一種超聲粒徑分析儀的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種超聲粒徑分析儀,包括相互獨(dú)立的超聲波發(fā)射接收器和超聲探測(cè)裝置,以及用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)發(fā)射和接收的超聲波信號(hào)的示波器和用于數(shù)據(jù)處理的計(jì)算機(jī),其中,所述超聲探測(cè)裝置、示波器、計(jì)算機(jī)分別與超聲波發(fā)射接收器一一對(duì)應(yīng)相接,所述超聲探測(cè)裝置為可浸入樣品中進(jìn)行測(cè)量的反射式超聲探頭或透射式超聲探頭,或可直接加在現(xiàn)有管道中測(cè)量流動(dòng)樣品的流體探測(cè)單元。本實(shí)用新型是一種無損測(cè)量,快速、可靠,無需對(duì)樣品進(jìn)行稀釋,尤其適用于高濃度、不透明的樣品。
【專利說明】 一種超聲粒徑分析儀
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及顆粒粒徑測(cè)量的【技術(shù)領(lǐng)域】,尤其是指一種超聲粒徑分析儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在許多工業(yè)部門中與細(xì)微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問題有待解決:如涂料中的顏色顆粒,其粒度對(duì)涂料的著色力,遮蓋力,成膜能力及穩(wěn)定性有著很大的影響等等。顆粒粒徑的測(cè)量是其中最基本的也是最重要的一個(gè)方面。除此之外,對(duì)顆粒濃度的測(cè)量也很重要。
[0003]目前常用的顆粒粒徑測(cè)量的方法有:篩選法、顯微鏡法、全息照相法、電感應(yīng)法、沉降法和光散射法。上述測(cè)量方法中多數(shù)都需要取樣進(jìn)行測(cè)量,雖然光散射法可以用于在線測(cè)量并具有測(cè)量速度快,容易進(jìn)行數(shù)據(jù)處理等優(yōu)點(diǎn)。但是另一方面由于光的穿透性弱,采用光散射法測(cè)量需要控制測(cè)量的條件,尤其是被測(cè)顆粒的濃度。利用超聲對(duì)顆粒進(jìn)行測(cè)量,不但具有光散射法的種種優(yōu)點(diǎn),而且由于聲波可以穿透大多數(shù)物質(zhì),可以在有色甚至是不透明的物質(zhì)內(nèi)進(jìn)行傳播,因此超聲測(cè)量是一種無需稀釋、快速、可靠的在線顆粒粒徑分布測(cè)量技術(shù)。
[0004]人耳可聽見的聲波頻率從20Hz到20KHz。低于20Hz的聲波被稱為次聲波,高于20KHz的聲波稱為超聲。超聲在原理上的特征與可聽見的聲波相類似。它是一種機(jī)械振動(dòng)波。當(dāng)超聲在傳播的過程中遇到顆粒其能量會(huì)有損失,稱為衰減。主要原因有:吸收損失,散射,粘性損失,熱損失和電聲損失等。不同的損失機(jī)理可以通過定義一個(gè)總的衰減系數(shù)αI來作為各種裳減的總和:
[0005]α τ = a visc+ a therm+ α intr+ α sca
[0006]而總的衰減系數(shù)S可以通過測(cè)量,計(jì)算得到:
[0007]α T = -1/1 ln(p/p0)
[0008]其中I是超聲傳播的距離,Ptl是初始的超聲振幅,P是傳播I距離后的超聲振幅。而衰減系數(shù)ατ與顆粒大小和濃度的關(guān)系,已有許多模型針對(duì)不同的條件進(jìn)行了描述。其中代表性的模型有:ECAH 模型(Epstein and Carhart 1953 ;Allegra and Hawley 1972),F(xiàn)oldy 模型(Foldy 1945) ;Waterman and Truell 模型(Waterman and Truell 1961),Lloyd and Berry 模型(Lloyd and Berry 1967), Harker and Temple 模型(Harker andTemple 1988 ;Harker, Schofield et al.1991), Evans and Attenborough 模型(Evans andAttenborough 1997),核殼模型(Povey 1997 ;Challis, Povey et al.2005), Dukhin andGoetz 模型(Dukhin and Goetz 1996 ;Dukhin and Goetz 2OO2) ,Urick 模型(Urick 1947)和 Urick and Ament 模型(Urick and Ament 1949)。
