pct國(guó)內(nèi)申請(qǐng)，說(shuō)明書(shū)已公開(kāi)。

技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
一種用于測(cè)距的方法和裝置，該方法包括：向被測(cè)系統(tǒng)發(fā)送測(cè)距信號(hào)，所述被測(cè)系統(tǒng)包括至少一個(gè)反射點(diǎn)(S110)；接收所述測(cè)距信號(hào)經(jīng)所述至少一個(gè)反射點(diǎn)反射后得到的第一頻譜信(S120)；根據(jù)所述第一頻譜信號(hào)，確定第二頻譜信號(hào)，所述第二頻譜信號(hào)中包括所述第一頻譜信號(hào)，且所述第二頻譜信號(hào)的頻譜寬度大于所述第一頻譜信號(hào)的頻譜寬度(S130)；根據(jù)所述第二頻譜信號(hào)，估計(jì)所述至少一個(gè)反射點(diǎn)的距離(S140)。該用于測(cè)距的方法和裝置，能夠較為準(zhǔn)確地確定被測(cè)系統(tǒng)中反射點(diǎn)的距離，從而提高測(cè)量精度。

技術(shù)研發(fā)人員：王彥
受保護(hù)的技術(shù)使用者：華為技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2015.02.16
技術(shù)公布日：2017.09.26