一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，包括以下步驟：步驟1：啟動系統(tǒng)，建立通訊；步驟2：把校高參數A設為0；步驟3：執(zhí)行校高/測高主體過程；首先，程序判斷校高參數A是否為0；當校高參數A=0時，程序進入步驟3-1執(zhí)行高度校準程序，按通訊協(xié)議發(fā)送校準高度指令，來控制機臺；當校高參數A=1時，則進入下述步驟3-2執(zhí)行高度測量程序，按通訊協(xié)議發(fā)送測高指令，來控制機臺；接下來，執(zhí)行下述步驟3-2-1：讀緩沖區(qū)數據，然后讀數據存儲區(qū)測量平臺的零點，再畫出力-位移曲線圖；當機臺達到設定的微力且機臺回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-2-2：計算出被測彈片的高度，然后存入數據存儲區(qū)，生成文字報告。本發(fā)明測量精度高，測量數據精度有高一致性。
【專利說明】一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)

【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測量系統(tǒng)，尤其是涉及一種利用微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)。

【背景技術】
[0002] 現有的測量彈片高度的非接觸式系統(tǒng)，將彈片放在測量平臺2上，在彈片和測量 平臺2之間存在間隙，會導致測量精度差。
[0003] 現有的測量彈片高度的接觸式系統(tǒng)，用手動工具測量彈片高度，因每次測量時操 作人員所用的力度不同，而造成彈片變形不一致，造成測量精度差。
[0004] 現有的測量彈片高度的接觸式和非接觸式系統(tǒng)，其測量過程受到操作人員經驗和 水平的制約，測量精度的一致性差，可重復性差，且效率低。


【發(fā)明內容】

[0005] 本發(fā)明要解決的技術問題在于：克服現有技術的缺陷，提出一種利用微力測量彈 片高度的智能系統(tǒng)。具有高精度、高效率、測量精度一致性好的諸多優(yōu)點。
[0006] 為了解決上述問題，本發(fā)明提出了如下技術方案：一種微力測量彈片高度的智能 系統(tǒng)，其包括一個機臺和一個測量平臺，該機臺包括一個測量頭、一個用戶操作系統(tǒng)以及網 絡通訊接口； 用該智能系統(tǒng)測量彈片高度包括以下步驟： 步驟1 :啟動系統(tǒng)，建立通訊； 當首次進行測量時，程序進入下述步驟1-1:首先啟動測量系統(tǒng)，給機臺上電打開系 統(tǒng)，然后設定測量參數，系統(tǒng)參數進行初始化后，啟動TCP/IP通訊； 接著，程序循環(huán)執(zhí)行下述步驟1-2 :通過網絡接收數據或發(fā)送控制指令將數據存入緩 沖存儲區(qū)，然后返回步驟1-2的程序入口，在啟動TCP/IP通訊后，軟件一直通過TCP/IP接 收數據； 步驟2 :設置校高參數A的初始值，通過TCP/IP通訊的控制指令，把校高參數A設為0 ; 步驟3 :執(zhí)行校高/測高主體過程； 首先，程序判斷校高參數A是否為0 ; 當校高參數A=O時，程序進入步驟3-1執(zhí)行高度校準程序，按通訊協(xié)議發(fā)送校準高度指 令，來控制機臺； 接下來，程序執(zhí)行下述步驟3-1-1 :讀緩沖區(qū)數據，然后畫出力-位移曲線圖，程序判斷 機臺是否達到設定的微力并且機臺是否回到原來的位置； 當機臺未達到設定的微力且機臺未回到原來的位置時，則重復執(zhí)行步驟3-1-1 ; 當機臺達到設定的微力且機臺回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-1-2 :計算出 測量平臺的零點，存入數據存儲區(qū)，把校高參數A設為1，此時完成了測量平臺高度的校準； 