電極測試治具的制作方法
【專利摘要】本實用新型提供一種電極測試治具,包括信號檢測PCB板,底座和二維移動平臺;所述信號檢測PCB板一端開設(shè)有缺口;所述信號檢測PCB板焊接有接觸導(dǎo)線,且所述接觸導(dǎo)線騎跨在所述缺口上;所述信號檢測PCB板與所述底座相連,所述二維移動平臺設(shè)在所述底座上且位于所述接觸導(dǎo)線下方,所述二維移動平臺頂面鋪設(shè)有硅膠。測試時不會損壞植入體的植入電極,造成外觀不良等;同時,所述二維移動平臺頂面鋪設(shè)有硅膠,所述硅膠上放置有待測植入體;測試時,所述待測植入體的植入電極與所述接觸導(dǎo)線為彈性接觸,故本電極測試治具不僅測試植入體的效率高、準(zhǔn)確性高,且不會損傷植入體,有效保證了植入體品質(zhì)。
【專利說明】電極測試治具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種測試治具,特別是涉及一種電極測試治具。
【背景技術(shù)】
[0002]人工耳蝸由耳蝸內(nèi)的植入電極、言語處理器、麥克風(fēng)及傳送裝置組成,聲音由麥克風(fēng)接收后轉(zhuǎn)化為電信號再傳到言語處理器將信號放大、過濾,并由傳送器傳到接收器,產(chǎn)生的電脈沖送到相應(yīng)的觸點,從而刺激耳蝸內(nèi)的神經(jīng)節(jié)細(xì)胞使聽覺神經(jīng)產(chǎn)生興奮并將聲音信息傳入大腦,產(chǎn)生聽覺。
[0003]人工耳蝸包括體外裝置和植入體兩部分。在整個人工耳蝸系統(tǒng)中,植入體是最關(guān)鍵的部分,體外裝置只有通過它才能實現(xiàn)聽覺的恢復(fù),而植入電極是植入體最為重要的一個組成部分。
[0004]現(xiàn)植入體的植入電極通常沒有相匹配的專門測試裝置,都是通過人工手動用信號檢測PCB板的探針來點植入體的植入電極。信號檢測PCB板具有探針,電極指示燈、電極指示燈開關(guān)和電極輸出測試點。由于植入體的植入電極為鉬金環(huán),鉬金環(huán)尺寸很小,其外徑為0.5_左右,厚度為0.05_左右。在測試過程中,由于人工不能把握用探針來點植入電極的力度,力度太大時,嚴(yán)重者有時會致使植入電極損壞,引起質(zhì)量問題,輕者在測試中有時候會造成植入體的植入電極外觀不良,使得植入體的植入電極變?yōu)椴缓细衿?,大大影響了植入體的植入電極品質(zhì)。人工手動用探針點植入電極的力度過輕時,會造成誤判,影響了測量的準(zhǔn)確性。另外,人工手動用探針來點植入體的植入電極的作業(yè)方式機械化程度低,造成測試效率低下。
實用新型內(nèi)容
[0005]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,本實用新型的目的在于提供一種電極測試治具,其不僅測試植入體的效率高、準(zhǔn)確性高,且不會損傷植入體,能有效保證植入體品質(zhì)。
[0006]為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本實用新型提供一種電極測試治具,所述電極測試治具至少包括:信號檢測PCB板,底座和二維移動平臺;所述信號檢測PCB板具有電極指示燈、電極指示燈開關(guān)和電極輸出測試點,且所述信號檢測PCB板一端開設(shè)有缺口 ;所述信號檢測PCB板焊接有接觸導(dǎo)線,且所述接觸導(dǎo)線騎跨在所述缺口上;所述信號檢測PCB板與所述底座通過幾個固定柱相連,所述二維移動平臺設(shè)在所述底座上且位于所述接觸導(dǎo)線下方;所述二維移動平臺側(cè)面設(shè)有上下方向旋鈕和前后方向旋鈕,所述二維移動平臺頂面鋪設(shè)有硅膠,所述硅膠上放置有待測植入體;測試時,所述待測植入體的植入電極與所述接觸導(dǎo)線彈性接觸。
[0007]進一步地,所述缺口呈U形。
