一種試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)，包括：外殼接線柱、測(cè)試儀輸出接線柱、測(cè)試儀地線接線柱、一組以上的轉(zhuǎn)換部件，以及與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，外殼接線柱與測(cè)試儀地線接線柱相連。通過轉(zhuǎn)換部件將接線柱可選擇地與測(cè)試儀輸出接線柱或測(cè)試儀地線接線柱連接。試驗(yàn)裝置通過測(cè)試儀輸出接線柱、測(cè)試儀地線接線柱與測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)電連接。試驗(yàn)裝置通過外殼接線柱，以及一組以上與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱與外部的被測(cè)電子裝置實(shí)現(xiàn)電連接。本實(shí)用新型能夠簡(jiǎn)化試驗(yàn)過程中測(cè)試電路的搭建工作，提高試驗(yàn)效率，并進(jìn)一步避免工作人員在試驗(yàn)過程中直接接觸測(cè)試設(shè)備的輸出端，消除安全隱患。
【專利說明】一種試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電子電氣【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其是涉及一種應(yīng)用于對(duì)同一電子產(chǎn)品進(jìn)行多次不同試驗(yàn)測(cè)試的試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]在進(jìn)行電子裝置產(chǎn)品的試驗(yàn)過程中，往往都需要對(duì)同一電子產(chǎn)品進(jìn)行多次不同試驗(yàn)電壓的耐壓測(cè)試，而每次測(cè)試針對(duì)的被測(cè)產(chǎn)品的測(cè)試端都不同，即測(cè)試儀與被測(cè)電子裝置之間的測(cè)試連接電路不同。這就要求試驗(yàn)人員在每進(jìn)行一次新的測(cè)試前，需要變更測(cè)試電路，拆卸掉測(cè)試儀和被測(cè)電子裝置原先的測(cè)試導(dǎo)線，并按照新的測(cè)試電路重新連接測(cè)試導(dǎo)線。
[0003]以一種典型的電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)為例，根據(jù)IEC60571標(biāo)準(zhǔn)要求，電子裝置在交付使用之前，需要進(jìn)行耐壓試驗(yàn)，以測(cè)試電子裝置的承受過電壓能力。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定在進(jìn)行耐壓試驗(yàn)時(shí)，針對(duì)被測(cè)電子設(shè)備不同工作電壓的端子，進(jìn)行不同耐壓等級(jí)的試驗(yàn):
[0004](I)工作電壓在DC72V以下的端子應(yīng)進(jìn)行50Hz，正弦方均值為500V的耐壓試驗(yàn)；
[0005](2)工作電壓在DC72V?DC125V的端子應(yīng)進(jìn)行50Hz，正弦方均值為1000V的耐壓試驗(yàn)；
[0006](3)工作電壓在DC125V?DC315V的端子應(yīng)進(jìn)行50Hz，正弦方均值為1500V的耐壓試驗(yàn)。
[0007]比如一個(gè)被測(cè)電子裝置，其所有對(duì)外的端子，工作電壓覆蓋了以上三種不同的電壓范圍，則耐壓試驗(yàn)應(yīng)該按照如下方式進(jìn)行:
[0008](I)將屬于同一工作電壓范圍下的所有端子用導(dǎo)線短接起來，作為一個(gè)測(cè)試組，并引出一根測(cè)試輸入線，假設(shè)將裝置對(duì)外端子中工作電壓在DC125V?DC315V的端子全部短接起來劃作A組，DC72V?DC125V的端子劃作B組，DC72V以下的端子劃作C組，另外還需要將裝置外殼單獨(dú)引出一根測(cè)試輸入線；
[0009](2)對(duì)各分組分別進(jìn)行三次不同試驗(yàn)電壓的耐壓試驗(yàn):A組對(duì)(B組+C組+電子裝置外殼)進(jìn)行1500V的耐壓測(cè)試；B組對(duì)(C組+電子裝置外殼)進(jìn)行1000V的耐壓測(cè)試；C組對(duì)電子裝置外殼進(jìn)行500V的耐壓測(cè)試。
[0010]因此，在一次完整的耐壓試驗(yàn)過程中，這樣的變更需要重復(fù)多次，過程繁瑣，容易出現(xiàn)接線錯(cuò)誤。并且由于在此過程中試驗(yàn)人員會(huì)直接或者間接的接觸到耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓輸出端，存在安全隱患。對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目更多的電氣設(shè)備試驗(yàn)過程，這種問題表現(xiàn)得尤為突出。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0011]有鑒于此，本實(shí)用新型的目的在于提供一種試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)，能夠簡(jiǎn)化試驗(yàn)過程中測(cè)試電路的搭建工作，提高試驗(yàn)效率。
