一種陣列插腳器件測試座的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種陣列插腳器件測試座，包括上蓋、底座。上蓋包括上基板，上基板上設(shè)有與待測陣列插腳器件的各插腳的位置分別對應(yīng)的若干穿孔，以供各插腳穿過；底座包括下基板，下基板上設(shè)有與若干穿孔位置對應(yīng)的若干測試孔，每一測試孔中均設(shè)有測試彈片。上蓋可沿水平方向在第一位置和第二位置之間來回移動地安裝于底座上側(cè)，以使插腳穿過穿孔、并穿過到對應(yīng)位置的測試孔內(nèi)的部分接觸或遠(yuǎn)離對應(yīng)位置的測試彈片。該實(shí)用新型采用插腳與測試彈片單邊側(cè)面接觸的方法對待測試陣列插腳器件進(jìn)行導(dǎo)通測試，提升了陣列插腳器件測試座的使用壽命；結(jié)構(gòu)簡單，可對各測試彈片單獨(dú)更換，不用整體連底座一起更換，減少環(huán)境污染，同時節(jié)約了成本。
【專利說明】一種陣列插腳器件測試座

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及插腳器件測試座，更具體地說，涉及一種陣列插腳器件測試座。

【背景技術(shù)】
[0002]利用相關(guān)技術(shù)中的插腳器件測試座對整列插腳器件進(jìn)行導(dǎo)通測試時，通常是將待測試插腳器件的插腳卡入到Y(jié)型結(jié)構(gòu)的接觸端子內(nèi)進(jìn)行測試。該測試方法多次插拔后容易對測試座上的接觸端子產(chǎn)生磨損，降低了測試座的使用壽命，Y型結(jié)構(gòu)的接觸端子還會占用較大的空間，不適合測試高密度的待測試插腳器件的插腳。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題在于，提供一種改進(jìn)的陣列插腳器件測試座。
[0004]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:構(gòu)造一種陣列插腳器件測試座，包括上蓋、底座，所述上蓋包括上基板，所述底座包括下基板；
[0005]所述上基板上設(shè)有與待測陣列插腳器件的各插腳的位置分別對應(yīng)的若干穿孔，以供各所述插腳穿過；
[0006]所述下基板上設(shè)有與所述若干穿孔位置對應(yīng)的若干測試孔，每一所述測試孔中均設(shè)有測試彈片；
[0007]所述上蓋可沿水平方向在第一位置和第二位置之間來回移動地安裝于所述底座上側(cè)，以使所述插腳穿過所述穿孔、并穿過到對應(yīng)位置的所述測試孔內(nèi)的部分接觸或遠(yuǎn)離對應(yīng)位置的所述測試彈片。
[0008]優(yōu)選地，所述上基板的下側(cè)設(shè)有沿縱長設(shè)置的支撐臺，所述支撐臺的下側(cè)可滑動地與所述底座的上表面配合，以減少所述上蓋和所述底座之間的滑動摩擦力。
[0009]優(yōu)選地，所述測試彈片呈r形。
[0010]優(yōu)選地，所述下基板呈方塊狀，所述測試孔沿所述下基板的縱向和/或橫向排布。
[0011]優(yōu)選地，所述上蓋還包括設(shè)于所述上基板的縱向兩相對側(cè)，并與所述下基板的縱向兩相對的側(cè)面配合的導(dǎo)向壁，以使所述上蓋在所述下基板上沿橫向移動。
[0012]優(yōu)選地，所述上蓋還包括設(shè)于所述上基板的橫向兩相對側(cè)，并分別與所述下基板的橫向兩相對端配合的第一限位壁、第二限位壁，所述第一限位壁、第二限位壁的內(nèi)側(cè)面之間的距離大于所述底座的橫向兩相對端之間的距離，以使所述上蓋能在所述第一位置和所述第二位置之間移動。
[0013]優(yōu)選地，所述第一限位壁、第二限位壁的內(nèi)側(cè)面之間的距離等于所述下基板兩相對端之間的距離與所述第一位置到所述第二位置的行程之和。
[0014]優(yōu)選地，所述陣列插腳器件測試座還包括用于帶動所述上蓋在所述第一位置和所述第二位置移動的驅(qū)動裝置。
[0015]優(yōu)選地，所述驅(qū)動裝置包括搖桿，所述搖桿包括搖動部及樞軸部，所述樞軸部的軸向沿縱向設(shè)置，所述樞軸部包括相互偏心的第一軸及第二軸，所述搖動部與所述第一軸連接；
