一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，包括測(cè)試探針以及與所述測(cè)試探針電性連接的保護(hù)電路；其中，所述測(cè)試探針包括：VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針、其他信號(hào)測(cè)試探針、和地信號(hào)測(cè)試探針；所述保護(hù)電路包括VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路，VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路，其他信號(hào)保護(hù)電路。有益效果是：通過對(duì)測(cè)試探針與所述測(cè)試探針電性連接的保護(hù)電路的設(shè)置，能夠保護(hù)移動(dòng)終端在使用夾具測(cè)試過程中不被外界環(huán)境產(chǎn)生的ESD和夾具上電瞬間產(chǎn)生的高電壓脈沖損傷，保證了移動(dòng)終端的產(chǎn)品質(zhì)量。
【專利說明】一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及移動(dòng)終端生產(chǎn)測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是涉及一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)
目.0

【背景技術(shù)】
[0002]隨著移動(dòng)通訊技術(shù)的飛速發(fā)展，移動(dòng)終端已成為我們生活中不可或缺的一部分，隨著移動(dòng)終端出貨量的持續(xù)增長(zhǎng)，移動(dòng)終端的生產(chǎn)測(cè)試質(zhì)量也日益為生產(chǎn)廠家所重視。很多移動(dòng)終端生產(chǎn)廠家在生產(chǎn)測(cè)試的過程中僅注重生產(chǎn)車間環(huán)境的ESD防護(hù)和工人操作的ESD防護(hù)，測(cè)試夾具通常沒有保護(hù)電路，這就會(huì)導(dǎo)致在使用夾具測(cè)試的過程中出現(xiàn)一定概率的由于外界環(huán)境產(chǎn)生的ESD或夾具上電瞬間產(chǎn)生的高電壓脈沖造成主板某些芯片顯性或隱性損傷，進(jìn)而導(dǎo)致的終端功能直接失效或終端有損傷暫未失效，但在用戶使用過程中損傷累計(jì)導(dǎo)致功能失效的情況，影響了產(chǎn)品的質(zhì)量與用戶口碑，返修也造成很大的經(jīng)濟(jì)損失。
[0003]因此，本發(fā)明提出了一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，能夠保護(hù)移動(dòng)終端在使用夾具測(cè)試過程中不被外界環(huán)境產(chǎn)生的ESD和夾具上電瞬間產(chǎn)生的高電壓脈沖損傷，保證了移動(dòng)終端的產(chǎn)品質(zhì)量。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中使用夾具測(cè)試過程中移動(dòng)終端容易受到外界環(huán)境產(chǎn)生的ESD和夾具上電瞬間產(chǎn)生的高電壓脈沖損傷的問題。
[0005]本發(fā)明所解決的技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
[0006]一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，包括測(cè)試探針以及與所述測(cè)試探針電性連接的保護(hù)電路；
[0007]所述測(cè)試探針包括:VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針、其他信號(hào)測(cè)試探針、和地信號(hào)測(cè)試探針；
[0008]所述保護(hù)電路包括VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路，VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路，其他信號(hào)保護(hù)電路；
[0009]所述VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路與VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針對(duì)應(yīng)連接，所述VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路與VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針對(duì)對(duì)應(yīng)連接，所述其他信號(hào)保護(hù)電路與其它信號(hào)測(cè)試探針對(duì)應(yīng)連接，所述地信號(hào)測(cè)試探針分別與VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路，VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路，其他信號(hào)保護(hù)電路電性連接，以實(shí)現(xiàn)接地保護(hù)。
[0010]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路包括電阻R1、電容Cl組成的低通濾波電路和ESD防護(hù)器件Dl，所述低通濾波電路和ESD防護(hù)器件Dl并聯(lián)連接；在操作人員將待測(cè)試移動(dòng)終端裝配到測(cè)試夾具的過程中，VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針與移動(dòng)終端VBUS電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)接觸到一起，操作及接觸過程中產(chǎn)生的ESD可以通過ESD防護(hù)器件Dl迅速泄放到夾具地上，使移動(dòng)終端芯片VBUS管腳免予受到ESD產(chǎn)生損傷。在將待測(cè)試終端裝配到測(cè)試夾具上后，測(cè)試人員將打開VBUS電源，在VBUS電源上電的瞬間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)高于VBUS電源的電壓脈沖，由R1、Cl組成的低通濾波電路可以將這個(gè)電壓脈沖過濾掉，使VBUS信號(hào)穩(wěn)定的通過測(cè)試探針傳輸?shù)揭苿?dòng)終端VBUS電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，另當(dāng)VBUS電源有波動(dòng)時(shí)，電容Cl可以使VBUS電源穩(wěn)定，能保護(hù)移動(dòng)終端芯片VBUS管腳不受高電壓脈沖產(chǎn)生能量的損害。
