一種陣列基板及其檢測電路的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種陣列基板及其檢測電路。所述檢測電路包括檢測單元，其包括第一至第六檢測線路；切換信號接入單元，其用于接收切換控制信號；檢測信號接入單元，其用于接收第一或第二檢測信號；切換單元，其包括第一和第二切換線路，所述第一和第二切換線路連接在檢測單元、切換信號接入單元和檢測信號接入單元之間。所述陣列基板包括顯示區(qū)和檢測電路。本發(fā)明為檢測電路設(shè)計(jì)兩個開關(guān)以及三個測試點(diǎn)，可通過兩個開關(guān)的開閉切換不同的測試模式，因而可以根據(jù)生產(chǎn)狀況在兩種檢測狀態(tài)下進(jìn)行切換，提高檢測效率。
【專利說明】一種陣列基板及其檢測電路

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，具體地說，涉及一種陣列基板及其檢測電路。

【背景技術(shù)】
[0002]在傳統(tǒng)的顯示面板線路設(shè)計(jì)中，通常會在顯示區(qū)域的外側(cè)設(shè)計(jì)有環(huán)繞面板的稱為短路桿(Shorting Bar)的外圍走線，并將掃描線按照奇數(shù)(ODD)和偶數(shù)(EVEN)分別引出至外圍走線，即整個面板上的奇數(shù)和偶數(shù)掃描線在顯示區(qū)域的外圍各自短接在一起。這種設(shè)計(jì)是為了在TFT制程的檢測環(huán)節(jié)中，可以通過給奇數(shù)和偶數(shù)掃描線不同的電訊號來檢查顯示面板內(nèi)是否存在短路或斷路的情況，配合不同的數(shù)據(jù)信號還可以檢查出其他類型的不良。短路桿(Shorting Bar)在檢測后被斷開或去除，不會影響到成品的正常顯示。
[0003]為了改善垂直取向液晶顯示器在大視角出現(xiàn)的色偏現(xiàn)象，會采用充電共享(Charge Sharing)的像素設(shè)計(jì)方案。圖1為現(xiàn)有技術(shù)中具有短路桿的充電共享陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖。采用第N+2行充電掃描線(Charge Gate Line)信號來控制第N行電荷共享掃描線(Share Gate Line)的開啟和關(guān)閉。如果第N行的充電掃描線和電荷共享掃描線之間發(fā)生短路，由于第N行的共享掃描線與后面第N+2行的充電掃描線相連，使得二者在順序上皆為奇數(shù)或偶數(shù)，那么通過上述奇偶行分別引出短路桿的檢測方式并無法在TFT制程段檢出上述短路缺陷。只能依靠成盒(Cell)點(diǎn)燈甚至成品檢測的方式方能檢出，導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)水平掃描線不良，良率降低。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中還提供一種在短路桿區(qū)域設(shè)置三條檢測線路的陣列基板，如圖2所示。檢測線路G1、G2和G3依次連接至顯示區(qū)域中的連續(xù)三行充電掃描線，并向三條檢測線路依次提供檢測信號。這種方案能夠檢測同一行中充電掃描線和電荷共享掃描線之間的短路缺陷，但檢測方式更加復(fù)雜、耗時更長。特別是產(chǎn)品批量生產(chǎn)量后，由于各項(xiàng)制程已逐步穩(wěn)定，上述短路缺陷出現(xiàn)的幾率極低，繼續(xù)采用該方案就會導(dǎo)致檢測效率低下，影響產(chǎn)能。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有技術(shù)中TFT制程階段檢測方式單一，并不能根據(jù)產(chǎn)品生產(chǎn)各個時期的良率狀況切換檢測方式，檢測效率較低的缺陷。
[0006]為了解決上述技術(shù)問題，本申請的實(shí)施例首先提供一種陣列基板的檢測電路，包括:
[0007]檢測單元，其包括第一至第六檢測線路；
[0008]切換信號接入單元，其用于接收切換控制信號；
[0009]檢測信號接入單元，其用于接收第一或第二檢測信號；
[0010]切換單元，其包括第一和第二切換線路，所述第一和第二切換線路連接在檢測單元、切換信號接入單元和檢測信號接入單元之間；