[0016]所述底座還包括設(shè)于所述下基板任一側(cè)的樞接部，所述第一軸與所述樞接部樞接，所述搖動部帶動所述樞軸部樞轉(zhuǎn)，以驅(qū)使所述上蓋橫向來回移動。
[0017]優(yōu)選地，所述樞接部設(shè)于所述下基板與所述第一限位壁對應(yīng)的一側(cè)，所述上蓋還包括設(shè)于所述第一限位壁外側(cè)并與所述第一限位壁間隔設(shè)置的卡合壁，所述第二軸卡合在所述第一限位壁和所述卡合壁之間；
[0018]所述樞軸部包括位于兩端的第一軸和位于中部的第二軸，所述搖動部與其中至少一個所述第一軸連接并垂直向外延伸。
[0019]實(shí)施本實(shí)用新型的陣列插腳器件測試座，具有以下有益效果:在待測陣列插腳器件的插腳穿過上基板上的各穿孔后，上蓋沿水平方向在第一位置和第二位置之間來回移動，可使插腳穿過穿孔的部分接觸或遠(yuǎn)離下基板對應(yīng)位置測試孔上的測試彈片，進(jìn)行待測陣列插腳器件的導(dǎo)通測試。該實(shí)用新型中的陣列插腳器件測試座采用插腳與測試彈片單邊側(cè)面接觸的方法對待測試陣列插腳器件進(jìn)行導(dǎo)通測試，提升了陣列插腳器件測試座的使用壽命；結(jié)構(gòu)簡單，提升了測試彈片的排列密度；同時，可對各測試彈片單獨(dú)更換，節(jié)約了成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明，附圖中:
[0021]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例中的陣列插腳器件測試座分解狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖2是上蓋在第一位置時的陣列插腳器件測試座橫向剖面局部示意圖；
[0023]圖3是上蓋在第二位置時的陣列插腳器件測試座橫向剖面局部示意圖；
[0024]圖4是上蓋倒轉(zhuǎn)后的立體狀態(tài)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0025]為了對本實(shí)用新型的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解，現(xiàn)對照附圖詳細(xì)說明本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】。
[0026]如圖1、圖2及圖3所示，本實(shí)用新型一個優(yōu)選實(shí)施例中的陣列插腳器件測試座包括上蓋10、底座20、以及驅(qū)動裝置30。上蓋10可沿水平方向在第一位置A和第二位置B移動地安裝于底座20上側(cè)；驅(qū)動裝置30設(shè)置在底座20上，并帶動上蓋10在第一位置A和第二位置B之間移動。
[0027]如圖1及圖4所示，在一些實(shí)施例中，上蓋10包括上基板11、設(shè)于上基板11縱向兩相對側(cè)的導(dǎo)向壁12、以及分別設(shè)于上基板11的橫向兩相對側(cè)的第一限位壁13和第二限位壁14，上蓋10還包括設(shè)于第一限位壁13外側(cè)并與第一限位壁13間隔設(shè)置的卡合壁15。上基板11上設(shè)有與待測陣列插腳器件40的各插腳41的位置分別對應(yīng)的若干穿孔111，以供各插腳41穿過。優(yōu)選地，各穿孔111沿上基板11的橫向、縱向分別排布設(shè)置。
[0028]在上基板11的下側(cè)設(shè)有沿縱長設(shè)置的三個支撐臺112，支撐臺112的下側(cè)可滑動地與底座20的上表面配合，以減少上蓋10和底座20之間的滑動摩擦力。
[0029]如圖1、圖2及圖3所示，底座20包括下基板21、以及設(shè)于下基板21上與第一限位壁13對應(yīng)的一側(cè)的樞接部22。下基板21上設(shè)有與若干穿孔111位置對應(yīng)的若干測試孔211，每一測試孔211中均設(shè)有測試彈片212，測試彈片212可拆卸的安裝在測試孔211中，同時，各測試彈片212分別與測試儀器上的對應(yīng)連接點(diǎn)接通。
