技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明實(shí)施例所述的SLD光源測試系統(tǒng)，待測SLD光源發(fā)出的光經(jīng)過耦合器、起偏器組件、保偏光纖環(huán)、敏感元件后原路返回，返回后的兩束線偏振光發(fā)生干涉；由探測器檢測干涉光強(qiáng)，并得到與所述干涉光強(qiáng)對應(yīng)的電信號；信號處理電路解析探測器發(fā)送的電信號得到測量電流值；誤差計(jì)算單元根據(jù)基準(zhǔn)電流值以及測量電流值得到待測SLD光源在所處環(huán)境下引入的測量誤差。由于光波在上述系統(tǒng)中的傳輸方式與FOCT中光傳輸方式相同，因此最終得到的SLD光源在所處環(huán)境下引入的測量誤差的表現(xiàn)形式也可以與FOCT測量誤差的形式等效，上述方案能完全和精準(zhǔn)的反映出SLD光源的精度，測試結(jié)果可直接用于衡量其在FOCT中的系統(tǒng)性能，為FOCT中SLD光源的篩選提供有效的技術(shù)參考。

技術(shù)研發(fā)人員：肖浩;李建光;雷軍;劉博陽;郝琰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京世維通光智能科技有限公司
文檔號碼：201710104147
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.24
技術(shù)公布日：2017.05.10