第二激勵(lì)模塊及第二測(cè)試模塊。
[0009]所述的高級(jí)別第二測(cè)控組件包含頻率計(jì)；
第二激勵(lì)模塊包含任意波形發(fā)生器；
第二測(cè)試模塊包含不波器。
[0010]一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢方法，其特點(diǎn)是，包含以下步驟:
Al、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量第一激勵(lì)模塊、電源模塊和第二激勵(lì)模塊的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)模塊切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量通路，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成高級(jí)別第一測(cè)控組件與第一激勵(lì)模塊、第二激勵(lì)模塊及電源模塊的互檢，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)模塊的檢測(cè)；
A2、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成高級(jí)別第二測(cè)控組件與第二激勵(lì)模塊的互檢；
A3、主控計(jì)算機(jī)控制第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成第一測(cè)試模塊以及第二測(cè)試模塊與第二激勵(lì)模塊的互檢。
[0011]一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位計(jì)量方法，其特點(diǎn)是，包含以下步驟:
B1、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件及高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量校準(zhǔn)儀表輸出的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成對(duì)高級(jí)別第一測(cè)控組件及高級(jí)別第二測(cè)控組件的計(jì)量;
B2、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量第一激勵(lì)模塊及電源模塊的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)模塊切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量通路，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量高級(jí)別第一測(cè)控組件對(duì)第一激勵(lì)模塊及電源模塊的計(jì)量，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)模塊檢測(cè)；
B3、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)頻率誤差，完成已計(jì)量高級(jí)別第二測(cè)控組件對(duì)第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)的計(jì)量；
B4、主控計(jì)算機(jī)控制第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊測(cè)量已計(jì)量第二激勵(lì)模塊的輸出信號(hào)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量第二激勵(lì)模塊對(duì)第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊的計(jì)量。
[0012]所述的步驟BI中校準(zhǔn)儀表輸出的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)為電壓、電阻及周期性標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量信號(hào)。
[0013]本發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置及其方法與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點(diǎn):本發(fā)明利用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)自身的控制計(jì)算機(jī)作為自檢和計(jì)量的主控計(jì)算機(jī)，有效簡(jiǎn)化系統(tǒng)資源，提高系統(tǒng)機(jī)動(dòng)能力；本發(fā)明利用單臺(tái)外部校準(zhǔn)儀表實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的自動(dòng)化整體原位自檢和計(jì)量，最大化減少外部資源的配置需要，節(jié)約成本，提高系統(tǒng)機(jī)動(dòng)能力，充分滿(mǎn)足自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于生產(chǎn)、試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)時(shí)進(jìn)行系統(tǒng)計(jì)量的便利性和可操作性；本發(fā)明無(wú)需將系統(tǒng)內(nèi)部測(cè)試資源與系統(tǒng)脫離，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)原位自檢和計(jì)量，避免了離位計(jì)量中針對(duì)單臺(tái)儀器儀表進(jìn)行的系統(tǒng)拆卸所造成的系統(tǒng)連接器不必要的磨損；本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化整體原位自檢和計(jì)量，有效避免人工干預(yù)下實(shí)施的自檢和計(jì)量對(duì)校準(zhǔn)結(jié)果的影響，提高自檢計(jì)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，有效縮短系統(tǒng)自檢計(jì)量周期，自動(dòng)化整體原位自檢和計(jì)量使校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)滿(mǎn)足自動(dòng)化和信息化需求。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0014]圖1為本發(fā)明一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖； 圖2為本發(fā)明實(shí)施例結(jié)構(gòu)框圖；