[0011]其中，在切換控制信號的控制下，第一切換線路導(dǎo)通，使得第一至第六檢測線路分成三組，依次向所述三組檢測線路提供第一檢測信號，或者
[0012]第二切換線路導(dǎo)通，使得第一至第六檢測線路分成兩組，依次向所述兩組檢測線路提供第二檢測信號。
[0013]在一個實(shí)施例中，所述第一切換線路包括:
[0014]第一控制線，其連接切換信號接入單元；
[0015]第一至第六晶體管，其柵極耦接第一控制線，其第一端分別對應(yīng)耦接第一至第六檢測線路；
[0016]其中，第一和第四晶體管的第二端均連接至第一信號共享點(diǎn)，第二和第五晶體管的第二端均連接至第二信號共享點(diǎn)，第三和第六晶體管的第二端均連接至第三信號共享點(diǎn)。
[0017]在一個實(shí)施例中，在第一切換線路導(dǎo)通的情況下，所述三組檢測線路分別為第一和第四檢測線路、第二和第五檢測線路、第三和第六檢測線路。
[0018]在一個實(shí)施例中，所述第二切換線路包括:
[0019]第二控制線，其連接切換信號接入單元；
[0020]第七至第十二晶體管，其柵極耦接第一控制線，其第一端分別對應(yīng)耦接第一至第八檢測線路；
[0021]其中，第七、第九和第十一晶體管的第二端均連接至第四信號共享點(diǎn)，第八、第十和第十二晶體管的第二端均連接至第五信號共享點(diǎn)。
[0022]在一個實(shí)施例中，在第二切換線路導(dǎo)通的情況下，所述兩組檢測線路分別為第一、第三和第五檢測線路，以及第二、第四和第六檢測線路。
[0023]在一個實(shí)施例中，所述檢測信號接入單元包括第一至第三檢測點(diǎn)，其中，
[0024]第一至第三檢測點(diǎn)的第一端分別對應(yīng)連接第一至第三信號共享點(diǎn)，以向所述三組檢測線路依次提供第一檢測信號；
[0025]第一和第三檢測點(diǎn)的第二端分別對應(yīng)連接第四和第五信號共享點(diǎn)，以向所述兩組檢測線路依次提供第二檢測信號。
[0026]在一個實(shí)施例中，所述切換信號接入單元包括第一和第二控制開關(guān)，第一控制開關(guān)連接第一控制線以提供第一控制信號，第二控制開關(guān)連接第二控制線以提供第二控制信號，其中，第一和第二控制信號的電位極性相反。
[0027]本申請的實(shí)施例還提供一種陣列基板，包括顯示區(qū)以及上文所述的檢測電路，所述顯示區(qū)包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線；
[0028]所述檢測區(qū)中的第一至第六檢測線路一一對應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線。
[0029]在一個實(shí)施例中，在第一切換線路導(dǎo)通的情況下，依次向所述三組檢測線路提供第一檢測信號，以檢測每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷；
[0030]在第二切換線路導(dǎo)通的情況下，依次向所述兩組檢測線路提供第二檢測信號，以檢測相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
[0031]在一個實(shí)施例中，在第一切換線路導(dǎo)通的情況下，通過充電線接收到第一檢測信號的子區(qū)域的行號差值為3的倍數(shù)。
[0032]本發(fā)明的有益效果在于為檢測電路設(shè)計(jì)兩個開關(guān)以及三個測試點(diǎn)，可通過兩個開關(guān)的開閉切換不同的測試模式，因而可以根據(jù)生產(chǎn)狀況在兩種檢測狀態(tài)下進(jìn)行切換，提高檢測效率。針對充電共享型陣列基板，在檢測區(qū)域設(shè)置六條檢測線路，提供兩種檢測狀態(tài)，在兩種狀態(tài)下為六條檢測線路提供不同的檢測信號，產(chǎn)生不同的檢測效果。
[0033]本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在說明書、權(quán)利要求書以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0034]附圖用來提供對本申請技術(shù)方案或現(xiàn)有技術(shù)的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，但并不構(gòu)成對本申請技術(shù)方案的限制。
