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      一種阻抗測試治具的制作方法

      文檔序號:6070745閱讀:771來源:國知局
      一種阻抗測試治具的制作方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種阻抗測試治具,包括可放置PCB板阻抗條的框架、可連接測試機(jī)的連接板、信號線及高頻線、接地線及接地套管,連接板位于框架的側(cè)面,其上設(shè)有多個(gè)可與測試機(jī)連接的連接點(diǎn),框架上設(shè)有銅基板,信號線及高頻線的一端連接于連接板上,另一端連接于銅基板上;接地線及接地套管的下端連接于銅基板上。上述阻抗測試治具在測試PCB板的阻抗條時(shí),可將阻抗條放置于框架中,并將測試機(jī)連接于連接板上,便可測試阻抗條的阻抗,這樣,避免了人工手動測試阻抗條的阻抗,提供了測試的效率和準(zhǔn)確性。
      【專利說明】 一種阻抗測試治具

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型屬于阻抗測試領(lǐng)域,尤其涉及一種阻抗測試治具。

      【背景技術(shù)】
      [0002]現(xiàn)有技術(shù)中,阻抗測試是人員手動用儀器測試,在測試過程中浪費(fèi)很多人力時(shí)間,影響效率及品質(zhì)的準(zhǔn)確性。
      實(shí)用新型內(nèi)容
      [0003]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于提供一種可提高測試效率和準(zhǔn)確性的阻抗測試治具。
      [0004]本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的,提供一種阻抗測試治具,包括可放置PCB板阻抗條的框架、可連接測試機(jī)的連接板、信號線及高頻線、接地線及接地套管,所述連接板位于所述框架的側(cè)面,其上設(shè)有多個(gè)可與測試機(jī)連接的連接點(diǎn),所述框架包括下框架,所述下框架上設(shè)有銅基板,所述信號線及高頻線的一端連接于所述連接板上,另一端連接于所述銅基板上;所述接地線及接地套管的下端連接于所述銅基板上。
      [0005]進(jìn)一步地,所述框架還包括上框架和支柱,所述支柱的兩端分別固設(shè)于所述上、下框架之間。
      [0006]進(jìn)一步地,所述下框架還包括鋁板和面板,所述鋁板、銅基板和面板從下到上依次疊置,所述接地線及接地套管的一端穿過所述面板并焊接固定于所述銅基板上,其另一端位于所述面板上方。
      [0007]進(jìn)一步地,所述招板的厚度為5mm。
      [0008]進(jìn)一步地,所述面板為白料面板。
      [0009]進(jìn)一步地,所述面板的厚度為3mm。
      [0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的阻抗測試治具在測試PCB板的阻抗條時(shí),可將阻抗條放置于框架中,并將測試機(jī)連接于連接板上,便可測試阻抗條的阻抗,這樣,避免了人工手動測試阻抗條的阻抗,提供了測試的效率和準(zhǔn)確性。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0011]圖1是本實(shí)用新型阻抗測試治具一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0012]圖2是待測試的阻抗條的結(jié)構(gòu)示意圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0013]為了使本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型,并不用于限定本實(shí)用新型。
      [0014]如圖1所示,是本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施例,該阻抗測試治具包括框架100、連接板200、信號線及高頻線300和接地線及接地套管400。
      [0015]框架100包括上框架110、下框架120和支柱130,支柱130的兩端分別固設(shè)于上框架110和下框架120之間。下框架120包括從下到上依次疊置的鋁板121、銅基板122和面板123。具體地,鋁板121的厚度為5mm,面板123為白料面板,其厚度為3mm。
      [0016]連接板200位于框架100的側(cè)面,并位于上框架110和下框架120之間。連接板200上設(shè)有多個(gè)連接點(diǎn)201。
      [0017]信號線及高頻線300的一端連接于連接板200上,另一端穿過面板123,并連接于銅基板122上。于高頻線上安裝有高頻探針,以導(dǎo)通阻抗條與測試治具。
      [0018]接地線及接地套管400的下端穿過面板123,并連接于銅基板122上,接地套管400的上端位于面板123的上方。
      [0019]請一同參照圖2,在測試阻抗條2時(shí),先將阻抗條2放置于框架100中,再將阻抗測試治具放置于測試機(jī)的平臺上,測試機(jī)連接于連接板200的連接點(diǎn)201上,這樣,即可利用阻抗測試治具連接測試機(jī)與阻抗條2間的導(dǎo)通,由測試機(jī)進(jìn)行阻值校正并分析出結(jié)果。
      [0020]上述阻抗測試治具I在測試PCB板的阻抗條2時(shí),可將阻抗條2放置于框架100中,并將測試機(jī)連接于連接板200上,便可測試阻抗條2的阻抗,這樣,避免了人工手動測試阻抗條2的阻抗,提供了測試的效率和準(zhǔn)確性。
      [0021]以上僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種阻抗測試治具,其特征在于,包括可放置PCB板阻抗條的框架、可連接測試機(jī)的連接板、信號線及高頻線、接地線及接地套管,所述連接板位于所述框架的側(cè)面,其上設(shè)有多個(gè)可與測試機(jī)連接的連接點(diǎn),所述框架包括下框架,所述下框架上設(shè)有銅基板,所述信號線及高頻線的一端連接于所述連接板上,另一端連接于所述銅基板上;所述接地線及接地套管的下端連接于所述銅基板上。
      2.如權(quán)利要求1所述的阻抗測試治具,其特征在于,所述框架還包括上框架和支柱,所述支柱的兩端分別固設(shè)于所述上、下框架之間。
      3.如權(quán)利要求1或2所述的阻抗測試治具,其特征在于,所述下框架還包括鋁板和面板,所述鋁板、銅基板和面板從下到上依次疊置,所述接地線及接地套管的一端穿過所述面板并焊接固定于所述銅基板上,其另一端位于所述面板上方。
      4.如權(quán)利要求3所述的阻抗測試治具,其特征在于,所述鋁板的厚度為5mm。
      5.如權(quán)利要求3所述的阻抗測試治具,其特征在于,所述面板為白料面板。
      6.如權(quán)利要求3所述的阻抗測試治具,其特征在于,所述面板的厚度為3mm。
      【文檔編號】G01R27/02GK204228821SQ201420550122
      【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年9月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月23日
      【發(fā)明者】陳代樹, 夏述文 申請人:競?cè)A電子(深圳)有限公司
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