X熒光光譜分析儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型屬于測(cè)量設(shè)備領(lǐng)域，涉及X熒光光譜分析儀，特別是涉及一種具有能夠顯示和調(diào)節(jié)施加在探測(cè)器上的電壓的顯示調(diào)節(jié)面板的X熒光光譜分析儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)有的波長色散型多元素同時(shí)測(cè)定型X熒光光譜分析儀(簡稱同定型WDXRFS)中，一般來說在其真空測(cè)量室內(nèi)安裝有多個(gè)固定元素道(簡稱元素道)，且對(duì)每個(gè)固定元素道設(shè)置有一個(gè)探測(cè)器。在元素道的特征X射線經(jīng)分光后，由探測(cè)器(例如，流氣式正比計(jì)數(shù)器)進(jìn)行檢測(cè)。該探測(cè)器將X射線熒光光量子轉(zhuǎn)變?yōu)橐欢ㄐ螤詈蛿?shù)量的電脈沖，表征X射線熒光的能量和強(qiáng)度。探測(cè)器實(shí)質(zhì)上是一種能量與電量的傳感器，在工作時(shí)需要在探測(cè)器的工作絲上施加600?3000V的電壓，從而在探測(cè)器內(nèi)部形成電場(chǎng)，以進(jìn)行化學(xué)元素的測(cè)試。具體來說，當(dāng)探測(cè)器中的探測(cè)氣體受到X射線照射時(shí)，會(huì)產(chǎn)生大量由負(fù)電子和正電性工作氣體組成的離子對(duì)，電子在電壓的作用下會(huì)加速飛向陽極金屬絲，并引發(fā)進(jìn)一步的電離，與該電離對(duì)應(yīng)的電流信號(hào)經(jīng)放大器處理后完成信號(hào)測(cè)量。
[0003]同定型WDXRFS在測(cè)試不同元素時(shí)由于所測(cè)波長不同，施加在探測(cè)器上的電壓也不同。此外，由于工作環(huán)境等的不同，也會(huì)導(dǎo)致施加在探測(cè)器上的電壓不同。因此，施加在探測(cè)器上的電壓不是一個(gè)固定值。在同定型WDXRFS調(diào)試安裝時(shí)以及同定型WDXRFS使用一段時(shí)間后，需要經(jīng)常根據(jù)儀器所要測(cè)試的元素來將施加在探測(cè)器上的電壓調(diào)節(jié)在一個(gè)合適的范圍內(nèi)。
[0004]作為施加在探測(cè)器上的電壓的調(diào)節(jié)方法，通常是使用探測(cè)棒來檢測(cè)探測(cè)器上的電壓，根據(jù)檢測(cè)出的檢測(cè)值來調(diào)節(jié)探測(cè)器上的電壓，具體來說，通過改變探測(cè)器電源的控制電壓來調(diào)節(jié)施加在探測(cè)器上的電壓，控制電壓的調(diào)節(jié)范圍一般在30V左右，精細(xì)調(diào)節(jié)時(shí)在5V以內(nèi)?？刂齐妷豪鏞?5V對(duì)應(yīng)控制探測(cè)器上的電壓O?2500V。
[0005]然而，在現(xiàn)有的施加在探測(cè)器上的電壓的調(diào)節(jié)方法中，在使用探測(cè)棒來檢測(cè)電壓時(shí)，需要將同定型WDXRFS上設(shè)置的放大器和電源等拆掉，將儀器蓋子打開。此外，為了防止受到外部環(huán)境的干擾，在檢測(cè)和調(diào)節(jié)探測(cè)器上的電壓時(shí)還需要蓋上屏蔽殼。這樣，在進(jìn)行探測(cè)器上的電壓的調(diào)節(jié)時(shí)，電壓往往會(huì)被調(diào)節(jié)得過高或過低，因此需要操作員反復(fù)進(jìn)行多次的檢測(cè)和調(diào)節(jié)，而且每次檢測(cè)和調(diào)節(jié)時(shí)都需要拆裝儀器，使得操作員需要進(jìn)行復(fù)雜的操作，并且還需要攜帶探測(cè)棒、屏蔽殼等繁多的工具。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的目的在于提供一種X熒光光譜分析儀，其能夠顯示和調(diào)節(jié)施加在探測(cè)器上的電壓，使得X熒光光譜分析儀的調(diào)試和維修更加容易，且使調(diào)節(jié)精度得到提高。
