適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型是有關(guān)一種適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其包括：基準(zhǔn)尺本體，具有長軸方向延伸的工作平面；至少三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)，設(shè)置于該基準(zhǔn)尺本體的該工作平面上；以及移動擋板滑塊，以移動方式設(shè)置于基準(zhǔn)尺本體上，該移動擋板滑塊具有遮擋該基準(zhǔn)點(diǎn)的遮擋面。本實(shí)用新型的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，包括至少三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)，能夠調(diào)節(jié)標(biāo)定尺寸，具有提高標(biāo)定精度，實(shí)現(xiàn)“一尺多規(guī)格”的技術(shù)效果。
【專利說明】適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請涉及到一種基準(zhǔn)尺，特別是涉及一種可適用于光學(xué)測量設(shè)備，用于標(biāo)定和校準(zhǔn)光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺。

【背景技術(shù)】
[0002]請參閱圖1所示，是現(xiàn)有光學(xué)測量設(shè)備自帶的基準(zhǔn)尺的立體示意圖?；鶞?zhǔn)尺的主要作用是標(biāo)定和校準(zhǔn)光學(xué)測量設(shè)備，以確保光學(xué)測量設(shè)備自身達(dá)到其標(biāo)稱精度?，F(xiàn)有的基準(zhǔn)尺，包括:基準(zhǔn)尺本體30以及設(shè)置于基準(zhǔn)尺本體30同一面兩端的兩個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)32?，F(xiàn)有的基準(zhǔn)尺本體30寬度較窄，基準(zhǔn)點(diǎn)32直徑只有5mm、兩基準(zhǔn)點(diǎn)距離為950mm，因?yàn)橹挥幸唤M基準(zhǔn)點(diǎn)，測量大、中、小型零件，只能使用其單一規(guī)格，兼容和適應(yīng)性稍差。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]有鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)所存在的缺陷，本申請的目的在于，提供一種改進(jìn)型的基準(zhǔn)尺，能夠使其在光學(xué)測量設(shè)備標(biāo)定和校準(zhǔn)過程中，提高標(biāo)定成功率和精度，同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)“一尺多規(guī)格”的效果。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，依據(jù)本實(shí)用新型提出的一種適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其包括:基準(zhǔn)尺本體，具有長軸方向延伸的工作平面；至少三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)，設(shè)置于該基準(zhǔn)尺本體的該工作平面上；以及移動擋板滑塊，以移動方式設(shè)置于基準(zhǔn)尺本體上，該移動擋板滑塊具有遮擋該基準(zhǔn)點(diǎn)的遮擋面。
[0005]本實(shí)用新型還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
[0006]前述的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其中所述的移動方式是滑槽與凸條的匹配、軸承與軸的匹配，或者是導(dǎo)向孔與導(dǎo)向軸的匹配。
[0007]前述的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其中所述的移動擋板滑塊與該基準(zhǔn)尺本體之間設(shè)置有使該移動擋板滑塊定位在該基準(zhǔn)尺本體的預(yù)定位置的定位結(jié)構(gòu)。
[0008]前述的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其中所述的基準(zhǔn)點(diǎn)為四個(gè)、五個(gè)、六個(gè)、七個(gè)或八個(gè)。
[0009]前述的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其中所述的移動擋板滑塊的個(gè)數(shù)比基準(zhǔn)點(diǎn)的個(gè)數(shù)少兩個(gè)。
[0010]前述的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其中所述的基準(zhǔn)尺本體呈槽鋼形狀，寬度為IlOmm ;該基準(zhǔn)點(diǎn)直徑為15mm。
[0011]前述的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其中所述的至少三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的最外兩端的基準(zhǔn)點(diǎn)的距離為1200mmo
[0012]本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果。借由上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，至少具有下列優(yōu)點(diǎn):
[0013]一、本實(shí)用新型的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，包括至少三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)，能夠調(diào)節(jié)標(biāo)定尺寸，具有提聞標(biāo)定精度，實(shí)現(xiàn)“一尺多規(guī)格”的技術(shù)效果。