[0008]進一步地,所述二維移動平臺由前后位移平臺和上下位移平臺構(gòu)成,且所述前后位移平臺位于所述上下位移平臺上方。
[0009]進一步地,所述底座上開設(shè)有與所述固定柱一一對應(yīng)的盲孔,所述固定柱下端與所述盲孔相配合,所述固定柱上端設(shè)有凸柱,且所述凸柱的直徑小于所述固定柱的直徑,所述凸柱穿過所述信號檢測PCB板后連接有螺母。
[0010]進一步地,所述底座上開設(shè)有與所述固定柱一一對應(yīng)的螺紋孔,所述螺紋孔與對應(yīng)的所述固定柱下端螺紋相連,所述固定柱上端設(shè)有凸柱,且所述凸柱的直徑小于所述固定柱的直徑,所述凸柱穿過所述信號檢測PCB板后連接有螺母。
[0011]如上所述,本實用新型的電極測試治具,具有以下有益效果:
[0012]將待測植入體放在所述二維移動平臺上的所述硅膠上,調(diào)節(jié)所述前后方向旋鈕使得所述二維移動平臺上的待測植入體的植入電極位于所述接觸導(dǎo)線正下方,再調(diào)節(jié)所述上下方向旋鈕使得所述二維移動平臺上的待測植入體的植入電極與所述接觸導(dǎo)線彈性接觸,開啟所述信號檢測PCB板就可以檢測植入體的植入電極;可見避免了人工抓取待測植入體的植入電極進行檢測,不會發(fā)生由于人工抓取而造成損壞植入體的植入電極,以及外觀不良等;同時,所述二維移動平臺頂面鋪設(shè)有硅膠,所述硅膠具有一定彈性,當(dāng)待測植入體的植入電極放在所述二維移動平臺上時,所述硅膠能夠進行緩沖以較好的保護植入體的植入電極,以及待測植入體的植入電極與所述接觸導(dǎo)線為彈性接觸,故本電極測試治具不僅測試植入體的效率高、準(zhǔn)確性高,且不會損傷植入體,有效保證了植入體品質(zhì)。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0013]圖1顯示為本實用新型的電極測試治具的示意圖。
[0014]圖2顯示為本實用新型的固定柱的第一種實施方式的示意圖。
[0015]圖3顯示為本實用新型的固定柱的第二種實施方式的示意圖。
[0016]元件標(biāo)號說明
[0017]I信號檢測PCB板
[0018]11電極指示燈
[0019]12電極指示燈開關(guān)
[0020]13電極輸出測試點
[0021]14缺口
[0022]15接觸導(dǎo)線
[0023]2底座
[0024]3二維移動平臺
[0025]4固定柱
[0026]41凸柱
[0027]42外螺紋
[0028]51上下方向旋鈕
[0029]52前后方向旋鈕
[0030]6植入體
【具體實施方式】
[0031]以下由特定的具體實施例說明本實用新型的實施方式,熟悉此技術(shù)的人士可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實用新型的其他優(yōu)點及功效。
[0032]請參閱圖1至圖3。須知,本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等,均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容,以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀,并非用以限定本實用新型可實施的限定條件,故不具技術(shù)上的實質(zhì)意義,任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整,在不影響本實用新型所能產(chǎn)生的功效及所能達(dá)成的目的下,均應(yīng)仍落在本實用新型所揭示的技術(shù)內(nèi)容所能涵蓋的范圍內(nèi)。同時,本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語,亦僅為便于敘述的明了,而非用以限定本實用新型可實施的范圍,其相對關(guān)系的改變或調(diào)整,在無實質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下,當(dāng)亦視為本實用新型可實施的范疇。
