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      封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置制造方法

      文檔序號(hào):6077225閱讀:249來源:國知局
      封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置制造方法
      【專利摘要】封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,涉及一種實(shí)驗(yàn)裝置。為了解決放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置罐體封閉性差問題。它包括玻璃鋼罐體、放電電極、接地電極、高壓導(dǎo)線引入端蓋、直線電機(jī)、位移傳感器、光纖和光纖引入端蓋;放電電極、位移傳感器、接地電極和直線電機(jī)均設(shè)在玻璃鋼罐體內(nèi);玻璃鋼罐體頂端設(shè)有端口一,高壓導(dǎo)線引入端蓋設(shè)在端口一處,通過端口一引入高壓導(dǎo)線為放電電極提供電壓,放電電極與直線電機(jī)次級(jí)連接,直線電機(jī)初級(jí)固定,次級(jí)運(yùn)動(dòng),放電電極位于接地電極上方,位移傳感器與次級(jí)連接;玻璃鋼罐體設(shè)有端口二,光纖引入端蓋設(shè)在端口二處,通過端口二引入光纖,光纖感光端位于放電電極與接地電極之間的放電間隙處。它用于放電間隙研究。
      【專利說明】封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種實(shí)驗(yàn)裝置,特別涉及一種封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置。

      【背景技術(shù)】
      [0002]高壓斷路器、變壓器的間隙放電是最常見的現(xiàn)象,歸納為:一定壓力下、在介質(zhì)中的間隙放電。
      [0003]將各種波形的電壓加在有氣體、液體介質(zhì)的間隙上,模擬高壓斷路器、變壓器及其他高壓電器的實(shí)際情況,尋找間隙放電時(shí)介質(zhì)狀態(tài)變化機(jī)理,是高電壓技術(shù)專業(yè)的重要課題;現(xiàn)階段放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置采用可移動(dòng)的電極穿過密封罐體,使罐體封閉性差,影響測量數(shù)據(jù)精度的問題。
      實(shí)用新型內(nèi)容
      [0004]本實(shí)用新型的目的是為了解決放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置罐體封閉性差問題,本實(shí)用新型提供一種封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置。
      [0005]本實(shí)用新型的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,所述實(shí)驗(yàn)裝置包括玻璃鋼罐體、放電電極、接地電極、高壓導(dǎo)線引入端蓋、直線電機(jī)和位移傳感器;
      [0006]放電電極、位移傳感器和直線電機(jī)均設(shè)置在玻璃鋼罐體的上部;接地電極設(shè)置在玻璃鋼罐體的底部;
      [0007]所述玻璃鋼罐體的頂端設(shè)置有高壓導(dǎo)線引入端口,高壓導(dǎo)線引入端蓋設(shè)置在所述端口處,通過所述端口引入的高壓導(dǎo)線為放電電極提供電壓,所述放電電極與直線電機(jī)的次級(jí)固定連接,所述直線電機(jī)的初級(jí)固定,次級(jí)運(yùn)動(dòng),所述放電電極位于接地電極的上方,位移傳感器的電刷與所述次級(jí)連接;
      [0008]所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括光纖和光纖引入端蓋;所述玻璃鋼罐體還設(shè)置有光纖引入端口,光纖引入端蓋設(shè)置在所述端口處,通過所述端口引入的光纖,光纖的感光端位于放電電極與接地電極之間的放電間隙處。
      [0009]所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括石英玻璃和相機(jī)采集裝置,所述玻璃鋼罐體的側(cè)壁開有通孔,石英玻璃設(shè)置在所述通孔處,所述相機(jī)采集裝置用于透過石英玻璃拍攝放電電極與接地電極反應(yīng)的電火花。
      [0010]所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括進(jìn)出氣閥門,所述進(jìn)出氣閥門設(shè)置在玻璃鋼罐體的側(cè)壁上,用于控制玻璃鋼罐體內(nèi)氣體的進(jìn)出。
      [0011]所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括氣壓表,所述氣壓表設(shè)置在玻璃鋼罐體的側(cè)壁上,所述氣壓表5用于測量玻璃鋼罐體內(nèi)的氣壓。