圖3為本發(fā)明自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位計(jì)量方法的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0015]以下結(jié)合附圖，通過(guò)詳細(xì)說(shuō)明一個(gè)較佳的具體實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步闡述。
[0016]如圖1及圖2所示，一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置，基于PXI和LXI混合總線(xiàn)架構(gòu)，包含:主控計(jì)算機(jī)1，由自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)自身提供，具有PXI總線(xiàn)控制器和以太網(wǎng)接口 ；第一測(cè)控組件2，與所述主控計(jì)算機(jī)I通過(guò)PXI總線(xiàn)連接；第二測(cè)控組件3，與所述主控計(jì)算機(jī)I通過(guò)LXI總線(xiàn)連接；測(cè)試接口 4 ;分別與所述第一測(cè)控組件2及第二測(cè)控組件3連接；電源模塊5(六路程控直流電源)，基于RS485總線(xiàn)，一端與所述主控計(jì)算機(jī)I連接，其另一端連接所述測(cè)試接口 4 ;校準(zhǔn)儀表6 ;與所述測(cè)試接口 4連接；一適配器7，設(shè)置在與所述測(cè)試接口 4與校準(zhǔn)儀表6之間。
[0017]如圖2所示，所述的第一測(cè)控組件分為高級(jí)別第一測(cè)控組件及低級(jí)別第一測(cè)控組件；其中低級(jí)別第一測(cè)控組件包含第一激勵(lì)模塊、開(kāi)關(guān)模塊及第一測(cè)試模塊。本實(shí)施例中高級(jí)別第一測(cè)控組件選用萬(wàn)用表卡；第一激勵(lì)模塊選用數(shù)據(jù)采集卡AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道及電阻卡；開(kāi)關(guān)模塊選用開(kāi)關(guān)矩陣卡及復(fù)用器卡；第一測(cè)試模塊選用數(shù)據(jù)采集卡的Al通道及數(shù)據(jù)采集卡的DI通道。
[0018]如圖2所示，所述的第二測(cè)控組件分為高級(jí)別第二測(cè)控組件及低級(jí)別第二測(cè)控組件；其中低級(jí)別第二測(cè)控組件包含第二激勵(lì)模塊及第二測(cè)試模塊。本實(shí)施例中高級(jí)別第二測(cè)控組件選用頻率計(jì)；第二激勵(lì)模塊選用任意波形發(fā)生器；第二測(cè)試模塊選用示波器。
[0019]主控計(jì)算機(jī)I為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的核心，通過(guò)自檢計(jì)量軟件將校準(zhǔn)儀表6、適配器7以及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)自身有機(jī)結(jié)合為一體，自動(dòng)完成測(cè)試系統(tǒng)自檢計(jì)量技術(shù)方案，利用自檢計(jì)量軟件中執(zhí)行具體測(cè)試任務(wù)的自檢計(jì)量功能模塊，控制第一測(cè)控組件2及第二測(cè)控組件3中，如第一激勵(lì)模塊及第二激勵(lì)模塊能夠產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)的激勵(lì)模塊產(chǎn)生自檢、計(jì)量信號(hào)，開(kāi)關(guān)模塊切換信號(hào)通路，適配器7反饋激勵(lì)模塊發(fā)出的激勵(lì)信號(hào)至自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試接口 4，第一測(cè)控組件2及第二測(cè)控組件3中，如第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊等測(cè)試模塊進(jìn)行信號(hào)測(cè)量，自檢計(jì)量軟件通過(guò)測(cè)試模塊的測(cè)量信號(hào)獲取自檢計(jì)量數(shù)據(jù)，以非人工干預(yù)的方式自動(dòng)實(shí)施自檢和計(jì)量。自檢計(jì)量軟件在LabVIEW軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái)下，采用模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)自檢、計(jì)量?jī)煞N功能。軟件分為主控模塊、自檢功能模塊、計(jì)量功能模塊、數(shù)據(jù)交互模塊以及數(shù)據(jù)庫(kù)模塊。主控模塊調(diào)用自檢、計(jì)量功能模塊執(zhí)行具體自檢、計(jì)量任務(wù)，功能模塊任務(wù)執(zhí)行完成后，數(shù)據(jù)交互模塊負(fù)責(zé)通知主控模塊接收自檢、計(jì)量結(jié)果數(shù)據(jù)，主控模塊接收結(jié)果數(shù)據(jù)并調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)模塊，數(shù)據(jù)庫(kù)模塊根據(jù)數(shù)據(jù)包含的屬性信息，查詢(xún)自檢、計(jì)量對(duì)象信息數(shù)據(jù)庫(kù)，將自檢、計(jì)量結(jié)果整理、判斷后存入結(jié)果信息庫(kù)。模塊化軟件設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)有利于開(kāi)發(fā)工作的分工協(xié)作，同時(shí)易于軟件維護(hù)和系統(tǒng)的擴(kuò)展和升級(jí)。
