X-熒光光譜分析用雙面樣品盒的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，屬于X-熒光光譜分析領(lǐng)域，其結(jié)構(gòu)包括盒體、盒蓋、底板及面罩構(gòu)成，盒蓋旋接在盒體上端開口處，面罩抵壓設(shè)置在盒體上端與盒蓋之間，盒蓋上開有透射孔，面罩上開有檢測(cè)孔，面罩上檢測(cè)孔的直徑小于盒蓋上透射孔的直徑，且檢測(cè)孔的軸心與透射孔的軸心不重合，底板外緣設(shè)置有外螺紋并與盒體內(nèi)壁上設(shè)置的內(nèi)螺紋相配合，在底板的內(nèi)側(cè)上表面設(shè)置有下壓板，下壓板的外緣設(shè)置有定位凸起并與底板上設(shè)置的定位凹槽相配合，底板上開有透射孔，下壓板上開有檢測(cè)孔。底板在此可與蓋體形成兩個(gè)面罩。本實(shí)用新型縮短了檢測(cè)該樣品時(shí)抽真空的時(shí)間，強(qiáng)了樣品盒的使用功能。
【專利說(shuō)明】X-熒光光譜分析用雙面樣品盒
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及X-熒光光譜分析領(lǐng)域，具體地說(shuō)是一種X-熒光光譜分析用雙面
樣品盒。
【背景技術(shù)】
[0002]X-熒光光譜分析中，通常把樣品放置在樣品盒中施行測(cè)定，樣品盒的形狀為圓柱體，對(duì)于圓柱體的兩個(gè)底面，一個(gè)底面開有圓孔，另一個(gè)完全封閉，開有圓孔的底面稱為面罩，設(shè)置在面罩上的圓孔規(guī)定著樣品檢測(cè)面的位置和大小，通常稱其為檢測(cè)孔或觀測(cè)孔。對(duì)于固定在樣品盒的樣品來(lái)說(shuō)，其檢測(cè)位置和大小就被面罩所固定下來(lái)?，F(xiàn)有的樣品盒大都只可以檢測(cè)樣品的上部位置，如果檢測(cè)完樣品盒中的一個(gè)樣品時(shí)，需要再準(zhǔn)備另一個(gè)樣品放入盒體中，這樣一來(lái)便產(chǎn)生樣品檢測(cè)的真空期，增加了檢測(cè)時(shí)間。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的技術(shù)任務(wù)是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種設(shè)計(jì)合理、使用效果好的X-熒光光譜分析領(lǐng)域。
[0004]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
[0005]X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，包括盒體、盒蓋、底板及面罩構(gòu)成，盒蓋旋接在盒體上端開口處，面罩抵壓設(shè)置在盒體上端與盒蓋之間，盒蓋上開有透射孔，面罩上開有檢測(cè)孔，面罩上檢測(cè)孔的直徑小于盒蓋上透射孔的直徑，且檢測(cè)孔的軸心與透射孔的軸心不重合，底板外緣設(shè)置有外螺紋并與盒體內(nèi)壁上設(shè)置的內(nèi)螺紋相配合，在底板的內(nèi)側(cè)上表面設(shè)置有下壓板，下壓板的外緣設(shè)置有定位凸起并與底板上設(shè)置的定位凹槽相配合，底板上開有透射孔，下壓板上開有檢測(cè)孔。底板在此可與蓋體形成兩個(gè)面罩。
[0006]所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其下壓板上檢測(cè)孔的直徑小于底板上透射孔的直徑，且檢測(cè)孔的軸心與透射孔的軸心不重合。
[0007]所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其在透射孔周邊的底板外表面上設(shè)置有定位柄。
[0008]所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其在透射孔周邊的底板外表面上設(shè)置有定位凹槽。
[0009]所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其在下壓板外表面上固定有調(diào)節(jié)手柄。
[0010]把上述樣品盒中封閉的底面開一個(gè)圓孔(即檢測(cè)孔)用于放置檢測(cè)樣品，使其變?yōu)闃悠泛械囊粋€(gè)面罩，那么該樣品盒就有了上下兩個(gè)面罩。
[0011]本實(shí)用新型的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒與現(xiàn)有技術(shù)相比，所產(chǎn)生的有益效果是:
[0012]I)、該樣品盒可以攜帶兩個(gè)用于檢測(cè)的樣品進(jìn)入儀器，一個(gè)用于檢測(cè)，另一個(gè)為檢測(cè)做預(yù)抽真空準(zhǔn)備，從而縮短了檢測(cè)該樣品時(shí)抽真空的時(shí)間，從而提高了效率。
