表面光散射測量裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種表面光散射測量裝置，包括激光器、斬波器、衰減器、積分球、鎖相放大器、接收器和數(shù)字電壓表，所述激光器發(fā)射的光經過斬波器后，再經過衰減器進入積分球照射至樣品表面，并經過樣品反射后被接收器接收，所述積分球上設有一探測器和前置放大器，所述斬波器連接鎖相放大器，所述鎖相放大器連接探測器和前置放大器，所述鎖相放大器還與數(shù)字電壓表連接，本發(fā)明的表面光散射測量裝置利用激光光源可以油氣有效并以高的精確度來實施，激光光源尤其適于提供高質量的單色光源，能夠快速有效地測量出表面光散射，本發(fā)明的裝置結構簡單，測量結果精確，操作簡易，適用性廣。
【專利說明】表面光散射測量裝置
[0001]

【技術領域】
[0002]本發(fā)明涉及一種表面測量裝置，特別涉及一種表面光散射測量裝置。

【背景技術】
[0003]物質中存在的不均勻團塊使進入物質的光偏離入射方向而向四面八方散開，這種現(xiàn)象稱為光的散射，向四面八方散開的光，就是散射光。與光的吸收一樣，光的散射也會使通過物質的光的強度減弱。是由于介質中存在著其他物質的微粒，或者由于介質本身密度的不均勻性(即密度漲落)，光的散射現(xiàn)象在各個科學技術部門中有廣泛應用。通過散射光的測量可以了解到散射粒子的濃度、大小、形狀及取向等，在物理、化學、氣象等許多方面的研究中得到應用。散射光譜又可用于確定物質分子與原子的特性。近年來利用強激光可獲得受激光散射，更便于進行這種研究與應用。因此測量表面光散射成為待解決的問題。
[0004]


【發(fā)明內容】

[0005]為了克服上述缺陷，本發(fā)明提供了一種能夠快速測量表面光散射的表面光散射測量裝置。
[0006]本發(fā)明為了解決其技術問題所采用的技術方案是:一種表面光散射測量裝置，包括激光器、斬波器、衰減器、積分球、鎖相放大器、接收器和數(shù)字電壓表，所述激光器發(fā)射的光經過斬波器后，再經過衰減器進入積分球照射至樣品表面，并經過樣品反射后被接收器接收，所述積分球上設有一探測器和前置放大器，所述斬波器連接鎖相放大器，所述鎖相放大器連接探測器和前置放大器，所述鎖相放大器還與數(shù)字電壓表連接。
[0007]作為本發(fā)明的進一步改進，所述積分球位于探測器和前置放大器處還設有一閘門。
[0008]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明的表面光散射測量裝置利用激光光源可以尤其有效并以高的精確度來實施，激光光源尤其適于提供高質量的單色光源，能夠快速有效地測量出表面光散射，本發(fā)明的裝置結構簡單，測量結果精確，操作簡易，適用性光。
[0009]

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1為本發(fā)明結構示意圖；
圖中標示:1_激光器；2_斬波器；3_衰減器；4_積分球；5_鎖相放大器；6_接收器；7-數(shù)字電壓表；8-樣品；9_探測器和前置放大器；10_閘門。
[0011]

【具體實施方式】
[0012]為了加深對本發(fā)明的理解，下面將結合實施例和附圖對本發(fā)明作進一步詳述，該實施例僅用于解釋本發(fā)明，并不構成對本發(fā)明保護范圍的限定。
[0013]圖1示出了本發(fā)明一種表面光散射測量裝置的一種實施方式，包括激光器1、斬波器2、衰減器3、積分球4、鎖相放大器5、接收器6和數(shù)字電壓表7，所述激光器I發(fā)射的光經過斬波器2后，再經過衰減器3進入積分球4照射至樣品8表面，并經過樣品8反射后被接收器6接收，所述積分球4上設有一探測器和前置放大器9，所述斬波器2連接鎖相放大器5，所述鎖相放大器5連接探測器和前置放大器9，所述鎖相放大器5還與數(shù)字電壓表7連接。所述積分球4位于探測器和前置放大器9處還設有一閘門10。
【權利要求】
1.一種表面光散射測量裝置，其特征在于:包括激光器(I)、斬波器(2)、衰減器(3)、積分球(4)、鎖相放大器(5)、接收器(6)和數(shù)字電壓表(7)，所述激光器(I)發(fā)射的光經過斬波器(2)后，再經過衰減器(3)進入積分球(4)照射至樣品(8)表面，并經過樣品(8)反射后被接收器(6)接收，所述積分球(4)上設有一探測器和前置放大器(9)，所述斬波器(2)連接鎖相放大器(5)，所述鎖相放大器(5)連接探測器和前置放大器(9)，所述鎖相放大器(5)還與數(shù)字電壓表(7)連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的表面光散射測量裝置，其特征在于:所述積分球(4)位于探測器和前置放大器(9)處還設有一閘門(10)。
【文檔編號】G01N21/47GK104297211SQ201410603630
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年11月3日 優(yōu)先權日:2014年11月3日
【發(fā)明者】尚修鑫 申請人:蘇州精創(chuàng)光學儀器有限公司