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      簾布缺陷檢測系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:6055796閱讀:220來源:國知局
      簾布缺陷檢測系統(tǒng)的制作方法
      【專利摘要】本申請公開了一種簾布缺陷檢測系統(tǒng),包括:對簾布進行光照射的光照裝置、獲得所述光照射所得圖像的照相裝置,以及與所述照相裝置相連以根據(jù)所述圖像識別出簾布缺陷的計算機圖像處理子系統(tǒng),所述光照裝置及所述照相裝置設(shè)置于所述簾布的待檢測面一側(cè),且所述光照裝置按照如下要求設(shè)置:光照射方向與所述簾布之間夾角呈25-35度。這樣,采用上述光照射方向與所述簾布之間的夾角角度,使得在一定光線強度之下,簾布上塑料襯布缺陷均能在圖像中暴露出來,有利于計算機圖像處理子系統(tǒng)更好地從圖像上識別出簾布缺陷,保證簾布缺陷檢測結(jié)果的正確性。
      【專利說明】簾布缺陷檢測系統(tǒng)

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本申請涉及橡膠產(chǎn)品領(lǐng)域,尤其涉及一種簾布缺陷檢測系統(tǒng)。

      【背景技術(shù)】
      [0002]在現(xiàn)有的橡膠行業(yè)中,簾布主要用于輪胎和膠帶制品的骨架材料中,其具有強度高、耐疲勞、耐沖擊、伸長率低等要求。常用的簾布有錦綸簾布、聚酯簾布、鋼絲簾布等。本產(chǎn)品是在鋼絲簾布上檢測缺陷。通常鋼絲簾布有2種缺陷:簾布鋼絲露出,以及部分塑料襯布未能脫離簾布而粘在簾布上。其中,若產(chǎn)生塑料襯布粘在簾布上這種缺陷,簾布與簾布貼合之后容易在缺陷位置產(chǎn)生間隙,在汽車運行過程中,成品輪胎由于受壓較大容易因上述間隙而產(chǎn)生爆胎。
      [0003]而通常,需要對上述塑料襯布粘在簾布上這種缺陷進行檢測。通常,簾布缺陷檢測系統(tǒng)主要包括:相機、光源、計算機圖像處理子系統(tǒng)等。工作時,光源從正面照射橡膠物料的待檢測面,相機捕獲到圖像后,計算機圖像處理子系統(tǒng)對該圖像進行處理,輸出處理結(jié)果。
      [0004]但是,由于光源是從正面照射簾布(光線與簾布垂直),不論光照射光線強弱,簾布缺陷均不清晰,也即:如果光線較強,簾布反光嚴(yán)重,存在簾布缺陷反光也同時嚴(yán)重,無法得出反應(yīng)出簾布缺陷的清晰的對比圖像;如果光線較弱,簾布反光減弱,存在簾布缺陷反光也同時減弱,無法得出反應(yīng)出簾布缺陷的清晰的對比圖像。最終導(dǎo)致計算機圖像處理子系統(tǒng)無法正確判斷出是否存在簾布缺陷,簾布缺陷檢測結(jié)果的正確性無法保障。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本申請旨在至少在一定程度上解決上述技術(shù)問題之一。
      [0006]本申請?zhí)峁┮环N簾布缺陷檢測系統(tǒng),包括:對簾布進行光照射的光照裝置、獲得所述光照射所得圖像的照相裝置,以及與所述照相裝置相連以根據(jù)所述圖像識別出簾布缺陷的計算機圖像處理子系統(tǒng),所述光照裝置及所述照相裝置設(shè)置于所述簾布的待檢測面一偵牝且所述光照裝置按照如下要求設(shè)置:光照射方向與所述簾布之間夾角呈25-35度。
      [0007]進一步地,所述夾角取值為25、26、28、32、34或35度。
      [0008]進一步地,所述夾角取值為30度。
      [0009]進一步地,所述光照裝置為紅光光源。
      [0010]本申請的有益效果是:
      [0011]通過提供一種簾布缺陷檢測系統(tǒng),包括:對簾布進行光照射的光照裝置、獲得所述光照射所得圖像的照相裝置,以及與所述照相裝置相連以根據(jù)所述圖像識別出簾布缺陷的計算機圖像處理子系統(tǒng),所述光照裝置及所述照相裝置設(shè)置于所述簾布的待檢測面一側(cè),且所述光照裝置按照如下要求設(shè)置:光照射方向與所述簾布之間夾角呈25-35度。這樣,采用上述光照射方向與所述簾布之間的夾角角度,使得在一定光線強度之下,簾布上的塑料襯布缺陷均能在圖像中暴露出來,有利于計算機圖像處理子系統(tǒng)更好地從圖像上識別出簾布缺陷,保證簾布缺陷檢測結(jié)果的正確性。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0012]圖1為本申請實施例的簾布缺陷檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