[0020]適配器7與測(cè)試接口 4連接，具體到本實(shí)施例中，將自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部如任意波形發(fā)生器、電阻卡、數(shù)據(jù)采集卡的AO、DO通道等能夠產(chǎn)生信號(hào)的激勵(lì)模塊；示波器、頻率計(jì)、數(shù)據(jù)采集卡的Al、DI通道等測(cè)試模塊；萬(wàn)用表卡與開(kāi)關(guān)矩陣卡、復(fù)用器卡等開(kāi)關(guān)模塊互聯(lián)，以萬(wàn)用表卡、頻率計(jì)等精度級(jí)別較高的測(cè)控組件，校準(zhǔn)其余精度級(jí)別較低的測(cè)控組件，系統(tǒng)內(nèi)部傳遞激勵(lì)模塊產(chǎn)生的自檢計(jì)量信號(hào)，配合開(kāi)關(guān)模塊切換信號(hào)傳遞通道以遍歷系統(tǒng)內(nèi)部所有信號(hào)通路，相應(yīng)測(cè)試模塊接收信號(hào)構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部完整校準(zhǔn)鏈，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)在測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部的完全傳遞，保證計(jì)量量值在測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部的參數(shù)溯源性。適配器7配合自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)同時(shí)實(shí)現(xiàn)自檢和計(jì)量?jī)煞N功能，適配器7作為外校準(zhǔn)鏈和內(nèi)校準(zhǔn)鏈實(shí)現(xiàn)的橋梁，將系統(tǒng)內(nèi)部精度級(jí)別較高的高級(jí)別第一測(cè)控組件、高級(jí)別第二測(cè)控組件與精度級(jí)別較低的低級(jí)別第一測(cè)控組件、低級(jí)別第二測(cè)控組件逐級(jí)互聯(lián)，反饋其激勵(lì)信號(hào)至相應(yīng)測(cè)試模塊，在主控計(jì)算機(jī)I的控制下自動(dòng)實(shí)現(xiàn)自檢計(jì)量信號(hào)在閉合通路傳遞。
[0021]校準(zhǔn)儀表6通過(guò)電纜與適配器7連接，以具有多參量校準(zhǔn)功能的單臺(tái)外部校準(zhǔn)設(shè)備對(duì)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供頻率和電壓參數(shù)溯源，構(gòu)建系統(tǒng)外校準(zhǔn)鏈，實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)參量由系統(tǒng)外部到內(nèi)部的準(zhǔn)確傳遞，單臺(tái)校準(zhǔn)儀表的應(yīng)用有效提高系統(tǒng)機(jī)動(dòng)性，充分滿(mǎn)足自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于生產(chǎn)、試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)時(shí)進(jìn)行系統(tǒng)計(jì)量的便利性和可操作性。本實(shí)施例中采用型號(hào)為FLUKE5520A的多功能校準(zhǔn)儀，該校準(zhǔn)儀測(cè)量精度高，穩(wěn)定性好，設(shè)置方便，滿(mǎn)足系統(tǒng)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度要求，具有很好的技術(shù)適用性。
[0022]一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢方法，包含以下步驟:
Al、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量數(shù)據(jù)采集卡AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道、電阻卡、電源模塊及第二激勵(lì)模塊的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)模塊切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量通路，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成高級(jí)別第一測(cè)控組件與第一激勵(lì)模塊、第二激勵(lì)模塊及電源模塊的互檢，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)模塊的檢測(cè)；
A2、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成高級(jí)別第二測(cè)控組件與第二激勵(lì)模塊的互檢；
A3、主控計(jì)算機(jī)控制第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成第一測(cè)試模塊以及第二測(cè)試模塊與第二激勵(lì)模塊的互檢。
[0023]一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位計(jì)量方法，包含以下步驟:
B1、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件及高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量校準(zhǔn)儀表輸出的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成對(duì)高級(jí)別第一測(cè)控組件及高級(jí)別第二測(cè)控組件的計(jì)量;
B2、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量第一激勵(lì)模塊及電源模塊的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)模塊切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量通路，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量高級(jí)別第一測(cè)控組件對(duì)第一激勵(lì)模塊及電源模塊的計(jì)量，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)模塊檢測(cè)；
B3、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)頻率誤差，完成已計(jì)量高級(jí)別第二測(cè)控組件對(duì)第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)的計(jì)量；
B4、主控計(jì)算機(jī)控制第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊測(cè)量已計(jì)量第二激勵(lì)模塊的輸出信號(hào)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量第二激勵(lì)模塊對(duì)第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊的計(jì)量。