[0035]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中具有短路桿的充電共享陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖；
[0036]圖2是現(xiàn)有技術(shù)中另一種具有短路桿的充電共享陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖；
[0037]圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖；
[0038]圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的檢測電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0039]圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第一檢測模式下檢測電路的工作狀態(tài)示意圖；
[0040]圖6是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第二檢測模式下檢測電路的工作狀態(tài)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0041]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，以下結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)說明。本申請實(shí)施例以及實(shí)施例中的各個特征，在不相沖突的前提下可以相互結(jié)合，所形成的技術(shù)方案均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
[0042]圖3是本實(shí)施例提供的陣列基板的線路結(jié)構(gòu)示意圖。該陣列基板包括顯示區(qū)310和檢測電路320，檢測電路302設(shè)置于顯示區(qū)310的一側(cè)。
[0043]顯示區(qū)310中設(shè)置多行子區(qū)域311，這些子區(qū)域以陣列的形式排列，以在制程后期形成亞像素陣列。每行子區(qū)域中設(shè)置充電線和掃描線，并且，每行子區(qū)域的共享線連接至行號增加值為2的子區(qū)域的充電線，即每行子區(qū)域的充電線為前面相隔一行的共享線提供信號。
[0044]舉例而言，如圖3所示，第N行子區(qū)域設(shè)置充電線C (N)和共享線S (N)，第N_2行子區(qū)域設(shè)置充電線C(N-2)和共享線S(N-2)，其中，第N-2行共享線S(N-2)連接至第N行充電線C (N)，從而利用充電線C(N)上的掃描信號來控制共享線S (N-2)的開啟或者關(guān)閉。
[0045]檢測電路320包括檢測單元321、切換信號接入單元322、檢測信號接入單元323和切換單元324。
[0046]其中，檢測單元321中設(shè)置第一至第六檢測線路Gl?G6，用于向顯示區(qū)310提供檢測信號，以完成對顯示區(qū)310中充電線和掃描線的缺陷檢測。檢測線路Gl?G6 —一對應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線。
[0047]在圖3的示例中，第一檢測線路Gl連接至第N+2行子區(qū)域的充電線C(N+2)，第二檢測線路G2連接至第N+1行子區(qū)域的充電線C(N+1)，類似的，第三至第六檢測線路G3?G6分別連接至第N行、第N-1行、第N-2行和第N-3行子區(qū)域的充電線。
[0048]切換信號接入單元322用于接收切換控制信號。如圖3所示，在一個優(yōu)選地示例中，切換信號接入單元包括第一控制開關(guān)Swl和第二控制開關(guān)Sw2，分別接收第一和第二控制信號。
[0049]檢測信號接入單元323用于接收第一或第二檢測信號。檢測信號接入單元323中設(shè)置互相獨(dú)立的第一檢測點(diǎn)Tel、第二檢測點(diǎn)Te2和第三檢測點(diǎn)Te3。
