可旋轉(zhuǎn)試樣的x射線衍射儀試樣座的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,以解決目前靜態(tài)放置樣品,測(cè)量的部位受限,造成大晶粒效應(yīng)等問題。它主要由試樣座基架、圓形支架、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、樣品托盤組成,試樣座基架內(nèi)有水平的柱形槽,圓形支架垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合,旋轉(zhuǎn)電機(jī)固定在圓形支架中心,旋轉(zhuǎn)電機(jī)主軸與樣品托盤底部中心相連,頂升螺桿穿過試樣座基架可頂住圓形支架上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相對(duì)的另一面,使圓形支架在柱形槽內(nèi)滑動(dòng)。本實(shí)用新型擺放試樣方便牢固,通過調(diào)節(jié)頂升螺桿可使試樣被測(cè)平面達(dá)到測(cè)量位置,能產(chǎn)生正確的X射線衍射峰,使測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確;而且實(shí)現(xiàn)了試樣在測(cè)量過程中的360°旋轉(zhuǎn),消除了由于樣品大晶粒效應(yīng)造成的測(cè)量誤差。
【專利說明】可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座。
【背景技術(shù)】
[0002]X射線衍射技術(shù)已廣泛用于晶體結(jié)構(gòu)分析、晶格常數(shù)計(jì)算,以及薄膜厚度測(cè)定、晶粒大小測(cè)量和宏觀內(nèi)應(yīng)力測(cè)量等,成為物理學(xué)、化學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)以及生物學(xué)等許多領(lǐng)域必不可少的測(cè)量與分析手段。
[0003]一般的X射線衍射儀可以用來測(cè)量粉末樣品與塊狀樣品。對(duì)粉末樣品進(jìn)行測(cè)量時(shí),需樣品的粒徑在5--m左右,樣品的份量足夠,將粉末試樣填入玻璃試樣片中,然后進(jìn)行測(cè)量。對(duì)塊狀樣品進(jìn)行X射線衍射測(cè)量時(shí),通常都是用橡皮泥將樣品貼在鋁制樣品架上。如果是大尺寸試樣,則直接放于X射線衍射儀的試樣座上。上述試樣放置方法必須使被測(cè)平面和X衍射儀的試樣座的特定平面平行,從而產(chǎn)生準(zhǔn)確的X射線衍射信號(hào),獲得準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)。
[0004]上述傳統(tǒng)的試樣放置方式都是靜態(tài)的,在測(cè)量過程中試樣靜止不動(dòng)。由于靜態(tài)放置樣品,測(cè)量的部位固定且區(qū)域相對(duì)局限,造成測(cè)量的誤差;在進(jìn)行鋼鐵材料的織構(gòu)的測(cè)量,如測(cè)量材料的ODF圖、反極圖時(shí),如果試樣的晶粒尺寸太大,會(huì)造成大晶粒效應(yīng),從而造成測(cè)量誤差。而消除和減小大晶粒效應(yīng)的最有效途徑,是在測(cè)量中使試樣在被測(cè)平面內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)缺陷,提供一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座。
[0006]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是這樣實(shí)現(xiàn)的:可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,主要由試樣座基架、圓形支架、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、樣品托盤組成,試樣座基架內(nèi)有水平的柱形槽,圓形支架垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合,旋轉(zhuǎn)電機(jī)固定在圓形支架中心,旋轉(zhuǎn)電機(jī)主軸與樣品托盤底部中心相連,可帶動(dòng)樣品托盤在垂直面自轉(zhuǎn)。
[0007]優(yōu)選的,頂升螺桿穿過試樣座基架可頂住圓形支架上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相對(duì)的另一面,使圓形支架在柱形槽內(nèi)滑動(dòng)。
[0008]優(yōu)選的,旋轉(zhuǎn)電機(jī)通過調(diào)速開關(guān)與電源相連。
[0009]優(yōu)選的,樣品托盤為帶磁性的樣品托盤。
[0010]本實(shí)用新型擺放試樣方便牢固,通過調(diào)節(jié)頂升螺桿可使試樣被測(cè)平面達(dá)到測(cè)量位置,能產(chǎn)生正確的X射線衍射峰,使測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確;而且實(shí)現(xiàn)了試樣在測(cè)量過程中的360°旋轉(zhuǎn),從而消除了由于樣品大晶粒效應(yīng)造成的測(cè)量誤差。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0011]圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。[0012]圖中,1-試樣座基架;2_樣品托盤;3_旋轉(zhuǎn)電機(jī);4_圓形支架;5_頂升螺桿;6-調(diào)速開關(guān);7-試樣。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖作進(jìn)一步描述:
[0014]如圖1所示,可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,主要由試樣座基架1、圓形支架
4、旋轉(zhuǎn)電機(jī)3、樣品托盤2組成,試樣座基架I內(nèi)有水平的柱形槽,圓形支架4垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合,旋轉(zhuǎn)電機(jī)3固定在圓形支架4中心,旋轉(zhuǎn)電機(jī)3主軸與樣品托盤2底部中心相連,可帶動(dòng)樣品托盤2在垂直面自轉(zhuǎn);頂升螺桿5穿過試樣座基架I可頂住圓形支架4上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)3相對(duì)的另一面,使圓形支架4在柱形槽內(nèi)滑動(dòng);旋轉(zhuǎn)電機(jī)3通過調(diào)速開關(guān)6與電源相連;樣品托盤2為帶磁性的樣品托盤,可加強(qiáng)對(duì)試樣7的固定。
[0015]操作時(shí),將試樣7制備成合適尺寸,直接放于樣品托盤2上,調(diào)節(jié)頂升螺桿5,將試樣7被測(cè)平面調(diào)節(jié)到合適測(cè)量位置,控制調(diào)速開關(guān)6,調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)速至合適大小;完成X射線衍射儀的參數(shù)設(shè)置,在旋轉(zhuǎn)狀態(tài)下對(duì)試樣進(jìn)行織構(gòu)測(cè)量。
[0016]本實(shí)用新型安裝和操作過程簡(jiǎn)單,克服了常規(guī)靜態(tài)試樣放置對(duì)大晶粒尺寸試樣測(cè)量織構(gòu)時(shí)存在的困難,提高了 X射線衍射分析的準(zhǔn)確度。
【權(quán)利要求】
1.可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,其特征在于:它主要由試樣座基架、圓形支架、旋轉(zhuǎn)電機(jī)、樣品托盤組成,試樣座基架內(nèi)有水平的柱形槽,圓形支架垂直放置在柱形槽內(nèi)且與柱形槽內(nèi)壁緊密配合,旋轉(zhuǎn)電機(jī)固定在圓形支架中心,旋轉(zhuǎn)電機(jī)主軸與樣品托盤底部中心相連,可帶動(dòng)樣品托盤在垂直面自轉(zhuǎn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,其特征在于:頂升螺桿穿過試樣座基架可頂住圓形支架上與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相對(duì)的另一面,使圓形支架在柱形槽內(nèi)滑動(dòng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,其特征在于:旋轉(zhuǎn)電機(jī)通過調(diào)速開關(guān)與電源相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線衍射儀試樣座,其特征在于:樣品托盤為帶磁性的樣品托盤。
【文檔編號(hào)】G01N23/207GK203732472SQ201420122913
【公開日】2014年7月23日 申請(qǐng)日期:2014年3月19日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月19日
【發(fā)明者】王志奮, 李長(zhǎng)一, 劉敏, 王俊霖, 余晴, 歐陽珉路, 黃海娥, 楊志婷, 陳士華, 周元貴 申請(qǐng)人:武漢鋼鐵(集團(tuán))公司