[0012]為了實(shí)現(xiàn)上述實(shí)用新型目的，本實(shí)用新型具體提供了一種試驗(yàn)裝置的技術(shù)實(shí)現(xiàn)方案，一種試驗(yàn)裝置，包括:外殼接線柱、測(cè)試儀輸出接線柱、測(cè)試儀地線接線柱、一組以上的轉(zhuǎn)換部件，以及與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，所述外殼接線柱與所述測(cè)試儀地線接線柱相連。通過所述轉(zhuǎn)換部件將所述接線柱可選擇地與所述測(cè)試儀輸出接線柱或所述測(cè)試儀地線接線柱連接。
[0013]優(yōu)選的，所述試驗(yàn)裝置通過所述測(cè)試儀輸出接線柱、測(cè)試儀地線接線柱與外部的測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)電連接。所述試驗(yàn)裝置通過所述外殼接線柱，以及一組以上與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱與外部的被測(cè)電子裝置實(shí)現(xiàn)電連接。
[0014]優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)換部件進(jìn)一步包括動(dòng)簧片、端子和開關(guān)，所述動(dòng)簧片與相應(yīng)的接線柱相連，所述開關(guān)通過動(dòng)簧片連接相應(yīng)的端子，將所述接線柱可選擇地與所述測(cè)試儀輸出接線柱或所述測(cè)試儀地線接線柱連接，或懸空。
[0015]進(jìn)一步避免人員與測(cè)試設(shè)備輸出端的頻繁接觸，消除了安全隱患，優(yōu)選的，所述試驗(yàn)裝置進(jìn)一步包括外殼。所述外殼接線柱、測(cè)試儀輸出接線柱、測(cè)試儀地線接線柱、開關(guān)、以及接線柱均設(shè)置在所述外殼上，供相關(guān)人員進(jìn)行接線或操作。所述動(dòng)簧片、端子，以及所述外殼接線柱、測(cè)試儀輸出接線柱、測(cè)試儀地線接線柱之間的電氣連線均設(shè)置在所述外殼的內(nèi)部。
[0016]優(yōu)選的，所述試驗(yàn)裝置包括兩組轉(zhuǎn)換部件，以及與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，分別為A組轉(zhuǎn)換部件及與所述A組轉(zhuǎn)換部件相連的A組接線柱、B組轉(zhuǎn)換部件及與所述B組轉(zhuǎn)換部件相連的B組接線柱，所述轉(zhuǎn)換部件的端子進(jìn)一步包括端子1、端子II和端子O。所述A組轉(zhuǎn)換部件和B組轉(zhuǎn)換部件的端子I均連接至所述外殼接線柱和測(cè)試儀地線接線柱，所述A組轉(zhuǎn)換部件和B組轉(zhuǎn)換部件的端子II均連接至所述測(cè)試儀輸出接線柱，所述A組轉(zhuǎn)換部件和B組轉(zhuǎn)換部件的端子O均懸空。
[0017]優(yōu)選的，所述試驗(yàn)裝置包括三組轉(zhuǎn)換部件，以及與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，分別為A組轉(zhuǎn)換部件及與所述A組轉(zhuǎn)換部件相連的A組接線柱、B組轉(zhuǎn)換部件及與所述B組轉(zhuǎn)換部件相連的B組接線柱、C組轉(zhuǎn)換部件及與所述C組轉(zhuǎn)換部件相連的C組接線柱，所述轉(zhuǎn)換部件的端子進(jìn)一步包括端子1、端子II和端子O。所述A組轉(zhuǎn)換部件、B組轉(zhuǎn)換部件和C組轉(zhuǎn)換部件的端子I均連接至所述外殼接線柱和測(cè)試儀地線接線柱，所述A組轉(zhuǎn)換部件、B組轉(zhuǎn)換部件和C組轉(zhuǎn)換部件的端子II均連接至所述測(cè)試儀輸出接線柱，所述A組轉(zhuǎn)換部件、B組轉(zhuǎn)換部件和C組轉(zhuǎn)換部件的端子O均懸空。
[0018]優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)所述被測(cè)電子裝置外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片連接至端子II，其余兩組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片連接至端子O。
[0019]優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)余下兩組的任意一組，以及所述被測(cè)電子裝置外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片連接至端子II，余下兩組的任意一組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片連接至端子I，最后一組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片連接至端子O。
[0020]優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)余下兩組，以及所述被測(cè)電子裝置外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片連接至端子II，其余兩組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片連接至端子I。