[0050]切換單元324連接在檢測單元321、切換信號接入單元322和檢測信號接入單元之間323，可根據(jù)第一和第二控制信號切換不同檢測模式。
[0051]在一個優(yōu)選的示例中，切換單元324的電路結(jié)構(gòu)示意如圖4所示。切換單元包括第一切換線路410和第二切換線路420，分別實(shí)現(xiàn)不同的檢測模式。
[0052]第一切換線路410包括第一控制線LI和第一至第六晶體管(Tl至T6)。第一控制線LI連接第一控制開關(guān)SI，從而接收第一控制信號。Tl至T6的柵極耦接第一控制線LI，Tl至T6的第一端分別對應(yīng)耦接第一至第六檢測線路(Gl至G6)。第一和第四晶體管(Tl和T4)的第二端均連接至第一信號共享點(diǎn)A，第二和第五晶體管(T2和T5)的第二端均連接至第二信號共享點(diǎn)B，第三和第六晶體管(T3和T6)的第二端均連接至第三信號共享點(diǎn)C。
[0053]第一切換線路410與檢測信號接入單元323連接，來接收第一檢測信號。具體而言，第一檢測點(diǎn)Tel的第一端連接第一信號共享點(diǎn)A，第二檢測點(diǎn)Te2的第一端連接第二信號共享點(diǎn)B，第三檢測點(diǎn)Te3的第一端連接第三信號共享點(diǎn)C。
[0054]第二切換線路420包括第二控制線L2和第七至第十二晶體管(T7至T12)。第二控制線L2連接第二控制開關(guān)S2，從而接收第二控制信號。T7至T12的柵極耦接第二控制線L2，T7至T12的第一端分別對應(yīng)耦接至第一至第六檢測線路(Gl至G6)。第七、第九和第十一晶體管(T7、T9和Tll)的第二端均連接至第四信號共享點(diǎn)D，第八、第十和第十二晶體管(Τ8、TlO和Τ12)的第二端均連接至第五信號共享點(diǎn)Ε。
[0055]第二切換線路420與檢測信號接入單元323連接，來接收第二檢測信號。具體而言，第一檢測點(diǎn)Tel的第二端連接第四信號共享點(diǎn)D，第三檢測點(diǎn)Te3的第二端連接第五信號共享點(diǎn)E。
[0056]以下結(jié)合圖3、圖5和圖6說明切換單元324實(shí)現(xiàn)兩種不同檢測模式。
[0057]具體而言，在第一種檢測模式下，使得第一至第六檢測線路分成三組，依次向三組檢測線路提供第一檢測信號；在第二種檢測模式下，使得第一至第六檢測線路分成兩組，依次向兩組檢測線路提供第二檢測信號。
[0058]第一種檢測模式適用于陣列基板的量產(chǎn)初期。由于制程環(huán)境的清潔程度較差，諸如灰塵顆粒的微粒對光刻、曝光的制程操作造成影響，導(dǎo)致每行子區(qū)域中的充電線和掃描線之間容易出現(xiàn)短路缺陷。這種短路缺陷可能出現(xiàn)在顯示區(qū)的子區(qū)域中，也可能出現(xiàn)在子區(qū)域外部的線路橋接區(qū)域。例如，如圖3所示，第N行子區(qū)域內(nèi)部的短路位置307處出現(xiàn)充電線C(N)和共享線S(N)之間的短路，或者第N+1行子區(qū)域外部的短路位置308處出現(xiàn)充電線C(N+1)和共享線S(N+1)之間的短路。
[0059]在這種情況下，采用第一檢測模式進(jìn)行檢測，即，向第一控制開關(guān)Swl提供第一控制信號，并為第一至第三檢測點(diǎn)(Tel至Te3)提供第一檢測信號。如圖5所示，第一控制信號為高電平，使得第一控制開關(guān)Swl打開，進(jìn)而通過第一控制線LI向第一至第六晶體管(Tl至T6)的柵極提供高電平信號。這樣以來，Tl至T6打開，使得第一至第六檢測線路Gl至G6均可接收由第一至第三檢測點(diǎn)(Tel至Te3)提供的第一檢測信號。為避免第二切換線路420帶來的不良影響，優(yōu)選地，可向第二控制開關(guān)Sw2提供低電平的第二控制信號，使得第二控制開關(guān)Sw2處于穩(wěn)定的關(guān)閉狀態(tài)。
[0060]第一檢測信號可以包括連續(xù)三個檢測時間段tl、t2和t3。