[0009]有關(guān)利用超聲來測(cè)量在懸浮液中顆粒粒徑分布的專利(和設(shè)備)國(guó)外已經(jīng)有很多報(bào)道了。第一篇有關(guān)應(yīng)用超聲來測(cè)量顆粒粒徑分布的專利是由安德森和卡斯曼等人在1973年提出的。專利包括了使用兩個(gè)不同頻率的超聲波束的技術(shù)。從那以后,出現(xiàn)了很多與超聲相關(guān)的專利,其中包括Andersson, Kahara et al.(1983), (Riebel1987),Alba (1991),Dukhin and Goetz (2000) ;Dukhin and Goetz (2002)和Prakash, Shukla et al.(2012)。其中大多數(shù)專利在運(yùn)用衰減普來測(cè)量粒徑分布是和Shukla等(2012)人的方法非常相似,都采用了脈沖信號(hào)。不同的是對(duì)于信號(hào)的處理方法。而且在以上所有的專利中,利用超聲來測(cè)量粒徑分布都有如下的不足:
[0010]1、現(xiàn)有的超聲硬件通常沒有利用超聲無損探測(cè)的優(yōu)勢(shì)并且通常需要采樣或者增加很長(zhǎng)的流程來測(cè)量。
[0011]2、缺乏一種模型來正確描述在不同的材料,聲音頻率和分散相濃度中超聲的相互作用,現(xiàn)有的模型要么僅適用于長(zhǎng)波段的情況,或者在低濃度的情況。
[0012]3、衰減譜的反演涉及到有多個(gè)高度非線性本地解的優(yōu)化問題的求解,這類問題往往沒有普通解。
[0013]4、在利用超聲數(shù)據(jù)來獲得顆粒粒徑分布中的“不明確”問題,這是因?yàn)閹追N不同的顆粒粒徑分布會(huì)得到相同的超聲衰減譜,這一點(diǎn)已被廣泛的報(bào)導(dǎo)過,這使得在某些應(yīng)用中,幾乎不可能得到真正的粒徑分布。
[0014]此外,當(dāng)超聲波信號(hào)經(jīng)過懸浮液時(shí),信號(hào)會(huì)被其中的顆粒散射和反射,信號(hào)的強(qiáng)度也會(huì)隨之被削弱。削弱的強(qiáng)度和超聲波的波長(zhǎng),振幅及顆粒大小有關(guān)。通過快速傅里葉分析最終接收到的超聲信號(hào)從而得到顆粒的粒徑分布及體積百分比。由于超聲信號(hào)處理技術(shù)門檻很高,目前只有少數(shù)國(guó)外產(chǎn)品(馬爾文ultrasizer)。但是它的缺點(diǎn)很明顯。超聲波發(fā)射接收器和超聲探測(cè)裝置是一體的造成儀器過大從而只能離線測(cè)量或者需要外接管路進(jìn)行在線測(cè)量。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0015]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足與缺陷,提供一種高效、可靠、性能優(yōu)越的超聲粒徑分析儀,無需對(duì)樣品進(jìn)行稀釋,尤其適用于高濃度、不透明的樣品。
[0016]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型所提供的技術(shù)方案為:一種超聲粒徑分析儀,包括相互獨(dú)立的超聲波發(fā)射接收器和超聲探測(cè)裝置,以及用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)發(fā)射和接收的超聲波信號(hào)的示波器和用于數(shù)據(jù)處理的計(jì)算機(jī),其中,所述超聲探測(cè)裝置、示波器、計(jì)算機(jī)分別與超聲波發(fā)射接收器一一對(duì)應(yīng)相接,所述超聲探測(cè)裝置為可浸入樣品中進(jìn)行測(cè)量的反射式超聲探頭或透射式超聲探頭,或可直接加在現(xiàn)有管道中測(cè)量流動(dòng)樣品的流體探測(cè)單元。
[0017]所述反射式超聲探頭包括有探尋管、超聲脈沖發(fā)射接收傳感器以及帶超聲反射鏡面的傳感器支架,其中,所述超聲脈沖發(fā)射接收傳感器裝于傳感器支架上,其一端與探尋管連接,其另一端朝向超聲反射鏡面,且所述超聲脈沖發(fā)射接收傳感器和超聲反射鏡面的距離可調(diào)。
[0018]所述透射式超聲探頭包括有探尋管、超聲脈沖發(fā)射傳感器、超聲脈沖接收傳感器和傳感器支架,其中,所述超聲脈沖發(fā)射傳感器和超聲脈沖接收傳感器分別裝于傳感器支架上,并相向?qū)χ?,且它們之間的距離可調(diào),所述超聲脈沖發(fā)射傳感器與探尋管連接。
[0019]所述流體探測(cè)單元采用透射模式,包括有樣品流動(dòng)單元、超聲脈沖發(fā)射傳感器和超聲脈沖接收傳感器,其中,所述樣品流動(dòng)單元內(nèi)設(shè)有供流動(dòng)樣品流過的主通道,其兩側(cè)分別設(shè)有與主通道連通的兩分支,所述超聲脈沖發(fā)射傳感器和超聲脈沖接收傳感器分別裝于樣品流動(dòng)單元的兩分支上,且它們之間的距離可調(diào)。
[0020]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有如下優(yōu)點(diǎn)與有益效果:
[0021]本超聲粒徑分析儀是一種無損測(cè)量,快速、可靠,無需對(duì)樣品進(jìn)行稀釋,尤其適用于高濃度、不透明的樣品。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0022]圖1為本實(shí)用新型所述超聲粒徑分析儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖2為本實(shí)用新型所述反射式超聲探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]圖3為本實(shí)用新型所述透射式超聲探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]圖4為本實(shí)用新型所述流體探測(cè)單元的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0026]圖5為測(cè)量二氧化鈦標(biāo)準(zhǔn)樣品的NIST參考數(shù)據(jù)與本超聲粒徑分析儀和馬爾文mastersizer 3000的測(cè)試結(jié)果對(duì)比圖。
[0027]圖6為測(cè)量二氧化鈦標(biāo)準(zhǔn)樣品的本超聲粒徑分析儀和馬爾文mastersizer3000的測(cè)試結(jié)果對(duì)比圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
[0029]如圖1所示,本實(shí)施例所述的超聲粒徑分析儀,包括相互獨(dú)立的超聲波發(fā)射接收器和超聲探測(cè)裝置,以及用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)發(fā)射和接收的超聲波信號(hào)的示波器和用于數(shù)據(jù)處理的計(jì)算機(jī),所述超聲探測(cè)裝置采用反射模式或透射模式,可根據(jù)需要浸入樣品中進(jìn)行測(cè)量或直接加在現(xiàn)有管道中測(cè)量。
[0030]工作時(shí),超聲波發(fā)射接收器首先發(fā)出高頻(ΙΜΗζ-ΙΟΟΜΗζ)超聲波信號(hào),經(jīng)過超聲探測(cè)裝置在懸浮液中傳播,遇到顆粒后改變其強(qiáng)度,后又傳回超聲波發(fā)射接收器,此時(shí),示波器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)發(fā)射和接收的超聲波信號(hào),最后這些數(shù)據(jù)傳到計(jì)算機(jī)中由本系統(tǒng)的軟件部分進(jìn)行實(shí)時(shí)處理并給出超聲波衰減譜,顆粒粒徑分布和分散相(顆粒)的體積分?jǐn)?shù)等數(shù)據(jù)。
[0031]所述的超聲探測(cè)裝置有三種不同的結(jié)構(gòu),以適用于各個(gè)不同的測(cè)試條件,且無需增加額外的管路。其中一種為反射式超聲探頭,另一種為透射式超聲探頭,它們都可浸入樣品中進(jìn)行測(cè)量。第三種是流體探測(cè)單元,它采用透射模式,具有體積小,可直接加在現(xiàn)有管道中。
[0032]如圖2所示,所述反射式超聲探頭包括有探尋管101、超聲脈沖發(fā)射接收傳感器102以及帶超聲反射鏡面103的傳感器支架104,其中,所述超聲脈沖發(fā)射接收傳感器102裝于傳感器支架104上,其一端與探尋管101連接,其另一端朝向超聲反射鏡面103,且所述超聲脈沖發(fā)射接收傳感器102和超聲反射鏡面103的距離可以在一定范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié),超聲脈沖信號(hào)經(jīng)由探尋管101和超聲脈沖發(fā)射接收傳感器102與樣品相互作用后,遇到超聲反射鏡面103返回再和樣品作用并被超聲脈沖發(fā)射接收傳感器102接收、傳遞。不同長(zhǎng)度的探尋管(2英寸到16英寸)可以插入不同深度的容器之中。
[0033]如圖3所示,所述透射式超聲探頭包括有探尋管201、超聲脈沖發(fā)射傳感器202、超聲脈沖接收傳感器203和傳感器支架204,其中,所述超聲脈沖發(fā)射傳感器202和超聲脈沖接收傳感器203分別裝于傳感器支架204上,并相向?qū)χ?,且它們之間的距離可以在一定范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié),所述超聲脈沖發(fā)射傳感器202與探尋管201連接,超聲脈沖信號(hào)經(jīng)由探尋管201和超聲脈沖發(fā)射傳感器202與樣品相互作用,透射過的信號(hào)由超聲脈沖接收傳感器203接收、傳遞。
[0034]如圖4所示,所述流體探測(cè)單元包括有樣品流動(dòng)單元301、超聲脈沖發(fā)射傳感器302和超聲脈沖接收傳感器303,其中,所述樣品流動(dòng)單元301內(nèi)設(shè)有供流動(dòng)樣品流過的主通道,其兩側(cè)分別設(shè)有與主通道連通的兩分支,所述超聲脈沖發(fā)射傳感器302和超聲脈沖接收傳感器303分別裝于樣品流動(dòng)單元301的兩分支上,且它們之間的距離可以在一定范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié),超聲脈沖信號(hào)經(jīng)由超聲脈沖發(fā)射傳感器302和流動(dòng)樣品相互作用,透射過的信號(hào)由超聲脈沖接收傳感器303接收、傳遞。當(dāng)流動(dòng)樣品流經(jīng)該單元時(shí),樣品即可被測(cè)量,特別適合工業(yè)生產(chǎn)中的在線測(cè)量,并且為了防止泄漏,采用密封圈來密閉傳感器和樣品流動(dòng)單元單元之間的縫隙,本流體探測(cè)單元非常緊湊,僅增加不到3英寸的樣品路徑長(zhǎng)度。
