一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括單片機(jī)控制模塊、供電模塊、通斷測(cè)試模塊、電阻測(cè)量模塊、溫度測(cè)量模塊、計(jì)時(shí)模塊、電阻率計(jì)算模塊、藍(lán)牙傳輸模塊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊和校準(zhǔn)模塊，其中單片機(jī)控制模塊為中心控制模塊，電阻測(cè)量模塊、溫度測(cè)量模塊、計(jì)時(shí)模塊為測(cè)量核心功能模塊。本發(fā)明提供的電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，使得設(shè)置有該電路系統(tǒng)的電阻率測(cè)量儀具有測(cè)溫度和測(cè)量電阻的雙重功能，并能夠保證充分的測(cè)溫時(shí)間，在保證測(cè)量精度的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了測(cè)量工作的一鍵操作，提高了測(cè)量工作的方便性，減少了測(cè)量工作的工作量，還具有通斷測(cè)試和系統(tǒng)校準(zhǔn)功能。
【專利說明】-種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及電阻率測(cè)量裝置【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有泥漿電阻率測(cè)量裝置一般采用泥漿外露式四級(jí)測(cè)量方法測(cè)量泥漿電阻率，由 于泥漿保溫效能差，而溫度對(duì)于電阻率的測(cè)量結(jié)果有很大影響，傳統(tǒng)泥漿電阻率測(cè)量裝置 不能在檢測(cè)電阻的同時(shí)檢測(cè)溫度，因此電阻率的測(cè)量結(jié)果不夠準(zhǔn)確。對(duì)于擁有溫度測(cè)量功 能的電阻測(cè)量儀又不能夠充分保證溫度測(cè)量的精度，而對(duì)電阻率測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生不利影響。
[0003] 此外，傳統(tǒng)的泥漿電阻率測(cè)量裝置采用箱體結(jié)構(gòu)，專用很大存放空間，接線和測(cè)量 過程繁雜，不易掌握，為測(cè)量電阻率工作帶來了很大困難。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 為此，本發(fā)明提供了一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，本電路系統(tǒng)具有測(cè)溫度和測(cè) 量電阻的雙重功能，并能夠保證充分的測(cè)溫時(shí)間，在保證測(cè)量精度的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了測(cè)量工 作的一鍵操作，提高了測(cè)量工作的方便性，減少了測(cè)量工作的工作量。
[0005] 本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下：
[0006] 本發(fā)明提供了一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，包括單片機(jī)控制模塊、供電模塊、通 斷測(cè)試模塊、電阻測(cè)量模塊、溫度測(cè)量模塊、計(jì)時(shí)模塊、電阻率計(jì)算模塊和校準(zhǔn)模塊；
[0007] 所述單片機(jī)控制模塊是電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)的中心控制模塊，包括用戶輸入 采集模塊、液晶顯示控制模塊和測(cè)量控制模塊；所述用戶輸入采集模塊用于獲取用戶輸入， 并根據(jù)用戶命令控制液晶顯示控制模塊、測(cè)量控制模塊和通斷測(cè)試模塊工作；所述液晶顯 示控制模塊用于控制電阻率測(cè)量儀液晶顯示器的亮度和顯示內(nèi)容；所述測(cè)量控制模塊控制 溫度測(cè)量模塊、電阻測(cè)量模塊和計(jì)時(shí)模塊測(cè)量出待測(cè)物的溫度、電阻并由電阻率計(jì)算模塊 計(jì)算待測(cè)物電阻率；
[0008] 所述供電模塊為電路系統(tǒng)提供穩(wěn)定電壓；
[0009] 所述通斷測(cè)試模塊用于測(cè)量電路通斷情況并將測(cè)試結(jié)果傳輸至液晶顯示控制模 塊；
[0010] 所述電阻測(cè)量模塊由電壓測(cè)量模塊、電流測(cè)量模塊和電阻計(jì)算模塊組成，用于測(cè) 量待測(cè)物電阻并將測(cè)量后的結(jié)果傳輸至電阻率計(jì)算模塊；
[0011] 所述溫度測(cè)量模塊用于測(cè)量待測(cè)物溫度并將測(cè)量結(jié)果傳輸至液晶顯示控制模 塊；
[0012] 所述計(jì)時(shí)模塊控制電阻測(cè)量模塊和溫度測(cè)量模塊的時(shí)間，所述測(cè)量控制模塊發(fā)送 測(cè)量命令后，計(jì)時(shí)模塊開始計(jì)時(shí)，電阻測(cè)量模塊和溫度測(cè)量模塊開始測(cè)量，當(dāng)時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè) 值時(shí)測(cè)量停止，保證溫度測(cè)量電路中溫敏電阻對(duì)溫度充分的感應(yīng)時(shí)間；