[0007]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0008]—種X熒光光譜分析儀，其包括X射線發(fā)生裝置、真空測(cè)量室、安裝于上述真空測(cè)量室內(nèi)的多個(gè)固定元素道和與各上述固定元素道分別對(duì)應(yīng)設(shè)置的探測(cè)器，通過對(duì)上述探測(cè)器施加電壓來進(jìn)行化學(xué)元素的測(cè)試，該X熒光光譜分析儀的特征在于:
[0009]包括顯示和調(diào)節(jié)施加在上述探測(cè)器上的電壓的顯示調(diào)節(jié)面板。
[0010]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述顯示調(diào)節(jié)面板包括:顯示上述探測(cè)器上的電壓的電壓值的顯示單元;檢測(cè)上述探測(cè)器上的電壓并將檢測(cè)到的上述電壓值傳送到上述顯示單元的電壓檢測(cè)單元;和通過改變上述探測(cè)器的電源的控制電壓來調(diào)節(jié)施加在上述探測(cè)器上的電壓的電壓調(diào)節(jié)單元。
[0011]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述電壓檢測(cè)單元包括集成有與檢測(cè)元素對(duì)應(yīng)的多通道的AD采樣單元的單片機(jī)。
[0012]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，上述顯示調(diào)節(jié)面板還包括存儲(chǔ)有與要測(cè)試的化學(xué)元素對(duì)應(yīng)的上述探測(cè)器的電壓的目標(biāo)范圍值的存儲(chǔ)器，該存儲(chǔ)器與上述顯示單元連接，使得上述顯示單元顯示上述目標(biāo)范圍值。
[0013]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，在上述顯示調(diào)節(jié)面板還包括用于對(duì)上述顯示單元進(jìn)行顯示操作的操作部。
[0014]在本實(shí)用新型的一實(shí)施例中，在上述顯示調(diào)節(jié)面板的表面設(shè)置有軟面板，上述軟面板包括:與上述顯示單元對(duì)應(yīng)設(shè)置的透明或中空的顯示窗口；與上述電壓調(diào)節(jié)單元對(duì)應(yīng)且具有使電壓調(diào)節(jié)工具能夠插入到上述電壓調(diào)節(jié)單元的尺寸的多個(gè)電壓調(diào)節(jié)孔;和與上述電壓調(diào)節(jié)孔對(duì)應(yīng)設(shè)置的用于指示要測(cè)試的化學(xué)元素的多個(gè)化學(xué)元素標(biāo)識(shí)。
[0015]本實(shí)用新型的積極效果
[0016]1、使操作人員能夠根據(jù)顯示調(diào)節(jié)面板上所顯示的施加在探測(cè)器上的電壓來調(diào)節(jié)該探測(cè)器上的電壓，由此，在調(diào)節(jié)探測(cè)器上的電壓時(shí)無需拆裝儀器，也無需攜帶屏蔽殼和高壓探測(cè)棒等繁多的工具，使得X熒光光譜分析儀的調(diào)試和維修更加容易。
[0017]2、由于無需拆裝儀器，因此能夠提高探測(cè)器上的電壓的調(diào)節(jié)精度，使操作人員無需反復(fù)進(jìn)行多次的檢測(cè)和調(diào)節(jié)。
[0018]3、能夠根據(jù)顯示調(diào)節(jié)面板上所顯示的施加在探測(cè)器上的電壓來觀察到對(duì)探測(cè)器進(jìn)行電壓供給的高壓電源是否損壞或不穩(wěn)定，從而給客戶進(jìn)行問題判斷和售后人員進(jìn)行后期維修提供參考。
【附圖說明】

[0019]圖1是表示本實(shí)用新型一實(shí)施方式的X熒光光譜分析儀的整體結(jié)構(gòu)圖。
[0020]圖2是表示顯示調(diào)節(jié)面板中的各部分的組成的概略圖。
[0021 ]圖3是表示顯示調(diào)節(jié)面板的表面的軟面板的概略圖。