[0061]在tl時間段內(nèi)向第一檢測點(diǎn)Tel提供檢測信號，進(jìn)而經(jīng)由Tel的第一端和第一共享點(diǎn)A同時向檢測線路Gl和G4提供檢測信號。這時，在第二檢測點(diǎn)Te2和第三檢測點(diǎn)Te3均不提供檢測信號，在G2、G5和G3、G6上不存在檢測信號。正常情況下，第N+2行充電線C(N+2)和第N行共享線S(N)能夠接收到來自檢測線路Gl的第一檢測信號，同樣地，第N-1行充電線C(N-1)和第N-3行共享線S(N-3)能夠接收到來自檢測線路G4的第一檢測信號。進(jìn)一步來說，第N+5行充電線C(N+5)和第N+3行共享線S(N+3)也能夠接收到來自檢測線路G4的第一檢測信號。也就是說，通過充電線接收到第一檢測信號的子區(qū)域的行號為N-1、N+2和N+5，行號的差值為3或者6。
[0062]如圖3所示，若在陣列基板的短路位置307處存在短路缺陷，則由于第N行充電線C(N)與共享線S(N)短路連接，第N行充電線C(N)上也能夠接收到第一檢測信號，進(jìn)而從檢測線路G3上接收到第一檢測信號。則可經(jīng)由第三共享點(diǎn)C在第三檢測點(diǎn)處接收到第一檢測信號。這樣以來，本實(shí)施例的檢測方法能夠檢測到第N行子區(qū)域中充電線和共享線的短路缺陷。
[0063]容易理解，在tl時間段內(nèi)，若第N+2行充電線C(N+2)或者第N行共享線S(N)不能接收到第一檢測信號，則說明充電線C(N+2)或者共享線S(N)出現(xiàn)了斷路。
[0064]在t2時間段內(nèi)向第二檢測點(diǎn)Te2提供檢測信號，進(jìn)而經(jīng)由Te2的第一端和第二共享點(diǎn)B同時向檢測線路G2和G5提供檢測信號，這時在G1、G4和G3、G6上不存在檢測信號。正常情況下，第N+1行充電線C(N+1)和第N-1行共享線S(N-1)能夠接收到來自G2的第一檢測信號，第N-2行充電線C(N-2)和第N-4行共享線S(N-4)能夠接收到來自G5的第一檢測信號。也就是說，通過充電線接收到第一檢測信號的子區(qū)域的行號為N+1和N-2，行號的差值為3。
[0065]若在陣列基板的短路位置308處存在短路缺陷，則由于第N+3行充電線C (N+3)與共享線S(N+1)短路連接，第N+3行充電線C(N+3)上也能夠接收到第一檢測信號，進(jìn)而從檢測線路G6上接收到第一檢測信號。則可經(jīng)由第三共享點(diǎn)C在第三檢測點(diǎn)處接收到第一檢測信號。這樣以來，本實(shí)施例的檢測方法能夠檢測到第N+1行子區(qū)域中充電線和共享線的短路缺陷。
[0066]容易理解，在t2時間段內(nèi)，若第N+1行充電線C(N+1)或者第N_1行共享線S(N_l)不能接收到第一檢測信號，則說明充電線C(N+1)或者共享線S(N-1)出現(xiàn)了斷路。
[0067]類似的，在t3時間段內(nèi)向第三檢測點(diǎn)Te3提供檢測信號，從而進(jìn)而經(jīng)由Te3的第一端和第三共享點(diǎn)C同時向檢測線路G3和G6提供檢測信號，這時在第一檢測點(diǎn)Tel和第二檢測點(diǎn)Te2上不存在檢測信號，可以檢測第N-1行子區(qū)域中充電線和共享線的短路缺陷。
[0068]因此，可以在第一檢測狀態(tài)下，將第一至第六檢測線路Gl至G6分成三組，即Gl和G4為第一組，G2和G5為第二組，G3和G6為第三組，依次向這三組掃描線路提供第一檢測信號。從而完成精確檢測，能夠提高陣列基板中短路缺陷的檢出率。但是這一狀態(tài)下需要的檢測時間較長，效率較低。
[0069]第二種檢測模式適用于批量生產(chǎn)階段。由于制程條件趨于穩(wěn)定，每行子區(qū)域中的充電線和掃描線之間很少會出現(xiàn)短路缺陷，在這種情況下，如果繼續(xù)按照第一種檢測狀態(tài)操作，導(dǎo)致檢測效率低下。
[0070]在這種情況下，采用第二檢測模式進(jìn)行檢測，S卩，向第二控制開關(guān)Sw2提供第二控制信號，并為第一和第三檢測點(diǎn)(Tel和Te3)提供第二檢測信號。如圖6所示，第二控制信號為高電平，使得第二控制開關(guān)Sw2打開，進(jìn)而通過第二控制線L2向第七至第十二晶體管(T7至T12)的柵極提供高電平信號。這樣以來，T7至T12打開，使得第一至第六檢測線路Gl至G6均可接收由第一和第三檢測點(diǎn)(Tel和Te3)提供的第二檢測信號。類似地，為避免第一切換線路410帶來的不良影響，優(yōu)選地，可向第一控制開關(guān)Swl提供低電平的第一控制信號，使得第一控制開關(guān)Swl處于穩(wěn)定的關(guān)閉狀態(tài)。