[0021]優(yōu)選的，所述外部的測(cè)試儀為耐壓測(cè)試儀或兆歐表。
[0022]本實(shí)用新型還具體提供了一種基于上述裝置的試驗(yàn)系統(tǒng)的技術(shù)實(shí)現(xiàn)方案，一種試驗(yàn)系統(tǒng)，包括:如上所述的試驗(yàn)裝置，以及分別與所述試驗(yàn)裝置相連的測(cè)試儀、被測(cè)電子裝置。
[0023]優(yōu)選的，所述試驗(yàn)裝置通過所述測(cè)試儀輸出接線柱、測(cè)試儀地線接線柱與所述測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)電連接。
[0024]優(yōu)選的，所述試驗(yàn)裝置通過所述外殼接線柱，以及一組以上與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱與所述被測(cè)電子裝置實(shí)現(xiàn)電連接。
[0025]優(yōu)選的，所述測(cè)試儀為耐壓測(cè)試儀或兆歐表。
[0026]通過實(shí)施上述本實(shí)用新型提供的試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)，具有如下技術(shù)效果:
[0027](I)本實(shí)用新型試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)相對(duì)于傳統(tǒng)的試驗(yàn)方法，簡(jiǎn)化了試驗(yàn)過程中測(cè)試電路的搭建工作，大幅提聞了試驗(yàn)效率；
[0028](2)本實(shí)用新型試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)避免了人員與測(cè)試設(shè)備輸出端的接觸，消除了安全隱患。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0029]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單的介紹。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的實(shí)施例。
[0030]圖1是本實(shí)用新型試驗(yàn)裝置一種【具體實(shí)施方式】的電氣連接結(jié)構(gòu)原理圖；
[0031]圖2是本實(shí)用新型試驗(yàn)裝置一種【具體實(shí)施方式】的外形結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032]圖3是本實(shí)用新型試驗(yàn)系統(tǒng)一種【具體實(shí)施方式】的電氣連接結(jié)構(gòu)示意圖；
[0033]圖中:1-A組接線柱，2-B組接線柱，3-C組接線柱，4-外殼接線柱，5-測(cè)試儀輸出接線柱，6-測(cè)試儀地線接線柱，7-A組轉(zhuǎn)換部件，8-B組轉(zhuǎn)換部件，9-C組轉(zhuǎn)換部件，10-試驗(yàn)裝置，11-外殼，12-動(dòng)簧片，13-端子，14-開關(guān)，20-測(cè)試儀，30-被測(cè)電子裝置。

【具體實(shí)施方式】
[0034]為了引用和清楚起見，將下文中使用的技術(shù)名詞、簡(jiǎn)寫或縮寫記載如下:
[0035]IEC:1nternat1nal Electrotechnical Commiss1n,國(guó)際電工委員會(huì)的簡(jiǎn)稱。
[0036]為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整的描述。顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0037]如附圖1至附圖3所示，給出了本實(shí)用新型試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)的具體實(shí)施例，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。
[0038]如附圖1所示，一種試驗(yàn)裝置的具體實(shí)施例，包括:外殼接線柱4、測(cè)試儀輸出接線柱5、測(cè)試儀地線接線柱6、一組以上的轉(zhuǎn)換部件，以及與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，外殼接線柱4與測(cè)試儀地線接線柱6相連。通過轉(zhuǎn)換部件將接線柱可選擇地與測(cè)試儀輸出接線柱5或測(cè)試儀地線接線柱6連接。轉(zhuǎn)換部件進(jìn)一步包括動(dòng)簧片12、端子13和開關(guān)14。動(dòng)簧片12與相應(yīng)的接線柱相連，開關(guān)14通過動(dòng)簧片12連接相應(yīng)的端子13，將接線柱可選擇地與測(cè)試儀輸出接線柱5或測(cè)試儀地線接線柱6連接，或懸空。