      [0012]所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括底部托板,所述底部托板設(shè)置在玻璃鋼罐體的底部,接地電極設(shè)置在底部托板上。
      [0013]本實(shí)用新型的有益效果在于,本實(shí)用新型采用密封的玻璃鋼罐體,充分利用玻璃鋼材料的電氣絕緣性能和機(jī)械強(qiáng)度。本實(shí)用新型利用直線電機(jī)和位置傳感器測量放電間隙,通過光纖的感光端測量放電時(shí)的光信號(hào),通過相機(jī)采集裝置測量放電間隙的放電狀態(tài),上述測量過程均在完全在封閉避光的環(huán)境下完成,保證了其他光線不對放電光線帶來影響,有利于相機(jī)采集裝置和光纖的準(zhǔn)確測量,保證實(shí)驗(yàn)效果更加準(zhǔn)確。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0014]圖1為本實(shí)用新型的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置的原理示意圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0015]【具體實(shí)施方式】一:結(jié)合圖1說明本實(shí)施方式,本實(shí)施方式所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,所述實(shí)驗(yàn)裝置包括玻璃鋼罐體16、放電電極8、接地電極11、高壓導(dǎo)線引入端蓋10、直線電機(jī)和位移傳感器3 ;
      [0016]放電電極8、位移傳感器3和直線電機(jī)均設(shè)置在玻璃鋼罐體16的上部;接地電極11設(shè)置在玻璃鋼罐體16的底部;
      [0017]所述玻璃鋼罐體16的頂端設(shè)置有高壓導(dǎo)線引入端口,高壓導(dǎo)線引入端蓋10設(shè)置在所述端口處,通過所述端口引入的高壓導(dǎo)線為放電電極8提供電壓,所述放電電極與直線電機(jī)的次級(jí)I固定連接,所述直線電機(jī)的初級(jí)2固定,次級(jí)I運(yùn)動(dòng),所述放電電極位于接地電極11的上方,位移傳感器3的電刷與所述次級(jí)I連接;
      [0018]所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括光纖12和光纖引入端蓋6 ;所述玻璃鋼罐體16還設(shè)置有光纖引入端口,光纖引入端蓋6設(shè)置在所述端口處,通過所述端口引入的光纖12,光纖12的感光端位于放電電極8與接地電極11之間的放電間隙處。
      [0019]如圖1所示,玻璃鋼罐體16內(nèi)的托板上安置有直線電機(jī)和位移傳感器3 ;通過計(jì)算機(jī)控制電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路,來控制直線電機(jī)的工作;通過直線電機(jī)的次級(jí)的運(yùn)動(dòng)來調(diào)整放電間隙距離,且距離的多少通過位移傳感器測量,再通過AD轉(zhuǎn)換電路輸入給計(jì)算機(jī)。高壓電源通過高壓導(dǎo)線引入端蓋10引入。
      [0020]本實(shí)施方式的放電間隙測量及采集是在密封的能夠承受7—8個(gè)大氣壓的玻璃鋼罐體中,與SF6斷路器的氣體壓力近似。充分利用玻璃鋼材料的電氣絕緣性能和機(jī)械強(qiáng)度,模擬電力設(shè)備的實(shí)際工作狀態(tài),這樣就規(guī)避了過去的可移動(dòng)的電極穿過密封罐體與密封罐還需保證密封壓力的矛盾。
      [0021]本實(shí)施方式的光纖用于采集放電電極8和接地電極11在放電間隙產(chǎn)生的電火花的光信號(hào),傳輸給計(jì)算機(jī);
      [0022]計(jì)算機(jī)接收上述測量的信號(hào),用于實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行研宄。
      [0023]【具體實(shí)施方式】二:本實(shí)施方式是對【具體實(shí)施方式】一所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置的進(jìn)一步限定,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括石英玻璃7和相機(jī)采集裝置8,所述玻璃鋼罐體16的側(cè)壁開有通孔,石英玻璃7設(shè)置在所述通孔處,所述相機(jī)采集裝置用于透過石英玻璃7拍攝放電電極與接地電極11反應(yīng)的電火花。
      [0024]本實(shí)施方式的石英玻璃7為高透過率的石英玻璃,且相機(jī)采集裝置8為ICCD相機(jī),用來測量間隙放電的狀態(tài)。
      [0025]【具體實(shí)施方式】三:本實(shí)施方式是對【具體實(shí)施方式】一或二所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置的進(jìn)一步限定,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括進(jìn)出氣閥門4,所述進(jìn)出氣閥門4設(shè)置在玻璃鋼罐體16的側(cè)壁上,用于控制玻璃鋼罐體16內(nèi)氣體的進(jìn)出。