[0033]如圖1所示,本實用新型提供一種電極測試治具,所述電極測試治具至少包括:信號檢測PCB板1,底座2和二維移動平臺3。
[0034]參考圖1,所述信號檢測PCB板I具有電極指示燈11、電極指示燈開關(guān)12和電極輸出測試點13,且所述信號檢測PCB板I 一端開設(shè)有缺口 14,優(yōu)選地,所述缺口 14呈U形;所述信號檢測PCB板I焊接有接觸導(dǎo)線15,且所述接觸導(dǎo)線15騎跨在所述缺口 14上;所述信號檢測PCB板I與所述底座2通過幾個固定柱4相連。優(yōu)選地,所述信號檢測PCB板I呈長方形,所述固定柱4位于所述信號檢測PCB板I的四個角;所述缺口 14開設(shè)在所述信號檢測PCB板I 一短邊上。
[0035]所述二維移動平臺3設(shè)在所述底座2上且位于所述接觸導(dǎo)線15下方;所述二維移動平臺3側(cè)面設(shè)有上下方向旋鈕51和前后方向旋鈕52,所述二維移動平臺3頂面鋪設(shè)有硅膠(圖中未標(biāo)出);將待測植入體66放置在所述硅膠上,測試時,所述待測植入體66的植入電極與所述接觸導(dǎo)線15彈性接觸。調(diào)節(jié)所述前后方向旋鈕52時,所述二維移動平臺3做靠近和遠(yuǎn)離所述接觸導(dǎo)線15的水平運動;調(diào)節(jié)所述上下方向旋鈕51時,所述二維移動平臺3做靠近和遠(yuǎn)離所述接觸導(dǎo)線15的豎直運動,見圖1。
[0036]所述二維移動平臺3由前后位移平臺和上下位移平臺構(gòu)成,且所述前后位移平臺位于所述上下位移平臺上方。所述上下位移平臺側(cè)面設(shè)有所述上下方向旋鈕51 ;所述前后位移平臺側(cè)面設(shè)有所述前后方向旋鈕52,見圖1。
[0037]圖2示出了固定柱第一種實施方式,所述固定柱4上端設(shè)有凸柱41,且所述凸柱41的直徑小于所述固定柱4的直徑,所述凸柱41穿過所述信號檢測PCB板I后連接有螺母。所述底座2上開設(shè)有與所述固定柱4 一一對應(yīng)的盲孔,所述固定柱4下端與所述盲孔相配合,見圖1和圖2。
[0038]在其它實施例中,所述底座2上開設(shè)有與所述固定柱4 一一對應(yīng)的螺紋孔。圖3示出了固定柱第二種實施方式,在所述固定柱4下端具有外螺紋42,所述螺紋孔與對應(yīng)的所述固定柱4下端的外螺紋42相配合,所述固定柱4上端設(shè)有凸柱41,且所述凸柱41的直徑小于所述固定柱4的直徑,所述凸柱41穿過所述信號檢測PCB板I后連接有螺母,見圖1和圖3。
[0039]參考圖1,測試時,將待測植入體6放在所述二維移動平臺3上,植入體6的電極為鉬金環(huán),尺寸比較小,其外徑為0.5mm,厚度為0.05mm左右。調(diào)節(jié)所述前后方向旋鈕52使得所述二維移動平臺3上的待測植入體6的植入電極位于所述接觸導(dǎo)線15正下方,再調(diào)節(jié)所述上下方向旋鈕51,使得所述二維移動平臺3上的待測植入體6的植入電極與所述接觸導(dǎo)線15彈性接觸。開啟所述信號檢測PCB板I以給植入體6施加刺激信號,觀察各個所述電極指示燈11是否點亮;再微調(diào)所述的上下方向旋鈕51和前后方向旋鈕52以確保每個植入體6的植入電極與所述接觸導(dǎo)線15導(dǎo)通良好;可見避免了人工抓取待測植入體6的植入電極進行檢測,不會發(fā)生由于人工抓取而造成損壞植入體6的植入電極,以及外觀不良等;同時,所述二維移動平臺3頂面鋪設(shè)有硅膠,所述硅膠具有一定彈性,當(dāng)待測植入體6的植入電極放在所述二維移動平臺3上時,所述硅膠能夠進行緩沖以較好的保護植入體6的植入電極,以及待測植入體6的植入電極與所述接觸導(dǎo)線15為彈性接觸,故本電極測試治具不僅測試植入體6的效率高、準(zhǔn)確性高,且不會損傷植入體6,有效保證了植入體6品質(zhì)。