[0030]對應(yīng)位置的插腳41穿過穿孔111、并穿過到對應(yīng)位置的測試孔211內(nèi)，以在上蓋10在第一位置A和第二位置B移動時，插腳41與測試彈片212接觸或遠(yuǎn)離，并對待測陣列插腳器件40進(jìn)行導(dǎo)通測試。優(yōu)選的，測試彈片212為r形，也可為端部向一側(cè)彎折的形狀，便于和插腳41彈性接觸。
[0031]優(yōu)選地，下基板21呈方塊狀，測試孔211沿底座20的下基板21的縱向和橫向排布設(shè)置。導(dǎo)向壁12與下基板21的縱向兩相對的側(cè)面配合，以使上蓋10在下基板21上沿橫向移動。第一限位壁13、第二限位壁14分別與下基板21的橫向兩相對端配合,第一限位壁13、第二限位壁14的內(nèi)側(cè)面之間的距離大于底座20的橫向兩相對端之間的距離，以使上蓋10能在第一位置A和第二位置B之間移動。
[0032]優(yōu)選地，第一限位壁13、第二限位壁14的內(nèi)側(cè)面之間的距離等于下基板21兩相對端之間的距離與第一位置A到第二位置B的行程之和，以限定上蓋10的橫向活動區(qū)間與第一位置A到第二位置B的行程相同。
[0033]本實(shí)施例中，待測陣列插腳器件40的插腳41沿縱向和橫向都有排布，穿孔111和測試孔211也均按橫向和縱向排布，在其他實(shí)施例中，若待測陣列插腳器件40的插腳41為單排排布，則穿孔111和測試孔211則可沿橫向或縱向排布。
[0034]在一些實(shí)施例中，驅(qū)動裝置30包括搖桿31，搖桿31包括搖動部311及樞軸部312，樞軸部312的軸向沿縱向設(shè)置。樞軸部312包括相互偏心的第一軸313及第二軸314，優(yōu)選地，樞軸部312包括位于兩端的第一軸313和位于中部的第二軸314，搖動部311與其中一個第一軸313連接并垂直向外延伸，第二軸314卡合在第一限位壁13和卡合壁15之間。在其他實(shí)施例中，搖動部311也可與兩個第一軸313同時連接。
[0035]第一軸313與樞接部22樞接，搖動部311帶動樞軸部312樞轉(zhuǎn)，以驅(qū)使上蓋10橫向來回移動。樞接部22也可設(shè)置在下基板21的其他側(cè)，以能和驅(qū)動裝置30配合帶動上蓋10沿橫向來回移動即可。
[0036]可以理解地，在其他實(shí)施例中，操作人員也可直接手動推動上蓋10沿橫向來回移動，或采用其他伸縮驅(qū)動機(jī)構(gòu)(例如電動或氣動驅(qū)動機(jī)構(gòu))帶動上蓋10來回移動。
[0037]在對待測陣列插腳器件40進(jìn)行測試時，保持上蓋10在第一位置A，將待測陣列插腳器件40的插腳41對應(yīng)的插入到穿孔111內(nèi)，插腳41從穿孔111穿出，并插入到對應(yīng)位置的測試孔211內(nèi)，插腳41與測試彈片212相互遠(yuǎn)離未接觸。轉(zhuǎn)動搖動部311帶動樞軸部312樞轉(zhuǎn)，將上蓋10由第一位置A推動到第二位置B，待測陣列插腳器件40隨上蓋10—起移動，并使插腳41靠近接觸對應(yīng)位置的測試彈片212，進(jìn)行導(dǎo)通測試。一個測陣列插腳器件40測試完成后，轉(zhuǎn)動搖動部311帶動樞軸部312樞轉(zhuǎn)，將上蓋10由第二位置B推動到第一位置A，并取下待測陣列插腳器件40，再對下一個測陣列插腳器件40進(jìn)行測試。
[0038]可以理解地，上述各技術(shù)特征可以任意組合使用而不受限制。
[0039]以上所述僅為本實(shí)用新型的實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的【技術(shù)領(lǐng)域】，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種陣列插腳器件測試座，其特征在于，包括上蓋(10)、底座(20)，所述上蓋(10)包括上基板(11)，所述底座(20 )包括下基板(21); 所述上基板(11)上設(shè)有與待測陣列插腳器件(40)的各插腳(41)的位置分別對應(yīng)的若干穿孔(111)，以供各所述插腳(41)穿過； 所述下基板(21)上設(shè)有與所述若干穿孔(111)位置對應(yīng)的若干測試孔(211)，每一所述測試孔(211)中均設(shè)有測試彈片(212)； 所述上蓋(10)可沿水平方向在第一位置(A)和第二位置(B)之間來回移動地安裝于所述底座(20)上側(cè)，以使所述插腳(41)穿過所述穿孔(111)、并穿過到對應(yīng)位置的所述測試孔(211)內(nèi)的部分接觸或遠(yuǎn)離對應(yīng)位置的所述測試彈片(212)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述上基板(11)的下側(cè)設(shè)有沿縱長設(shè)置的支撐臺(112)，所述支撐臺(112)的下側(cè)可滑動地與所述底座(20)的上表面配合，以減少所述上蓋(10)和所述底座(20)之間的滑動摩擦力。