此時，完成了步驟3-1，然后返回步驟3的程序入口，再次判斷校高參數A是否為0 ; 當校高參數A =1時，則進入下述步驟3-2執(zhí)行高度測量程序，按通訊協(xié)議發(fā)送測高指 令，來控制機臺； 接下來，執(zhí)行下述步驟3-2-1 :讀緩沖區(qū)數據，然后讀數據存儲區(qū)測量平臺的零點，再 畫出力-位移曲線圖，程序判斷機臺是否達到設定的微力且機臺是否回到原來的位置； 當機臺未達到設定的微力且機臺未回到原來的位置時，則重復執(zhí)行步驟3-2-1 ; 當機臺達到設定的微力且機臺回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-2-2:計算出 被測彈片的高度，然后存入數據存儲區(qū)，生成文字報告； 然后，程序執(zhí)行下列步驟3-2-3 :判斷一次校高/每次校高參數B是否為O ; 當一次校高/每次校高參數B=O時，每次樣品測量前均需校高，則把校高參數A設置為 〇,完成步驟3-2,程序返回步驟3的入口，重新判斷校高參數A是否為0 ; 當一次校高/每次校高參數B=I時，同規(guī)格的樣品測量前僅需進行一次測量平臺的校 高，程序直接返回步驟3的入口，重新判斷校高參數A是否為0。
[0007] 上述技術方案的進一步限定在于，上述一次校高/每次校高參數B的含義是：B=O， 每次樣品測量前均需校高，B=I同規(guī)格的樣品測量前僅需進行一次測量平臺2的校高?？?根據用戶需求進行選擇設置。
[0008] 與現有技術相比，本發(fā)明具有如下有益效果： 1、高精度：本發(fā)明的利用微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，通過微力壓彈片，可以克服彈 片放在測量平臺上的間隙，同時也克服了測量人員力操作過程差異而造成的測量偏差，因 而測量精度高。
[0009] 2、測量數據的精度具有高一致性：本發(fā)明的利用微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)， 通過微力設定控制機臺，同時采集到力和位移的數據，通過預先設置的微力求出對應的高 度，整個測量能很高程度地排除外部因素對測量過程和測量結果的影響，使得測量數據的 精度具有高一致性。
[0010] 3、測量過程具有高可重復性，高效率：測量過程并不過多依賴于測量人員的操作 經驗，降低了操作人員對測量結果的影響，使得測量過程具有更高的可重復性，同時減少了 人員判斷的過程，提高了效率。
[0011] 4、用戶可根據需求，選擇設定測量平臺進行一次校高或每次校高，能滿足多元化 的客戶需求。
[0012] 5、操作方便：測量平臺具有操作系統(tǒng)和網絡通訊，使得測量操作過程和數據傳輸 更簡單方便。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013] 圖1是本發(fā)明測量彈片高度的流程示意圖。

【具體實施方式】
[0014] 本發(fā)明提出一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，其包括一個機臺1和一個測量平 臺2。
[0015] 其中，該機臺1包括一個測量頭、一個用戶操作系統(tǒng)以及網絡通訊接口。
[0016] 本發(fā)明微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，其測量彈片高度的方法的主體部分分為兩 個環(huán)節(jié)： 1、 校準測量平臺2 :當機臺1的測量頭接觸到測量平臺2的力達到設定的微力時，機臺 1回到原來的位置，同時采集力和位移的數據，計算出測量平臺2的高度，并把此高度當作 待測樣品高度的位移零點； 2、 測量彈片的高度：當機臺1的測量頭接觸到放在測量平臺2上的彈片的力達到設定 的微力時，機臺1回到原來的位置，同時采集力和位移的數據，計算待測樣品彈片的高度。