[0013]2)、兩個(gè)面罩的類型和大小設(shè)置為不同時(shí)，就能滿足不同的檢測(cè)需求，從而增強(qiáng)了樣品盒的使用功能。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0014]附圖1是實(shí)施例一 X-熒光光譜分析用樣品盒的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]附圖2是圖1所示樣品盒的仰視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0016]附圖3是實(shí)施例二 X-熒光光譜分析用樣品盒的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]附圖4是圖3所示樣品盒的仰視結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作以下詳細(xì)說(shuō)明。
[0019]實(shí)施例一:
[0020]如附圖1、2所示，本實(shí)用新型其結(jié)構(gòu)包括盒體5、盒蓋3、底板8及面罩4構(gòu)成，盒蓋3旋接在盒體5上端開口處，面罩4抵壓設(shè)置在盒體5上端與盒蓋3之間，盒蓋3上開有透射孔1-1，面罩4上開有檢測(cè)孔2-1，面罩4上檢測(cè)孔2-1的直徑小于盒蓋3上透射孔1_1的直徑，且檢測(cè)孔2-1的軸心與透射孔1-1的軸心不重合，底板8外緣設(shè)置有外螺紋并與盒體5內(nèi)壁上設(shè)置的內(nèi)螺紋6相配合，在底板8的內(nèi)側(cè)上表面設(shè)置有下壓板7，下壓板7的外緣設(shè)置有定位凸起并與底板8上設(shè)置的定位凹槽相配合，底板8上開有透射孔1-2，下壓板7上開有檢測(cè)孔2-2。
[0021]下壓板7上檢測(cè)孔2-2的直徑小于底板8上透射孔1-2的直徑，且檢測(cè)孔2_2的軸心與透射孔1-2的軸心不重合。
[0022]在透射孔1-2周邊的底板8外表面上設(shè)置有定位柄9。
[0023]在下壓板7外表面上固定有調(diào)節(jié)手柄11。
[0024]實(shí)施例二:
[0025]如附圖3、4所示，本實(shí)用新型其結(jié)構(gòu)包括盒體5、盒蓋3、底板8及面罩4構(gòu)成，盒蓋3旋接在盒體5上端開口處，面罩4抵壓設(shè)置在盒體5上端與盒蓋3之間，盒蓋3上開有透射孔1-1，面罩4上開有檢測(cè)孔2-1，面罩4上檢測(cè)孔2-1的直徑小于盒蓋3上透射孔1_1的直徑，且檢測(cè)孔2-1的軸心與透射孔1-1的軸心不重合，底板8外緣設(shè)置有外螺紋并與盒體5內(nèi)壁上設(shè)置的內(nèi)螺紋6相配合，在底板8的內(nèi)側(cè)上表面設(shè)置有下壓板7，下壓板7的外緣設(shè)置有定位凸起并與底板8上設(shè)置的定位凹槽相配合，底板8上開有透射孔1-2，下壓板7上開有檢測(cè)孔2-2。
[0026]下壓板7上檢測(cè)孔2-2的直徑小于底板8上透射孔1_2的直徑，且檢測(cè)孔2_2的軸心與透射孔1-2的軸心不重合。
[0027]在透射孔1-2周邊的底板8外表面上設(shè)置有調(diào)節(jié)凹槽10。
[0028]在下壓板7外表面上固定有調(diào)節(jié)手柄11。
[0029]本實(shí)用新型的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒其加工制作簡(jiǎn)單方便，按說(shuō)明書附圖所示加工制作即可。
[0030]除說(shuō)明書所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)人員的已知技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1.X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，包括盒體、盒蓋、底板及面罩構(gòu)成，盒蓋旋接在盒體上端開口處，面罩抵壓設(shè)置在盒體上端與盒蓋之間，盒蓋上開有透射孔，面罩上開有檢測(cè)孔，面罩上檢測(cè)孔的直徑小于盒蓋上透射孔的直徑，且檢測(cè)孔的軸心與透射孔的軸心不重合，其特征在于，底板外緣設(shè)置有外螺紋并與盒體內(nèi)壁上設(shè)置的內(nèi)螺紋相配合，在底板的內(nèi)側(cè)上表面設(shè)置有下壓板，下壓板的外緣設(shè)置有定位凸起并與底板上設(shè)置的定位凹槽相配合，底板上開有透射孔，下壓板上開有檢測(cè)孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其特征在于下壓板上檢測(cè)孔的直徑小于底板上透射孔的直徑，且檢測(cè)孔的軸心與透射孔的軸心不重合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其特征在于在透射孔周邊的底板外表面上設(shè)置有定位柄。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其特征在于在透射孔周邊的底板外表面上設(shè)置有定位凹槽。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X-熒光光譜分析用雙面樣品盒，其特征在于在下壓板外表面上固定有調(diào)節(jié)手柄。
【文檔編號(hào)】G01N23/223GK203758937SQ201420078667
【公開日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2014年2月25日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月25日
【發(fā)明者】洪飛, 袁家義, 劉晶 申請(qǐng)人:洪飛, 袁家義, 劉晶