      [0026]【具體實(shí)施方式】四:本實(shí)施方式是對【具體實(shí)施方式】三所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置的進(jìn)一步限定,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括氣壓表5,所述氣壓表5設(shè)置在玻璃鋼罐體16的側(cè)壁上,所述氣壓表5用于測量玻璃鋼罐體16內(nèi)的氣壓。
      [0027]本實(shí)施方式的實(shí)驗(yàn)裝置,保證在較高壓力下,完成同一介質(zhì)(也可以是混合介質(zhì))在系列間隙距離下放電的測試研宄。更換氣體介質(zhì)后,進(jìn)行下一個(gè)系列距離放電的測試研宄。
      [0028]【具體實(shí)施方式】五:本實(shí)施方式是對【具體實(shí)施方式】一所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置的進(jìn)一步限定,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括底部托板15,所述底部托板15設(shè)置在玻璃鋼罐體16的底部,接地電極11設(shè)置在底部托板15上。
      [0029]本實(shí)用新型的放電電極8和接地電極11的放電間隙根據(jù)電力設(shè)備的產(chǎn)生放電的各種實(shí)際狀況做成了尖-尖、尖-板、尖-球、球-球等形狀。
      [0030]本實(shí)用新型也可以作為普通壓力下變壓器油中的間隙放電研宄的避光封閉空間。
      【權(quán)利要求】
      1.封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述實(shí)驗(yàn)裝置包括玻璃鋼罐體(16)、放電電極(8)、接地電極(11)、高壓導(dǎo)線引入端蓋(10)、直線電機(jī)和位移傳感器(3); 放電電極(8)、位移傳感器(3)和直線電機(jī)均設(shè)置在玻璃鋼罐體(16)的上部;接地電極(11)設(shè)置在玻璃鋼罐體(16)的底部; 所述玻璃鋼罐體(16)的頂端設(shè)置有高壓導(dǎo)線引入端口,高壓導(dǎo)線引入端蓋(10)設(shè)置在所述端口處,通過所述端口引入的高壓導(dǎo)線為放電電極(8)提供電壓,所述放電電極與直線電機(jī)的次級(jí)⑴固定連接,所述直線電機(jī)的初級(jí)⑵固定,次級(jí)⑴運(yùn)動(dòng),所述放電電極位于接地電極(11)的上方,位移傳感器⑶的電刷與所述次級(jí)⑴連接; 所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括光纖(12)和光纖引入端蓋¢);所述玻璃鋼罐體(16)還設(shè)置有光纖引入端口,光纖引入端蓋(6)設(shè)置在所述端口處,通過所述端口引入的光纖(12),光纖(12)的感光端位于放電電極(8)與接地電極(11)之間的放電間隙處。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括石英玻璃(7)和相機(jī)采集裝置,所述玻璃鋼罐體(16)的側(cè)壁開有通孔,石英玻璃(7)設(shè)置在所述通孔處,所述相機(jī)采集裝置用于透過石英玻璃(7)拍攝放電電極與接地電極(11)反應(yīng)的電火花。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括進(jìn)出氣閥門(4),所述進(jìn)出氣閥門(4)設(shè)置在玻璃鋼罐體(16)的側(cè)壁上,用于控制玻璃鋼罐體(16)內(nèi)氣體的進(jìn)出。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括氣壓表(5),所述氣壓表(5)設(shè)置在玻璃鋼罐體(16)的側(cè)壁上,所述氣壓表(5)用于測量玻璃鋼罐體(16)內(nèi)的氣壓。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的封閉空間下的可調(diào)放電間隙實(shí)驗(yàn)裝置,其特征在于,所述實(shí)驗(yàn)裝置還包括底部托板(15),所述底部托板(15)設(shè)置在玻璃鋼罐體(16)的底部,接地電極(11)設(shè)置在底部托板(15)上。
      【文檔編號(hào)】G01R31/12GK204177916SQ201420701388
      【公開日】2015年2月25日 申請日期:2014年11月20日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月20日
      【發(fā)明者】趙大偉, 劉志勇, 鄭殿春 申請人:哈爾濱理工大學(xué)
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