[0039]如附圖3所示，試驗(yàn)裝置10進(jìn)一步通過測(cè)試儀輸出接線柱5、測(cè)試儀地線接線柱6與外部的測(cè)試儀20實(shí)現(xiàn)電連接。試驗(yàn)裝置10進(jìn)一步通過外殼接線柱4，以及一組以上與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱與外部的被測(cè)電子裝置30實(shí)現(xiàn)電連接。本實(shí)用新型具體實(shí)施例描述的試驗(yàn)裝置是一種試驗(yàn)工裝，工裝包含有一個(gè)或多個(gè)轉(zhuǎn)換部件、接線柱以及內(nèi)部的連接導(dǎo)線。工裝上的接線柱用來連接測(cè)試儀20的測(cè)試輸出端和被測(cè)電子裝置30的各個(gè)測(cè)試輸入端。工裝內(nèi)的導(dǎo)線將轉(zhuǎn)換部件和接線柱按照一定的方式連接起來。試驗(yàn)人員在進(jìn)行不同試驗(yàn)電壓下的電氣設(shè)備測(cè)試前，通過撥動(dòng)工裝上的轉(zhuǎn)換部件的開關(guān)，就能改變?cè)囼?yàn)工裝的內(nèi)部電路連接，從而改變測(cè)試儀20與被測(cè)電子裝置30之間的測(cè)試連接電路。
[0040]作為本實(shí)用新型一種較佳的具體實(shí)施例，試驗(yàn)裝置10進(jìn)一步包括外殼11，外殼接線柱4、測(cè)試儀輸出接線柱5、測(cè)試儀地線接線柱6、開關(guān)14、以及接線柱均設(shè)置在外殼11上，供相關(guān)人員進(jìn)行接線或操作。動(dòng)簧片12、端子13，以及外殼接線柱4、測(cè)試儀輸出接線柱
5、測(cè)試儀地線接線柱6之間的電氣連線均設(shè)置在外殼11的內(nèi)部。這樣可以進(jìn)一步避免人員與測(cè)試設(shè)備輸出端的頻繁接觸，消除了安全隱患。
[0041]作為本實(shí)用新型一種典型的具體實(shí)施例，試驗(yàn)裝置10進(jìn)一步包括兩組轉(zhuǎn)換部件，以及與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，分別為A組轉(zhuǎn)換部件7及與A組轉(zhuǎn)換部件7相連的A組接線柱1、B組轉(zhuǎn)換部件8及與B組轉(zhuǎn)換部件8相連的B組接線柱2，轉(zhuǎn)換部件的端子13進(jìn)一步包括端子1、端子II和端子O。A組轉(zhuǎn)換部件7和B組轉(zhuǎn)換部件8的端子I均連接至外殼接線柱4和測(cè)試儀地線接線柱6，A組轉(zhuǎn)換部件7和B組轉(zhuǎn)換部件8的端子II均連接至測(cè)試儀輸出接線柱5，A組轉(zhuǎn)換部件7和B組轉(zhuǎn)換部件8的端子O均懸空。
[0042]作為本實(shí)用新型另一種典型的具體實(shí)施例，試驗(yàn)裝置10進(jìn)一步包括三組轉(zhuǎn)換部件，以及與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，分別為A組轉(zhuǎn)換部件7及與A組轉(zhuǎn)換部件7相連的A組接線柱1、B組轉(zhuǎn)換部件8及與B組轉(zhuǎn)換部件8相連的B組接線柱2、C組轉(zhuǎn)換部件9及與C組轉(zhuǎn)換部件9相連的C組接線柱3。轉(zhuǎn)換部件的端子13進(jìn)一步包括端子1、端子II和端子
O。A組轉(zhuǎn)換部件7、B組轉(zhuǎn)換部件8和C組轉(zhuǎn)換部件9的端子I均連接至外殼接線柱4和測(cè)試儀地線接線柱6。A組轉(zhuǎn)換部件7、B組轉(zhuǎn)換部件8和C組轉(zhuǎn)換部件9的端子II均連接至測(cè)試儀輸出接線柱5，A組轉(zhuǎn)換部件7、B組轉(zhuǎn)換部件8和C組轉(zhuǎn)換部件9的端子O均懸空。
[0043]如附圖2所示，本實(shí)用新型具體實(shí)施例描述的試驗(yàn)裝置具有6個(gè)接線柱，依次為:A組接線柱1、B組接線柱2、C組接線柱3、外殼接線柱4、測(cè)試儀輸出接線柱5和測(cè)試儀地線接線柱6，分別用來連接:被測(cè)電子裝置30的A、B、C組端子引出線和外殼引出線，測(cè)試儀20的電壓輸出端、地線端。試驗(yàn)裝置具有3個(gè)三位轉(zhuǎn)換部件，轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12分別與A、B、C三組接線柱連接，轉(zhuǎn)換部件的I轉(zhuǎn)換部件位與測(cè)試儀地線接線柱6連接，II轉(zhuǎn)換部件位與測(cè)試儀輸出接線柱5連接，測(cè)試儀地線接線柱6還與外殼接線柱4連接，如附圖1所示。每個(gè)轉(zhuǎn)換部件均具有Ι、Π、0三個(gè)檔位，其中I位對(duì)應(yīng)于與端子I相連，II位對(duì)應(yīng)于與端子II相連，O位對(duì)應(yīng)于與端子O相連。
[0044]轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，作為本實(shí)用新型一種典型的具體實(shí)施例，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)被測(cè)電子裝置30外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12連接至端子II，其余兩組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12連接至端子O。