[0071]在第二檢測狀態(tài)下，將第一至第六檢測線路Gl?G6分成兩組，即Gl、G3和G5為第一組，G2、G4和G6為第二組，并依次向這兩組掃描線路提供第二檢測信號。第二檢測信號可以包括連續(xù)兩個檢測時間段tl和t2。
[0072]在tl時間段內(nèi)向第一檢測點(diǎn)Tel提供第二檢測信號，進(jìn)而經(jīng)由Tel的第二端和第四共享點(diǎn)D同時向檢測線路Gl、G3和G5提供第二檢測信號，這時在G2、G4和G6上不存在檢測信號，因此，在第二檢測點(diǎn)Te2和第三檢測點(diǎn)Te3上不存在檢測信號。若第N行和第N-1行子區(qū)域的充電線中發(fā)生短路，在充電線C(N-1)上接收到來自G3的第二檢測信號，進(jìn)而在檢測線路G4上接收到第二檢測信號，則在第三檢測點(diǎn)Te3上接收到第二檢測信號。從而能夠檢測出相鄰行子區(qū)域中充電線的短路缺陷。
[0073]在t2時間段內(nèi)向第二檢測點(diǎn)Te3提供第二檢測彳目號，進(jìn)而經(jīng)由Te3的第二端和第五共享點(diǎn)E同時向G2、G4和G6提供第二檢測信號，這時在G1、G3和G5上不存在檢測信號。類似地也能夠檢測到相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
[0074]這種檢測狀態(tài)的檢測效率$父尚，與第一檢測狀態(tài)相比能夠提尚廣能。這種檢測狀態(tài)下，通過給奇數(shù)和偶數(shù)掃描線不同的電訊號來檢查陣列基板內(nèi)是否存在短路或斷路的情況，配合不同的數(shù)據(jù)信號還可以檢查出其他類型的不良。
[0075]本實(shí)施例針對N+2充電共享型陣列基板，在檢測區(qū)域設(shè)置6條檢測線路，提供兩種檢測狀態(tài)，在兩種狀態(tài)下為6條檢測線路提供不同的檢測信號，產(chǎn)生不同的檢測效果。為檢測電路設(shè)計(jì)兩個開關(guān)以及三個測試點(diǎn)，可通過兩個開關(guān)的開閉切換不同的測試模式，因而可以根據(jù)生產(chǎn)狀況在兩種檢測狀態(tài)下進(jìn)行切換，提高檢測效率。
[0076]在第二種檢測模式下，由于僅需要兩種檢測信號，在檢測信號接入?yún)^(qū)中僅設(shè)置兩個檢測點(diǎn)即可。從而簡化外部檢測機(jī)臺配置，省去不必要的信號發(fā)生裝置和探測裝置。
[0077]上述實(shí)施例中顯示區(qū)為N+2的走線橋接方式，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號增加值為2的子區(qū)域的充電線，即每行子區(qū)域的充電線為前面相隔一行的共享線提供信號。本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解，對于N+4、N+6等走線橋接方式，只要滿足每行子區(qū)域的的共享線連接至行號增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線，即可采用本實(shí)施例中提供的檢測電路進(jìn)行檢測。
[0078]雖然本發(fā)明所公開的實(shí)施方式如上，但所述的內(nèi)容只是為了便于理解本發(fā)明而采用的實(shí)施方式。任何本發(fā)明所屬【技術(shù)領(lǐng)域】內(nèi)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明所公開的精神和范圍的前提下，可以在實(shí)施的形式上及細(xì)節(jié)上作任何的修改與變化，但本發(fā)明的專利保護(hù)范圍，仍須以所附的權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種陣列基板的檢測電路，其特征在于，包括: 檢測單元，其包括第一至第六檢測線路； 切換信號接入單元，其用于接收切換控制信號； 檢測信號接入單元，其用于接收第一或第二檢測信號； 切換單元，其包括第一和第二切換線路，所述第一和第二切換線路連接在檢測單元、切換信號接入單元和檢測信號接入單元之間； 其中，在切換控制信號的控制下，第一切換線路導(dǎo)通，使得第一至第六檢測線路分成三組，依次向所述三組檢測線路提供第一檢測信號，或者 第二切換線路導(dǎo)通，使得第一至第六檢測線路分成兩組，依次向所述兩組檢測線路提供第二檢測信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列基板的檢測電路，其特征在于，所述第一切換線路包括: 