[0024]所述的步驟BI中校準(zhǔn)儀表輸出的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)為電壓、電阻及周期性標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量信號(hào)。
[0025]如圖3所示,具體到本實(shí)施例中，一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位計(jì)量方法,又稱(chēng)為三級(jí)計(jì)量方案，包含以下步驟:
一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢方法，包含以下步驟:
Al、主控計(jì)算機(jī)控制萬(wàn)用表卡測(cè)量數(shù)據(jù)采集卡AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道及電阻卡、電源模塊和任意波形發(fā)生器的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)矩陣卡及復(fù)用器卡切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有萬(wàn)用表卡測(cè)量通路，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成萬(wàn)用表卡與數(shù)據(jù)采集卡AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道及電阻卡、任意波形發(fā)生器及電源模塊的互檢，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)矩陣卡及復(fù)用器卡的檢測(cè)；
A2、主控計(jì)算機(jī)控制頻率計(jì)測(cè)量任意波形發(fā)生器輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成頻率計(jì)與任意波形發(fā)生器的互檢；
A3、主控計(jì)算機(jī)控制數(shù)據(jù)采集卡的Al通道、數(shù)據(jù)采集卡的DI通道及示波器測(cè)量任意波形發(fā)生器輸出信號(hào)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成數(shù)據(jù)采集卡的Al通道、數(shù)據(jù)采集卡的DI通道及示波器與任意波形發(fā)生器的互檢。
[0026]一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位計(jì)量方法，包含以下步驟:
B1、主控計(jì)算機(jī)控制萬(wàn)用表卡及頻率計(jì)測(cè)量校準(zhǔn)儀表輸出的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)(電壓、電阻信號(hào)及周期性標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量信號(hào))，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成對(duì)萬(wàn)用表卡及頻率計(jì)的計(jì)量；
B2、主控計(jì)算機(jī)控制萬(wàn)用表卡測(cè)量數(shù)據(jù)采集卡的AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道、電源模塊及電阻卡的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)矩陣卡及復(fù)用器卡切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有萬(wàn)用表卡測(cè)量通路，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量萬(wàn)用表卡對(duì)數(shù)據(jù)采集卡的AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道、電阻卡及電源模塊的計(jì)量，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)矩陣卡及復(fù)用器卡檢測(cè)；
B3、主控計(jì)算機(jī)控制頻率計(jì)測(cè)量任意波形發(fā)生器輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)頻率誤差，完成已計(jì)量頻率計(jì)對(duì)任意波形發(fā)生器輸出信號(hào)的頻率參數(shù)的計(jì)量；
B4、主控計(jì)算機(jī)控制數(shù)據(jù)采集卡的Al通道、數(shù)據(jù)采集卡的DI通道及示波器測(cè)量已計(jì)量任意波形發(fā)生器的輸出信號(hào)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量任意波形發(fā)生器對(duì)數(shù)據(jù)采集卡的Al通道、數(shù)據(jù)采集卡的DI通道及示波器的計(jì)量。
[0027]其中，步驟BI為第一級(jí)計(jì)量方案，步驟B2、B3為第二級(jí)計(jì)量方案，步驟B4為第三級(jí)計(jì)量方案。
[0028]三級(jí)計(jì)量方案確保計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)由系統(tǒng)外部到內(nèi)部的準(zhǔn)確傳遞以及計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)遍歷內(nèi)部全部被校測(cè)控組件，保證被校系統(tǒng)計(jì)量量值的可溯源性。
[0029]自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)整機(jī)自檢依照自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)部互檢鏈進(jìn)行，利用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)自身實(shí)現(xiàn)對(duì)第一測(cè)控組件2及第二測(cè)控組件3輸入、輸出正確性和連接關(guān)系正確性的檢查。
[0030]盡管本發(fā)明的內(nèi)容已經(jīng)通過(guò)上述優(yōu)選實(shí)施例作了詳細(xì)介紹，但應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到上述的描述不應(yīng)被認(rèn)為是對(duì)本發(fā)明的限制。在本領(lǐng)域技術(shù)人員閱讀了上述內(nèi)容后，對(duì)于本發(fā)明的多種修改和替代都將是顯而易見(jiàn)的。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)由所附的權(quán)利要求來(lái)限定。