[0045]轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，作為本實(shí)用新型另一種典型的具體實(shí)施例，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)余下兩組的任意一組，以及被測(cè)電子裝置30外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12連接至端子II，余下兩組的任意一組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12連接至端子I，最后一組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12連接至端子O。
[0046]轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，作為本實(shí)用新型第三種典型的具體實(shí)施例，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)余下兩組，以及被測(cè)電子裝置30外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12連接至端子II，其余兩組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片12連接至端子I。
[0047]作為本實(shí)用新型一種典型的具體實(shí)施例，外部的測(cè)試儀20進(jìn)一步為耐壓測(cè)試儀或兆歐表。
[0048]如附圖3所示，一種試驗(yàn)系統(tǒng)的具體實(shí)施例，包括:如上所述的試驗(yàn)裝置10，以及分別與試驗(yàn)裝置10相連的測(cè)試儀20、被測(cè)電子裝置30。
[0049]試驗(yàn)裝置10進(jìn)一步通過測(cè)試儀輸出接線柱5、測(cè)試儀地線接線柱6與測(cè)試儀20實(shí)現(xiàn)電連接。試驗(yàn)裝置10進(jìn)一步通過外殼接線柱4，以及一組以上與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱與被測(cè)電子裝置30實(shí)現(xiàn)電連接。
[0050]作為本實(shí)用新型一種典型的具體實(shí)施例，測(cè)試儀20可以進(jìn)一步為耐壓測(cè)試儀或兆歐表。當(dāng)測(cè)試儀20為耐壓測(cè)試儀時(shí)，針對(duì)被測(cè)電子裝置30進(jìn)行的是耐壓試驗(yàn)。當(dāng)測(cè)試儀20為兆歐表時(shí)，針對(duì)被測(cè)電子裝置30進(jìn)行的是絕緣試驗(yàn)。試驗(yàn)裝置10還包括三組以上的轉(zhuǎn)換部件，以及與轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，以適應(yīng)更加復(fù)雜的測(cè)量場(chǎng)合。此外，本實(shí)用新型具體實(shí)施例描述的試驗(yàn)裝置的外觀、轉(zhuǎn)換部件和接線柱的類型可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行改變。
[0051]如附圖3所示，在進(jìn)行試驗(yàn)前，先將測(cè)試儀20和被測(cè)電子裝置30的各類引出線正確至連接到本實(shí)用新型具體實(shí)施例描述的試驗(yàn)裝置的各個(gè)接線柱上，然后根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目調(diào)整試驗(yàn)裝置上各個(gè)轉(zhuǎn)換部件的轉(zhuǎn)換部件位置，并開始進(jìn)行試驗(yàn)。作為本實(shí)用新型一種典型的具體實(shí)施例，當(dāng)進(jìn)行A組、B組和C組共三種試驗(yàn)時(shí)，A組、B組和C組試驗(yàn)分別對(duì)應(yīng)于A組接線柱1、B組接線柱2和C組接線柱3。
[0052](I)當(dāng)進(jìn)行A組對(duì)(B組+C組+被測(cè)電子裝置30外殼)的耐壓測(cè)試時(shí)，將A組轉(zhuǎn)換部件7撥至II位，將B組轉(zhuǎn)換部件8和C組轉(zhuǎn)換部件9撥至I位；
[0053](2)當(dāng)進(jìn)行B組對(duì)(C組+被測(cè)電子裝置30外殼)的耐壓測(cè)試時(shí)，將A組轉(zhuǎn)換部件7撥至O位，將B組轉(zhuǎn)換部件8撥至II位，將C組轉(zhuǎn)換部件9撥至I位；
[0054](3)當(dāng)進(jìn)行C組對(duì)被測(cè)電子裝置30外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，將A組轉(zhuǎn)換部件7、B組轉(zhuǎn)換部件8撥至O位，將C組轉(zhuǎn)換部件9撥至II位。
[0055]通過實(shí)施本實(shí)用新型具體實(shí)施例描述的試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)，能夠達(dá)到以下技術(shù)效果:
[0056](I)本實(shí)用新型具體實(shí)施例描述的試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)采用改變轉(zhuǎn)換部件狀態(tài)的方式改變測(cè)試儀與被測(cè)電子裝置之間的測(cè)試電路，相對(duì)于傳統(tǒng)的試驗(yàn)方法，簡(jiǎn)化了試驗(yàn)過程中測(cè)試電路的搭建工作，大幅提聞了試驗(yàn)效率；
[0057](2)本實(shí)用新型具體實(shí)施例描述的試驗(yàn)裝置及系統(tǒng)避免了人員與測(cè)試設(shè)備輸出端的接觸，消除了安全隱患。
[0058]本說明書中各個(gè)實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個(gè)實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。
[0059]以上所述，僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并非對(duì)本實(shí)用新型作任何形式上的限制。雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭示如上，然而并非用以限定本實(shí)用新型。任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型的精神實(shí)質(zhì)和技術(shù)方案的情況下，都可利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案做出許多可能的變動(dòng)和修飾，或修改為等同變化的等效實(shí)施例。因此，凡是未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所做的任何簡(jiǎn)單修改、等同替換、等效變化及修飾，均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案保護(hù)的范圍。
【權(quán)利要求】
1.一種試驗(yàn)裝置，其特征在于，包括:外殼接線柱(4)、測(cè)試儀輸出接線柱(5)、測(cè)試儀地線接線柱(6)、一組以上的轉(zhuǎn)換部件，以及與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，所述外殼接線柱(4)與所述測(cè)試儀地線接線柱(6)相連；通過所述轉(zhuǎn)換部件將所述接線柱可選擇地與所述測(cè)試儀輸出接線柱(5)或所述測(cè)試儀地線接線柱(6)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述試驗(yàn)裝置(10)通過所述測(cè)試儀輸出接線柱(5)、測(cè)試儀地線接線柱(6)與外部的測(cè)試儀(20)實(shí)現(xiàn)電連接；所述試驗(yàn)裝置(10)通過所述外殼接線柱(4)，以及一組以上與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱與外部的被測(cè)電子裝置(30)實(shí)現(xiàn)電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述轉(zhuǎn)換部件進(jìn)一步包括動(dòng)簧片(12)、端子(13)和開關(guān)(14)，所述動(dòng)簧片(12)與相應(yīng)的接線柱相連，所述開關(guān)(14)通過動(dòng)簧片(12)連接相應(yīng)的端子(13)，將所述接線柱可選擇地與所述測(cè)試儀輸出接線柱(5)或所述測(cè)試儀地線接線柱(6 )連接，或懸空。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述試驗(yàn)裝置(10)進(jìn)一步包括外殼(11)，所述外殼接線柱(4)、測(cè)試儀輸出接線柱(5)、測(cè)試儀地線接線柱(6)、開關(guān)(14)、以及接線柱均設(shè)置在所述外殼(11)上，供相關(guān)人員進(jìn)行接線或操作；所述動(dòng)簧片(12)、端子(13),以及所述外殼接線柱(4)、測(cè)試儀輸出接線柱(5)、測(cè)試儀地線接線柱(6)之間的電氣連線均設(shè)置在所述外殼(11)的內(nèi)部。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述試驗(yàn)裝置(10)包括兩組轉(zhuǎn)換部件，以及與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，分別為A組轉(zhuǎn)換部件(7)及與所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)相連的A組接線柱(1)、B組轉(zhuǎn)換部件(8)及與所述B組轉(zhuǎn)換部件(8)相連的B組接線柱(2)，所述轉(zhuǎn)換部件的端子(13)進(jìn)一步包括端子1、端子II和端子O ;所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)和B組轉(zhuǎn)換部件(8)的端子I均連接至所述外殼接線柱(4)和測(cè)試儀地線接線柱(6)；所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)和B組轉(zhuǎn)換部件(8)的端子II均連接至所述測(cè)試儀輸出接線柱(5)，所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)和B組轉(zhuǎn)換部件(8)的端子O均懸空。