[0011]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路包括相互并聯(lián)的電容C2、穩(wěn)壓二極管D2和ESD防護(hù)器件D3 ;在操作人員將待測(cè)試移動(dòng)終端裝配到測(cè)試夾具的過程中，VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針與移動(dòng)終端VBAT電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)接觸到一起，操作及接觸過程中產(chǎn)生的ESD可以通過ESD防護(hù)器件D3迅速泄放到夾具地上，使移動(dòng)終端芯片VBAT管腳免予受到ESD產(chǎn)生損傷。在將待測(cè)試終端裝配到測(cè)試夾具上后，測(cè)試人員將打開VBAT電源，在VBAT電源上電的瞬間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)高于VBAT電源的電壓脈沖，電容C2可以將這個(gè)電壓脈沖過濾掉，使VBAT信號(hào)穩(wěn)定的通過測(cè)試探針傳輸?shù)揭苿?dòng)終端VBAT電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，保護(hù)了移動(dòng)終端芯片VBAT管腳不受高電壓脈沖產(chǎn)生的浪涌能量的損害。當(dāng)VBUS電源上電時(shí)，移動(dòng)終端的充電模塊會(huì)對(duì)VBAT電源進(jìn)行充電，充電電路工作的瞬間VBAT電源上會(huì)有電壓浪涌，穩(wěn)壓二極管D2則迅速嵌位，將電壓浪涌的能量通過穩(wěn)壓二極管D2泄放到地上，避免移動(dòng)終端芯片VBAT管腳受到電壓浪涌沖擊出現(xiàn)損壞。
[0012]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述其他信號(hào)保護(hù)電路包括ESD防護(hù)器件D4，在操作人員將待測(cè)試移動(dòng)終端裝配到測(cè)試夾具的過程中，其他信號(hào)測(cè)試探針與移動(dòng)終端其他信號(hào)測(cè)試點(diǎn)接觸到一起，操作及接觸過程中產(chǎn)生的ESD可以通過ESD防護(hù)器件D4迅速泄放到夾具地上，使移動(dòng)終端芯片測(cè)試信號(hào)管腳免予受到ESD產(chǎn)生損傷。
[0013]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針、其他信號(hào)測(cè)試探針長(zhǎng)度相同。
[0014]作為優(yōu)選的技術(shù)方案，所述地信號(hào)測(cè)試探針比VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針、其他信號(hào)測(cè)試探針長(zhǎng)度長(zhǎng)Imm?2_ ;在使用夾具測(cè)試時(shí)所述地信號(hào)探針先接觸移動(dòng)終端地信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，電源及其他信號(hào)探針接觸移動(dòng)終端時(shí)產(chǎn)生的ESD及電壓脈沖可以通過保護(hù)電路及時(shí)泄放到地上，避免對(duì)移動(dòng)終端芯片造成損傷。
[0015]本發(fā)明具有的有益效果是:通過對(duì)測(cè)試探針與所述測(cè)試探針電性連接的保護(hù)電路的設(shè)置，能夠保護(hù)移動(dòng)終端在使用夾具測(cè)試過程中不被外界環(huán)境產(chǎn)生的ESD和夾具上電瞬間產(chǎn)生的高電壓脈沖損傷，保證了移動(dòng)終端的產(chǎn)品質(zhì)量。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施方案或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施方案或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施方案，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0017]圖1為本發(fā)明:一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖2為本發(fā)明中的VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路的原理圖；
[0019]圖3為本發(fā)明中的VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路的原理圖；
[0020]圖4為本發(fā)明中的其他信號(hào)保護(hù)電路的原理圖；
[0021]圖5為本發(fā)明中的測(cè)試探針的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0022]為了使本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體圖示，進(jìn)一步闡述本發(fā)明。
