一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】針對(duì)現(xiàn)有自動(dòng)測(cè)試裝置兼容性差的問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，包括邊界掃描芯片陣列組、JTAG適配器和JTAG路由器，其中，復(fù)用測(cè)試接口電路分別與通過(guò)JTAG路由器將邊界掃描芯片陣列組和JTAG適配器連接在一起并雙向通訊；此外：設(shè)有一個(gè)復(fù)用測(cè)試接口電路；所述復(fù)用測(cè)試接口電路分別與邊界掃描芯片陣列組、JTAG路由器連接并雙向通信。所述復(fù)用測(cè)試接口電路由控制電路、電平轉(zhuǎn)換電路和電阻保護(hù)電路組成；本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于：本產(chǎn)品具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、布線緊湊，且采用成熟的芯片與電子元器件，具有極低的采購(gòu)成本和良好的兼容性。
【專利說(shuō)明】
一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于電路測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]廣泛運(yùn)用于工業(yè)領(lǐng)域中的電子設(shè)備在變得自動(dòng)化、智能化的同時(shí)，由于其大量采用大規(guī)模集成電路乃至超大規(guī)模集成電路，導(dǎo)致這些電子設(shè)備的電路板被設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜，隨之帶來(lái)的新的技術(shù)難題:這些電子設(shè)備的電路板的維修和檢測(cè)也變得越來(lái)越困難。
[0003]在這樣的情況下，能夠?qū)ι鲜鲭娮釉O(shè)備進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試裝置變得越來(lái)越重要。然而，現(xiàn)有的用于電路板的自動(dòng)測(cè)試裝置多是針對(duì)特定型號(hào)電路板設(shè)計(jì)研發(fā)的，一臺(tái)自動(dòng)測(cè)試裝置只針對(duì)一種型號(hào)的電子設(shè)備內(nèi)的電路板，使用范圍非常狹窄。為了提高自動(dòng)測(cè)試裝置的使用范圍，有廠家制造了具有多接口的檢測(cè)設(shè)備試圖改善現(xiàn)有自動(dòng)檢測(cè)設(shè)裝置的適用范圍。但是，配備多規(guī)格的接口能解決對(duì)現(xiàn)有待測(cè)電路板的適應(yīng)度，隨之也會(huì)產(chǎn)生接口布線復(fù)雜、耗用額外通道資源、電磁干擾增多、以及成本上升的問(wèn)題。此外，隨著設(shè)備與電子技術(shù)的發(fā)展，接口的種類在不斷地升級(jí)改進(jìn)中，新老接口的不兼容問(wèn)題也在日益突出，故單純配置多規(guī)格接口的方法不能很好地解決自動(dòng)檢測(cè)裝置的通用性問(wèn)題。最后，復(fù)雜的接線接口與硬件布線模式，也會(huì)導(dǎo)致開(kāi)發(fā)測(cè)試程序困難，進(jìn)而影響使用。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]針對(duì)現(xiàn)有自動(dòng)測(cè)試裝置兼容性差的問(wèn)題，本實(shí)用新型的所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種成本較低且具有良好兼容性的小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，其具體結(jié)構(gòu)如下:
[0005]一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，包括邊界掃描芯片陣列組1、聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組(Joint Test Act1n Group, JTAG)適配器3和JTAG路由器4,其中，復(fù)用測(cè)試接口電路2分別與通過(guò)JTAG路由器4將邊界掃描芯片陣列組I和JTAG適配器3連接在一起并雙向通訊；此外:設(shè)有一個(gè)復(fù)用測(cè)試接口電路2 ;所述復(fù)用測(cè)試接口電路2分別與邊界掃描芯片陣列組1、JTAG路由器4連接并雙向通信。
