一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具，包括第一主體和多個(gè)第二主體，所述的第一主體為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第一主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開有一個(gè)第一長(zhǎng)方形通孔，第一主體沿第一長(zhǎng)方體通孔四周刻有刻度，第一主體的上底面開有一個(gè)與第一長(zhǎng)方體通孔相通的第一長(zhǎng)方體盲孔，所述的每個(gè)第二主體的為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第二主體的最大側(cè)面的邊長(zhǎng)與第一主體的最大側(cè)面的邊長(zhǎng)比例一致；第二主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開有一個(gè)第二長(zhǎng)方形通孔。本實(shí)用新型能夠夾持形狀規(guī)則或不規(guī)則的板狀待測(cè)物，具有操作簡(jiǎn)單、夾持穩(wěn)固、靈活調(diào)節(jié)的優(yōu)點(diǎn)。
【專利說明】一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型專利涉及一種夾具，特別是涉及一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中 的插片式夾具。 技術(shù)背景
[0002] 太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)是采用飛秒激光器激發(fā)砷化鎵晶體輻射出的太赫茲波對(duì)物 質(zhì)等進(jìn)行探測(cè)的一種新技術(shù)。在太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)中，樣品的太赫茲時(shí)域波形是利用延 遲裝置改變不同時(shí)刻穿過樣品的太赫茲脈沖電場(chǎng)強(qiáng)度的泵浦光和探測(cè)光的光程差來測(cè)量 的。實(shí)驗(yàn)過程中的主要誤差來源是泵浦光、樣品折射反射和人為因素。泵浦光受環(huán)境溫度 和濕度的影響會(huì)產(chǎn)生較大的幅值和相位改變，樣品的折射和反射對(duì)樣品面與太赫茲波的準(zhǔn) 直度十分敏感，換樣品的時(shí)間長(zhǎng)短及放置樣品的準(zhǔn)確度等與測(cè)量精度密切相關(guān)，這些因素 對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的重復(fù)性和透過樣品的太赫茲波的強(qiáng)度等有較大影響，多種因素相互作用導(dǎo)致 較大測(cè)量誤差的產(chǎn)生。
[0003] 現(xiàn)有的太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中，常用于直徑為1cm的藥片的測(cè)量，測(cè)量裝置 也是針對(duì)圓形設(shè)計(jì)。這種裝置每次只能裝入一片藥片，對(duì)一個(gè)點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)，實(shí)驗(yàn)效率低，精 度難以保證，且裝入取出樣品時(shí)易導(dǎo)致氮?dú)庀鋬?nèi)環(huán)境溫度和濕度發(fā)生變化。這些變化對(duì)實(shí) 驗(yàn)結(jié)果都有一定的影響，嚴(yán)重時(shí)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)低于可信值，導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)失敗。且隨著太赫茲波無損 檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，目前的實(shí)驗(yàn)對(duì)象已不再局限于特定圓形的藥片，還有方形甚至不規(guī)則形 狀的板狀材料。為了其有效信息不至于被嚴(yán)重影響，在測(cè)試過程中就必須保證樣品相對(duì)于 太赫茲光線的垂直精度和箱內(nèi)環(huán)境的基本不變，顯然以往的測(cè)量方式和裝置已不能再適應(yīng) 新的對(duì)象。
[0004] 為了解決上述問題，擴(kuò)大太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)裝置的應(yīng)用范圍，提高樣品相對(duì)于 太赫茲光線的垂直精度和實(shí)驗(yàn)效率，保證箱內(nèi)環(huán)境的基本一致，本實(shí)用新型專利提出一種 用于夾持太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)裝置中板狀樣品的夾具。該夾具可以準(zhǔn)確夾持樣品，保證樣 品與實(shí)驗(yàn)平臺(tái)的垂直精度，實(shí)驗(yàn)過程中可手動(dòng)上下移動(dòng)樣品，實(shí)現(xiàn)對(duì)不同點(diǎn)的測(cè)試以獲取 更多的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)?；诖丝梢栽谕粯悠飞现谱鲗?duì)比區(qū)域，通過上下抽動(dòng)夾具完成對(duì)比實(shí) 驗(yàn)。該夾具不僅為太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)裝置提供了更廣的檢測(cè)對(duì)象范圍，且現(xiàn)實(shí)了裝夾一 次樣品完成多個(gè)實(shí)驗(yàn)，降低了因反復(fù)裝夾樣品引起的誤差和占用的時(shí)間，提高了樣品測(cè)試 的效率。
[0005] 目前雖然也有類似樣品架裝置，但目前的裝置難以保證樣品相對(duì)于太赫茲光線的 垂直精度，而且在放入樣品后不能調(diào)節(jié)樣品架更改樣品的測(cè)試點(diǎn)。隨著實(shí)驗(yàn)次數(shù)的增加以 及放入樣品數(shù)目增多，使用現(xiàn)有裝置很容易造成樣品測(cè)試步驟的遺漏和混淆，難以保證樣 品測(cè)試的可靠性。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0006] 鑒于現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插 片式夾具，
[0007] -種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具，包括第一主體和多個(gè)第二主 體，
[0008] 所述的第一主體為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第一主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開有一個(gè)第 一長(zhǎng)方形通孔，第一主體沿第一長(zhǎng)方體通孔四周刻有刻度，第一主體的上底面開有一個(gè)與 第一長(zhǎng)方體通孔相通的第一長(zhǎng)方體盲孔，
[0009] 所述的每個(gè)第二主體為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第二主體的最大側(cè)面的邊長(zhǎng)與第一主體的最 大側(cè)面的邊長(zhǎng)比例一致；第二主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開有一個(gè)第二長(zhǎng)方形通孔。 [0010] 所述的第二主體厚度各不相同。
[0011] 所述第二主體的第二長(zhǎng)方形通孔的長(zhǎng)度各不相同。
[0012] 本實(shí)用新型的有益效果：本實(shí)用新型能夠夾持形狀規(guī)則或不規(guī)則的板狀待測(cè)物， 具有操作簡(jiǎn)單、夾持穩(wěn)固、靈活調(diào)節(jié)的優(yōu)點(diǎn)。