      【具體實施方式】
      [0013]下面詳細描述本申請的實施例,所述實施例的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的,旨在用于解釋本申請,而不能理解為對本申請的限制。
      [0014]在本申請的描述中,需要理解的是,術(shù)語“中心”、“縱向”、“橫向”、“長度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底” “內(nèi)”、“外”、“順時針”、“逆時針”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系,僅是為了便于描述本申請和簡化描述,而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作,因此不能理解為對本申請的限制。
      [0015]此外,術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的,而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術(shù)特征的數(shù)量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本申請的描述中,“多個”的含義是兩個或兩個以上,除非另有明確具體的限定。
      [0016]在本申請中,除非另有明確的規(guī)定和限定,術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”、“固定”等術(shù)語應(yīng)做廣義理解,例如,可以是固定連接,也可以是可拆卸連接,或一體地連接;可以是機械連接,也可以是電連接;可以是直接相連,也可以通過中間媒介間接相連,可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語在本申請中的具體含義。
      [0017]在本申請中,除非另有明確的規(guī)定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接觸,也可以包括第一和第二特征不是直接接觸而是通過它們之間的另外的特征接觸。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或僅僅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或僅僅表示第一特征水平高度小于第二特征。
      [0018]下面通過【具體實施方式】結(jié)合附圖對本申請作進一步詳細說明。
      [0019]請參考圖1,本實施例提供了一種簾布缺陷檢測系統(tǒng),包括:對簾布I進行光照射的光照裝置3、獲得光照射所得圖像的照相裝置4,以及與照相裝置4相連以根據(jù)圖像識別出簾布缺陷2的計算機圖像處理子系統(tǒng)5,光照裝置3及照相裝置4設(shè)置于簾布I的待檢測面11 一側(cè),且光照裝置3按照如下要求設(shè)置:光照射方向與簾布I之間夾角Θ呈25-35度。而此時,出射光將以與簾布I呈夾角為145-155度的方向射出。
      [0020]這樣,采用上述光照射方向與所述簾布之間的夾角角度,使得在一定光線強度之下,簾布成像較暗,簾布缺陷(如簾布上粘附的塑料襯布)高于橡膠物料,使得在側(cè)光照射下,簾布缺陷亮度增加,簾布上的塑料襯布缺陷均能在圖像中暴露出來,有利于計算機圖像處理子系統(tǒng)更好地從圖像上識別出簾布缺陷,保證簾布缺陷檢測結(jié)果的正確性。
      [0021]具體地,上述夾角Θ取值為25、26、28、32、34或35度等角度。優(yōu)選地,夾角Θ取值為30度。
      [0022]作為一種優(yōu)選實施例,光照裝置為紅光光源。計算機圖像處理子系統(tǒng)5即可對圖像使用紅色分量預(yù)定的閾值二值化缺陷圖像,將二值化后的缺陷圖像練成區(qū)域,確定簾布缺陷的大小,從而完成檢測過程。
      [0023]這樣,使用彩色相機,用紅色側(cè)光照射,那簾布缺陷在圖像中就變成紅色區(qū)域,就更容易檢測簾布缺陷。
      [0024]在本說明書的描述中,參考術(shù)語“一個實施方式”、“一些實施方式”、“一個實施例”、“一些實施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點包含于本申請的至少一個實施例或示例中。在本說明書中,對上述術(shù)語的示意性表述不一定指的是相同的實施例或示例。而且,描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點可以在任何的一個或多個實施例或示例中以合適的方式結(jié)合。
      [0025]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實施方式對本申請所作的進一步詳細說明,不能認(rèn)定本申請的具體實施只局限于這些說明。對于本申請所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本申請構(gòu)思的前提下,還可以做出若干簡單推演或替換。
      【權(quán)利要求】
      1.一種簾布缺陷檢測系統(tǒng),包括:對簾布進行光照射的光照裝置、獲得所述光照射所得圖像的照相裝置,以及與所述照相裝置相連以根據(jù)所述圖像識別出簾布缺陷的計算機圖像處理子系統(tǒng),其特征在于,所述光照裝置及所述照相裝置設(shè)置于所述簾布的待檢測面一偵牝且所述光照裝置按照如下要求設(shè)置:光照射方向與所述簾布之間夾角呈25-35度。
      2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述夾角取值為25、26、28、32、34或35度。
      3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述夾角取值為30度。
      4.如權(quán)利要求1至3中任一項所述的系統(tǒng),其特征在于,所述光照裝置為紅光光源。
      【文檔編號】G01N21/88GK203858208SQ201420243951
      【公開日】2014年10月1日 申請日期:2014年5月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月13日
      【發(fā)明者】滕明君 申請人:滕明君
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