[0022]附圖標(biāo)記的說明
[0023]I...)(焚光光譜分析儀、2…儀器上蓋、3…機(jī)架、4…散熱箱、5…腳輪、100…顯不調(diào)節(jié)面板、101…顯示單元、102…電壓檢測(cè)單元、103…電壓調(diào)節(jié)單元、104…單片機(jī)、105…AD采樣單元、200…軟面板、201…顯示窗口、202…操作按鍵、203…電壓調(diào)節(jié)孔、204…化學(xué)元素標(biāo)識(shí)。
【具體實(shí)施方式】
[0024]本實(shí)用新型一實(shí)施方式的X熒光光譜分析儀包括:X射線發(fā)生裝置;真空測(cè)量室;安裝于真空測(cè)量室內(nèi)的多個(gè)固定元素道(簡稱元素道)；和與多個(gè)固定元素道分別對(duì)應(yīng)設(shè)置的多個(gè)探測(cè)器。在元素道的特征X射線經(jīng)分光后，由探測(cè)器(例如，流氣式正比計(jì)數(shù)器)進(jìn)行檢測(cè)。探測(cè)器在工作時(shí)需要對(duì)其施加例如600?3000V的電壓，從而在探測(cè)器內(nèi)部形成電場(chǎng)，以進(jìn)行化學(xué)元素的測(cè)試。具體來說，當(dāng)探測(cè)器中的探測(cè)氣體受到X射線照射時(shí)，會(huì)產(chǎn)生大量由負(fù)電子和正電性工作氣體組成的離子對(duì)，電子在電壓的作用下會(huì)加速飛向陽極金屬絲，并引發(fā)進(jìn)一步的電離，與該電離對(duì)應(yīng)的電流信號(hào)經(jīng)放大器處理后完成信號(hào)測(cè)量。
[0025]如圖1所示，X熒光光譜I分析儀包括儀器上蓋2、機(jī)架3、散熱箱4和腳輪54熒光光譜分析儀還包括用于顯示和調(diào)節(jié)施加在探測(cè)器上的電壓的顯示調(diào)節(jié)面板100。在圖1中，顯示調(diào)節(jié)面板100設(shè)置于X熒光光譜分析儀的側(cè)板，但顯示調(diào)節(jié)面板100的設(shè)置位置不限于此，只要是操作人員容易操作的位置即可。
[0026]如圖2所示，顯示調(diào)節(jié)面板100包括顯示單元101、電壓檢測(cè)單元102和電壓調(diào)節(jié)單元 103。
[0027]顯示單元101顯示由電壓檢測(cè)單元102檢測(cè)到的施加在探測(cè)器上的電壓的電壓值，例如可以使用液晶顯示裝置等常用的顯示裝置。
[0028]電壓檢測(cè)單元102檢測(cè)施加在探測(cè)器上的電壓，并將檢測(cè)到的電壓值傳送到顯示單元101。電壓檢測(cè)單元102包括集成有與要測(cè)試的化學(xué)元素對(duì)應(yīng)的多通道的AD采樣單元105的單片機(jī)104，該多通道的AD采樣單元105分別對(duì)各通道的電壓進(jìn)行AD采樣，生成對(duì)應(yīng)的數(shù)字信號(hào)，接著，通過單片機(jī)104在顯示單元101顯示。在本實(shí)施方式中，例如對(duì)10個(gè)通道的電壓進(jìn)行AD采樣。
[0029]電壓調(diào)節(jié)單元103用于調(diào)節(jié)施加在探測(cè)器上的電壓，具體來說，通過改變探測(cè)器電源的控制電壓來調(diào)節(jié)施加在探測(cè)器上的電壓，該控制電壓例如O?5V對(duì)應(yīng)控制探測(cè)器上的電壓O?2500V。此外，電壓調(diào)節(jié)單元103與每個(gè)探測(cè)器對(duì)應(yīng)地設(shè)置有多個(gè)，可以使用改錐等對(duì)其進(jìn)行調(diào)節(jié)。
[0030]此外，顯示單元101還可以顯示與各化學(xué)元素對(duì)應(yīng)的探測(cè)器的電壓的目標(biāo)范圍值，在該情況下，顯示調(diào)節(jié)面板100包括存儲(chǔ)有上述目標(biāo)范圍值的存儲(chǔ)器。