[0006]進(jìn)一步說(shuō)，復(fù)用測(cè)試接口電路2由控制電路21、電平轉(zhuǎn)換電路22和電阻保護(hù)電路23組成；其中，電平轉(zhuǎn)換電路22分別與控制電路21、電阻保護(hù)電路23相連接；由電平轉(zhuǎn)換電路22分別與復(fù)用測(cè)試接口電路2外部的邊界掃描芯片陣列組1、JTAG路由器4連接并雙向通信。
[0007]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于
[0008]本實(shí)用新型提供一種配有復(fù)用測(cè)試接口電路2的小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、布線緊湊，且采用成熟的芯片與電子元器件，具有極低的采購(gòu)成本和良好的接口兼容性。
[0009]本產(chǎn)品不是簡(jiǎn)單地引出256根測(cè)試用的引腳，而是為每一個(gè)引腳都配置了電平轉(zhuǎn)換和電阻保護(hù)結(jié)構(gòu)，能夠防止因不同的待檢測(cè)設(shè)備的插口的電平差異而引起的電噪聲干擾、消除因電勢(shì)差不同而帶來(lái)的信號(hào)異常。因此，具有良好的擴(kuò)展空間。
[0010]本產(chǎn)品采用單根的復(fù)用接口——即復(fù)用測(cè)試接口電路2，避免同時(shí)配置多個(gè)不同規(guī)格的接口而導(dǎo)致的占用系統(tǒng)內(nèi)部資源多、電磁干擾大的問(wèn)題。
[0011]因此，采用本實(shí)用新型所提供接口的自動(dòng)檢測(cè)裝置具有適應(yīng)性強(qiáng)，成本低、具有通用性、非原理性的特點(diǎn)。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)框圖。
[0013]圖2為圖1中復(fù)用測(cè)試接口的結(jié)構(gòu)框圖。
[0014]圖3為圖2中電阻保護(hù)電路的電路圖。
[0015]圖4為圖3中單個(gè)引腳子電路的簡(jiǎn)視圖。
[0016]圖中序號(hào)為:邊界掃描芯片陣列組1、復(fù)用測(cè)試接口電路2、JTAG適配器3和JTAG路由器4、控制電路21、電平轉(zhuǎn)換電路22、電阻保護(hù)電路23。

【具體實(shí)施方式】
[0017]以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的描述。
[0018]參見(jiàn)圖1，一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，包括邊界掃描芯片陣列組1、JTAG適配器3和JTAG路由器4，其中，復(fù)用測(cè)試接口電路2分別與通過(guò)JTAG路由器4將邊界掃描芯片陣列組I和JTAG適配器3連接在一起并雙向通訊；其特征在于:設(shè)有一個(gè)復(fù)用測(cè)試接口電路2 ;所述復(fù)用測(cè)試接口電路2分別與邊界掃描芯片陣列組1、JTAG路由器4連接并雙向通?目。
[0019]進(jìn)一步說(shuō)，復(fù)用測(cè)試接口電路2由控制電路21、電平轉(zhuǎn)換電路22和電阻保護(hù)電路23組成；其中，電平轉(zhuǎn)換電路22分別與控制電路21、電阻保護(hù)電路23相連接；由電平轉(zhuǎn)換電路22分別與復(fù)用測(cè)試接口電路2外部的邊界掃描芯片陣列組1、JTAG路由器4連接并雙向通信，詳見(jiàn)圖2。
[0020]進(jìn)一步說(shuō)，所述電阻保護(hù)電路23由16組電阻保護(hù)子電路構(gòu)成，依次為第I電阻保護(hù)子電路、第2電阻保護(hù)子電路、第3電阻保護(hù)子電路、第4電阻保護(hù)子電路、第5電阻保護(hù)子電路、第6電阻保護(hù)子電路、第7電阻保護(hù)子電路、第8電阻保護(hù)子電路、第9電阻保護(hù)子電路、第10電阻保護(hù)子電路、第11電阻保護(hù)子電路、第12電阻保護(hù)子電路、第13電阻保護(hù)子電路、第14電阻保護(hù)子電路、第15電阻保護(hù)子電路和第16電阻保護(hù)子電路，詳見(jiàn)圖3 ；
[0021]所述電平轉(zhuǎn)換電路22由16個(gè)電平轉(zhuǎn)換芯片構(gòu)成；，依次為第I電平轉(zhuǎn)換芯片、第2電平轉(zhuǎn)換芯片、第3電平轉(zhuǎn)換芯片、第4電平轉(zhuǎn)換芯片、第5電平轉(zhuǎn)換芯片、第6電平轉(zhuǎn)換芯片、第7電平轉(zhuǎn)換芯片、第8電平轉(zhuǎn)換芯片、第9電平轉(zhuǎn)換芯片、第10電平轉(zhuǎn)換芯片、第11電平轉(zhuǎn)換芯片、第12電平轉(zhuǎn)換芯片、第13電平轉(zhuǎn)換芯片、第14電平轉(zhuǎn)換芯片、第15電平轉(zhuǎn)換芯片和第16電平轉(zhuǎn)換芯片，詳見(jiàn)圖3 ；