【權(quán)利要求】
1.一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢、計(jì)量裝置，其特征在于，基于PXI和LXI混合總線(xiàn)架構(gòu)，包含: 主控計(jì)算機(jī)； 第一測(cè)控組件，與所述主控計(jì)算機(jī)通過(guò)PXI總線(xiàn)連接； 第二測(cè)控組件，與所述主控計(jì)算機(jī)通過(guò)LXI總線(xiàn)連接； 測(cè)試接口，分別與所述第一測(cè)控組件及第二測(cè)控組件連接； 電源模塊，一端與所述主控計(jì)算機(jī)連接，其另一端連接所述測(cè)試接口 ； 校準(zhǔn)儀表，與所述測(cè)試接口連接。
2.如權(quán)利要求1所述的原位自檢、計(jì)量裝置，其特征在于，進(jìn)一步包含一適配器，設(shè)置在與所述測(cè)試接口與校準(zhǔn)儀表之間，用于信息交換。
3.如權(quán)利要求1或2所述的原位自檢、計(jì)量裝置，其特征在于，所述的第一測(cè)控組件分為高級(jí)別第一測(cè)控組件及低級(jí)別第一測(cè)控組件；其中低級(jí)別第一測(cè)控組件包含第一激勵(lì)模塊、開(kāi)關(guān)模塊及第一測(cè)試模塊。
4.如權(quán)利要求3所述的原位自檢、計(jì)量裝置，其特征在于，所述的高級(jí)別第一測(cè)控組件包含萬(wàn)用表卡； 第一激勵(lì)模塊包含數(shù)據(jù)采集卡AO通道、數(shù)據(jù)采集卡的DO通道及電阻卡； 開(kāi)關(guān)模塊包含開(kāi)關(guān)矩陣卡及復(fù)用器卡； 第一測(cè)試模塊包含數(shù)據(jù)采集卡的Al通道及數(shù)據(jù)采集卡的DI通道。
5.如權(quán)利要求1所述的原位自檢、計(jì)量裝置，其特征在于，所述的第二測(cè)控組件分為高級(jí)別第二測(cè)控組件及低級(jí)別第二測(cè)控組件；其中低級(jí)別第二測(cè)控組件包含第二激勵(lì)模塊及第二測(cè)試模塊。
6.如權(quán)利要求5所述的原位自檢、計(jì)量裝置，其特征在于，所述的高級(jí)別第二測(cè)控組件包含頻率計(jì)； 第二激勵(lì)模塊包含任意波形發(fā)生器； 第二測(cè)試模塊包含不波器。
7.一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位自檢方法，其特征在于，包含以下步驟: Al、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量第一激勵(lì)模塊、電源模塊和第二激勵(lì)模塊的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)模塊切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量通路，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成高級(jí)別第一測(cè)控組件與第一激勵(lì)模塊、第二激勵(lì)模塊及電源模塊的互檢，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)模塊的檢測(cè)； A2、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成高級(jí)別第二測(cè)控組件與第二激勵(lì)模塊的互檢； A3、主控計(jì)算機(jī)控制第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)，依據(jù)輸出信號(hào)與實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成第一測(cè)試模塊以及第二測(cè)試模塊與第二激勵(lì)模塊的互檢。
8.一種自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原位計(jì)量方法，其特征在于，包含以下步驟: B1、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件及高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量校準(zhǔn)儀表輸出的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成對(duì)高級(jí)別第一測(cè)控組件及高級(jí)別第二測(cè)控組件的計(jì)量; B2、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量第一激勵(lì)模塊及電源模塊的輸出信號(hào)，同時(shí)控制開(kāi)關(guān)模塊切換開(kāi)關(guān)以遍歷所有高級(jí)別第一測(cè)控組件測(cè)量通路，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量高級(jí)別第一測(cè)控組件對(duì)第一激勵(lì)模塊及電源模塊的計(jì)量，同時(shí)完成開(kāi)關(guān)模塊檢測(cè)； B3、主控計(jì)算機(jī)控制高級(jí)別第二測(cè)控組件測(cè)量第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)頻率誤差，完成已計(jì)量高級(jí)別第二測(cè)控組件對(duì)第二激勵(lì)模塊輸出信號(hào)的頻率參數(shù)的計(jì)量； B4、主控計(jì)算機(jī)控制第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊測(cè)量已計(jì)量第二激勵(lì)模塊的輸出信號(hào)，依據(jù)實(shí)測(cè)信號(hào)誤差，完成已計(jì)量第二激勵(lì)模塊對(duì)第一測(cè)試模塊及第二測(cè)試模塊的計(jì)量。
9.如權(quán)利要求8所述的原位計(jì)量方法，其特征在于，所述的步驟BI中校準(zhǔn)儀表輸出的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)為電壓、電阻及周期性標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量信號(hào)。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK104375024SQ201410591474
【公開(kāi)日】2015年2月25日 申請(qǐng)日期:2014年10月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月29日
【發(fā)明者】那麗麗, 馮云, 曲海山, 王哲, 劉鑫光, 龔明 申請(qǐng)人:上海無(wú)線(xiàn)電設(shè)備研究所