[0035]現(xiàn)在,我們以二氧化鈦標(biāo)準(zhǔn)樣品為例進(jìn)行說明,二氧化鈦標(biāo)準(zhǔn)樣品是由英國(guó)國(guó)家科學(xué)技術(shù)研究院提供(標(biāo)號(hào)為8988)。該研究院并提供基于激光散射(LLS,馬爾文Mastersizer 2000)和x光圓盤式離心粒度儀(XDC, Brookhaven儀器)技術(shù)的顆粒粒徑分布結(jié)果。我們運(yùn)用了激光散射(馬爾文Mastersizer 3000),掃描電鏡(SEM)和本超聲粒徑分析儀對(duì)二氧化鈦標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行了測(cè)量,其測(cè)試結(jié)果如圖5和圖6所示,從圖中可知,測(cè)試結(jié)果表明對(duì)于二氧化鈦標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)量,本超聲粒徑分析儀的結(jié)果與世界主流的粒度儀(馬爾文Mastersizer) —致,甚至優(yōu)于其結(jié)果,值得推廣。
[0036]以上所述實(shí)施例子只為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例,并非以此限制本實(shí)用新型的實(shí)施范圍,故凡依本實(shí)用新型之形狀、原理所作的變化,均應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種超聲粒徑分析儀,其特征在于:包括相互獨(dú)立的超聲波發(fā)射接收器和超聲探測(cè)裝置,以及用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)發(fā)射和接收的超聲波信號(hào)的示波器和用于數(shù)據(jù)處理的計(jì)算機(jī),其中,所述超聲探測(cè)裝置、示波器、計(jì)算機(jī)分別與超聲波發(fā)射接收器一一對(duì)應(yīng)相接,所述超聲探測(cè)裝置為可浸入樣品中進(jìn)行測(cè)量的反射式超聲探頭或透射式超聲探頭,或可直接加在現(xiàn)有管道中測(cè)量流動(dòng)樣品的流體探測(cè)單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種超聲粒徑分析儀,其特征在于:所述反射式超聲探頭包括有探尋管(101)、超聲脈沖發(fā)射接收傳感器(102)以及帶超聲反射鏡面(103)的傳感器支架(104),其中,所述超聲脈沖發(fā)射接收傳感器(102)裝于傳感器支架(104)上,其一端與探尋管(101)連接,其另一端朝向超聲反射鏡面(103),且所述超聲脈沖發(fā)射接收傳感器(102)和超聲反射鏡面(103)的距離可調(diào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種超聲粒徑分析儀,其特征在于:所述透射式超聲探頭包括有探尋管(201)、超聲脈沖發(fā)射傳感器(202)、超聲脈沖接收傳感器(203)和傳感器支架(204),其中,所述超聲脈沖發(fā)射傳感器(202)和超聲脈沖接收傳感器(203)分別裝于傳感器支架(204)上,并相向?qū)χ?,且它們之間的距離可調(diào),所述超聲脈沖發(fā)射傳感器(202)與探尋管(201)連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種超聲粒徑分析儀,其特征在于:所述流體探測(cè)單元采用透射模式,包括有樣品流動(dòng)單元(301)、超聲脈沖發(fā)射傳感器(302)和超聲脈沖接收傳感器(303),其中,所述樣品流動(dòng)單元(301)內(nèi)設(shè)有供流動(dòng)樣品流過的主通道,其兩側(cè)分別設(shè)有與主通道連通的兩分支,所述超聲脈沖發(fā)射傳感器(302)和超聲脈沖接收傳感器(303)分別裝于樣品流動(dòng)單元(301)的兩分支上,且它們之間的距離可調(diào)。
【文檔編號(hào)】G01N15/02GK204116176SQ201420420260
【公開日】2015年1月21日 申請(qǐng)日期:2014年7月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月28日
【發(fā)明者】王學(xué)重, 阿基諾拉佛羅拉 申請(qǐng)人:王學(xué)重