[0022]所述的16組電阻保護(hù)子電路分別與對(duì)應(yīng)的16個(gè)電平轉(zhuǎn)換芯片一一連接，即第I電阻保護(hù)子電路與第I電平轉(zhuǎn)換芯片相連接，第2電阻保護(hù)子電路與第2電平轉(zhuǎn)換芯片相連接，以此類推，第16電阻保護(hù)子電路與第16電平轉(zhuǎn)換芯片相連接，詳見(jiàn)圖3 ；
[0023]此外，16個(gè)電平轉(zhuǎn)換芯片均與控制電路21相連接，詳見(jiàn)圖3。
[0024]進(jìn)一步說(shuō)，每個(gè)電阻保護(hù)子電路均內(nèi)含16條引腳子電路；參見(jiàn)圖4，每條引腳子電路均由依次串聯(lián)的電源端電阻Rb、引腳端電阻Rf和引腳構(gòu)成；其中，電源端電阻Rb的一端接3.3V或5V的電源，電源端電阻Rb的另一端與引腳端電阻Rf的一端相連接，引腳端電阻Rf的另一端與引腳相連接；電源端電阻Rb與引腳端電阻Rf之間的節(jié)點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的電平轉(zhuǎn)換芯片相連接，詳見(jiàn)圖3。本產(chǎn)品共計(jì)256個(gè)引腳，被均分為16組，每16個(gè)引腳共用一個(gè)電平轉(zhuǎn)換芯片；所述256個(gè)引腳所構(gòu)成的對(duì)外接口以CPCI連接器和PXI連接器為主，也可以替換成PCI連接器、ISA連接器，或通過(guò)接口轉(zhuǎn)換適配器轉(zhuǎn)接成其它規(guī)格的連接器。由于CPC1、PXI等接口具有相似的協(xié)議，即使是其他接口，也可以通過(guò)接口轉(zhuǎn)換適配器實(shí)現(xiàn)兼容性的擴(kuò)展，而且該裝置具有保護(hù)電路，能夠兼容多種電平，因此通用性較強(qiáng)。此外由于是基于邊界掃描測(cè)試，故采用本產(chǎn)品的復(fù)用測(cè)試接口 2后，測(cè)試裝置自身的測(cè)試程序不需要二次開(kāi)發(fā)，因此開(kāi)發(fā)過(guò)程簡(jiǎn)單，使用方便。
[0025]進(jìn)一步說(shuō)，電源端電阻Rb的阻值均為1K Ω，引腳端電阻Rf的阻值均為O Ω。
[0026]進(jìn)一步說(shuō)，電源端電阻Rb的型號(hào)為RMK1005MB103JM，引腳端電阻Rf的型號(hào)為RMK1005MB000JM,電平轉(zhuǎn)換芯片的型號(hào)為IDT74FCT164245 ;控制電路21為一塊型號(hào)為SMD566-743 的芯片。
[0027]進(jìn)一步說(shuō)，JTAG路由器4和邊界掃描芯片陣列I之間采用JTAG總線相連接；JTAG路由器4和復(fù)用測(cè)試接口 2之間采用JTAG總線相連接JTAG適配器3和JTAG路由器4之間采用USB總線相連接；邊界掃描芯片陣列組I由4塊EP1C6F256邊掃芯片構(gòu)成，每個(gè)EP1C6F256邊掃芯片的每一個(gè)1管腳都是一個(gè)測(cè)試資源。EP1C6F256邊掃芯片1管腳數(shù)量較多、價(jià)格低廉、芯片尺寸小，能有效減少自動(dòng)測(cè)試裝置的體積。四個(gè)EP1C6F256邊掃芯片將TD1、TDO兩個(gè)信號(hào)串行連接，并將TCK、TMS兩個(gè)信號(hào)按照總線連接。
[0028]本產(chǎn)品通過(guò)將邊界掃描芯片陣列I和復(fù)用測(cè)試接口 2配合在一起使用，以較小規(guī)模的電路板設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)對(duì)常用接口，例如CPC1、PXI等接口電路板的自動(dòng)測(cè)試。本產(chǎn)品無(wú)需格式各樣的接口和復(fù)雜的布線，因此本產(chǎn)品的尺寸可以做的很小，只需要將其接入到被測(cè)電路板的機(jī)箱內(nèi)，或在被測(cè)電路板有擴(kuò)展CPC1、PXI接口時(shí)，直接插在被測(cè)電路板上即可，因此測(cè)試簡(jiǎn)單。
[0029]最后，本產(chǎn)品所采用的復(fù)用測(cè)試接口 2，實(shí)現(xiàn)了 TTL、CM0S等不同電平之間的轉(zhuǎn)換，也增強(qiáng)了驅(qū)動(dòng)能力，保證了測(cè)試的可靠性。在成本上，相比較現(xiàn)有的測(cè)試設(shè)備，本結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的價(jià)格低廉。