[0023]參照?qǐng)D1所示，一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，包括測(cè)試探針20以及與所述測(cè)試探針20電性連接的保護(hù)電路10，測(cè)試探針20 —端固定于測(cè)試夾具上，一端與待測(cè)試移動(dòng)終端30測(cè)試點(diǎn)接觸；其中，所述測(cè)試探針20包括:VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針21、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針22、其他信號(hào)測(cè)試探針23、和地信號(hào)測(cè)試探針24 ;所述保護(hù)電路10包括VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路11，VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路12，其他信號(hào)保護(hù)電路13 ;所述VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路11與VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針21對(duì)應(yīng)連接，所述VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路12與VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針22對(duì)對(duì)應(yīng)連接，所述其他信號(hào)保護(hù)電路13與其它信號(hào)測(cè)試探針20對(duì)應(yīng)連接，所述地信號(hào)測(cè)試探針24分別與VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路11，VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路12，其他信號(hào)保護(hù)電路13電性連接，以實(shí)現(xiàn)接地保護(hù)。
[0024]參照?qǐng)D2所示，所述VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路11包括電阻R1、電容Cl組成的低通濾波電路和ESD防護(hù)器件Dl，所述低通濾波電路和ESD防護(hù)器件Dl并聯(lián)連接；在操作人員將待測(cè)試移動(dòng)終端30裝配到測(cè)試夾具的過程中，VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針21與移動(dòng)終端30的VBUS電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)接觸到一起，操作及接觸過程中產(chǎn)生的ESD可以通過ESD防護(hù)器件Dl迅速泄放到夾具地上，使移動(dòng)終端30的芯片VBUS管腳免予受到ESD產(chǎn)生損傷。在將待測(cè)試終端裝配到測(cè)試夾具上后，測(cè)試人員將打開VBUS電源，在VBUS電源上電的瞬間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)高于VBUS電源的電壓脈沖，由R1、Cl組成的低通濾波電路可以將這個(gè)電壓脈沖過濾掉，使VBUS信號(hào)穩(wěn)定的通過測(cè)試探針20傳輸?shù)揭苿?dòng)終端30的VBUS電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，另當(dāng)VBUS電源有波動(dòng)時(shí)，電容Cl可以使VBUS電源穩(wěn)定，能保護(hù)移動(dòng)終端30的芯片VBUS管腳不受高電壓脈沖產(chǎn)生能量的損害。
[0025]參照?qǐng)D3所示，所述VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路12包括相互并聯(lián)的電容C2、穩(wěn)壓二極管D2和ESD防護(hù)器件D3 ;在操作人員將待測(cè)試移動(dòng)終端30裝配到測(cè)試夾具的過程中，VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針22與移動(dòng)終端30VBAT電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)接觸到一起，操作及接觸過程中產(chǎn)生的ESD可以通過ESD防護(hù)器件D3迅速泄放到夾具地上，使移動(dòng)終端30的芯片VBAT管腳免予受到ESD產(chǎn)生損傷。在將待測(cè)試終端裝配到測(cè)試夾具上后，測(cè)試人員將打開VBAT電源，在VBAT電源上電的瞬間會(huì)產(chǎn)生一個(gè)高于VBAT電源的電壓脈沖，電容C2可以將這個(gè)電壓脈沖過濾掉，使VBAT信號(hào)穩(wěn)定的通過測(cè)試探針20傳輸?shù)揭苿?dòng)終端30VBAT電源信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，保護(hù)了移動(dòng)終端30的芯片VBAT管腳不受高電壓脈沖產(chǎn)生的浪涌能量的損害。當(dāng)VBUS電源上電時(shí)，移動(dòng)終端30的充電模塊會(huì)對(duì)VBAT電源進(jìn)行充電，充電電路工作的瞬間VBAT電源上會(huì)有電壓浪涌，穩(wěn)壓二極管D2則迅速嵌位，將電壓浪涌的能量通過穩(wěn)壓二極管D2泄放到地上，避免移動(dòng)終端30的芯片VBAT管腳受到電壓浪涌沖擊出現(xiàn)損壞。
[0026]參照?qǐng)D4所示，所述其他信號(hào)保護(hù)電路13包括ESD防護(hù)器件D4，在操作人員將待測(cè)試移動(dòng)終端30裝配到測(cè)試夾具的過程中，其他信號(hào)測(cè)試探針23與移動(dòng)終端30其他信號(hào)測(cè)試點(diǎn)接觸到一起，操作及接觸過程中產(chǎn)生的ESD可以通過ESD防護(hù)器件D4迅速泄放到夾具地上，使移動(dòng)終端30的芯片測(cè)試信號(hào)管腳免予受到ESD產(chǎn)生損傷。