第一控制線，其連接切換信號接入單元； 第一至第六晶體管，其柵極耦接第一控制線，其第一端分別對應(yīng)耦接第一至第六檢測線路； 其中，第一和第四晶體管的第二端均連接至第一信號共享點(diǎn)，第二和第五晶體管的第二端均連接至第二信號共享點(diǎn)，第三和第六晶體管的第二端均連接至第三信號共享點(diǎn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板的檢測電路，其特征在于，在第一切換線路導(dǎo)通的情況下，所述三組檢測線路分別為第一和第四檢測線路、第二和第五檢測線路、第三和第六檢測線路。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列基板的檢測電路，其特征在于，所述第二切換線路包括: 第二控制線，其連接切換信號接入單元； 第七至第十二晶體管，其柵極耦接第一控制線，其第一端分別對應(yīng)耦接第一至第六檢測線路； 其中，第七、第九和第十一晶體管的第二端均連接至第四信號共享點(diǎn)，第八、第十和第十二晶體管的第二端均連接至第五信號共享點(diǎn)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的陣列基板的檢測電路，其特征在于，在第二切換線路導(dǎo)通的情況下，所述兩組檢測線路分別為第一、第三和第五檢測線路，以及第二、第四和第六檢測線路。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的陣列基板的檢測電路，其特征在于，所述檢測信號接入單元包括第一至第三檢測點(diǎn)，其中， 第一至第三檢測點(diǎn)的第一端分別對應(yīng)連接第一至第三信號共享點(diǎn)，以向所述三組檢測線路依次提供第一檢測信號； 第一和第三檢測點(diǎn)的第二端分別對應(yīng)連接第四和第五信號共享點(diǎn)，以向所述兩組檢測線路依次提供第二檢測信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的陣列基板的檢測電路，其特征在于，所述切換信號接入單元包括第一和第二控制開關(guān)，第一控制開關(guān)連接第一控制線以提供第一控制信號，第二控制開關(guān)連接第二控制線以提供第二控制信號，其中，第一和第二控制信號的電位極性相反。
8.—種陣列基板，其特征在于，包括顯示區(qū)以及如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的陣列基板的檢測電路，所述顯示區(qū)包括若干行子區(qū)域，每行子區(qū)域設(shè)置充電線和共享線，每行子區(qū)域的的共享線連接至行號增加值為偶數(shù)的子區(qū)域的充電線； 所述檢測區(qū)中的第一至第六檢測線路一一對應(yīng)地連接至顯示區(qū)中的連續(xù)六行子區(qū)域的充電線。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的陣列基板，其特征在于，在第一切換線路導(dǎo)通的情況下，依次向所述三組檢測線路提供第一檢測信號，以檢測每行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷； 在第二切換線路導(dǎo)通的情況下，依次向所述兩組檢測線路提供第二檢測信號，以檢測相鄰行子區(qū)域中充電線和共享線的線路缺陷。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的陣列基板，其特征在于，在第一切換線路導(dǎo)通的情況下，通過充電線接收到第一檢測信號的子區(qū)域的行號差值為3的倍數(shù)。
【文檔編號】G01R31/02GK104464587SQ201410856207
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年12月31日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月31日
【發(fā)明者】王醉, 郭晉波 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司