【權(quán)利要求】
1. 一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，其特征在于，包括單片機(jī)控制模塊、供電模塊、通斷 測(cè)試模塊、電阻測(cè)量模塊、溫度測(cè)量模塊、計(jì)時(shí)模塊、電阻率計(jì)算模塊和校準(zhǔn)模塊； 所述單片機(jī)控制模塊是電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)的中心控制模塊，包括用戶輸入采集 模塊、液晶顯示控制模塊和測(cè)量控制模塊；所述用戶輸入采集模塊用于獲取用戶輸入，并根 據(jù)用戶命令控制液晶顯示控制模塊、測(cè)量控制模塊和通斷測(cè)試模塊工作；所述液晶顯示控 制模塊用于控制電阻率測(cè)量儀液晶顯示器的亮度和顯示內(nèi)容；所述測(cè)量控制模塊控制溫度 測(cè)量模塊、電阻測(cè)量模塊和計(jì)時(shí)模塊測(cè)量出待測(cè)物的溫度、電阻并由電阻率計(jì)算模塊計(jì)算 待測(cè)物電阻率； 所述供電模塊為電路系統(tǒng)提供穩(wěn)定電壓； 所述通斷測(cè)試模塊用于測(cè)量電路通斷情況并將測(cè)試結(jié)果傳輸至液晶顯示控制模塊； 所述電阻測(cè)量模塊由電壓測(cè)量模塊、電流測(cè)量模塊和電阻計(jì)算模塊組成，用于測(cè)量待 測(cè)物電阻并將測(cè)量后的結(jié)果傳輸至電阻率計(jì)算模塊； 所述溫度測(cè)量模塊用于測(cè)量待測(cè)物溫度并將測(cè)量結(jié)果傳輸至液晶顯示控制模塊； 所述計(jì)時(shí)模塊控制電阻測(cè)量模塊和溫度測(cè)量模塊的時(shí)間，所述測(cè)量控制模塊發(fā)送測(cè)量 命令后，計(jì)時(shí)模塊開始計(jì)時(shí)，電阻測(cè)量模塊和溫度測(cè)量模塊開始測(cè)量，當(dāng)時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)值時(shí) 測(cè)量停止，保證溫度測(cè)量電路中溫敏電阻對(duì)溫度充分的感應(yīng)時(shí)間； 電阻率計(jì)算模塊根據(jù)電阻測(cè)量結(jié)果，根據(jù)公式
計(jì)算待測(cè)物電阻率，其中f為 標(biāo)定系數(shù)，并將計(jì)算結(jié)果傳輸至液晶顯示控制模塊； 校準(zhǔn)模塊用于進(jìn)行進(jìn)行電路系統(tǒng)的重新標(biāo)定，獲取系統(tǒng)的標(biāo)定系數(shù)，標(biāo)定成功則向液 晶顯示控制模塊發(fā)送成功信號(hào)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，其特征在于，校準(zhǔn)模塊根據(jù) 標(biāo)定液進(jìn)行電路系統(tǒng)的標(biāo)定，所述標(biāo)定液為電阻率已知的液體，校準(zhǔn)模塊工作時(shí)，通過電阻
測(cè)量模塊獲取標(biāo)定液電阻，由公式 ，獲取|的值，所述f的值為標(biāo)定系數(shù)。 1 I
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，其特征在于，所述標(biāo)定系數(shù) 作為固有參數(shù)長期存儲(chǔ)于系統(tǒng)內(nèi)部，校準(zhǔn)模塊獲取標(biāo)定系數(shù)后，新測(cè)量出的標(biāo)定系數(shù)覆蓋 原有標(biāo)定系數(shù)并長期存儲(chǔ)于系統(tǒng)內(nèi)部。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1-3中任意一項(xiàng)所述的一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，其特征在于， 所述用戶輸入內(nèi)容包括發(fā)送電路系統(tǒng)校準(zhǔn)、顯示器亮度控制、通斷測(cè)試和電阻率測(cè)量控制 四種命令。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，其特征在于，還包括藍(lán)牙傳 輸模塊，所述傳輸模塊用于傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電阻率測(cè)量儀的電路系統(tǒng)，其特征在于，還包括數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)模塊，所述存儲(chǔ)模塊存儲(chǔ)電阻率測(cè)量值和測(cè)量時(shí)的溫度值。
【文檔編號(hào)】G01R27/02GK104407218SQ201410619112
【公開日】2015年3月11日 申請(qǐng)日期:2014年11月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月5日
【發(fā)明者】劉策, 劉海霞, 于慶棟, 仇春松, 任威, 梁任岳 申請(qǐng)人:貝茲維儀器(蘇州)有限公司