[0027]參照?qǐng)D5所示，所述VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針21、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針22、其他信號(hào)測(cè)試探針23長(zhǎng)度相同。所述地信號(hào)測(cè)試探針24比VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針21、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針22、其他信號(hào)測(cè)試探針23長(zhǎng)度長(zhǎng)1_?2_ ;在使用夾具測(cè)試時(shí)所述地信號(hào)探針先接觸移動(dòng)終端30地信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，電源及其他信號(hào)探針接觸移動(dòng)終端30時(shí)產(chǎn)生的ESD及電壓脈沖可以通過保護(hù)電路10及時(shí)泄放到地上，避免對(duì)移動(dòng)終端30的芯片造成損傷。
[0028]本發(fā)明通過在夾具其他信號(hào)探針上增加ESD防護(hù)器件，在VBUS電源探針上增加RC濾波器件和ESD防護(hù)器件，在VBAT電源探針上增加齊納二極管和大電容，并使地信號(hào)探針比電源及其他信號(hào)探針增長(zhǎng)1_，在使用夾具測(cè)試時(shí)使地信號(hào)探針先接觸移動(dòng)終端地信號(hào)測(cè)試點(diǎn)，電源及其他信號(hào)探針接觸移動(dòng)終端時(shí)產(chǎn)生的ESD及電壓脈沖可以通過保護(hù)電路及時(shí)泄放到地上，避免外界環(huán)境產(chǎn)生的ESD及測(cè)試夾具上電瞬間產(chǎn)生的高電壓脈沖因無法泄放對(duì)移動(dòng)終端造成的損傷，進(jìn)而達(dá)到保護(hù)移動(dòng)終端的目的。
[0029]以上顯示和描述了本發(fā)明的基本原理和主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本發(fā)明不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說明書中描述的只是說明本發(fā)明的原理，在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下，本發(fā)明還會(huì)有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本發(fā)明范圍內(nèi)。本發(fā)明要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
【權(quán)利要求】
1.一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，其特征在于，包括測(cè)試探針以及與所述測(cè)試探針電性連接的保護(hù)電路； 所述測(cè)試探針包括:VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針、其他信號(hào)測(cè)試探針、和地信號(hào)測(cè)試探針； 所述保護(hù)電路包括VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路，VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路，其他信號(hào)保護(hù)電路； 所述VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路與VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針對(duì)應(yīng)連接，所述VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路與VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針對(duì)對(duì)應(yīng)連接，所述其他信號(hào)保護(hù)電路與其它信號(hào)測(cè)試探針對(duì)應(yīng)連接，所述地信號(hào)測(cè)試探針分別與VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路，VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路，其他信號(hào)保護(hù)電路電性連接，以實(shí)現(xiàn)接地保護(hù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，其特征在于，所述VBUS電源信號(hào)保護(hù)電路包括電阻R1、電容Cl組成的低通濾波電路和ESD防護(hù)器件Dl，所述低通濾波電路和ESD防護(hù)器件Dl并聯(lián)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，其特征在于，所述VBAT電源信號(hào)保護(hù)電路包括相互并聯(lián)的電容C2、穩(wěn)壓二極管D2和ESD防護(hù)器件D3。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，其特征在于，所述其他信號(hào)保護(hù)電路包括ESD防護(hù)器件D4。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，其特征在于，所述VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針、其他信號(hào)測(cè)試探針長(zhǎng)度相同。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種移動(dòng)終端測(cè)試夾具保護(hù)裝置，其特征在于，所述地信號(hào)測(cè)試探針比VBUS電源信號(hào)測(cè)試探針、VBAT電源信號(hào)測(cè)試探針、其他信號(hào)測(cè)試探針長(zhǎng)度長(zhǎng)Imm ?2mm0
【文檔編號(hào)】G01R1/073GK104502646SQ201410830138
【公開日】2015年4月8日 申請(qǐng)日期:2014年12月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月22日
【發(fā)明者】孫浩 申請(qǐng)人:上海斐訊數(shù)據(jù)通信技術(shù)有限公司