[0040]綜上所述,本實用新型的電極測試治具不僅測試植入體6的效率高、準(zhǔn)確性高,且不會損傷植入體6,有效保證了植入體6品質(zhì)。所以,本實用新型有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點而具高度產(chǎn)業(yè)利用價值。
[0041]上述實施例僅例示性說明本實用新型的原理及其功效,而非用于限制本實用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實用新型的精神及范疇下,對上述實施例進行修飾或改變。因此,舉凡所屬【技術(shù)領(lǐng)域】中具有通常知識者在未脫離本實用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變,仍應(yīng)由本實用新型的權(quán)利要求所涵蓋。
【權(quán)利要求】
1.一種電極測試治具,其特征在于,所述電極測試治具至少包括:信號檢測PCB板(1),底座⑵和二維移動平臺(3);所述信號檢測PCB板⑴具有電極指示燈(11)、電極指示燈開關(guān)(12)和電極輸出測試點(13),且所述信號檢測PCB板(I) 一端開設(shè)有缺口(14);所述信號檢測PCB板(I)焊接有接觸導(dǎo)線(15),且所述接觸導(dǎo)線(15)騎跨在所述缺口(14)上;所述信號檢測PCB板(I)與所述底座(2)通過幾個固定柱(4)相連,所述二維移動平臺(3)設(shè)在所述底座(2)上且位于所述接觸導(dǎo)線(15)下方;所述二維移動平臺(3)側(cè)面設(shè)有上下方向旋鈕(51)和前后方向旋鈕(52),所述二維移動平臺(3)頂面鋪設(shè)有硅膠,所述硅膠上放置有待測植入體¢);測試時,所述待測植入體(6)的植入電極與所述接觸導(dǎo)線(15)彈性接觸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電極測試治具,其特征在于:所述缺口(14)呈U形。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電極測試治具,其特征在于:所述二維移動平臺(3)由前后位移平臺和上下位移平臺構(gòu)成,且所述前后位移平臺位于所述上下位移平臺上方。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電極測試治具,其特征在于:所述底座(2)上開設(shè)有與所述固定柱(4) 一一對應(yīng)的盲孔,所述固定柱(4)下端與所述盲孔相配合,所述固定柱(4)上端設(shè)有凸柱,且所述凸柱的直徑小于所述固定柱(4)的直徑,所述凸柱穿過所述信號檢測PCB板(I)后連接有螺母。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電極測試治具,其特征在于:所述底座(2)上開設(shè)有與所述固定柱(4) 一一對應(yīng)的螺紋孔,所述螺紋孔與對應(yīng)的所述固定柱(4)下端螺紋相連,所述固定柱(4)上端設(shè)有凸柱,且所述凸柱的直徑小于所述固定柱(4)的直徑,所述凸柱穿過所述信號檢測PCB板(I)后連接有螺母。
【文檔編號】G01R31/00GK204065283SQ201420491452
【公開日】2014年12月31日 申請日期:2014年8月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月28日
【發(fā)明者】李闖, 劉新東, 鈕欣欣, 許車明, 許長建 申請人:上海力聲特醫(yī)學(xué)科技有限公司