[0031]顯示調(diào)節(jié)面板100還可以包括操作部，操作部對(duì)上述顯示單元101進(jìn)行顯示操作，例如能夠使顯示單元101的顯示畫面翻頁，或者使顯示單元101中顯示與不同化學(xué)元素對(duì)應(yīng)的探測(cè)器的電壓的目標(biāo)范圍值。
[0032]如圖3所示，在顯示調(diào)節(jié)面板100的表面設(shè)置有軟面板200。該軟面板200包括顯示窗口 201、操作按鍵202、電壓調(diào)節(jié)孔203和化學(xué)元素標(biāo)識(shí)204。
[0033]顯示窗口 201與顯示單元101對(duì)應(yīng)地設(shè)置，可以是中空的也可以是透明的。操作按鍵202與上述操作部對(duì)應(yīng)，操作人員通過使用該操作按鍵202來控制操作部。
[0034]電壓調(diào)節(jié)孔203與電壓調(diào)節(jié)單元103對(duì)應(yīng)地設(shè)置有多個(gè)，為具有能夠使改錐等調(diào)節(jié)工具插入到電壓調(diào)節(jié)單元103的尺寸的插孔。
[0035]化學(xué)元素標(biāo)識(shí)204用于指示要測(cè)試的化學(xué)元素，其與電壓調(diào)節(jié)孔203對(duì)應(yīng)地設(shè)置有多個(gè)，且各化學(xué)元素標(biāo)識(shí)204位置不固定，可根據(jù)需要任意調(diào)換位置。通過設(shè)置化學(xué)元素標(biāo)識(shí)204能夠方便操作人員對(duì)與要測(cè)試的化學(xué)元素對(duì)應(yīng)的探測(cè)器上的電壓進(jìn)行調(diào)節(jié)。
[0036]對(duì)于X熒光光譜分析儀的新安裝調(diào)試或維修，在更換元素通道或安裝新的探測(cè)器、放大器等的情況下需要調(diào)節(jié)施加在探測(cè)器上的電壓。本實(shí)施方式中，在進(jìn)行施加在探測(cè)器上的電壓的調(diào)節(jié)時(shí)，在顯示單元101選擇相應(yīng)的通道號(hào)元素，通過將改錐等調(diào)節(jié)工具插入到與化學(xué)元素標(biāo)識(shí)204對(duì)應(yīng)的電壓調(diào)節(jié)孔203中，對(duì)電壓調(diào)節(jié)單元103進(jìn)行操作，觀察顯示單元101所顯示的電壓的變化，將探測(cè)器上的電壓調(diào)節(jié)至已知的電壓值即可。
[0037]因此，在調(diào)節(jié)電壓時(shí)無需拆裝儀器，也無需攜帶屏蔽殼和高壓探測(cè)棒等繁多的工具，使得X熒光光譜分析儀I的調(diào)試和維修更加容易。此外，由于無需拆裝儀器，因此使得工作電壓的調(diào)節(jié)精度得到提高，操作人員無需反復(fù)進(jìn)行多次的檢測(cè)和調(diào)節(jié)。
[0038]并且，由于能夠根據(jù)顯示調(diào)節(jié)面板100所顯示的施加在探測(cè)器上的電壓來觀察到對(duì)探測(cè)器進(jìn)行電壓供給的高壓電源是否損壞或不穩(wěn)定，從而給客戶進(jìn)行問題判斷和售后人員進(jìn)行后期維修提供參考。
[0039]在上述實(shí)施方式的說明中，僅是例舉了一個(gè)【具體實(shí)施方式】，其中各部件的結(jié)構(gòu)、連接方式等都并不限定于此，凡是在本實(shí)用新型技術(shù)方案的基礎(chǔ)上進(jìn)行的等同變換和改進(jìn)，均不應(yīng)排除在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之外。
[0040]產(chǎn)業(yè)上的可利用性