[0017] 如圖1所示，利用上述智能系統(tǒng)來測量彈片高度包括如下步驟： 步驟1 :啟動系統(tǒng)，建立通訊； 當首次進行測量時，程序進入下述步驟1-1:首先啟動測量系統(tǒng)，給機臺1上電打開系 統(tǒng)，然后設定測量參數，系統(tǒng)參數進行初始化后，啟動TCP/IP通訊； 接著，程序循環(huán)執(zhí)行下述步驟1-2 :通過網絡接收數據或發(fā)送控制指令將數據存入緩 沖存儲區(qū)，然后返回步驟1-2的程序入口，在啟動TCP/IP通訊后，軟件一直通過TCP/IP接 收數據。
[0018] 步驟2 :設置校高參數A的初始值，通過TCP/IP通訊的控制指令，把校高參數A設 為〇。
[0019] 步驟3 :執(zhí)行校高/測高主體過程； 首先，程序判斷校高參數A是否為0 ; 當校高參數A=O (Y)時，程序進入步驟3-1執(zhí)行高度校準程序，按通訊協(xié)議發(fā)送校準高 度指令，來控制機臺1 ; 接下來，程序執(zhí)行下述步驟3-1-1 :讀緩沖區(qū)數據，然后畫出力-位移曲線圖，程序判斷 機臺1是否達到設定的微力并且機臺1是否回到原來的位置； 當機臺1未達到設定的微力、機臺1未回到原來的位置時，則重復執(zhí)行步驟3-1-1 ; 當機臺1達到設定的微力、機臺1回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-1-2 :計算 出測量平臺2的零點，存入數據存儲區(qū)，把校高參數A設為1，此時完成了測量平臺2高度的 校準； 此時，完成了步驟3-1，然后返回步驟3的程序入口，再次判斷校高參數A是否為0 ; 當校高參數A =1 (N)時，則進入下述步驟3-2執(zhí)行高度測量程序，按通訊協(xié)議發(fā)送測 高指令，來控制機臺1 ; 接下來，執(zhí)行下述步驟3-2-1 :讀緩沖區(qū)數據，然后讀數據存儲區(qū)測量平臺2的零點，再 畫出力-位移曲線圖，程序判斷機臺1是否達到設定的微力且機臺1是否回到原來的位置； 當機臺1未達到設定的微力且機臺1未回到原來的位置時，則重復執(zhí)行步驟3-2-1 ; 當機臺1達到設定的微力且機臺1回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-2-2 :計算 出被測彈片的高度，然后存入數據存儲區(qū)，生成文字報告； 然后，程序執(zhí)行下列步驟3-2-3 :判斷一次校高/每次校高參數B是否為0 ; 當一次校高/每次校高參數B=O (Y)時，每次樣品測量前均需校高，則把校高參數A設 置為〇,完成步驟3-2,程序返回步驟3的入口，重新判斷校高參數A是否為0。至此，程序完 成了一次完整的校高和測高過程。在一次校高/每次校高參數B設置為0的應用中，每次 樣品測量都執(zhí)行先校高再測高的測量過程。
[0020] 當一次校高/每次校高參數B=I (N)時，同規(guī)格的樣品測量前僅需進行一次測量 平臺2的校高，程序直接返回步驟3的入口。重新判斷校高參數A是否為0。至此，程序完 成了一次完整的校高和測高過程。由于此時參數A=I (N)的狀態(tài)并未被清除，所以程序將 直接進入步驟3-2,執(zhí)行樣品的高度測量程序。在參數B設置為1的應用中，同規(guī)格的樣品 測量前，僅需進行一次測量平臺2的校高，直至完成此規(guī)格樣品的測量，程序均只執(zhí)行測高 過程。
[0021] 上述一次校高/每次校高參數B的含義是：B=0,每次樣品測量前均需校高，B=I同 規(guī)格的樣品測量前僅需進行一次測量平臺2的校高?？筛鶕脩粜枨筮M行選擇設置。
[0022] 在現有技術中，目前市面上的微力測量儀器最小力只能達到50g，分辨力為10g， 這種儀器所使用的微力仍然過大，必然會造成所測量的彈片的形量變過大，從而造成測量 結果不準確。
[0023] 本發(fā)明微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，所應用的微力最小力可達到0· 5g，分辨率 低至〇. 〇lg，如此小的微力不會造成所測量的彈片的形量變過大，因此測量的結果非常準確 真實。