[0014]二、本實(shí)用新型的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，增加了標(biāo)定長度，在進(jìn)行長尺寸物體測量時(shí)減少了因累積誤差而造成的精度衰減。
[0015]三、本實(shí)用新型的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，增大了基準(zhǔn)店的直徑，進(jìn)而增加了光學(xué)測量設(shè)備在獲取基準(zhǔn)點(diǎn)圓心坐標(biāo)時(shí)所需計(jì)算圖片灰度閥值輪廓的周長，因此，提高了兩個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)之間的識別精度，從而改善整體測量精度。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是現(xiàn)有光學(xué)測量設(shè)備自帶的基準(zhǔn)尺的立體示意圖。
[0017]圖2是本實(shí)用新型改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的一實(shí)施例的立體示意圖。
[0018]圖3A是本實(shí)用新型改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的一實(shí)施例的基準(zhǔn)尺本體的立體示意圖。
[0019]圖3B是本實(shí)用新型改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的一實(shí)施例的基準(zhǔn)尺本體的截面示意圖。
[0020]圖4是本實(shí)用新型改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的一實(shí)施例的移動擋板滑塊的立體示意圖。
[0021]圖5是本實(shí)用新型改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的第二種使用狀態(tài)的立體示意圖。
[0022]圖6是本實(shí)用新型改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的第三種使用狀態(tài)的立體示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0023]為更進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對依據(jù)本實(shí)用新型提出的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺。其【具體實(shí)施方式】、步驟、結(jié)構(gòu)、特征及其功效詳細(xì)說明。
[0024]請參閱圖2、圖3A、圖3B及圖4所示，分別是本實(shí)用新型改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的立體示意圖、基準(zhǔn)尺本體的立體示意圖、基準(zhǔn)尺本體的截面示意圖及移動擋板滑塊的立體示意圖。
[0025]本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，包括，基準(zhǔn)尺本體1，分布在基準(zhǔn)尺本體I同側(cè)的四個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)3，以及可在基準(zhǔn)尺本體I做單自由度滑動的兩個(gè)移動擋板滑塊2。
[0026]上述的基準(zhǔn)尺本體I具有長軸方向延伸工作平面13。本實(shí)施例中基準(zhǔn)尺本體I呈槽鋼形狀，包括長軸方向延伸的工作平面13和由工作平面13向垂直于長軸方向延伸的兩個(gè)側(cè)面15,兩個(gè)側(cè)面15分別設(shè)置有滑槽11。該基準(zhǔn)尺本體I寬度為110_。
[0027]上述的四個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)3平均分布于基準(zhǔn)尺本體I的同一工作平面13，其按從左至右的命名分別為第一基準(zhǔn)點(diǎn)3、第二基準(zhǔn)點(diǎn)3、第三基準(zhǔn)點(diǎn)3、第四基準(zhǔn)點(diǎn)3。其中，第一基準(zhǔn)點(diǎn)3到第二基準(zhǔn)點(diǎn)3的距離、第一基準(zhǔn)點(diǎn)3到第三基準(zhǔn)點(diǎn)3的距離、第一基準(zhǔn)點(diǎn)3到第四基準(zhǔn)點(diǎn)3的距離,作為該基準(zhǔn)尺的三組對應(yīng)的標(biāo)稱尺寸。本實(shí)施例中基準(zhǔn)點(diǎn)3的直徑為15mm。
[0028]上述的移動擋板滑塊2以移動方式設(shè)置于該基準(zhǔn)尺本體I上，具有遮擋該基準(zhǔn)點(diǎn)2的遮擋面21。本實(shí)施例中，移動擋板滑塊2具有與該滑槽11匹配的凸條23。
[0029]請同時(shí)參閱圖2、圖5、圖6所示，分別是本實(shí)用新型適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺的立體示意圖、第二種使用狀態(tài)立體示意圖、第三種使用狀態(tài)立體示意圖。
[0030]本實(shí)用新型的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，使用時(shí)，根據(jù)被測物體的大小，可以適當(dāng)選擇標(biāo)稱尺寸。如圖2為長型尺、圖5為中型尺或圖6短型尺作為測量基準(zhǔn)。如圖2所示，需要使用長型尺時(shí)，滑動移動擋板滑塊2將第二基準(zhǔn)點(diǎn)3、第三基準(zhǔn)點(diǎn)3進(jìn)行遮擋，光學(xué)測量設(shè)備將僅識別第一基準(zhǔn)點(diǎn)與第四基準(zhǔn)點(diǎn)3之間的間距；如圖5所示，需要使用中型尺時(shí)，滑動移動擋板滑塊2將第二基準(zhǔn)點(diǎn)3、第四基準(zhǔn)點(diǎn)進(jìn)行遮擋，光學(xué)測量設(shè)備將僅識別第一基準(zhǔn)點(diǎn)3與第三基準(zhǔn)點(diǎn)3之間的間距；如圖6所示，需要使用短型尺時(shí)，滑動移動擋板滑塊2將第三基準(zhǔn)點(diǎn)
