本發(fā)明屬于制樣工具技術領域，用于x射線熒光光譜檢測過程中微量粉末樣品的制備。

背景技術：

x射線熒光光譜儀是利用熒光x射線而進行物質成分分析的一種檢測儀器，它既能夠對物質進行定量分析，也可以進行定性分析。因此，x射線熒光光譜儀已廣泛應用于生物、醫(yī)學、材料等學科領域中，促進了各有關學科的發(fā)展。

目前，利用x射線熒光光譜儀檢測粉末樣品時，通常將其壓制成直徑3.5厘米，厚度2毫米的致密片狀標準樣品。當檢測微量粉末時，由于粉末的體積不足，通常無法制備標準樣品。傳統的解決辦法是，在微量粉末中添加一定量的成分已知的粉末粘結劑與待測微量粉末混合，以制備標準樣品。但使用粘結劑具有以下三個缺點，第一，粘結劑的加入將引入新的雜質，增大分析誤差；第二，對于濃度低的元素或輕元素會因為被稀釋而導致譜線強度變低，如果粘結劑顆粒度較大，還會引起顆粒度效應，從而無法定量分析。第三，粘結劑的加入會使分析線強度下降，影響輕元素和痕量元素的檢測下限。為此，本發(fā)明致力于解決傳統微量粉末樣品制備方法所帶來的弊端。

技術實現要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種x射線熒光光譜粉末制樣裝置，有助于解決傳統制樣方法的弊端。

本發(fā)明的技術方案：

一種x射線熒光光譜微量粉末樣品的制樣設備，包括底板1、導柱2、彈簧3、螺栓4、滑道板5、螺母6、墊片7、功能板8、定位板9和定位柱10；

多個螺栓4的一端固定連接在底板1的兩側，成兩排，導柱2套在螺栓4外部，兩滑道板5套裝于導柱2上；導柱2外套有彈簧3，彈簧3位于底板1和滑道板5之間，實現限位；螺母6與螺栓4的另一端配合固定，二者間設有墊片7；

所述的滑道板5一側設有階梯狀凹槽結構，其上的凹槽與功能板8上凸起配合安裝，其階梯結構與功能板8的階梯結構卡固；

所述的功能板8為兩側設有階梯狀的凸起結構，其上設有旋鈕11、大圓形壓片12、環(huán)形壓片13、小圓形壓片14和加樣槽15；旋鈕11和加樣槽15設置于功能板8的上表面，通過控制旋鈕11，實現功能板8的移動；加樣槽15位于功能板8的端部，加樣槽15上設有加料孔16，樣品通過加料孔16進入樣品環(huán)；大圓形壓片12、環(huán)形壓片13和小圓形壓片14設置于功能板8的下表面，小圓形壓片14位于環(huán)形壓片13上，形成凸臺結構；操作過程中，首先調節(jié)功能板8的位置，使大圓形壓片12的中軸線與樣品環(huán)的中軸線重合，樣品環(huán)中的樣品被壓實后，移動功能板8，使樣品環(huán)的中軸線與小圓形壓片14的中軸線重合，再次壓樣品，使樣品形成凹槽；移動功能板(8)，使樣品環(huán)的中軸線與加料孔(16)的中軸線重合，通過加料孔(16)將樣品粉末加入小圓形壓片(14)壓出的凹槽中；

所述的定位柱10固定在底板1上，用于支撐定位板9，定位板9實現樣品環(huán)的定位；

所述的定位板9為具有弧形槽的板；

盛放適量粘結劑的樣品環(huán)置于定位板9的弧形槽的圓心處，通過依次移動功能板8，實現壓平粘結劑表面、壓出盛放微量粉末的圓形槽和添加微量粉末的功能。

本發(fā)明的優(yōu)異效果：在制備的標準樣品中，使待測微量粉末與粘結劑分隔開，避免了將二者混合以制備標準樣品的弊端，結合樣品盒的使用以實現對微量粉末的直接檢測，提高x射線熒光光譜儀對微量粉末的檢測精度。

附圖說明

圖1是本發(fā)明x射線熒光光譜微量粉末樣品制備裝置的整體結構示意圖。

圖2是本發(fā)明x射線熒光光譜微量粉末樣品制備裝置中功能板主視圖。

圖3是本發(fā)明x射線熒光光譜微量粉末樣品制備裝置中功能板俯視圖。

圖中：1底板；2導柱；3彈簧；4螺栓；5滑道板；6螺母；7墊片；

8功能板；9定位板；10定位柱；11旋鈕；12大圓形壓片；13環(huán)形壓片；

14小圓形壓片；15加樣槽；16加料孔。

具體實施方式

以下結合技術方案和附圖詳細敘述本發(fā)明的具體實施方式。

實施例

將制樣裝置放在水平面上，然后將盛放適量粘結劑的樣品環(huán)放在定位板弧形槽的圓心處，使樣品環(huán)的圓心與功能板上大圓形壓片的圓心位于同一豎直線上，用手壓下滑道板，使滑道板與功能板整體往下平移，使用功能板上的大圓形壓片將粘結劑的表面壓平，然后讓滑道板在彈簧的作用下復位，移動功能板，使功能板上的小圓形壓片的圓心與樣品環(huán)的圓心位于同一豎直線上，再次用手壓下滑道板，使滑道板與功能板整體往下平移，使用功能板上的小圓形壓片在粘結劑的平面上壓出盛放微量粉末的凹槽，滑道板復位后，再次移動功能板，使加料孔的圓心與樣品環(huán)的圓心位于同一豎直線上，將放在加料槽槽的微量粉末添加到小圓形壓片壓出的凹槽中，最后，將樣品環(huán)移到壓力機上，壓實粉末，制備標準樣品。

技術特征：

技術總結
本發(fā)明提供了一種X射線熒光光譜微量粉末樣品的制樣設備，屬于制樣工具技術領域，用于X射線熒光光譜檢測過程中微量粉末樣品的制備。針對無法制備標準樣品的微量粉末，傳統的解決辦法是將微量粉末與粘結劑混合以制備標準樣品。但這種方法會引入新的雜質，增大分析誤差，影響輕元素和痕量元素的檢測下限。為此，本發(fā)明通過在粘結劑中壓出盛放微量粉末的圓形槽，使待測微量粉末集中在粘結劑的中上部，避免待測微量粉末被稀釋，從而提高了檢測精度。

技術研發(fā)人員：張環(huán)月;權北北;劉向輝;鄒龍江;季首華
受保護的技術使用者：大連理工大學
技術研發(fā)日：2017.04.24
技術公布日：2017.09.05