6.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述試驗(yàn)裝置(10)包括三組轉(zhuǎn)換部件，以及與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱，分別為A組轉(zhuǎn)換部件(7)及與所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)相連的A組接線柱(I)、B組轉(zhuǎn)換部件(8)及與所述B組轉(zhuǎn)換部件(8)相連的B組接線柱(2)、C組轉(zhuǎn)換部件(9)及與所述C組轉(zhuǎn)換部件(9)相連的C組接線柱(3)，所述轉(zhuǎn)換部件的端子(13)進(jìn)一步包括端子1、端子II和端子O ;所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)、B組轉(zhuǎn)換部件(8)和C組轉(zhuǎn)換部件(9)的端子I均連接至所述外殼接線柱(4)和測(cè)試儀地線接線柱(6)，所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)、B組轉(zhuǎn)換部件(8)和C組轉(zhuǎn)換部件(9)的端子II均連接至所述測(cè)試儀輸出接線柱(5)，所述A組轉(zhuǎn)換部件(7)、B組轉(zhuǎn)換部件(8)和C組轉(zhuǎn)換部件(9)的端子O均懸空。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)所述被測(cè)電子裝置(30)外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片(12)連接至端子II，其余兩組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片(12)連接至端子O。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)余下兩組的任意一組，以及所述被測(cè)電子裝置(30)外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片(12)連接至端子II，余下兩組的任意一組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片(12)連接至端子I，最后一組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片(12)連接至端子O。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述轉(zhuǎn)換部件的組數(shù)對(duì)應(yīng)于試驗(yàn)的組數(shù)，當(dāng)進(jìn)行三組試驗(yàn)中任意一組對(duì)余下兩組，以及所述被測(cè)電子裝置(30)外殼的耐壓測(cè)試時(shí)，該組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片(12)連接至端子II，其余兩組轉(zhuǎn)換部件的動(dòng)簧片(12)連接至端子I。
10.根據(jù)權(quán)利要求2、3、4、7、8、9中任一權(quán)利要求所述的試驗(yàn)裝置，其特征在于:所述外部的測(cè)試儀(20)為耐壓測(cè)試儀或兆歐表。
11.一種試驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括:如權(quán)利要求1至8中任一權(quán)利要求所述的試驗(yàn)裝置(10)，以及分別與所述試驗(yàn)裝置(10)相連的測(cè)試儀(20)、被測(cè)電子裝置(30)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的試驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述試驗(yàn)裝置(10)通過所述測(cè)試儀輸出接線柱(5)、測(cè)試儀地線接線柱(6)與所述測(cè)試儀(20)實(shí)現(xiàn)電連接。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的試驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述試驗(yàn)裝置(10)通過所述外殼接線柱(4)，以及一組以上與所述轉(zhuǎn)換部件相連的接線柱與所述被測(cè)電子裝置(30)實(shí)現(xiàn)電連接。
14.根據(jù)權(quán)利要求11至13中任一權(quán)利要求所述的試驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述測(cè)試儀(20)為耐壓測(cè)試儀或兆歐表。
【文檔編號(hào)】G01R31/12GK204028291SQ201420472878
【公開日】2014年12月17日 申請(qǐng)日期:2014年8月21日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月21日
【發(fā)明者】郭鑄 申請(qǐng)人:株洲南車時(shí)代電氣股份有限公司