【專利附圖】

【附圖說明】 [0013] ：
[0014] 圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例夾具的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015] 圖2為本實(shí)用新型第二主體的結(jié)構(gòu)示意圖

【具體實(shí)施方式】 [0016] ：
[0017] 以下通過具體的實(shí)例說明本實(shí)用新型專利的使用方式。
[0018] 如圖1所示，一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具，包括第一主體1 和多個(gè)第二主體2，
[0019] 所述的第一主體為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第一主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開有一個(gè)第 一長(zhǎng)方形通孔3,第一主體沿第一長(zhǎng)方體通孔四周刻有刻度4,第一主體的上底面開有一個(gè) 與第一長(zhǎng)方體通孔3相通的第一長(zhǎng)方體盲孔6，
[0020] 如圖2所示，所述的每個(gè)第二主體2的為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第二主體的最大側(cè)面的邊長(zhǎng) 與第一主體的最大側(cè)面的邊長(zhǎng)比例一致；第二主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開有一個(gè)第 二長(zhǎng)方形通孔5。
[0021] 所述的第二主體2厚度d各不相同。
[0022] 所述第二主體的第二長(zhǎng)方形通孔的長(zhǎng)度D各不相同。
[0023] 本實(shí)用新型中第一主體1的第一長(zhǎng)方形通孔3四周刻有刻度用于測(cè)量實(shí)驗(yàn)中夾具 移動(dòng)的距離，因?yàn)楸緤A具中不需要夾持件在第一長(zhǎng)方形通孔3的中間，所以將刻度設(shè)置于 第一長(zhǎng)方形通孔3四周相比設(shè)置于第一主體1的四周，可以更便利準(zhǔn)確地記錄測(cè)試點(diǎn)的位 置參數(shù)，避免重復(fù)測(cè)試導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)不可靠。
[0024] 另外，第二主體2厚度則是不定的，與之相對(duì)應(yīng)的第二長(zhǎng)方形通孔5的大小也是不 定的，這樣的設(shè)計(jì)是為了滿足各種規(guī)格樣品的需求，不同厚度、大小的樣品可以通過更換不 同規(guī)格的第二主體2就可以實(shí)現(xiàn)夾持。厚度d大第二長(zhǎng)方形通孔5小的第二主體2適用于 小而薄的樣品；厚度d小而第二長(zhǎng)方形通孔5大的第二主體2則適用于厚且大的樣品。
[0025] 如樣品較大的話，選擇第二長(zhǎng)方形通孔5較大的第二主體2,樣品較小則選擇第二 長(zhǎng)方形通孔5面積較小的第二主體2,以便較好的夾持住樣品。對(duì)于一些無法夾持的樣品， 如藥片，可以直接黏貼在第二長(zhǎng)方形通孔5面積為0的第二主體2上。
[0026] 工作時(shí)，根據(jù)樣品的尺寸，選擇好適用的第二主體2,首先將第二主體2從第一主 體1的第一長(zhǎng)方體盲孔6中插入，再將樣品插入，調(diào)整好位置與夾持狀態(tài)。然后將夾具插入 太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)裝置中。實(shí)驗(yàn)進(jìn)行時(shí)，通過移動(dòng)第一主體1實(shí)現(xiàn)樣品測(cè)試點(diǎn)的切換。并 通過記錄太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)裝置上的某個(gè)基準(zhǔn)位置對(duì)應(yīng)的夾具上的刻度來確定不同的 測(cè)試點(diǎn)。
【權(quán)利要求】
1. 一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具，包括第一主體和多個(gè)第二主 體， 其特征在于：所述的第一主體為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第一主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開 有一個(gè)第一長(zhǎng)方形通孔，第一主體沿第一長(zhǎng)方體通孔四周刻有刻度，第一主體的上底面開 有一個(gè)與第一長(zhǎng)方體通孔相通的第一長(zhǎng)方體盲孔， 所述的每個(gè)第二主體為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)，第二主體的最大側(cè)面的邊長(zhǎng)與第一主體的最大側(cè) 面的邊長(zhǎng)比例一致；第二主體的面積最大側(cè)面的幾何中心開有一個(gè)第二長(zhǎng)方形通孔。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具，其特征 在于：所述的第二主體厚度各不相同。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量裝置中的插片式夾具，其特征 在于：所述第二主體的第二長(zhǎng)方形通孔的長(zhǎng)度各不相同。
【文檔編號(hào)】G01N21/01GK203870009SQ201420296828
【公開日】2014年10月8日 申請(qǐng)日期:2014年6月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月5日
【發(fā)明者】廖曉玲, 王強(qiáng), 馮精良 申請(qǐng)人:中國計(jì)量學(xué)院