[0024] 下面是一組實驗數據，來說明施加不同的微力，對于彈片高度的測量值的影響：

【權利要求】
1. 一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，其特征在于，其包括一個機臺和一個測量平臺， 該機臺包括一個測量頭、一個用戶操作系統(tǒng)以及網絡通訊接口； 用該智能系統(tǒng)測量彈片高度包括以下步驟： 步驟1 :啟動系統(tǒng)，建立通訊； 當首次進行測量時，程序進入下述步驟1-1:首先啟動測量系統(tǒng)，給機臺上電打開系 統(tǒng)，然后設定測量參數，系統(tǒng)參數進行初始化后，啟動TCP/IP通訊； 接著，程序循環(huán)執(zhí)行下述步驟1-2 :通過網絡接收數據或發(fā)送控制指令將數據存入緩 沖存儲區(qū)，然后返回步驟1-2的程序入口，在啟動TCP/IP通訊后，軟件一直通過TCP/IP接 收數據； 步驟2 :設置校高參數A的初始值，通過TCP/IP通訊的控制指令，把校高參數A設為0 ; 步驟3 :執(zhí)行校高/測高主體過程； 首先，程序判斷校高參數A是否為0 ; 當校高參數A=0時，程序進入步驟3-1執(zhí)行高度校準程序，按通訊協(xié)議發(fā)送校準高度指 令，來控制機臺； 接下來，程序執(zhí)行下述步驟3-1-1 :讀緩沖區(qū)數據，然后畫出力-位移曲線圖，程序判斷 機臺是否達到設定的微力并且機臺是否回到原來的位置； 當機臺未達到設定的微力且機臺未回到原來的位置時，則重復執(zhí)行步驟3-1-1 ; 當機臺達到設定的微力且機臺回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-1-2 :計算出 測量平臺的零點，存入數據存儲區(qū)，把校高參數A設為1，此時完成了測量平臺高度的校準； 此時，完成了步驟3-1，然后返回步驟3的程序入口，再次判斷校高參數A是否為0 ; 當校高參數A =1時，則進入下述步驟3-2執(zhí)行高度測量程序，按通訊協(xié)議發(fā)送測高指 令，來控制機臺； 接下來，執(zhí)行下述步驟3-2-1 :讀緩沖區(qū)數據，然后讀數據存儲區(qū)測量平臺的零點，再 畫出力-位移曲線圖，程序判斷機臺是否達到設定的微力且機臺是否回到原來的位置； 當機臺未達到設定的微力且機臺未回到原來的位置時，則重復執(zhí)行步驟3-2-1 ; 當機臺達到設定的微力且機臺回到原來的位置時，程序執(zhí)行下述步驟3-2-2:計算出 被測彈片的高度，然后存入數據存儲區(qū)，生成文字報告； 然后，程序執(zhí)行下列步驟3-2-3 :判斷一次校高/每次校高參數B是否為0 ; 當一次校高/每次校高參數B=0時，每次樣品測量前均需校高，則把校高參數A設置為 〇,完成步驟3-2,程序返回步驟3的入口，重新判斷校高參數A是否為0 ; 當一次校高/每次校高參數B=1時，同規(guī)格的樣品測量前僅需進行一次測量平臺的校 高，程序直接返回步驟3的入口，重新判斷校高參數A是否為0。
2. 根據權利要求1所述的一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，其特征在于，上述一次 校高/每次校高參數B的含義是：B=0,每次樣品測量前均需校高，B=1同規(guī)格的樣品測量前 僅需進行一次測量平臺2的校高。
3. 根據權利要求1所述的一種微力測量彈片高度的智能系統(tǒng)，其特征在于，該微力測 量彈片高度的智能系統(tǒng)所應用的微力最小力可達到〇. 5g，分辨率低至0. Olg。
【文檔編號】G01B21/02GK104390617SQ201410735324
【公開日】2015年3月4日 申請日期:2014年12月4日 優(yōu)先權日:2014年12月4日
【發(fā)明者】劉俊峰, 鄧巨高, 劉健 申請人:東莞市毫克檢測儀器有限公司