[0041]本實(shí)用新型的X熒光光譜分析儀可廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)分析、生產(chǎn)型企業(yè)的原材料分析、中間過程控制、成品控制等工業(yè)領(lǐng)域。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種X熒光光譜分析儀，其包括X射線發(fā)生裝置、真空測(cè)量室、安裝于所述真空測(cè)量室內(nèi)的多個(gè)固定元素道和與各所述固定元素道分別對(duì)應(yīng)設(shè)置的探測(cè)器，通過對(duì)所述探測(cè)器施加電壓來進(jìn)行化學(xué)元素的測(cè)試，該X熒光光譜分析儀的特征在于: 包括顯示和調(diào)節(jié)施加在所述探測(cè)器上的電壓的顯示調(diào)節(jié)面板。2.如權(quán)利要求1所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于: 所述顯示調(diào)節(jié)面板包括:顯示所述探測(cè)器上的電壓的電壓值的顯示單元;檢測(cè)所述探測(cè)器上的電壓并將檢測(cè)到的所述電壓值傳送到所述顯示單元的電壓檢測(cè)單元;和通過改變所述探測(cè)器的電源的控制電壓來調(diào)節(jié)施加在所述探測(cè)器上的電壓的電壓調(diào)節(jié)單元。3.如權(quán)利要求2所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于: 所述電壓檢測(cè)單元包括集成有與檢測(cè)元素對(duì)應(yīng)的多通道的AD采樣單元的單片機(jī)。4.如權(quán)利要求2所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于: 所述顯示調(diào)節(jié)面板還包括存儲(chǔ)有與要測(cè)試的化學(xué)元素對(duì)應(yīng)的所述探測(cè)器的電壓的目標(biāo)范圍值的存儲(chǔ)器， 該存儲(chǔ)器與所述顯示單元連接，使得所述顯示單元顯示所述目標(biāo)范圍值。5.如權(quán)利要求2所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于: 在所述顯示調(diào)節(jié)面板還包括用于對(duì)所述顯示單元進(jìn)行顯示操作的操作部。6.如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于: 在所述顯示調(diào)節(jié)面板的表面設(shè)置有軟面板， 所述軟面板包括:與所述顯示單元對(duì)應(yīng)設(shè)置的透明或中空的顯示窗口；與所述電壓調(diào)節(jié)單元對(duì)應(yīng)且具有使電壓調(diào)節(jié)工具能夠插入到所述電壓調(diào)節(jié)單元的尺寸的多個(gè)電壓調(diào)節(jié)孔;和與所述電壓調(diào)節(jié)孔對(duì)應(yīng)設(shè)置的用于指示要測(cè)試的化學(xué)元素的多個(gè)化學(xué)元素標(biāo)識(shí)。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及測(cè)量設(shè)備領(lǐng)域，提供一種X熒光光譜分析儀，其包括X射線發(fā)生裝置、真空測(cè)量室、安裝于上述真空測(cè)量室內(nèi)的多個(gè)固定元素道和與各上述固定元素道分別對(duì)應(yīng)設(shè)置的探測(cè)器，通過對(duì)上述探測(cè)器施加電壓來進(jìn)行化學(xué)元素的測(cè)試，該X熒光光譜分析儀還包括顯示和調(diào)節(jié)施加在上述探測(cè)器上的電壓的顯示調(diào)節(jié)面板(100)。本實(shí)用新型的有益效果在于：使得X熒光光譜分析儀的調(diào)試和維修更加容易，且能夠提高探測(cè)器上的電壓的調(diào)節(jié)精度，使操作人員無需反復(fù)進(jìn)行多次的檢測(cè)和調(diào)節(jié)。
【IPC分類】G01N23/223
【公開號(hào)】CN205384236
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201521113363
【發(fā)明人】高華, 余正東
【申請(qǐng)人】北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司
【公開日】2016年7月13日
【申請(qǐng)日】2015年12月29日