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      光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器的制造方法

      文檔序號(hào):6049999閱讀:409來源:國知局
      光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器的制造方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種能夠提高玻璃析晶性能測(cè)試準(zhǔn)確性的樣品容器。光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器,包括主體,在所述主體的中心設(shè)置有樣品槽。本實(shí)用新型通過將樣品放置在樣品槽中,并采用燒結(jié)陶瓷制作的蓋片遮蔽,有效排除析晶性能測(cè)試過程中外界粉渣的影響,以及熔體高溫?fù)]發(fā)和侵蝕等誤差因素,提高了玻璃析晶性能測(cè)試的準(zhǔn)確性;熱電偶可插入樣品容器內(nèi)測(cè)試校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品溫度梯度分布測(cè)試,繪制溫度分布曲線,更加真實(shí)方便地進(jìn)行校驗(yàn),擴(kuò)大了樣品容器的使用范圍。
      【專利說明】光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種樣品容器,特別是涉及一種光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器。

      【背景技術(shù)】
      [0002]光學(xué)玻璃在熔體冷卻成型的過程中,玻璃處于較高能態(tài),具有自發(fā)放熱轉(zhuǎn)化為內(nèi)能較低的晶體的傾向,玻璃會(huì)析晶,嚴(yán)重影響玻璃性能。因此,玻璃析晶性能的測(cè)定,對(duì)于玻璃研發(fā)、生產(chǎn)和品質(zhì)管理具有重要意義。
      [0003]目前一般采用梯度爐對(duì)玻璃析晶性能進(jìn)行測(cè)試,需要將一節(jié)玻璃試樣裝載在樣品容器內(nèi),放入梯度爐進(jìn)行測(cè)試,但在玻璃熔化測(cè)試過程中,爐體和樣品容器高溫下會(huì)產(chǎn)生粉渣,掉入玻璃熔體中,產(chǎn)生雜質(zhì)析晶,導(dǎo)致誤測(cè)。另外,玻璃熔體高溫下?lián)]發(fā)以及侵蝕,都會(huì)影響玻璃析晶性能的檢測(cè)。
      實(shí)用新型內(nèi)容
      [0004]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種能夠提高玻璃析晶性能測(cè)試準(zhǔn)確性的樣品容器。
      [0005]本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器,包括主體,在所述主體的中心設(shè)置有樣品槽。
      [0006]進(jìn)一步的,在所述樣品槽的開口端設(shè)置有蓋片。
      [0007]進(jìn)一步的,所述主體和蓋片采用燒結(jié)陶瓷制成。
      [0008]進(jìn)一步的,在所述主體的一端面開有通孔。
      [0009]本實(shí)用新型的有益效果是:通過將樣品放置在樣品槽中,并采用燒結(jié)陶瓷制作的蓋片遮蔽,有效排除析晶性能測(cè)試過程中外界粉渣的影響,以及熔體高溫?fù)]發(fā)和侵蝕等誤差因素,提高了玻璃析晶性能測(cè)試的準(zhǔn)確性;熱電偶可插入樣品容器內(nèi)測(cè)試校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品溫度梯度分布測(cè)試,繪制溫度分布曲線,更加真實(shí)方便地進(jìn)行校驗(yàn),擴(kuò)大了樣品容器的使用范圍。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0010]圖1是本實(shí)用新型的主視圖。
      [0011]圖2是圖1的A-A剖視圖。
      [0012]圖3是另一種結(jié)構(gòu)的剖視圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0013]如圖1-圖2所示,本實(shí)用新型的樣品容器包括主體1,在所述主體I的中心根據(jù)試樣尺寸設(shè)置有樣品槽2,試樣可直接放置在樣品槽2內(nèi),也可在樣品槽2內(nèi)放置其它容器,以提高對(duì)高腐蝕性試樣測(cè)試的可靠性。
      [0014]在樣品容器的樣品槽2的開口端設(shè)置有蓋片3,在保證溫度傳導(dǎo)的同時(shí),可以有效遮蔽外界粉渣的影響,還可以降低熔體高溫?fù)]發(fā)。
      [0015]上述主體I以及蓋片3最好都采用燒結(jié)陶瓷制成,燒結(jié)陶瓷質(zhì)地緊密、高溫穩(wěn)定性好、耐腐蝕性能好、易于放置,調(diào)整拿取都不會(huì)產(chǎn)生粉渣污染。
      [0016]由于光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試,對(duì)溫度梯度精度要求比較高,一般梯度爐的校正是將熱電偶插入爐體內(nèi)測(cè)試校準(zhǔn)。測(cè)試的爐體溫度并不代表樣品容器內(nèi)的試樣溫度,存在一定誤差。為了提高試樣溫度控制的準(zhǔn)確性,本實(shí)用新型的樣品容器在主體I的一端面開有通孔4,如圖3所示。這樣熱電偶可通過通孔4插入樣品容器內(nèi)測(cè)試校準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品容器內(nèi)溫度梯度分布的測(cè)試,繪制溫度分布曲線,可以更加真實(shí)方便地對(duì)樣品溫度梯度進(jìn)行校驗(yàn),提高光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試的準(zhǔn)確性,同時(shí)也擴(kuò)大了樣品容器的使用范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器,包括主體(I),其特征在于:在所述主體(I)的中心設(shè)置有樣品槽(2),在所述樣品槽(2)的開口端設(shè)置有蓋片(3),所述主體(I)和蓋片(3)采用燒結(jié)陶瓷制成。
      2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)玻璃析晶性能測(cè)試樣品容器,其特征在于:在所述主體(I)的一端面開有通孔(4)。
      【文檔編號(hào)】G01N1/36GK203929480SQ201420129528
      【公開日】2014年11月5日 申請(qǐng)日期:2014年3月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月21日
      【發(fā)明者】周佺佺, 王竑 申請(qǐng)人:成都光明光電股份有限公司
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