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述測試彈片(212)呈r形。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述下基板(21)呈方塊狀，所述測試孔(211)沿所述下基板(21)的縱向和/或橫向排布。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述上蓋(10)還包括設(shè)于所述上基板(11)的縱向兩相對側(cè)，并與所述下基板(21)的縱向兩相對的側(cè)面配合的導(dǎo)向壁(12)，以使所述上蓋(10)在所述下基板(21)上沿橫向移動。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述上蓋(10)還包括設(shè)于所述上基板(11)的橫向兩相對側(cè)，并分別與所述下基板(21)的橫向兩相對端配合的第一限位壁(13)、第二限位壁(14)，所述第一限位壁(13)、第二限位壁(14)的內(nèi)側(cè)面之間的距離大于所述底座(20)的橫向兩相對端之間的距離，以使所述上蓋(10)能在所述第一位置(A)和所述第二位置(B)之間移動。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述第一限位壁(13)、第二限位壁(14)的內(nèi)側(cè)面之間的距離等于所述下基板(21)兩相對端之間的距離與所述第一位置(A)到所述第二位置(B)的行程之和。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述陣列插腳器件測試座還包括用于帶動所述上蓋(10)在所述第一位置(A)和所述第二位置(B)移動的驅(qū)動裝置(30)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述驅(qū)動裝置(30)包括搖桿(31)，所述搖桿(31)包括搖動部(311)及樞軸部(312)，所述樞軸部(312)的軸向沿縱向設(shè)置，所述樞軸部(312)包括相互偏心的第一軸(313 )及第二軸(314)，所述搖動部(311)與所述第一軸(313)連接； 所述底座(20)還包括設(shè)于所述下基板(21)任一側(cè)的樞接部(22)，所述第一軸(313)與所述樞接部(22 )樞接，所述搖動部(311)帶動所述樞軸部(312 )樞轉(zhuǎn)，以驅(qū)使所述上蓋(10 )橫向來回移動。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的陣列插腳器件測試座，其特征在于，所述樞接部(22)設(shè)于所述下基板(21)與所述第一限位壁(13)對應(yīng)的一側(cè)，所述上蓋(10)還包括設(shè)于所述第一限位壁(13)外側(cè)并與所述第一限位壁(13)間隔設(shè)置的卡合壁(15)，所述第二軸(314)卡合在所述第一限位壁(13)和所述卡合壁(15)之間；所述樞軸部(312)包括位于兩端的第一軸(313 )和位于中部的第二軸(314)，所述搖動部(311)與其中至少一個所述第一軸(313 )連接并垂直向外延伸。
【文檔編號】G01R1/04GK204028134SQ201420444481
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2014年8月7日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月7日
【發(fā)明者】李宗正 申請人:深圳市聯(lián)泰興電子科技有限公司