3、第四基準(zhǔn)點(diǎn)3進(jìn)行遮擋，光學(xué)測量設(shè)備將僅識別第一基準(zhǔn)點(diǎn)3與第二基準(zhǔn)點(diǎn)3之間的間距。
[0031]本實(shí)用新型的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，第一基準(zhǔn)點(diǎn)3與第四基準(zhǔn)點(diǎn)3間距為1200mm，比現(xiàn)有基準(zhǔn)尺的間距950mm增加了長度，，使得光學(xué)設(shè)備在測量長尺寸物體時(shí)提高了標(biāo)定長度，在進(jìn)行長尺寸物體測量時(shí)減少了因累積誤差而造成的精度衰減。
[0032]本實(shí)用新型的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，提高了基準(zhǔn)店的直徑，進(jìn)而增加了光學(xué)測量設(shè)備在獲取基準(zhǔn)點(diǎn)圓心坐標(biāo)時(shí)所需計(jì)算圖片灰度閥值輪廓的周長，因此，提高了兩個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)之間的識別精度，從而改善整體測量精度。
[0033]本實(shí)用新型的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，具有多個(gè)具有基準(zhǔn)點(diǎn)，能夠調(diào)節(jié)標(biāo)稱尺寸，有多種不同標(biāo)稱尺寸規(guī)格，優(yōu)化了測量方法，提高了測量時(shí)的靈活度。進(jìn)而，減少了購置多套基準(zhǔn)尺的重復(fù)投資，提高測量工作的成本利用率。
[0034]上述實(shí)施例，并非用以限定本實(shí)用新型實(shí)施的范圍。
[0035]在其他實(shí)施例中，基準(zhǔn)點(diǎn)可以有三個(gè)、五個(gè)、六個(gè)、七個(gè)、八個(gè)或更多個(gè)；移動擋板滑塊2的個(gè)數(shù)，可以根據(jù)基準(zhǔn)點(diǎn)的多少而增減，例如三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)時(shí)可以設(shè)置一個(gè)移動擋板滑塊2，五個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)設(shè)置三個(gè)移動擋板滑塊2，優(yōu)選為，移動擋板滑塊2的個(gè)數(shù)為基準(zhǔn)點(diǎn)的個(gè)數(shù)減去2。
[0036]在其他實(shí)施例中，移動擋板滑塊2與基準(zhǔn)尺本體I之間可以設(shè)置定位結(jié)構(gòu)，以使移動擋板滑塊2定位于基準(zhǔn)尺本體I的預(yù)定位置。
[0037]在其他實(shí)施例中，移動擋板滑塊2與基準(zhǔn)尺本體I之間的相對移動方式不局限于滑槽與凸條的配合，也可以是軸承與軸之間的匹配，導(dǎo)向孔與導(dǎo)向柱之間的匹配。
[0038]在另一實(shí)施例中，滑槽可以是設(shè)置在移動擋板滑塊上，凸條設(shè)置在基準(zhǔn)尺本體上。
[0039]雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭露如上，然并非用以限定本實(shí)用新型實(shí)施的范圍，依據(jù)本實(shí)用新型的權(quán)利要求書及說明內(nèi)容所作的簡單的等效變化與修飾，仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其特征在于其包括: 基準(zhǔn)尺本體，具有長軸方向延伸的工作平面； 至少三個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)，設(shè)置于該基準(zhǔn)尺本體的該工作平面上；以及 移動擋板滑塊，以移動方式設(shè)置于基準(zhǔn)尺本體上，該移動擋板滑塊具有遮擋該基準(zhǔn)點(diǎn)的遮擋面。
2.如權(quán)利要求1所述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其特征在于其中所述的移動方式是滑槽與凸條的匹配、軸承與軸的匹配，或者是導(dǎo)向孔與導(dǎo)向軸的匹配。
3.如權(quán)利要求1所述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其特征在于其中所述的移動擋板滑塊與該基準(zhǔn)尺本體之間設(shè)置有使該移動擋板滑塊定位在該基準(zhǔn)尺本體的預(yù)定位置的定位結(jié)構(gòu)。
4.如權(quán)利要求1所述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其特征在于其中所述的基準(zhǔn)點(diǎn)為四個(gè)、五個(gè)、六個(gè)、七個(gè)或八個(gè)。
5.如權(quán)利要求3所述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其特征在于其中所述的移動擋板滑塊的個(gè)數(shù)比基準(zhǔn)點(diǎn)的個(gè)數(shù)少兩個(gè)。
6.如權(quán)利要求1所述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其特征在于其中所述的基準(zhǔn)尺本體呈槽鋼形狀,寬度為IlOmm ;該基準(zhǔn)點(diǎn)直徑為15mm。
7.如權(quán)利要求1所述的適合光學(xué)測量設(shè)備的改進(jìn)型基準(zhǔn)尺，其特征在于其中所述的至少二個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)的最外兩端的基準(zhǔn)點(diǎn)的距尚為1200mm。
【文檔編號】G01B5/00GK204100949SQ201420593891
【公開日】2015年1月14日 申請日期:2014年10月14日 優(yōu)先權(quán)日:2014年10月14日
【發(fā)明者】田凱 申請人:北京長城華冠汽車科技有限公司