【權(quán)利要求】
1.一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，包括邊界掃描芯片陣列組(I)、JTAG適配器(3)和JTAG路由器(4)，其中，復(fù)用測(cè)試接口電路(2)分別與通過(guò)JTAG路由器(4)將邊界掃描芯片陣列組(I)和JTAG適配器(3)連接在一起并雙向通訊；其特征在于:設(shè)有一個(gè)復(fù)用測(cè)試接口電路(2);所述復(fù)用測(cè)試接口電路(2)分別與邊界掃描芯片陣列組(I)、JTAG路由器(4)連接并雙向通信。
2.如權(quán)利要求1所述的一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:復(fù)用測(cè)試接口電路(2 )由控制電路(21 )、電平轉(zhuǎn)換電路(22 )和電阻保護(hù)電路(23 )組成；其中，電平轉(zhuǎn)換電路(22 )分別與控制電路(21)、電阻保護(hù)電路(23 )相連接；由電平轉(zhuǎn)換電路(22 )分另IJ與復(fù)用測(cè)試接口電路(2)外部的邊界掃描芯片陣列組(1)、JTAG路由器(4)連接并雙向通?目。
3.如權(quán)利要求2所述的一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:所述電阻保護(hù)電路(23)由16組電阻保護(hù)子電路構(gòu)成，依次為第I電阻保護(hù)子電路、第2電阻保護(hù)子電路、……、直至第16電阻保護(hù)子電路；所述電平轉(zhuǎn)換電路(22)由16個(gè)電平轉(zhuǎn)換芯片構(gòu)成，依次為第I電平轉(zhuǎn)換芯片、第2電平轉(zhuǎn)換芯片、……、直至第16電平轉(zhuǎn)換芯片；所述的16組電阻保護(hù)子電路分別與對(duì)應(yīng)的16個(gè)電平轉(zhuǎn)換芯片一一連接，即第I電阻保護(hù)子電路與第I電平轉(zhuǎn)換芯片相連接，第2電阻保護(hù)子電路與第2電平轉(zhuǎn)換芯片相連接，以此類推，第16電阻保護(hù)子電路與第16電平轉(zhuǎn)換芯片相連接；16個(gè)電平轉(zhuǎn)換芯片均與控制電路(21)相連接。
4.如權(quán)利要求3所述的一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:每個(gè)電阻保護(hù)子電路均內(nèi)含16條引腳子電路；其中，每條引腳子電路均由依次串聯(lián)的電源端電阻Rb、引腳端電阻Rf和引腳構(gòu)成；其中，電源端電阻Rb與引腳端電阻Rf之間的節(jié)點(diǎn)與對(duì)應(yīng)的電平轉(zhuǎn)換芯片相連接。
5.如權(quán)利要求4所述的一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:電源端電阻Rb的阻值均為1K Ω，引腳端電阻Rf的阻值均為O Ω。
6.如權(quán)利要求5所述的一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:電源端電阻Rb的型號(hào)為RMK1005MB103JM，引腳端電阻Rf的型號(hào)為RMK1005MB000JM，電平轉(zhuǎn)換芯片的型號(hào)為IDT74FCT164245 ;控制電路(21)為一塊型號(hào)為SMD566-743的芯片。
7.如權(quán)利要求6所述的一種小型化非原理性復(fù)用自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:JTAG路由器(4)和邊界掃描芯片陣列(I)之間采用JTAG總線相連接；JTAG路由器(4)和復(fù)用測(cè)試接口(2)之間采用JTAG總線相連接JTAG適配器(3)和JTAG路由器(4)之間采用USB總線相連接；邊界掃描芯片陣列組(I)由4塊EP1C6F256邊掃芯片構(gòu)成。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK204008993SQ201420415424
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年7月25日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月25日
【發(fā)明者】王鳳馳, 柏光東, 曹俊鋒, 李正東, 劉靜 申請(qǐng)人:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所